GB T 16608.1-2003 有质量评定的有或无基础机电继电器 第1部分;总规范.pdf

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1、GB/T 16608.1-2003/IEC 61811-1: 1999 前言GB/T 16608(有或无基础机电继电器标准目前分为以下几个部分有质量评定的有或元基础机电继电器第1部分2总规范;有或元机电继电器第50部分.分规范电信用有质量评定的有或元机电继电器;有或无机电继电器第51部分:空白详细规范电信用有质量评定的有或无机电继电器非标准类型和结构;一有或无机电继电器第52部分空白详细规范电信用有质量评定的有或元机电继电器两组转换触点20mmXI0 mm底座;一一有或元机电继电器第53部分:空白详细规范电信用有质量评定的有或无机电继电器两组转换触点14mmX9 mm底座;一有或无机电继电器第

2、54部分z空白详细规范电信用有质量评定的有或无机电继电器两组转换触点15mmX7. 5 mm底座$有或无机电继电器第55部分z空白详细规范电信用有质量评定的有或元机电继电器两组转换触点11mmX7.5 mm底座。本部分为GB/T16608的第1部分，等同采用IEC61811-1:1999(有质量评定的有或无基础机电继电器第l部分z总规范以英文版)。将IEC61811-1 :1999转化为本部分时，根据GB/T1. 1一2000(标准化工作导则第1部分z标准的结构和编写规则规定，作了必要的编辑性修改.为与IEC/TC94新发布的国际电工术语(!EC60050-444: 2002)等继电器系列标准

3、名称一致，本部分的名称由原有质量评定的有或无非时间机电继电器(Electromechanicalnon-specified time all-or-nothing relays of assessed quality)改为有质量评定的有或元基础机电继电器(Electromechanicalelementary all-or-nothing relays of assessed quality)。本部分代替GB/T16608-1996 0 本部分与GB/T16608-1996相比，主要变化如下g增加了规范性引用文件条款和内容s将质量评定的相关技术内容明确列为质量评定程序章;一-将试验分组规则改为

4、分组的定义，并列为附录A(规范性附录。本部分的附录A为规范性附录。本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由全国有或无电气继电器标准化技术委员会归口。本部分起草单位2中国电子技术标准化研究所(CESD0 本部分主要起草人z王淫、史信源。E GB/T 16608.1一2003/IEC61811-1: 1999 有质量评定的有或无基础机电继电器第1部分:总规范1 总则1. 1 范围本部分为总规范，适用于有质量评定的基础机电继电器a为能够对基础机电继电器进行质量评定.本部分规定了鉴定批准和质量一致性检验必须遵循的各程序的定义。在国际电工委员会电子元器件质量评定体系OECQ)内，本部分与相关的分规

5、范和详细规范一起用于继电器的鉴定批准(由独立认证机构进行的第三方认证)。鉴定批准的继电器授予IECQ认证合格证书，有权使用IECQ认证合格标志。另外，本部分除用于IECQ质量评定体系外，还可用于第一方认定(制造厂声明)和第二方认定(用户认证)(按适用的)。但在这些情况下，继电器不能授予IECQ认证合格证书，也不能标IECQ认证合格标志。1. 2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本规范，然而，鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版

6、本适用于本规范。IEC QC 001002(所有部分)IEC电子元器件质量评定体系的程序规则IEC 60027-1 :1 995 电工技术用字母符号第1部分2总则IEC 60050(所有部分)国际电工词汇OEV)IEC 60255-23: 1994 电气继电器第23部分g触点性能IEC 60410 :1 973 计数检验抽样方案和程序IEC60617(所有部分电路图用图形符号IEC 61810-1: 1998有或无基础机电继电器第1部分=通用要求IEC 61810-7 :1 998 有或无基础机电继电器第7部分=试验与测试程序2 质量评定程序2.1 总则IECQ质量评定体系的基本概念是向采购方

7、提供保证，保证所放行的元器件符合相关规范的要求。制造厂在按IECQ质量评定体系规定生产、试验和交付元器件前，其元器件的生产组织、设施、储存和交付体系组织、检验和试验设施及校准系统都必须符合IECQ体系的要求。特别是必须证实组织的所有相关部门均应在其总检验师指定人员的直接控制和监督下。制造厂的这种批准应按IECQC 001002规定。IEC QC 001002中规定的电子元器件鉴定批准程序包括下列连续的基本步骤zd 鉴定批准;b) 质量一致性检验。2. 1. 1 初始制造阶段初始制造阶段是完成继电器零部件加工后的第一道工序，应在每个分规范中加以定义。CB/T 16608. 1-2003/IEC

8、61811-1 : 1999 2. 1. 2 结构相似继电器分规范应对其范围内可认为是结构相似的继电器作出定义。2. 1. 3 分包禁止未经批准的制造厂分包初始制造阶段和(或)其之后的阶段。初始制造阶段(见2.1. 1)之前的任何阶段允许分包。分包应符合IECQC 001002中11.1的要求。2.2 鉴定批准程序鉴定批准检验是对一些继电器进行完整系列的试验，用以确定某一制造厂是否能生产符合相关详细规范要求的继电器。鉴定批准检验由详细规范中规定的所有试验组成。鉴定检验可按如下进行za) 按分规范或详细规范规定抽取一个固定样本(样本应从现行产品中抽取hb) 在一尽可能短的时间周期内抽取规定数量的

9、检验批(至少3批)，从这些批的至少一批中抽取一个样本进行周期检验。应按IEC60410:1973中规定的抽样方案和程序进行抽样。在继电器包含了一定范围的数值或特性时，抽取的样本应包括能代表所申请鉴定批准范围的样品。抽取的样本还应能代表制造的所有过程。制造厂应符合下列要求za) IEC QC 001002中11.1规定的鉴定批准基本规则的通用要求;b) 2. 1. 1中规定的初始制造阶段的要求。另外，制造厂还应符合分规范和详细规范中规定的要求。2.3 质量一致性检验要求在获得鉴定批准后，由制造厂负责保证产品在未重新进行鉴定前应无重要技术更改，并应按详细规范的规定进行质量一致性检验。质量一致性通过

10、检验批达到详细规范规定的质量要求来证实。检验分为两部分:a) 对每一检验批进行逐批检验(作为单批放行的依据), b) 在逐批检验合格的批中抽取样本，按固定周期进行周期检验。分规范应规定试验一览表，分规范范围内的每一个继电器空白详细规范都应包括该试验一览表。试验一览表应规定逐批检验和周期检验的分组。分规范可以根据不同类别或等级规定多个试验一览表。同一个分组中的试验，应按对该分组规定的检验水平(IL)和合格质量水平(AQL)，按IEC60410: 1973中的抽样方案随机抽取一个样本。2.3.1 试验分组分组试验的目的是将对评定继电器使用性能具有同等重要性的所有试验项目组合在同一个组。因此，在同一

11、分组的每一项试验具有相同的检验水平和合格质量水平范围，同一个分组中试验项目排序的依据是试验的破坏性、试验的时间及制造或设计。试验频度取决于试验的复杂性、时间、全部费用和放行不合格继电器产生的影响。具有相同试验频度的特性试验和对继电器功能有相同重要性的试验项目组合在同一个分组中。2.3. 1. 1 组的划分逐批检验分为两组a) A组=由目检、尺寸检查和非破坏性短时电气和机械试验项目组成，这些试验用以评定继电器中主要由制造工艺和设计结构所决定的主要特性，是极重要的。b) B组.由历时大致为一周时间的破坏性和非破坏性试验项目组成，这些试验用以评定继电器中主要由制造工艺和设计结构所决定的特性，是极重要

12、或重要的。周期检验通常汇集在一起称为C组检验。该组检验中由周期性确定一些特性是否保持的破坏性GB/T 16608. 1-2003/IEC 61811-1 , 1999 和非破坏性试验项目组成，还包括在A组和B组检验中的试验项目。这些特性可能与继电器的设计或制造工艺有关，对于继电器的功能可能是极重要的、重要的或次耍的。适用时，D组检验可以包括鉴定批准的保持所要求的附加试验。2. 3. 1. 2 分组的划分组可进一步细分为分组(见附录A)。分组的划分是根据特性对继电器所有功能的相对重要性(极重要的、重要的、次耍的)和试验频度，因此确定了分组中的试验排序。分规范和/或空白详细规范应表明分组中执行的试

13、验或条件试验的顺序，此顺序会影响试验的结果。空白详细规范还应表明在任分组中要遵守的任何试验的具体顺序。当一个分组包括破坏性试验时，在空白详细规范的检验要求试验一览表中，在该分组的标题旁应完整地用文字表明或标上字母D。2.3.2 拒收批的再提交目前无要求。2.3.3 经受过破坏性试验或非破坏性试验的继电器的支付经受过破坏性试验的继电器不应包括在交付批中。经受过非破坏性试验的继电器只要按A组要求复验合格则可以交付。2.3.4 延期交付除规定有不同的周期外，继电器在验收检验后由制造厂保存的时间超过12个月，则应按详细规范规定进行复验。若一整批己进行了复验，则在接着的一个一年周期内不必再进行交付前的复

14、验，或按详细规范中的其他规定。2.3.5 交付的补充程序国际上已认可，由制造厂选择，对于一较低评定水平的订单，可以供应已符合较高评定水平的继电器。2.3.6 非检查的参数当详细规范中给出附加数据时，则这些数据不进行检验。2.3.7 B组检验完成前的交付放行对于所有B组试验项目，当满足IEC60410，1973中的放宽条件时，则允许制造厂在完成全部B组试验前放行继电器。2.3.8 筛选程序当详细规范或订单中规定筛选时，则在质量一致性检验(逐批和周期)的样本组成前，应对生产批中的所有产品进行筛选。试验应按规定的顺序进行。但在生产过程中己按相同的顺序完成的部分筛选试验项目，不必再重复进行。在任何试验

15、过程中发现的任何不合格品，应予以剔除，并对于之后的抽样，不认为是产品批的一部分。当在筛选结束时不合格品数超过产品批总数的10%，则对于预定用途的相应试验一览表，该批应拒收。若不引起矛盾，则该批可以降级使用。3 试验与测量程序试验与测量程序按IEC61810-7的规定。试验一览表按分规范和/或空白详细规范规定。GB/T 16608.1-2003/IEC 61811-1: 1999 附录A(规范性附录)分组的定义AO分组此分组由适用于继电器功能的极重要特性且历时短的试验项目组成。除详细规范中规定的某些特殊应用外，在其他分组抽取样本的各批形成之前，作为筛选或功能分选，应尽可能在生产线上进行100%试

16、验。A1分组g此分组由适用于继电器重要特性且历时短的试验项目组成。A2分组z此分组出适用于继电器次要特性且历时短的试验项目组成。A3分组:此分组由诸如目检等适用于需高度主观判断的特性且历时短的试验项目组成。A4分组.此分组由适用于基本上只与设计有关的继电器功能极重要特性且历时短的试验项目组成。B1分组=此分组由适用于继电器功能极重要特性且历时大致为一周的试验项目组成。B2分组g此分组由适用于继电器重要特性且历时大致为一周的试验项目组成。B3分组g此分组由适用于基本上只与设计有关的继电器功能极重要特性且历时大致为一周的试验项目组成。C1分组g此分组由适用于继电器功能极重要特性的试验项目组成，评定周期一般不超过12个月。C2分组z此分组由适用于继电器重要特性的试验项目组成，评定周期一般不超过12个月。C3分组z此分组由适用于继电器次要特性的试验项目组成，评定周期一般不超过12个月。C4分组z此分组由适用于继电器功能极重要特性的试验项目组成，评定周期一般不超过2年。C5分组:此分组由适用于继电器重要特性的试验项目组成.评定周期一般不超过2年。C6分组z此分组由适用于继电器次要特性的试验项目组成.评定周期一般不超过2年。