GB T 15078-1994 贵金属电触点材料接触电阻的测量方法.pdf

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1、贵金中华人民共和国国家标准触点材料接触电阻的测量方法凡1easuringmethod for contact resistanct of precious metal elcdrical contact materials 1 主题内容与适用范围GB/T 15078 94 木标准吨定贵金属及其fT金电触点材料接触电阻的测娃方法(静态接触)4: 1iJ; If:.l王1+1)二日f金属坟民合金电触点材料接触电阳的情Ij-j:量。其他金属及合金电触、白材料叶飞IjJ各14(也f1L2 引用标准(B 81 ,/() 数值修约规1113 术语和定义3. 1 仰生:战制!叫川1(川111lCt 他JJI

2、、打17li市止接触、JC连续刊的离合习j忡。3. 2 收指屯IIIiconsrr川10nreslstance ltIh涌i:l:接触面时，闪电流线急刷收缩而产牛的电阻增量。3. 3 1性1rtl lll fllptnbranc re引ance自虫jJIJIE1HLi所产j，rrJ Fll f,IL 3. 4 Ii(, 5. 3. 2 电位器月n提供需要的开路电战，其电阳值视电源的输州而.J)jJ 500 n左轩的tUoLtfio 5. 3. 3 可调电阻用于调节11路电流的大小T川总电阻t;1 ()()O口的|一Jlt式屯阳箱。5. 3. 4 电流失一最小分度为1mAo 5 3. 5标准也!

3、也用来与电压测鼓仪配合，准确测定回路rt!.I! .精度不低f0.02归。5.3.6 开关一-K，为电源涵断开关;几为电流换向开关。5.4 接触电月二回路用于测量探头和试祥间的接触电位差，出下rJ部件组成:5. 4. 1 电压测蛙仪用于测量接触电位差和卅路电丘。它应有合适的t过程.最小分度值;111V精度至少为O.02 % , 5. 4. 2 CJT关一-K，为换向开关;几为选择开关，用于选择试样或标准也阳l币1为也!王测i主仪接人、陆开或短接开关。5.4.3 电位51线应采用单芯导线制成。连接探头的引线JH细而柔软，以减小对探头运功的I:F1力、屯位11线的安装应使体积电阻的引入程度减小到口

4、J以忽略。6 试祥和探头6. 1 试佯为各种型式的贵金属及其合金电触点材料，包括各种电材、销钉、发1草和电镀体试样应取去iki 1匀的部位。6.2 探头出贵金属制成，其参考丽可为球丽、平面和圆柱面。通用探头古n纯金)参考面的粗糙)主肉不大11. 6m需要测定触点材料自身自己对的接触电阻时，探头就采用试样，此时对表团粗糙度不作些求。球面和圆柱面参考面的曲率半径通常分别为O.5!. 6 mm和O.250. 5 mm , 3 连接试祥和探头的电流和电压引线可用压接或焊接的l恒式安装。在安装过程中小能改变待闷!友自1相参考面的原始状态。6.4 试样和探头也在测量前1h内清洗干净，清洗于净的待测表面和参

5、考面不得用于触摸。测咕前!旦使其F燥汀与豆温同温7 试验步骤7. 1 试验条117. ,. 1 安装环境装liJY:远离振动源、高温热i源，元电磁扰和l腐蚀性气体，室内含粉尘量低。实验机应安在IJrJ咽zff座上并lfl1:足够厚的弹性材料。7. ,. 2 电气和机橄条件测虽在i主流电条件F进行。推荐使用的电流为1100mA;开路电压为lmV6V;接触iE力为1500 cFdo若需要，也叮在其他条件F测量。?2 测I武装bl的校验7. 2. 1 校验用标准样品由纯金(纯度关99.9%)1IJ成，表面粗糙度1.不大于1.60) r. 7.2.2 校验在下列负荷范围内任选二种不同的组合进行接触电阻

6、测量z电流Il1011 mA;什i陆也以布20mV.-_日V;接触应力为5-500cN 7.2.3 校5th i去接7.3-7.4条的步骤迸付。每种组合条件下测5个点.每次读数的稳定时IHI沟、itl吨一、1lGB!T 15078 94 /已有7. 2. 4 如果抽!得的接触电阻但均在1.35. 0 rnO范围内，则该装程合恪，否则应找出原!叫f.L), ai阶7. 3 l!1Jt量前的准备7. J 1 断开K，.扎在正向位置.电位器PEi于不输出，也阻民调至最大.1军头央具千年;JI起的fti可J在边电源预热设备。7.3.2 装上试祥和探头汀，接HJI线.调整试样平台使试样与探头对.i.L7

7、. 3. 3 设备顶热后接触孔，调节电位器并用也压测量仪测I才真输出电足，直至需要的开路电H;值为止7.3.4 先将探头|的接触照力i周至零，然后加上所需的压力负荷。探头下降的线速度RJI先调H.以I斤般不再变动。7. J 5 将札置于标准电阻选择位置c降F探头接触试样.调节叮1周电阻使电流升豆所需的值。再用;即l定标准电阻两端的电位差按式(1)准确算出接触电流.若达不到预定位，进一e步调节I闪电阻使其达到。7. J 6 将K.转到试样选择位置，拥11出探头与试样之间的接触电位差.按式(2)出接触电F旺。对大多数贵金属电触点材料(腐蚀、硫化等处理的除外h接触电阻周小于0.1n.否则应重新清洗或

8、查出!原问k7.4 测监7. 4. 1 j斗起探头.变更测量点。利用开关忆和凡，在电流的正反方向上，用电压测量仪分别测H;I标准电阻网端以及探头和试样之间的电位差。在示值稳定后读较.通常的稳定时间为20-30S，必要时也可逆长。l主、禁止在报在与试样附青的情况F变要测量占，以免1m伤探头的毒号面。7.4.2 重复7. 1的操作和测量咽每个样品州至少测培10个不同的点。7.4.3 1去需变更汗路电l王测量，重复7.3.37.4.2的步骤;若需变更接触、股力测量.，在复7二.4飞7. 1.2的步骤;若需变更接触电11Ll量，重复7.3. 57. 4. 2的步骤。上述测髦条件的变史，投由低主Ij1J

9、 的顺序进行。B 数据处理和测量误差8. 1 数据处理先将各测量点在电流的且:反pJI工商1的标准电阻两端的电位差分别代入式(1) .算出.il.反向上的接触电流值。Ie-vn/lzn ( 式巾ln一标准电阻两端的电位差，mV，/( 标准电阻名义电阻值.mO;1,. 接触电流，mAo然后.将正反向接触电流I巳和相对应的探头和试样之间的接触电位ff:V分别代入式(2).1)出IEJ豆向电流下的接触电阻。取它们的平均值为该点的接触电阻，称单次测量值。1(. = V ,./l,. . . . . . .-(:1 式中ll-一探头和试样间的接触电位差.mV;I 接触电阻，mOQ将所有各测量点的单次测量

10、值投式(3)i十算整个测量的平均值代N 瓦:s/(,., .() GB/T 15078-94 式中.R!第iilj!IJ tt点的接触电阻单次llrt，!值.mD;N-f次测量的次数;1 一单次测量的j顺序号.取1、2、11Q 8. 2 数据的奇效位数被W接触电阻的数值为10、10和1O rnn数it级时，所取数据的最后一位有放数伯分别为口川、O. 1和1mL数i直修约按GB8170的规则进行。8. 3误差由I接触rbJf!不是材料阁有的单值4陀能，影响i兰的问素很多，故对测垣约果不给出确定的L豆芽、L电测系统的iE差可以确定，)毛均方根i且主主不大于土2%。9试验报告试验报告包括F列内容:a 本标准号:b. 试样名称、牌号、规格、状态gC. 探头的材质、形状、地格:d. 四己对情况、接触压力、开路电屈;e. 测量结果，包括最大值、最小值、平均值或所有单次测量值3f 环境温度和湿度;g. 训j革过侄中出现的有影响的情况;h. 叫!i!;口期、测量人员。附加说明.本标准由中国有色金属工收总公司提出。本标准由中罔岛色金属_L业总公昆明Ptfk属研究所起草。本标准主要起草人卢邦洪。