JB T 4730.2-2005 承压设备无损检测.第2部分 射线检测.pdf
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1、ICS 77.040.20 H26 四1I中华人民共和国行业标准JB厅4730.1-4730.6-2005 代替JB473-1994 承压设备无损检测Nondestructive testing of pressure equipmen臼2005-07-26发布2005-11-01实施国家发展和改革委员会发布中华人民共和国国家发展和改革委员会公_lh 口二00五年第46号公布10项锅炉压力容器行业标准*国家发改委批准电站阀门铸钢件技术条件等10项锅炉压力容器行业标准,现予公布,自2005年11月1日起实施。以上锅炉压力容器行业标准由新华出版社出版。附件:10项锅炉压力容器行业标准编号及名称二0
2、0五年七月二十六日*摘编自中华人民共和国国家发展和改革委员会公告(2005年第46号)。附件:10项锅炉压力容器行业标准编号及名称序号标准编号标准名称代替标准1 JB厅5263-2005电站阀门铸钢件技术条件JBff 5263一1991承压设备无损检测2 JBff 4730.1-2005 第1部分:通用要求JB 4730-1994 JBff 4730.2-2005 承压设备元损检测JB 4730-一19943 第2部分:射线检测JBff 4730.3-2005 承压设备无损检测JB 4730-1994 4 第3部分:超声检测JB厅4730.4-2005承压设备无损检测JB 4730-1994
3、5 第4部分:磁粉检测JB厅4730.5-2005承压设备元损检测JB 4730-1994 6 第5部分:渗透检测7 JB厅4730.6-2005承压设备元损检测JB 4730-1994 第6部分:涡流检测8 JB厅4710-2005钢制塔式容器JB 4710-一20009 JB厅4731-2005钢制卧式容器JB 4731-2000 10 JB厅4781-2005液化气体罐式集装箱JB/T 4730.1-4730. 6-2005 目录前言.11 B厅4730.L-25承压设备无损检测第1部分:通用要求. .,. 1 JB厅4730.2-2005承压设备无损检测第2部分:射线检测.17 JB厅
4、4730.3-25承压设备无损检测第3部分:超声检测.61JB厅4730.4-25承压设备无损检测第4部分:磁粉检测.149JB厅4730.5-25承压设备无损检测第5部分:渗透检测.173 JB厅4730.2005承压设备无损检测第6部分:涡流检测191皿厅4730.1- 4730.6-2005 I00kV - 150kV) X射线铅铅0.02 - 0.15 0.02 - 0.15 ( 150kV - 250kV ) X射线(250kV -5kV) 铅0.02 -0.2 铅0.02-0.2 A级0.02-0.2 A级0.02-0.2 Se-75 铅AB级、B级铅AB级、B级0.1- 0.21
5、) 0.1 - 0.2 A级0.02-0.2 A级0.02-0.2 Ir-192 铅AB级、B级铅AB级、B级0.1 - o.il 0.1 - 0.2 钢或铜0.25 -0.7 钢或铜0.25 - 0.7 Co-60 铅(A级、AB级)0.5 - 2.0 铅(A级、AB级)0.5 - 2.0 X射线钢或铜0.25 - 0.7 钢或铜0.25 -0.7 ( 1MeV - 4MeV) 铅(A级、AB级)0.5 - 2.0 铅(A级、AB级)0.5 - 2.0 铜、钢1 X射线铜、钢或钮l ( 4MeV - 12MeV ) 钮0.5 铅(A级、AB级)0.5 - 1.0 铅(A级、AB级)0.5 -
6、 1.0 X射线( 12MeV) 钮运1不用后屏1 )如果AB级、B级使用前屏小于或等于0.03mrn厚的真空包装胶片,应在工件和胶片之间加0.07mm- 0.15mrn 厚的附加铅屏。3. 6 像质计3. 6. 1 底片影像质量采用线型像质计测定。线型像质计的型号和规格应符合JB厅7902的规定,JB厅24 JB/T 4730.2-2005 7902中未包含的丝径、线号等内容,应符合HB7684的有关规定。3.6.2 像质计的材料、材料代号和不同材料的像质计适用的工件材料范围应符合表2的规定。表2不同材料的像质计适用的材料范围像质计材料代号I Fe I Ni I 咀I Al I Cu 像质柑
7、料| 碳钢或奥氏体不锈钢|镰一销合金| 丁业纯钦| 工业纯铝I 3号纯铜适用材料范围| 碳钢、低合金钢、不锈钢| 镇、镇合金| 铁、钦合金| 铝、铝合金| 铜、铜合金3. 7 表面要求和射线检测时机3.7.1 在射线检测之前,对接焊接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像,否则应对表面作适当修整。3.7.2 除非另有规定,射线检测应在焊后进行。对有延迟裂纹倾向的材料,至少应在焊接完成24h后进行射线检测。3. 8 射线检测技术等级选择3.8.1 射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标准及设计图样规定。承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用
8、时的射线检测,一般应采用AB级射线检测技术进行检测。对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头,可采用B级技术进行检测。3.8.2 由于结构、环境条件、射线设备等方面限制,检测的某些条件不能满足AB级(或B级)射线检测技术的要求时,经检测方技术负责人批准,在采取有效补偿措施(例如选用更高类别的胶片)的前提下,若底片的像质计灵敏度达到了AB级(或B级)射线检测技术的规定,则可认为按AB级(或B级)射线检测技术进行了检测。3. 8. 3 承压设备在用检测中,由于结构、环境、射线设备等方面限制,检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时,经检测方技术负责人批准,在采取有效补偿措
9、施(例如选用更高类别的胶片)后可采用A级技术进行射线检测,但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。3. 9 辐射防护3. 9. 1 放射卫生防护应符合GB18871、GB16357和GB18465的有关规定。3.9.2 现场进行X射线检测时,应按GB16357的规定划定控制区和管理区、设置警告标志。检测工作人员应佩带个人剂量计,并携带剂量报警仪。3.9.3 现场进行y射线检测时,应按GB18465的规定划定控制区和监督区、设置警告标志,检测作业时,应围绕控制区边界测定辐射水平。检测工作人员应佩带个人剂量计,并携带剂量报警仪。4 具体要求4. 1 透照布置4. 1. 1 透照方式应根据工件特点
10、和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照方式,在单,壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。典型的透照方式参见附录c(资料性附录)。4.1.2 透照方向透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心,需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。4.1.3 一次透照长度一次透照长度应以透照厚度比K进行控制。不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表3的规定。整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照附录D(资料性附录)的曲线图确定。25 JB/T 4730.2-2005 表3允许的透照厚度比K射线检测技术级别A级,AB级B级纵向焊接接头K1.03 K运1.01
11、环向焊接接头K三1.1K1.06 1 )对lmm0.12时,相隔120。或。透照3次。垂直透照重叠成像时,一般应相隔120。或60。透照3次。由于结构原因不能进行多次透照时,可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊缝全长的1%检测,此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围,并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。4.2 射线能量4.2.1 X射线照相应尽量选用较低的管电压。在采用较高管电压时,应保证适当的曝光量。图l规定了不同材料、不同透照厚度允许采用的最高X射线管电压。 ZJaq句3200 / / 1 . / / h-气二后/. . ./ v , 户, l.-f v / -
12、. -, / v .r- .1-v l.!- 3 / -卢. . 4 -, 间-+- 国100e 吧70 60 峭运50240 30 20 10 2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 506070 100 透照j乎度W.mm 注:1一铜及铜合金;2一钢;3一钦及钦合金;4一铝及铝合金。图1不同透照厚度允许的X射线最高透照管电压26 JB/T 4730. 2-2005 对截面厚度变化大的承斥设备,在保证灵敏度要求的前提下,允许采用超过图1规定的X射线管电压。但对钢、铜及铜合金材料,管电压增量不应超过50kV;对铁及铁合金材料,管电压增量不应超过40kV;对铝及铝合金材料,管电压
13、增量不应超过30kV。4.2.2 Y射线源和高能X射线适用的透照厚度范围应符合表4的规定。采用源在内中心透照方式,在保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下,允许射线最小透照厚度取表4下限值的112。采用其他透照方式,在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下,经合同各方同意.A级、AB级技术的Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm,Se-75源的最小透照厚度可降至5mmo表4射线源和能量1MeV以上X射线设备的透照厚度范围(钢、不锈钢、镇合金等)透照厚度W.mm 射线源A级.AB级Se-75 ;?!:IQ-40 Ir-192 ;?!:20-1 Co-60 ;?!
14、:40-2 X射线(1MeV - 4MeV) ;?!:30-2 X射线( 4MeV - 12MeV) ;?!:50 X射线( 12MeV) ;?!:80 4. 3 射线源至工件表面的最小距离4.3.1 所选用的射线源至工件表面的距离f应满足下述要求:一-A级射线检测技术:f注7.5d.b21幻1一-古AB级射线检测技术:f lO d .b2/3 一-B级射线检测技术:f注l臼5d.b211 B级;?!:14-40 ;?!:20- 90 ;?!:60 - 150 ;?!:50 -180 ;?!:80 二,1图2是A级和B级射线检测技术确定f的诺模图,图3是AB级射线检测技术确定f的诺模图。有效焦
15、点尺寸d按附录E(规范性附录)的规定计算。27 2000 1000 500 300 AU AHV 1 50 30 20 10 5 A级和B级射线检测技术确定焦点至工件表面距离的诺模图-ggd慌回国北刷刷刷固M醉注H500 400 300 200 100 80 。UAVAdu,、A吨30 20 10 S roqJA怜3 2 SEU憧田国回郁达,h刚黯划部军国咄AHVAHV Anu nuou 53 . ,EEBEES-E,目nunUAUAUAU AHVAHVAHVAHUAHV hvnu,、wtJ、,缸&Ea gg飞植叫出回硝立仆【刚回阳剧创都军国制nv nu l 50 30 20 10 A口且hy
16、。句Iro5 4 3 2 0.5 41|lggyhr区峰、恐板惊JB/T 4730.2-2005 图228 JB/T 4730.2-2005 |臼ad恒国文怪刚回硝苓川同500 。300 200 30 20 10 8 zoJaay 3 2 100 80 MN川啊5 200 30 300 9876 4 3 5 All-ag,、甘眨哽饿极体100 2 50 20 10 0.5 AB级射线检测技术确定焦点至工件表面距离的诺模图4.3.2 采用源在内中心透照方式周向曝光时,只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的要求.J值可以减小,但减小值不应超过规定值的50%。4.3.3 采用源在内单壁透
17、照方式时,只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的要求J值可以减小,但减小值不应超过规定值的20%。4.4 曝光量4.4.1 X射线照相,当焦距为700mm时,曝光量的推荐值为:A级和AB级射线检测技术不小于15mA. min; B级射线检测技术不小于20mA.mino当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。4.4.2 采用y射线源透照时,总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的10倍。4. 5 曝光曲线4.5.1 对每台在用射线设备均应作出经常检测材料的曝光曲线,依据曝光曲线确定曝光参数。4.5.2 制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件以及底片应达到
18、的灵敏度、黑度等参数均应符合本部分的规定。4.5.3 对使用中的曝光曲线,每年至少应校验一次。射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线进行校验或重新制作。29 图3JB/T 4730.2-2005 4.6 无用射线和散射线屏蔽4.6.1 应采用金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等适当措施,屏蔽散射线和无用射线,限制照射场范围。4.6.2 对初次制定的检测工艺,或使用中检测工艺的条件、环境发生改变时,应进行背散射防护检查。检查背散射防护的方法是:在暗盒背面贴附B铅字标记,一般B铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的
19、B字影像,则说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出现B字影像或出现黑度高于周围背景黑度的B字影像,则说明背散射防护符合要求。4. 7 像质计的使用4. 7. 1 像质计一般应放置在工件源侧表面焊接接头的一端(在被检区长度的1/4左右位置),金属丝应横跨焊缝,细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。4.7.2 像质计放置原则a)单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照规定像质计可放置在糠侧,也可放置在胶片侧。b)单壁透照中,如果像质计无法放置在源侧,允许放置在胶片侧。c)单壁透照中像质计放置
20、在胶片侧时,应进行对比试验。对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计,用与工件相同的条件透照,测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异,以此修正应识别像质计丝号,以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。d) 当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字p作为标记,F标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告中注明。4.7.3 原则上每张底片t都应有像质计的影像当一次曝光完成多张胶片照相时,使用的像质计数量允许减少但应符合以下要求:a)环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时,至少在圆周上等问隔地放置3个像质计。b)球罐对接焊接接头采用源置于球心的全景曝光时,至少在北极
21、区、赤道区、南极区附近的焊缝上沿纬度等间隔地各放置3个像质计,在南、北极的极板拼缝上各放置1个像质计。c)一次曝光连续排列的多张胶片时,至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。4.7.4 小径管可选用通用线型像质1-戎附录F(规范性附录)规定的专用(等径金属丝)像质计,金属丝应横跨焊缝放置。4.7.5 如底片黑度均匀部位(一般是邻近焊缝的母材金属区)能够清晰地看到长度不小于IOmm的连续金属丝影像时,则认为该丝是可识别的。专用像质计至少应能识别11IJ根金属丝。4.8标记4.8.1 透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。标记一般由适当尺寸的铅(或其他适宜的重金属)制数字、拼音
22、字母和符号等构成。4.8.2 识别标记一般包括:产品编号、对接焊接接头编号、部位编号和透照日期。返修后的透照还应有返修标记,扩大检测比例的透照应有扩大检测标记。4.8.3 定位标记一般包括中心标记和搭接标记。中心标记指示透照部位区段的中心位置和分段编号的方向,般用十字箭头斗争表示。搭接标记是连续检测时的透照分段标记,nTHj符号或其他能、显示搭接情况的方法表示。4.8.4 标记一般应放置在距焊缝边缘至少5mm以外的部位,搭接标记放置的部位还应符合附录G(规范性附录)的规定。所有标记的影像不应重叠,且不应干扰有效评定范围内的影像。30 JB/T 4730.2一20054. 9 胶片处理4.9.1
23、 可采用自动冲洗或于工冲洗方式处理,推荐采用自动冲洗方式处理。4.9.2 胶片处理一般应按胶片使用说明书的规定进行。4.10 评片要求4. 10. 1 评片一般应在专用的评片室内进行。评片室应整洁、安静,温度适宜,光线应暗且柔和。4.10.2 评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间。从阳光F进入评片的暗适应时一般为5min-10min;从一般的室内进入评片的暗适应时间应不少于30so4.10.3 评片时,底片评定范罔内的亮度应符合下列规定:a) 吁底片评定范罔内的黑度D:;2.5时,透过底片评定范罔内的亮度应不低于30cd/m2ob ) 吁底片评定范用内的黑度D2.5时,透过底片评定范用内的亮
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