SJ 20644.2-2001 半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范.pdf

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1、华人民共和FL 5961 SJ 20644/2-2001 、E导子器Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for type GDl 01 PIN photodiode 2001-12-27发布2002-01-01实施中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体光电子器件SJ 20644/2-2001 GD101型PIN光电二极管详细规范Semiconductor optoelectronics devices Detail specification for type GD101 PIN phot

2、odiode 范围主题内容本规范规定了GDIOI型PIN光电二极管（以F简称“器件”）的详细要求。适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采购。分类按本规范提供的器件根据SJ20644-97PIN、APO光电探测器总规范规定为密封等级A级，波长0.4m I.I m; 光锅合类型3型一平面光窗。1. 1 1 . 2 1. 3 引用文件2 第5部分：光电子器fI半导体器件分立器件和1集成电路半导体分立器件试验方法PIN、雪崩光电二极管测试方法PIN、APO：）记屯探测器总规范GB/T 15651-1995 GJB 128A-97 SJ 2354-83 SJ 20644-97 要求3 2002-01-

3、01实施详细要求1：在符合SJ20644和本规范的规定。合格鉴定本规范提交的器件应是经鉴定合格批准的产品。材料3. 3. 1 芯片材料器fI芯片材料为硅。3. 3. 2 号线材料引线材料为可伐合金。光窗材料3. 1 3.2 3.3.3 3.3 中华人民共和国信息产业部2001-1227发布一一一一Lii SJ 20644/2-2001 平面玻璃，光透过率大于90%。结构器件的结构应符合SJ20644和本规范的规定。3. 4. 1 芯片结构芯片结构为PIN.3.4.2 光敏西直径光敏面直径6mm.3.4.3 封装形式器件采用全金属化熔封。3.4.4 引线镀涂引线为镀金，也可按照订货文件规定（见6

4、.2）选择镀层3.4.5 外形尺寸外形尺寸见图1.3.4 毡，一-!- ; ，牛，外形图图1DB AVAVAV m3 符号D 申D飞l/D2 中bL A j k e 1 。（。）尺寸最小值15.1 13.8 10.4 0.4 12.7 3.8 0.8 0.8 公称值2.6 10.0 45 最大值15.5 14.2 11.6 0.6 15.0 4.4 1.2 1.2 外形尺寸图13.4.6 引出端排列引出端排列见图2。2 管脚1、42、53、63.4. 7 号线长度极性正级负级铲冒一SJ 20644/2-2001 . I 2 6 . 15 . - 3 4 . 图2引出端排列可按订货文件规定（见6

5、.2），提供引线氏度不同子图l的器件。3.5 光电性能3. 5. 1 最大额定值最大额定值见表Io 表1T” TA T, r 1, 。c。c。cv mA -45125 -45 100 260 20 10 3.5.2 主要光电特性主要光电特性见表2(TA =25。C）。表2特性符号测试条件P,o, mW 20 极限值段小值政大值E击电流/RID) v.15v 仇o 响应度s .15v o.9 m 民JOV 0.5 ！容c,o, 产Illlz l.15Y t升时间I, 1.1sv RLso n 下降时间Ir 仇JOW 0.9 m 反向击穿电压1 1.=10抖A30 光l甘响应范r I= 15 V，

6、仇30V 0.4 3.6 标志标志0.符合SJ20644和l本规范的规定。1号I上应打印干别杯，止；：型号手n厅，号。4 质量保证规定4. 1 抽样和检验抽样和l检验所按SJ20644耳II本规范的规定。1540 10 12 I . I 仇m飞V10 单位A A飞VpF ns ns v m 4. 1 . 1 表4巾Al分组进行检验和！试验的器fi 可以川于A2分！Jio A2分组合格梓，A可以川于A3分织和A4分到的检验和l试验。如果样本可数不满足抽样要求时，则进行百分之白检验。3 SJ 20644/2-2001 4. 1. 2 鉴定检验总样品量至少应等于B、C组抽样数的2倍4. 1. 3 如

7、果光电参数不合格的器件己随同检验批通过老炼前各项试验，则表5中Bl、B4分组可以用同一检验批中光电参数不合格的器件进行检验4. 1. 4 通过表5中B3分组的器件可继续按表6中cs分组的规定进行试验，直至总试验时间达到I 000 h. 4. 1. 5 4.2 按表6中Cl分组进行检验的器件可以用于表6中C2分组的检验和试验筛选应按SJ20644和本规范表3的规定筛选内部目检（封装前）高温寿命（不工作）温度循环恒定加速度密封a. 细检漏b. 粗检漏光电参数测试/R(D) s 电老炼（高温反偏）最后测试tJR(D) 6S 方法2073 1032 1051 2006 1071 SJ 2354.3 S

8、J 2354.6 1038 SJ 2354.3 SJ 2354.6 表3筛选GIB 128A 条件T,.8125。C1=24 h 除愚低温度45。C外其余技试验条件BYI方向加速度49000 m/s2 不需保持lmin 试验条件HI:加压时间2h; 漏率队I0 Pacm Is 试验条件。加压时间4h: 压力414kPa v.=1s v仇Ov.=t5 v .=0.9 ”m 仇30W试验条件A/=48 h T.=100。Cv.=16 v v.=is v在Of.=15 v0.9 m 仇30W最0.5 极限值最大0.15 I !VD 0.1 !VD 外观及机械检验2071 外观无缺陷，镀层无锈蚀4.3

9、 4.4 4 鉴定检验鉴定检验应按SJ20644和本规范表4、表5和表6的规定进行。质量致性检验质量一致性检验应按A组、B组和C组的规定进行。单位A Ai飞VA A/W 一SJ 20644/2-2001 E检验和试验方法检验和试验方法应按表4、表5和表6及下列规定进行。4. 5. 1 表5中B4分组的键合强度试验可在封帽前进行，表4A组检验极限值小批量分组符号方法条ff 单位LTPD 质量检验最小最大n/c l组5 15/0 外观及机械检GJB 128A 外观无缺陷验2071 镀层无锈蚀2组5 16/0 光电参数测试暗屯流/R(D) SJ 2354.3 l.15 v 民O0.15 A 响应度s

10、 SJ 2354.6 l.=15 v 0.5 Al飞V0.9 m 仇JOW 反向击穿电压1 SJ 2354.2 /=IO A JO v 3分组5 问温试验TA=IOOC 陪电流/R(D) SJ 2354.3 10=15V 150 A ,=O 4分组10 10/0 也容c, SJ 2354.5 1.=15 v 40 pF f= I l.1Hz 上升时间t, SJ 2354.8 1.=15 v 10 ns RL=50 f.1 仇30W 下降时间Ir SJ 2354.8 1.=15 v 12 ns RL=50 f.1 仇30W 光讷1响成也l甘LH SJ 2354. 7 I民15v 0.4 I .

11、I m 仇30V 5 一一一( SJ 20644/2-2001 表5B纽检验呻GJB 128A 小批量质量检验检验LTPD 方法条件n/c 1分组IS 6/0 可焊性2026 耐溶剂1022 2分组10 610 温度循环I 051 除政低温度4SC外，其余技试验条件B密封1071 a. 细检漏试验条件HIz加压时间2h; 漏掉、5xI 0 3 Pacm3 /s b.粗怆漏试验条件C：加压时间4h: 压力414kPa fil后测试见本规范表7步骤l3分组5 12/0 稳态工作寿命1027 v.16V fAIQQ。cr=340 h ( ，岛也反偏政后测试见本规范表7步骤24分组10 键合强度203

12、7 试验条件A至少3个样品LTPDIO 5分组7 12/0 /:;ji/J,寿命（非工作）1032 r，.， 125。cr340 h 最后测试见本规范表7步骤26 A SJ 20644/2-2001 表6C组检验GJB 128A 小批量质量检验LD 方法条件检验n/c1分组IS 610 物理尺寸2066 见本规范图12分组10 610 热冲击1056 试验条件A引出端强度2036 试验条件A:F=IO N, t=IO s土ls 密封1071 a. 细检漏试验条件Hl：加压时间2h: 漏率队lo-Pacm/s b. 粗检漏试验条件C：加压时间4h: 压力414kPa 耐湿1021 外观检验207

13、1 最后测试见本规范表7步骤l3分组10 610 忡击2016 非工作，方向Xl,Yl方向，加速度9800 m/s2，脉宽0.Sms，冲击5次扫频振动2056 非工作，Xl, Yl方向，恒定加速度2066 Yl方向，加速度49000 mis, 时间lmin 最后测试见本规范表7步骤14分组不要求5分组10 12/0 稳态工作寿命1026 T,=100 C t=l 000 h v.=16 v （高温反自）最后测试见本规范表7步骤27 SJ 20644/2-2001 表7步骤检验方法条件符号极限值单位最小值最大值暗电流SJ 23S4.3 只it-tsv 仇o/R(D) 0.1 s A 响应度SJ

14、23S4.6 F气it=ISV -=0.9 m 仇30W s 0.5 NW 2 暗电流SJ 23S4.3 v.=IS V 仇雪。/R(D) 0.18 A 响应度SJ 23S4.6 几ISV -i-o.9 ”m ,=30 W s 0.45 供NW拉I ）不符合3.5.2规定值的器件不准向用户提供4.6 检验数据如果订货文件中己作规定（见6.2，那么制造厂应将质量一玫性检验数据连同产品一起提供5 交货准备包装、贮存和运输要求应符合SJ20644的规定6 说明事项6. 1 预定用途符合本规范的器件，主要用于可见光到近红外领域的探测和测距等。6.2 订货文件内容合同或订单中应载明下列内容：a b. c. d. e f, g. 产品的型号、名称：详细规范的编号和发布日期：检验数据见4.6);订货数量：如果引线不是镀金，应规定镀层见3.4.4):如果引线长度不同于图1，应规定引线长度（见3.4.7):其它。6.3 定义8 本规范使用的定义和符号应符合GB/T15651及以下的规定光谱响应范围z响应度为峰值波长的1/10时的最短和最长波长范围。附加说明z本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由信息产业部电子第四十四研究所负责起草本规范主要起草人z李春芳、姚鸿、王波、郭计划项目代号：B91002.萍