GB T 10262-1988 小面积镀(涂)层β反散射厚度计.pdf
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1、UDC 681.2: 621. 793 F 83 吁,王主主/I飞口, GB 10262-88 Beta backscattering thickness meter for small a陀aof plating (coating) 1988一12 -30发布1989-10-01实施国家技术监督局发布中华人民共和国国家标准小面积镀(涂)层P反散射厚度计Beta backscattering thickness meter for smal I area of plating (coating) 主题内容与适用范围UDC 681.2: 621. 793 GB 10262-88 本标准规定了利用
2、电离辐射反散射原理,在金属或非金属主主体上对其表面镀(涂)层的厚度进行非破坏性测量的白反散射厚度计的基本性能与其分级,设计要求和性能测量方法与步骤。本标准适用于小面积镀(涂层P反散射厚度计。本标准也运用于微处理机作为数据处理系统,其软、硬件的技术要求,可由制造厂自行制订企业标准,但F反散射测量的各种要求,应符合本标准规定。2 3 引用标准GB 4075 GB 4076 密封放射源分级密封放射源一般规定GB 8993.1 8993 .12 核仪器环境试验基本要求与方法术语3. 1 (电离辐射)厚度计(ionizingradiation)thickness meter 包括一个电离辐射源,并利用其
3、电离辐射对材料的厚度进行非破坏性测量的一种装置。3.2散射scattering 人射的位子或射线与物质相互作用,而使其方向或能量发生变化的过程。3.3反散射backscattering粒子从它进人物体的同4表面而离开该物体的散射。S.4 反散射式测量系统backscattermeasurement sYst em。利用由待测材料和紧挨着它的衬底材料反散射的电离辐射来测量待lij材料厚度的种测量系统。3.5 (物体的反散射系数backscatteringcoefficient 物体反散射的粒11放与其人射粒子数之比,它与放射性活度和测量时间无关。3.6 等效原子序数equivalent atom
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