GB T 10263-2006 核辐射探测器环境条件与试验方法.pdf

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1、ICS 10.040 F 80 道B中华人民共和国国家标准G/T 10263-2006 代替GB/T10263. 1 10263.10-1988 核辐射探测器环境条件与试验方法Environmental conditions and test procedures for nuclear radiation detectors 2006-03-02发布中华人民共和国国家质量监督检验检瘦总局中国国家标准化管理委员会2006-08-01实施中华人民共和国国家标准核辐射探测器环境条件与试验方法GB/T 10263-2006 9晤中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045

2、网址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销峰开本880X12301/16 印张2.25 字数64千字2006年8月第一版2006年8月第一次印刷峰书号:155066 1-27815 定价17.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533GB/T 10263-2006 目次前言.皿1 范围-2 规范性引用文件-3 术语和定义4 环境条件.34.1 探测器应用环境条件.3 4. 2 探测器环境条件的严酷等级和环境参数.4 4. 3 环境条件及其严酷等级或环境参数的确定.5 环境试验总则-5.1 参考条件和标

3、准试验条件-5.2 试验设备5.3 试验项目及其顺序.5.4 试验样品的准备.5.5 样品在试验中的工作状态65. 6 试验程序5. 7 试验结论和报告5.8 试验中断处理85.9 产品标准应给出的信息.8 6 环境试验方法.8 6. 1 低温试验.8 6.2 高温试验.9 6.3 恒定湿热试验.10 6.4 振动试验.12 6.5 冲击试验.14 6.6 包装运输试验6. 7 自由跌落试验6.8 低气压试验.6.9 高气压试验.6. 10 温度变化试验. 18 6.11 太阳辐射试验.20 6.12 水(滴水或降雨、冲水、浸水)试验.20 6.13 沙尘试验6.14 长霉试验6. 15 盐雾

4、试验.21 6. 16 核辐射照射试验.21 6.17 光效应试验.22 6.四电磁试验.23 参考文献. 29 GB/T 10263-2006 图1探测器环境试验的设备示意图23图2半正弦波冲击脉冲的波形.24 图3规定转移时间的温度变化试验的循环周期24图4规定变化速率的温度变化试验的循环周期表1基本气候环境条件及其严酷等级和环境参数.25 表2可选气候环境条件及其严酷等级和环境参数.25 表3基本机械环境条件及其严酷等级和环境参数.26 表4可选机械环境条件及其严酷等级和环境参数.26 表5机械活性物质环境条件及其严酷等级和环境参数.27表6化学活性物质环境条件及其严酷等级和环境参数.2

5、7 表7生物环境条件及其严酷等级和环境参数27表8核辐射照射环境条件及其严酷等级和环境参数n表9光效应环境条件及其严酷等级和环境参数. 28 表10环境试验的参考条件和标准试验条件.28 E GBjT 10263-2006 目。昌本标准是对国家标准GB/T10263. 1 10263. 10-1988(辐射探测器环境试验基本要求与方法(以下简称原标准)的全面修订，并代替原标准。本标准在原标准文本的基础上，总结原标准贯彻、实施的经验，并结合十几年来核辐射探测技术的进步和产品的发展进行编写。本标准修订遵循的指导思想是突出核辐射探测器(以下简称探测器)的环境条件与试验方法的特殊性，在环境条件的严酷等

6、级和环境参数以及相应的试验方法等方面实现与国际接轨。探测器是核仪器系统探测和测量核辐射的部件，它也可以是独立设计、生产、试验、检验和销售的产品，同一产品的使用环境非常广泛，不同产品之间差别极大。特别是有些探测器对温度变化极为敏感，有些探测器在环境变化时容易受损等。当探测器与核仪器在相同环境下工作时，其严酷等级应高于核仪器;特别是探测器所处的环境条件通常更严酷和更复杂，包括反应堆堆芯、井下、水下等特殊使用环境，可能要经受高核辐射、高气压、水压等环境条件。由于探测器使用环境的特殊性，本标准将其环境条件分为基本环境条件和可选环境条件，而将其严酷等级分为AF共6级。每个等级的环境参数考虑了探测器各类应

7、用环境的需要。A级E级的气候环境、机械环境、机械活性物质、化学活性物质和生物条件的环境参数主要选自GB/T4796-2001 电工电子产品环境参数分类及其严酷程度分级)(idtIEC 60721-1: 1990)，并符合GB/T4798(电工电子产品应用环境条件)(lEC60721-3)(共10部分)关于应用环境条件分类和分级的规定;但充分考虑了探测器的特殊适用性。而核辐射照射和光效应的环境参数则按原标准适当修改。F级的环境参数则留给产品标准等技术文件另行规定。本标准的试验方法符合GB/T2421-1999(电工电子产品环境试验第1部分:总则)Cidt IEC 60068-1: 1988)的要

8、求。本标准对多数常用试验项目依据GB/T2423(电工电子产品环境试验第2部分:试验方法)(lEC60068-2) C共50部分)给出了规范、详细的试验方法，而对其余部分试验项目(例如沙尘、水、长霉、盐雾、太阳辐射等)，则引用GB/T2423提供的方法并给出试验要点。另外，试验方法充分考虑了探测器的特殊性，例如探测器在多数试验中不处于工作状态。本标准对原标准的其他修改如下:一一将原10个分标准合并为一个标准，标准名称改为核辐射探测器环境条件与试验方法); 一一增加贮存和运输环境条件，补充了高温、低温等贮存的试验方法;一一在使用环境条件中增加可选环境条件及其环境参数，包括气候环境条件中的温度变化

9、、低气压、高气压、浸水，机械环境中的自由跌落以及机械活性物质和生物条件等，并补充相应的试验方法;将工频磁场的环境条件扩充为电磁环境条件，其严酷等级或环境参数以及试验方法则直接引用GB/T11684-2003(核仪器电磁环境条件与试验方法。本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位:核工业标准化研究所、北京核仪器厂、深圳市计量质量检测研究院。本标准起草人z熊正隆、周家典、李名兆。本标准首次发布于1988年。阳出GB/T 10263-2006 核辐射探测器环境条件与试验方法1 范围本标准规定了核辐射探测器的应用环境条件及其严酷等级和环境参数，并给出了相应的试验方法。本标准适用

10、于核辐射探测器和探测器部件(以下统称探测器)。本标准不适用于探测器外部火灾、爆炸和其他意外事故所造成的环境条件。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T 2422-1995 电工电子产品环境试验术语(eqvIEC 60068-5-2: 1990) GB/T 2423. 16 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验J和导则:长霉(GB/T 2423. 16-

11、1999,idt IEC 60068-2-10:1988) GB/T 2423. 17 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka:盐雾试验方法(GB/T2423. 17 1993 ,eqv IEC 60068-2-11:1981) GB/T 2423. 24 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Sa:模拟地面上的太阳辐射(GB/T 2423.24-1995 ,idt IEC 60068-2-5 :1 975) GB/T 2423. 37 电工电子产品基本环境试验规程试验L.砂尘试验方法(GB/T2423. 37 1989 ,neq DIN 40046:1978) GB/T 2423.38 电

12、工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验R.水试验方法和导则(GB/T 2423. 38-2005 , IEC 60068-2-18: 2000 , IDT) GB/T 2423. 43 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法元件、设备和其他产品在冲击(Ea)、碰撞(Eb)、振动(Fc和Fb)和稳态加速度(Ca)等动力学试验中的安装要求和导则(GB/T2423. 43 1995 , idt IEC 60068-2-47:1982) GB/T 4796 电工电子产品环境参数分类及其严酷程度分级(GB/T4796-2001, idt IEC 60721-1: 1990) GB/T 8993-199

13、8 核仪器环境条件与试验方法GB/T 10257 核仪器和核辐射探测器质量检验规则GB/T 11684 核仪器电磁环境条件与试验方法GB/T 11804-1989 电工电子产品环境条件术语3 术语和定义GB/T 2422和GB/T11804确定的以及下列术语和定义适用于本标准。3. 1 (核辐射)探头prob (of radiation detector) 一种可能带有前置放大器及某些功能单元的核辐射探测器。它的构造使它能在难接近的或远离与其相连接仪器的位置上工作。GB/T 4960 1996 ,3. 1. 14J 注:本标准将探头称为探测器部件。GB/T 10263-2006 3.2 3.

14、3 3. 4 环境environment 在任何时间和地点所存在的或遇到的自然的和诱发的条件的总和。 GB/ T 11804- 1989 ,2. 1J 环境条件environmental condition 在一定时间内，产品所经受的外界物理、化学和生物的条件。注:环境条件通常由自然界出现的环境条件和产品本身或外源产生的环境条件组成。 GB/ T 11 804- 1989 , 2. 6J 环境因素environmental 产生如热、振动等环境条件合的。 GB/ T 11804- 1989 , 3. 5 GB/ T 11 80 3. 6 固定使用 GB/ T 1180 3. 7 非固定使用产品

15、并不永久性中对产品不包装。总可工作。温度稳定temperature GB/ T 2422- 1995 ,4. 8J 注:本标准中相关规范即是产品标准。3. 9 3. 10 温度稳定时间time of temperature stability 试验样品温度稳定所需要的时间。交越频率crossover frequency 用。但在装振动特征量由一种关系变为另一种关系的频率。如试验的振幅或方均根值CR.M. S)由恒定位移频率函数关系变为恒加速度频率函数关系的频率。 GB/ T 2422- 1995 ,3. 3J 2 GB/ T 10263-2006 3. 11 检查点check point 位于

16、夹具、振动台、冲击台或试验样品上最接近固定点的测量点。在任何情况下，检查点都与夹具、振动台或试验样品刚性连接。 GB/ T 2422- 1995 , 3. 7. 22J 3. 12 基准点referred point 由检查点选出、其信号用来控制试验以满足标准要求的点。 GB/ T 2422-1995 ,3. 7. 23J 4 环境条件在1.1 应用环境探测器的应用b) 1) 2) 3) 4) 5) 4.1 . 2 环境条件探测器在贮存、运输和使a) 气候环境;b) 机械环境;c) 机械活性物质;d) 化学活性物质;e) 生物条件;f) 核辐射照射;g) 光效应;h) 电磁环境。飞凰使百平1易

17、所); 探测器使用中的电磁环境条件，包括辐射型射频电磁场、工频磁场、静电放电、电源的电压暂降和短时中断以及电压和频率的波动、低压交流电源传导的单向瞬态和振荡瞬态等。需要时，电磁环境条件及其严酷等级(例如工频磁场或静电放电)按GB/T11684选定。3 GB/T 10263一20064. 1. 3 环境条件的严酷等级探测器所承受环境条件(电磁环境除外)的严酷等级分依次为A、B、C、D、E和F共6级。探测器环境条件及其严酷等级或环境参数的确定见4.3.2。4.2 探测器环境条件的严酷等级和环境参数4.2.1 概述探测器所承受的环境条件分为基本环境条件和可选环境条件，其中气候环境中的低温、高温和高相

18、对湿度以及机械环境中的振动和冲击是基本环境条件(包括包装件的公路运输)，而其余环境条件是可选的环境条件。在探测器的气候环境、机械环境、机械活性物质、化学活性物质和生物条件中，严酷等级AE的环境参数主要选自GB/T4796，并符合GB/T4798. 3GB/T 4798. 7的严酷等级;但充分考虑了探测器的特殊适用性。而核辐射照射和光效应的环境参数则是对原标准的修改。本标准不规定F级的环境参数，留给产品标准等技术文件另行规定。4.2.2 气候环境探测器的基本气候环境条件有低温、高温和高相对湿度，其严酷等级和环境参数见表10探测器的可选气候环境条件有温度变化范围、温度变化速率、水压、低气压、高气压

19、、降雨强度、降雨外其他水源、太阳辐射、热辐射和周围空气运动，其严酷等级和环境参数见表2。低气压和(或)低温适用于高空或高海拔使用环境，其气压和温度是海拔高度的函数(通常海拔高度每增加1000 m，温度降低5.C，气压降低约10kPa) ，表中的低气压依次表示1730m、3130m、4830m、7 130 m和8130m的海拔高度。高气压和(或)高温适用于井下使用环境，其气压和温度是井深的函数(通常井深每增加1000 m , 温度提高30.C，气压升高约10kPa) , 106 kPa和130kPa分别表示井深570m和2870m的气压。高气压还适用于反应堆堆芯使用环境，其气压为200kPa、3

20、00kPa或500kPa. 高温和低温(水、泥浆)适用于水下和井下使用环境。水压适用于水下使用环境，其水压是水深的函数，水深每增加1m.，水压增加约10kPa，表中100 kPa5 000 kPa表示10m-500 m的水深。4.2.3 机械环境探测器的基本机械环境条件有稳态振动(正弦)，其严酷等级和环境参数见表3，另外还有按运输要求完整包装后的公路运输环境条件。探测器的可选机械环境条件有非稳态振动(包括冲击)、自由跌落、按运输要求完整包装后的跌落、倾倒和静负载，以及角运动和恒加速度等，其严酷等级和环境参数见表4。4.2.4 活性物质和生物条件探测器的活性物质和生物条件是可选的环境条件。活性物

21、质包括机械活性物质和化学活性物质。机械活性物质环境条件主要是空气中的沙、飘浮的尘和沉降的尘，其严酷等级和环境参数见表5。化学活性物质环境条件主要是海盐的盐雾和化学气体，以及地面车辆使用环境中的路盐，其严酷等级和环境参数见表6。生物环境条件包括微生物(GB/T4798称为植物)和动物，其严酷等级和参数值见表7。4.2.5 核辐射照射和光效应探测器的核辐射照射和光效应也是探测器可选的环境条件。核辐射照射环境条件包括辐射惊、照射方向、剂量率和(或)累积剂量或者粒子注量率和(或)粒子注量，其严酷等级和环境参数见表8.光效应环境条件包括光掘及其照度，其严酷等级和环境参数见表9。4 4.3 环境条件及其严

22、酷等级或环境参数的确定4.3. 1 环境条件GB/T 10263-2006 探测器环境条件的确定首先应区分环境试验是属于质量致性检验还是鉴定检验。然后根据探测器的应用环境，按照GB/T10257和相应产品标准确定基本环境条件和可选环境条件。通常仅采用基本环境条件即可;对鉴定检验，可能需要考虑贮存和运输的环境条件。对特殊使用的探测器，还应增加可选环境条件，例如，对井下使用的探测器，应选择高气压和水压等使用环境条件。4.3.2 严酷等级或环境参数依据探测器的产品特点及其对应用环境的要求，对己确定的环境条件，从表1表9选定其严酷等级或环境参数，即AE中的任一级或F级，例如，对井下使用的探测器，依据工

23、作位置的井深从表1选定高温为D级，从表2中确定高气压为B级。探测器的各环境条件可能是互不相关的，在选定其严酷等级或环境参数时，对不同的环境条件可选定不同的严酷等级或环境参数，例如，对反应堆堆芯测量用的探测器，其高温可选E级，而低温可选A级。5 环境试验总则5. 1 参考条件和标准试验条件探测器应在参考条件或标准试验条件(见表10)下进行环境试验。在不产生异议时，通常在正常大气条件下进行环境试验，但在试验过程中，除按需要改变某个环境参数外，其他环境参数应保持在规定的偏差范围内，例如，温度的变化不超过:J:30C，湿度变化不超过+2 3%，等等。5.2 试验设备探测器环境试验使用的设备有辐射源、光

24、源、试验箱(室)、试验台(振动台、冲击台等)，以及测量探测器性能特性的核仪器测量系统，其示意图见图1。试验设备的功能和性能，包括容积和尺寸、内部环境条件的均匀性、参数的可调节范围、偏差或准确度等性能特性应满足试验和有关标准的要求，并通过法定计量部门按有关检定规程或标准进行的检完或校准。例如，与气候有关的试验箱的容积至少为试验样品(提交环境试验的探测器样品)的3倍。5.3 试验项目及其顺序探测器环境试验通常包含的试验项目及其试验顺序如下:1) 低温(贮存或使用); 2) 高瘟(贮存或使用); 3) 恒定湿热(贮存或使用); 4) 振动;5) 冲击;6) 包装运输(包括公路运输、包装跌落和包装准倾

25、倒); 7) 自由跌落;的低气压;9) 高气压;10) 温度变化;11) 太阳辐射;12) 水(滴水或降雨、冲水、浸水); 13) 沙尘;14) 长霉;5 GB/T 10263-2006 15) 盐雾;16) 核辐射照射;17) 光效应;18) 电磁。注:振动试验与冲击试验可对换顺序。通常在同一样品上按顺序进行上述项目的试验，但恒定湿热和长霉试验应使用与其他试验不同的样品。上述项目并不意味着必须进行全部试验，而是依据确定的环境条件和检验(试验)类型(见4.3) ，由5.4 试验样品的准备试验样品应是从设吗验批(质量一致性检验L使用环境条件下t-J谊曾或自由跌落等时，5. 5 梓晶在如验中酌工作

26、状态5.5.1.探测器明药包括探测器部件探测器(榴j探测器部件)械制制鹏肝何时态，试验后门盛能正常工作，主要检、I完整性，同时也可在试验过程中测量某些参数(例如极IBJ毡容绝缘电阻等，具体由5. 6 试验程序5.6. 1 慨述探测器每项环境试验通常包含下海a) 预处理;b) 初始检测;c) 条件试验;d) 中间检测(需要时); e) 恢复;f) 最后检测。5.6.2 预处理在开始试验前，为了消除或部分消除试验样品过去经受的影响和应力，应对试验样品进行预处理。6 GB/ T 10263-2006 预处理方法通常包括对试验样品的清洗、退磁和避光存放等;最简单的预处理是将试验样品在正常大气条件下放置

27、一定时间。5. 6. 3 初始检测在预处理后，应按产品标准规定对试验样品进行外观和结构检查，然后在正常大气条件和工作状态下按5.5对探测器的性能特性进行测量，同时记录初始检测的数据。这些数据应作为试验结果(中间检测和最后检测)比较的依据。5.6. 4 条件试验包括试验样品无形等现象。包括5.6.5的中间检视tc环境影响的相对偏式中:SJ=+|五二旦Ix ， 1 , X 100% I X o I /, I Em - Eo I 几一被测参数在某环境条件Em下的测量值;工。该被测参数在标准试验条件(初始条件下)Eo下的测量值;Em 某环境条件下环境参数的极限值;Eo标准试验条件(初始条件)下该环境参

28、数的参考值。5. 7 试验结论和报告. ( 1 ) . ( 2 ) 在最后检测后，应按GB/T10257和产品标准判定试验结果是否正常，评价和确定该环境试验对探7 GB/T 10263-2006 测器的影响，最后作出试验结论并编写试验报告。5.8 试验中断处理5.8. 1 偏差范围内的中断当试验中断期间环境条件没有超出偏差范围时，中断时间间隔应作为总试验持续时间的一部分，继续进行试验。5.8.2 欠试验条件的中断当出现欠试验条件(即环境条件低于偏差下限)时，应从低于环境试验条件的点开始，重新达到预定的环境条件恢复试验，直到完成预定的试验周期为止。5.8.3 过试验条件的中断当出现过试验条件(即

29、环境条件高于偏差范围的上限)时，通常应使用新的试验样品重新进行试验。但如果过试验条件未直接损坏试验样品或试验样品能修复，则可继续进行试验。如果以后试验中出现试验样品失效，则认为此试验结果无效，应重新进行试验。5.9 产晶标准应给出的信息产品标准采用本试验方法时，应详细给出下列信息(特别是试验设备、试验条件的严酷等级和试验程序与本标准的规定或推荐不相同时): a) 试验设备(需要时); b) 严酷等级(包括环境参数、试验持续时间或循环次数等hc) 试验程序:1) 预处理;2) 初始检测;3) 条件试验，必要时包括安装或支撑的细节;4) 中间检测，包括试验中试验样品的状况;5) 恢复(包括非正常条

30、件下的恢复); 6) 最后检测(包括与初始检测的比较及其偏差的计算方法); d) 有关试验结论和报告的要求。6 环境试验方法6. 1 低温试验6. 1. 1 目的提供一种试验方法，以确定探测器低温贮存和使用的适应性。6.1.2 一般说明6. 1.2. 1 将经过预处理的试验样品放入温度为室温的试验箱内，然后将试验箱内的温度调到规定值。待试验样品温度稳定后，在该条件下暴露规定的持续时间。温度稳定时间可从O.5h16h的范围内选取。试验过程中试验样品可处于工作状态(低温使用)或不处于工作状态(例如低温贮存)。6. 1. 2. 2 在与温度有关的试验(温度变化试验除外)中，温度调节的速率可选0.1o

31、C/min(60C/h) O. 50C/min(30oC/h)，温度调节速率的特殊要求由产品标准另行规定。6. 1.3 试验设备低温试验箱应提供6.1. 4. 1的低温值，并符合5.2的要求。低温箱可用强迫空气循环以保持温度均匀。试验样品不应受到加热或冷却元件的直接辐射。6. 1. 4 严酷等级6. 1. 4. 1 温度试验低温见表1，由产品标准等技术文件按4.3.2选定贮存低温或使用低温，其偏差不超过士30C。8 GB/T 10263-2006 6. 1. 4. 2 持续时间待试验样品的温度稳定后，试验持续时间可选4h , 8 h , 24 h、48人72h或96h。如果本试验作为与低温耐久

32、性或可靠性有关的试验时，则试验所需的持续时间按有关标准规定。6.1.5 试验程序6. 1. 5. 1 预处理将试验样品在正常大气条件下放置一定时间，直到温度稳定。如果试验样品进入试验箱前的温度与试验室的温度差不大于30C时，可视为已经过预处理。6.1.5.2 初始检测将经过预处理的试验样品经外观和结构检查后，不包装、不通电，以正常工作位置或规定位置放入温度为正常大气条件(室温)的低温箱内。待试验样品温度稳定后，通电按5.5检测其性能特性。6.1.5.3 条件试验以6.1.2. 2的速率将低温箱内的温度降至6.1. 4. 1规定的温度值，经过6.1. 2. 1规定的温度稳定时间，使待试验样品温度

33、稳定，再保持6.1. 4. 2规定的持续时间。对功能性能特性试验，试验样品应在工作状态下确定能否达到功能要求。6.1.5.4 申间检测对低温使用，可按5.5和产品标准规定的测量项目和时间进行中间检测，并在试验箱内测量试验样品的性能特性。注:中间检测时不应从试验箱内取出试验样品。如果需要了解试验样品在试验结束前的特定持续时间的性能特性，则对每个特定持续时间应另外增加一批试验样品，对它们进行恢复和最后检测，以获得特定持续时间的性能特性。6. 1. 5. 5 恢复条件试验结束后，首先使试验箱内的处于工作状态的试验样品(低温使用)脱离工作状态，然后按5.6.6进入恢复过程。恢复时间应使试验样品温度稳定

34、，在正常大气条件下为1h，热容量大的试验样品可为2h4 h或更长时间。可采用擦拭或短时间用室温空气吹风的方法，除去试验样品上的水滴。如果产品标准有规定，应在恢复期间按5.5进行试验样品的性能特性检测。当对多个试验样品进行性能特性检测时，恢复时间可适当延长。6.1.5.6 最后检测恢复后应按产品标准规定进行最后检测，包括外观和结构检查以及性能特性测量。低温试验后试验样品应无绝缘降低、开裂、密封失效等现象。6. 1. 6 试验结论和报告在最后检测后，应根据试验结果按5.7给出试验结论并编写试验报告。6.2 高温试验6.2.1 目的提供一种试验方法，以确定探测器高温贮存和高温使用的适应性。6.2.2

35、 -般说明将经过预处理的试验样品放入温度为室温的试验箱内，然后将试验箱内的温度以6.1. 2. 2的速率调到规定值。待试验样品温度稳定后，在该条件下暴露规定的持续时间。温度稳定时间由产品标准在O. 5 h16 h的范围内选取。试验过程中试验样品可处于工作状态(高温使用)或不处于工作状态(例如高温贮存)。6.2.3 试验设备高温试验箱应提供6.2.4.1的高温值，并符合5.2的要求，高温箱可用强迫空气循环以保持温度均匀。试验样品不应受到加热或冷却元件的直接辐射。9 GB/ T 10263-2006 6. 2. 4 严酷等级6.2.4. 1 温度试验温度见表1，由产品标准等技术文件按4.3. 2选

36、定高温贮存高温或使用高温，其偏差不超过士20C(温度高于2500C时，偏差按:l:2%计)。6.2.4.2 持续时间待试验样品的温度稳定后，试验持续时间可选4h, 8 h、24h、48人72h或96h。当本试验为与高温耐久性或可靠性有关的试验时，则试验所需的持续时间按有关标准规定。6.2.5 试验程序6.2.5.1 预处理将试验样品在正常大气条件下放置一玉，与试验室的强度差不大于20C时，可能特性。6. 2.5.5 恢复条件试验结束l口6. 3 恒定湿热试验6.3. 1 目的也只日果试验样品进入试验箱前的温度状态，然后按提供一种试验方法，以确定探测器在高相对温度条件下贮存和使用的适应性。6.3

37、.2 一般说明将经过预处理的试验样品放入正常大气条件的试验箱内，并将试验箱内的温度(以6.1. 2. 2的速率)和相对湿度调到规定值，在该条件下暴露规定的持续时间。对试验加湿的要求如下:a) 不断排出试验箱内的冷凝水，排出的冷凝水在纯化处理前不再用作产生潮温的水;10 GB/ T 10263-2006 b) 箱顶和箱壁的冷凝水不要滴落在试验样品上。6. 3. 3 试验设备潮湿试验箱应提供6.3.4.1的温度和相对理度，并符合5.2的要求。潮湿箱可用强迫空气循环以保持温度和湿度均匀。试验样品不应受到加热或冷却元件的直接辐射。6. 3. 4 严酷等级6.3.4. 1 相对湿度和温度相对湿度和温度见

38、表1，由产品标准等技术文件按4.3.2选定贮存或使用的相对温度和温度，偏差十2不超过3%，温度偏差不超过士20C。168 h。6. 3. 5 试验程序6. 3. 5. 1 预处理将试验样品在正币6.3. 5.2 初始检测将经过预处理的咀呻注:中间检测时不应从性，则对每个特定持能特性。6. 3. 5.5 恢复条件试验结束后，首先使试掘5.6.6进入恢复过程。恢复时间在时间。6.3. 5. 6 最后检测恢复后应按产品标准规定进行最后检测，包括外观和结构检查，按5.5进行试验样品的性能特性检测，记录恢复后的检测数据。恒定湿热试验后试验样品应无锈蚀、开裂、涂层脱落、明显划痕或气泡，灌注物应无隘出或潮解

39、等现象。6.3. 6 试验结论和报告在最后检测后，应根据试验结果按5.7给出试验结论并编写试验报告，偏差计算以潮温前高温下的检测数据或初始检测数据为基准，与高温潮温后高温下的数据进行比较。11 GB/T 10263-2006 6.4 振动试验6.4.1 目的提供一种试验方法，以确定探测器经受振动的适应性以及评价其结构的完好性(包括研究其动态性能特性)。6.4.2 一般说明试验样品在整个试验过程中通常处于非工作状态。本试验方法主要用于非包装的试验样品，也可用于视包装为其一部分的试验样品。本方法主要适用于在使用中将会遭受到由于旋转、脉动和振荡诸力(例如在地面车辆、船舶或飞机上可能出现的)所产生的振

40、动影响的产品，或用于经受机械、地震现象所产生的正弦稳态振动影响的产品。当产品或试验样品的质量性能特性需要用本试验方法进行质量合格鉴定时，应结合有关标准进行试验。6.4.3 试验设备6.4.3.1 振动台的性能特性振动台应符合5.2的要求。当振动台装上试验样品(包括夹具)进行振动试验时，所产生的振动性能特性，包括基本运动、横向运动、加速度波形失真、振幅偏差(容差)、频率偏差和扫频等应符合GB/T 8993-1998中凹的有关规定。6.4.3.2 试验样晶的安装试验样品应牢固地直接或通过振动固定架与振动台刚性连接，而振动固定架的安装应使试验样品沿着规定的不同轴向进行振动(见GB/T2423.43)

41、。6.4.4 严酷等级6.4.4.1 频率范围和振幅值频率范围和振幅值(包括位移幅值或加速度幅值)见表3，由产品标准等技术文件按4.3.2选定。6.4.4.2 耐久试验的持续时间6.4.4.2. 1 概述产品标准应从6.4.4.2.2和6.4.4.2.3的优选值中选取耐久试验持续时间(扫频循环次数或时间间隔)。如果规定的持续时间导致在每个轴线或每个频率的时间大于或等于10h，则可分几个周期进行试验，但不能减少试验样品中的应力(例如热应力等)。6.4.4.2.2 扫频耐久法每个轴线上的耐久试验持续时间用扫频循环次数CfL- fH -fL为一循环)给出，可选取1、2或5。本标准推荐506.4.4.

42、2.3 定频试验法每个轴线上的每一危险频率(由振动响应检查获得)和每一预定频率(由产品标准按6.4.4.1规定)的试验持续时间，产品标准可选取下述数值:a) 10 min士0.5min; b) 30 min:J: 1 min; c) 60 min:J: 1 min; d) 10 h:J: 5 min。对每一危险频率，本标准推荐10min土0.5min;对每一预定频率，本标准推荐30min土1min。6.4.5 试验程序6.4.5.1 预处理需要时，按产品标准规定对试验样品进行预处理。12 GB/T 10263-2006 6.4.5.2 初始检测在正常大气条件下，按产品标准规定对试验样品进行外观

43、和结构检查，按5.5进行性能特性检测。6.4.5.3 条件试验6.4.5.3. 1 概述试验样品在振动试验时通常处于非工作状态。试验样品一般应在三个相互垂直的轴线上依次振动，以暴露绝大部分故障。如果因为振动台或试验样品的限制不能满足三个轴向的振动，可通过改变试验样品的安装方向予以实现，否则需要由产品标准予以说明。结构和性能完全对称的试验样品可适当减少振动方向(由产品标准规定)。轴线的选择应使故障最容易暴露。基准点上的控制信号用于单点控制或多点控制。对带减振器的样品通常应连同减振器一起进行试验;当产品标准规定去掉减振器进行试验时，产品标准应同时规定其安装和试验要求。如果产品标准规定以施加于振动系

44、统的最大驱动力来控制规定的振幅，则应同时规定限制驱动力的方法。6.4.5.3.2 振动晌应检查如果产品标准规定研究试验样品在振动下的性能特性，则应在整个试验频率范围内进行试验。通常，在与耐久试验的时间相等的条件下，在一个扫频循环内完成试验样品的振动响应检查。如果使用小振幅和慢扫频同样能获得准确的结果，则也可采用这种方法。但在进行振动响应检查时，应避免不适当地延长试验时间。当产品标准规定试验样品处于工作状态，但不能确定其机械振动性能特性时，试验样品应在非工作状态进行振动响应检查。进行振动响应检查时，应对试验样品确定导致下列现象的危险频率:a) 出现故障和(或)性能下降;b) 共振以及其他响应现象(例如颤振和颤动)。应记录出现上述现象的所有频率及其施加的振幅，记录试验样品性能的变化，产品标准应规定对此采取的措施。6.4.5.3.3 耐久试验程序(优先采用)应按6.4.4规定的频率范围、振幅值和持续时间进行扫频试验。必要时，可将频率范围划分几段进行试验，但不能减少试验样品所经受的应力。6.4.5.3.4 定频耐久试验(允许采用)本方法可在由6.4.5. 3. 2所得到的危险频率进行试验，或在产品标准规定的预