GB T 16529-1996 光纤光缆接头 第1部分;总规范 构件和配件.pdf

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1、GB/T 16529一1996前兰fI=t 本标准是根据国际电工委员会IEC1073-1:1994(光纤光缆接头第1部分z总规范一一构件和配件制定的，技术内容和编写规则均与之等同。这样，通过使我国该类产品标准与国际标准等同啕以适应国际贸易、技术和经济交流日益增长的需要。光纤光缆接头在光纤通信和非f言应用中占有重要地位，是已在国际和国内市场上形成规模生产的商品化产品。IEC1073从1991年3月首次颁布后，于1994年7月首次修订，并先后发布三项分规范，即:IEC 1073-2 光纤光缆接头第2部分:分规范光纤光缆接头盒和集纤盘IEC 1073-3 光纤光缆接头第3部分:分规范-光纤光缆熔接式

2、接头IEC 1073-4 光纤光缆接头第4部分r分规范-光纤光缆机械式接头本规范的制定为光纤光缆接头采用国际标准提供必要的技术依据。附录A、附录B均为提示的附录。本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准负责起草单位2上海传输线研究所。本标准主要起草人:黄措显、陈国庆、高文浩、王毅。238 GB!T 16529-1996 IEC前言。IECC国际电工委员会)是由各国家电工委员会CIEC国家委员会)组成的世界性标准化组织。IEC的目的是促进电工电子领域标准化问题的国际合作。为此目的，除其他活动外.IEC发布国际标准。国际标准的制定由技术委员会承担，对所涉及内

3、容关切的任何IEC国家委员会均可参加国际标准的制定工作。与IEC相联系的任何国际、政府和非官方组织也可以参加国际标准的制定。IEC与国际标准化组织OSO)根据两组织间协商确定的条件，保持密切的合作关系。2) IEC在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。3)这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用，并在此意义上为各国家委员会认可。4)为了促进国际立的统二，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异应在国家

4、或地区标准中指明。5) IEC未制定使用认可标志的任何程序。当宣称某产品符合相应的IEC标准时.IEC概不负责。国际标准IEC1073-1是由IEC第86技术委员会(纤维光学的86B分技术委员会(纤维光学互连器件和元源器件制定的。本标准文本以下列文件为依据2国际标准草案表决报告86BC中央办公室)11486BC中央办公室)152表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。本标准封面上的QC号为IECQ规范号。附录A和附录B仅供参考。239 GB/T 16529-1996 IEC序言本标准共分四章、第1章为总则，包括本标准有关的一般资料。第2章为要求，包括本标准规定的光纤光缆接头构件和

5、配件应符合的全部要求。其中涉及产品分类、文件资料、设计和结构、质量、性能、识别标志和包装等方面的耍求。第3章为质量评定程序飞包括本标准规定的产品进行相应质量评定所遵循的全部程序。第4章为测量和环境试验程序，包括质量评定所用的测量方法和环境试验程序。2-10 中华人民共和国国家标准光纤光缆接头第1部分:总规范构件和配件Splices for optical fibres and cables Part 1: Generic specification一Hardware and accessories phu qd nuiv 1 一例udn叫d1 肉，在Cuv4EEh165肌噜E，nHUnHMnH

6、UW 厅汀的皿胆t AU , 1 总则1. 1 范围本标准适用于光纤和光缆接头构件(对中零件、保护零件等)和接头配件(集纤盘、接头盒等)。它包括2对光纤光缆接头构件的要求;一-对光纤光缆接头配件的要求p用于鉴定批准和质量评定的测量与试验程序。1. 2 引用标准下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有放。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB 12507-90光纤光缆连接器第1部分:总规范(idtIEC 874-1: 1987) IEC QC 001001: 1986 IEC电子元器件质量评定体系 0接接头制

7、造厂规定的程序在光缆段L的中部制作接头。j)重复步骤d)至怕，测量Pb，P1和00k)采用4.4.9.-2给出的公式计算光纤1和光纤2间的前向和后向串音。4.4.9.5 规定的细节按适用情况，在有关规范中应规定下列细节2一二光源S，类型，峰值波*.谱线宽度和稳定性;临时接点TJ，类型和特性;一一检测单元Dg类型，频谱响应，动态范围和有效面积;一光缆类型和长度L;一-端接T;性能要求;允许的后向串音;允许的前向串音z与标准测量程序的差别。4. 4. 10 环境光搞合4.4.10.1 日的272 飞GB/T 16529-1996 本程序的目的在于测定接头对环境光藕合进光纤光路的敏感性。4.4.10

8、.2 概述本程序规定了二种测量方法。方法l是一种直接测量方法，以外部光源从各个方向上均匀照射配接接头。方法2为非直接测量方法，测量当激光器激励光纤时配接接头的漏泄光。本方法具有大的动态测量范围，但可能不会像方法l那样给出环境光祸合的确切数值。4.4.10.3 装置测量装置包括2光源S，斩波器C。采用频率为313Hz或939Hz或任何其他不是50Hz或60Hz整数倍频率的方波斩波器s一一校正用的odB-30 dB可变衰减器AT;透镜;积分球IS;一一光散射板F;二个检测单元D;锁定放大器LA;端接T;一一光缆段L;制备光纤自由端并对其作外观控制的必要方法。4.4.10.4 程序方法1:外部光源法

9、方法1在光缆中插入接头前后测量糯合进光纤的环境光。a)按图23所示组成测量装置。b)激励S、C、DD。和LA至足够长的时间便达到稳定。c)以切割或抛光法制备光缆的光纤端，使其平滑为一完整平面并与光纤轴线垂直。d)调整光源S功率使P，接近检测器D检测极限之后，测量P，和孔。e)如图24所示在光缆中插入接头。如有必要，重新调整S的功率使P，相当于孔，测量Pc和P，, g)对多光路接头，如有关规范有要求，对每一光路重复此测量。的按下列公式计算环境光耀合的敏感性:IPrP， 环境光搞合敏感性=10!g!. Po. ) (dB) 式中:Po 插入接头前注入积分球的光功率;P，一一插入接头后注入积分球的光

10、功率pp，一一插入接头前祸合进光纤的环境光功率;Pc 插入接头后娟合进光纤的环境光功率。注。这计算假定P。等于P，. 273 GB/T 16529-1996 ( s 斩搜器C 检测单兀|锁定放大器LA 端接端接积分球15 方法2:内部光源法Do 栓测单元L 图23外部光源法环境光糯合的测量装置光源( s 111 接头斩波器C 光散射板位测单元Do 检测单元图24环境光藕合被试接头P, 10 锁定放大器P, P, 方法2是将未配接接头在积分球中产生的光照水平与配有接头后在积分球中产生的光照水平相比较。接头光纤以激光器光源激励。在光源输出端采用可变衰减器来提高测量装置的动态范围。a)按图25所示组

11、成测量装置。的激励S、C、D和LA使达到稳定。C)按照接头制造厂规定的安装程序以光缆作接头尾缆，接入接头的一半。d)以切割或抛光法制备光缆的光纤端.使其平滑为一完整平面并与光纤轴线垂直oe)调节可变衰减器AT为最大衰减X巾，测量Po。f)按图26所示接入接头的另一半。g)调节可变衰减器AT为最小衰减Xfllm ，测量PCoh)按下列公式计算对环境光精合的敏感性:环境光搞合敏感性二1叫主)十Xm.- xmin (dB) 式中:P。一一接头的一半产生的光照水平;Xmn:一衰减器最大衰减值5274 GB/T 16529 1996 Xmm-衰减器最小衰减值;Pc 配接的接头产生的光照水平。光自草s 衰

12、减器AT c I I ，斩波器物镜锁定放大器LA F po 积分球S 端口I1./2 图25内部光源法环境光桐合的测量装置光摞s 衰减器AT C I I/斩波帮物镜锁定放大器LA r I: 积分球S 端口lL/2 图26环境光藕合被试接头4. 4. 10. 5 规定的细节方法l按适用情况，在有关规范中应规定下列细节2一-光源z类型，峰值波长，谱线宽度和功率3检测单元D。和Dr:类型，频谱响应乖l动态范围，光纤和光缆2类型和长度L;一一积分球(lS)，尺寸p一端接T;一一对多光路接头，进行测量的光路数目和位置p一性能要求;允许的敏感性;一一与标准测量程序差别。方法2按适用情况，在有关规范中应规定

13、下列细节z-光源也类型，峰值波长，谱线宽度和功率;接头L/2 端口2端接275 GB/T 16529一1996检测器单元D:类型，频i普响应和动态范围;一-光纤和光缆2类型和民度;一一积分球IS:尺寸;一一端接T，一一对多光路接头，进行测量的光路数及位置;一一与标准测量程序的差别。4. 4. 11 频谱损耗4.4.11.1 目的本程序旨在测量当在光缆中插入接头时导致的频谱损耗。频谱损耗是依赖于波长的损耗，以dB表示。接头的频谱损耗是由下列因素产生的:一光折射率不连续性，一一光源谱线宽度或相干程度;光纤端面或准宣透镜间的间隙及其光学表面光洁度。4.4. n 2 概述将未截断光纤的频谱损耗与同一光

14、纤插入接头后的频谱损耗相比较。4.4. n 3 装置测量装置包括z一光源S;一单色仪MC;一-分光器BS;激励单元E;一一二个检测器D，一锁定放大器s一斩波器C。采用频率为313Hz或939Hz或任何其他频率不是50Hz或60Hz整数倍的方波斩波器。4.4.11.4 程序a)按图27所示组成测量装置。b)激励测量装置至足够长时间使达到稳定。c)以切割或抛光法制备光缆段L的光纤端，使其平滑为完整平面并与光纤轴线垂直。d)使光纤与光源S、单色仪MC和检测器D适当对中和固定。的在单色仪MC和激励单元E之间安装分光器BS。将监测检测器Dm相对于分光器BS固定。g)按有关规范规定调整单色仪MC的谱线宽度

15、。h)保证稳定性，在有关规范给定的频率范围内改变单色仪波长，测量并记录相应的功率P，和Pmo。如图28所示，在光缆距激励单元为Ll处插入接头。j)重复步骤g)至h)，测量Po，Pm和A。k)按下列公式计算频i普损耗:式中:276 俨J刊0叫;始:才古悲知j2综刽;z刽:引)川(dR1(叫白2刽)及川=斗(另告刽) GB/T 16529-1996 分光器光摞单色仪激励单元检测单元日二企D=:二L 斩波器cl二 I 服曰锁定放大器Pm R LA 图27频谱损耗测量装置分光器;X 激励单元接头工斗MC卡二V-i-V:二| L ,.j I I 二飞/L斗检测单元斩波器c锁定放大器凡I古LA 图28接头

16、频谱损耗, 4.4.11.5 规定的细节按适用情况，在有关规范中应规定下列细节z光纤和光缆:类型和长度L，L1，L2;光源Sz类型，峰值波沃，谱线宽度，稳定性;一-对激励单元E和注入条件的说明;一一测量波沃范围:一一检测单元D和Drn:类型、频谱响应，动态范围，检测器有效面积;性能要求s二)允许的频谱损耗g一一与标准测量程序的差别。4.5 环境试验环境试验程序一览表见表3，4.5. 1 振动(正弦)本程序应按IEC68-2-6试验Fc进行。4.5.1.1 目的本程序旨在评估在正常使用中可能经受的预定频率范围和振幅的振动对试样的影响。在正常使用中遇到的绝大部分振动并非是简单的谐波形式，然而基于这

17、种振动类型的试验提供了模拟实际现场使用的满意效果。本试验适用于:一一光纤上的接头;277 GB/T 16529-1996 一-在集纤盘上固定的光纤上的接头;一一在集纤盘上并由接头盒保护的光纤上的接头。表3环境试验程序一览表程序条程序条振动4. 5. 1 腐蚀性大气(盐雾)45. 17 光纤接头抗拉强度4. 5. 2 尘埃4. 5. 18 夹持装置抗光纤或光缆拉力的有效性4. 5. 3 工业大气(二氧化硫)4.5.19 碰撞4. 5. 4 低气压4.5.20 冲击4. 5. 5 太阳辐射45.21 抗挤压4. 5. 6 核辐照4. 5. 22 轴向压缩4. 5. 7 机械耐久性4.5.23 撞击

18、4. 5. 8 高温耐久性4. 5. 24 恒加速度4. 5. 9 耐溶剂和污染性液体4. 5. 25 霉菌生长4.5.10 密封4. 5. 26 寒冷4. 5. 11 水汽渗透4. 5. 27 干热4. 5. 12 可燃性(火焰伤害)4. 5. 28 稳态湿热4. 5. 13 光缆弯曲4. 5. 29 气候顺序4.5.14 接头盒装配与拆卸4. 5. 30 冷凝4.5.15 光缆扭矩4. 5. 31 温度快速变化4.5.16 接头盒密封耐久性4. 5. 32 4.5.1.2 概述将试样安装在振动台上，以正弦波形振动。在三个互相垂直的方向上对试样进行试验，其中一个方向与光学轴线平行。以恒定位移

19、和(或)恒定加速度的形式规定振幅。按IEC68-2-6试验Fc中不同程序组合各种试验方法。4. 5. 1. 3 装置试验装置包括:振动台;一二适当的试样安装夹具，试验装置应符合IEC68-2-6试验Fc的规定。4. 5. 1-4 程序按IEC68-2-6试验Fc的程序进行。应在三个互相垂直的轴线方向上对试样作振动试验，其中之一应为光学轴线。应以频率扫描而不是固定频率作振动耐久性试验。4. 5. 1. 5 严酷度严酷度由频率范围、振动振幅和每一轴向耐久持续时间的组合确定。在详细规范中应规定严酷度。本程序可规定下列优先严酷度。278 GB/T 16529-1996 频率范围Hz 10-55 10-

20、150 10-500 10-2 000 10-5000 每个轴向耐久持续时间4. 5. 1. 6 规定的细节按适用情况，在有关规范中应规定下列细节z频率范围，振幅:每一方向耐久持续时间号一对试样是否作光学监测;一一预处理程序$恢复程序，一一初始测量和性能要求，试验过程中的测量和性能要求:最后测量和性能要求;与标准试验程序的差别。4.5.2 光纤接头抗拉强度4.5.2.1 日的振动幅度。.75mm恒定振幅(至60Hz) 98 m/s2恒加速度(60 Hz以上)每一规定方向10min 每一规定方向30min 本程序旨在确定光纤与光纤间接头的抗拉强度或确定此抗拉强度是否超过某一规定值。4.5.2.2

21、 概述?告接头轴线对接头的两根引出光纤施加张力负荷，直至光纤断裂，或负荷达到规定的最大负荷值。4.5.2.3 装置试验装置包括:能以规定的速率平稳地施加拉力的装置;能对光纤施加负荷的合适的夹持件;一一能可靠的固定光纤或光缆的夹持件:一一能测量并记录所施加的最大负荷的测力计。4-5.2.4 程序将光纤的二端固定在夹具不动部分，将另一端固定在试验夹具的可动部分;一一以规定的速率平稳地施加负荷，直至达到规定的最大负荷或直至接头或光纤断裂:一一达到规定负荷后至少保持该负荷10So 4.5.2.5严酷度严酷度由负荷幅值确定。在详细规范中应规定严酷度。4-5.2.6规定的细节按适用情况，在有关规范中应规定

22、下歹Ij细节:一一负荷最大值和施加方向:一一施加负荷的速率;一一负荷作用点;279 一对试祥是否作光学监测;预处理程序;一一恢复程序;一初始测量和性能要求;试验期间测量和性能要求;一二最后测量和性能要求;与标准试验程序的差别;GB/T 16529-1996 一一数据表示方法(对被试的熔接式接头失效宜用书布尔分布表示)0 4. 5. 3 夹持装置抗光纤或光缆拉力的有效性4.5. 3. 1 目的本程序旨在确定试样与光纤或光缆的固定或连接承受正常使用过程中可能施加的技力负荷的能力。4.5. J 2 概述牢固地夹持住试样，对光纤或光缆施加拉力负荷。4. 5. 3. 3 装置试验装置包括2一一能平稳地以

23、规定的速率施加拉力的装置;一一合适的光纤或光缆夹持件s一一试祥固定夹持件。4.5.3.4 程序将试样可靠地固定在夹持件上;一一在有关规范规定的作用点上夹住Jt纤或光缆;对光缆平稳地施加拉力;保持此拉力至少10s 。4.5.3.5 严酷度严酷度由拉力负荷帽值确定。在详细规范中应规定严酷度。4,5. J 6 规定的细节按适用情况，在有关规范中应规定下列细节z拉力负荷的幅值和施加速率;拉力负荷作用点;是否对试佯作光学监测z预处理程序;一一恢复程序;一一初始测量和性能要求，一一试验过程中的测量和性能要求g最后测量和性能要求;一一与标准试验程序的差别。4.5.4 碰撞本程序按IEC68-2-29试验Eb

24、进行。4. 5. 4. 1 日的本程序旨在检验当试样承受重复的冲击所产生的累积损坏或性能降低。它也可用来评定试样的结构完整性。本程序作为一种模拟手段检验类似应用中接头和接头盒遇到的重复的冲击造成的对试样影响。280 G/T 16529 1996 4.5.4.2 概述将试样固定在碰撞试验机台面上承受重复的半正弦波脉冲。4.5.4.3 装置试验装置包括:符合IEC68-2-29试验Eb规定的碰撞试验t!1.;符合IEC68-2-29试验Eb规定的夹持装置。4.5.4.4 程序按照IEC68-2-29试验Eb的程序进行。4.5.4.5 严酷度严酷度由峰值加速度、持续时间和碰撞次数的组合确定。在详细规

25、范中应规定严酷度。本试验可规定下列优先严酷度z碰撞次数峰值加速度脉冲持续时间碰撞次数峰值加速度脉冲持续时间4.5.4.6 规定的细节接头的优先严酷度接头盒优先严酷度按适用情况，在有关规范中应规定下列细节z安装细节g一一碰撞次数s一一峰值加速度;一一脉冲持续时间;二一对试祥是杏作光学监测p一一预处理程序;恢复程序;一初始测量和性能要求p一一试验过程中的测量和性能要求$最后测量和性能要求p与标准试验程序的差别。4. 5. 5 冲击本程序应按IEC68-2-27试验Ea进行。4. 5. 5. 1 目的4 000士10390 m/s(40 g 6 ms 1 000土1097 mfs(lO g 6 ms

26、 本程序旨在检验当试样承受非重复性机械冲击时机械缺陷和(或)性能的降低。试验模拟正常使用或运输过程中不常经受的非重复性冲击。4.5.5.2 概述将试样固定在冲击试验机的台面上并使承受半正弦波冲击。4.5.5.3 装置试验装置包括:lHl , GB/T 16529 1996 符合IEC68-2-27试验Ea规定的冲击试验机，一符合IEC68-2-27试验Ea规定的夹持装置。4. 5. 5. 4 程序按IEC68-2-27试验Ea的程序进行。脉冲波形应为半正弦波。4.5.5.5严酷度严酷度由峰值加速度、冲击次数的组合确定。在详细规范中应规定严酷度。本规范可规定下列优先严酷度g294 m/s 490

27、 m/s 981 m/s 4 900 m/s 4. 5. 5. 6 规定的细节峰值加速度脉冲持续时间18ms) (脉冲持续时间11ms) (脉冲持续时间6ms) (脉冲持续时间1ms) 按适用情况，在详细规范中应规定下列细节:一一峰值加速度g冲击次数;试祥是否作光学监测;一一预处理程序号恢复程序;-一初始测量和性能要求;试验过程中的测量和性能要求p最后测量和性能要求:一一与标准试验程序的差别。4.5.6抗挤压4. 5. 6. 1 目的冲击次数8 本程序旨在评定当试样承受挤压负荷时发生的效应。这在诸如被踏踩、被车胎碾过等危险情况下会发生。4.5.6.2 概述以缓冲垫板对试样施加挤压负荷。4.5.

28、6.3 装置试验装置包括z一一一个城盒子或浅盘子，可容纳一块代表地面或地板表面的平板。一-一块弹性或刚性材料垫板，粘结到一块不易弯曲平板上。一-施加应力的装置。4. 5. 6. 4 程序a)将试样放置于浅盒子中试验表面中心。b)平稳地施加规定的负荷。c)在规定的持续时间保持负荷。4.5.6.5 严酷度严酷度由负荷与持续时间的组合确定。在详细规范中应规定严酷度。本试验可规定下列优先严酷度:282 G/T 16529一1996负荷N 50 100 500 1 000 2 000 5 000 4.5.6.6 规定的细节按适用情况，在有关规范中应规定F列细节z一代表地面或地板表面的平板3缓冲垫板材料;

29、一一负荷g负荷持续时间，试样取向;干对试祥是否作光学监测g一一预处理程序;一一恢复程序，一一初始测量和性能要求;一一试验过程中的测量和性能要求;一-最后测量和性能要求;与标准试验程序的差别。4. 5. 7轴向挤压4.5.7. 1 日的持续时间s 1 5 10 60 本程序旨在评定试祥与光缆的固定或连接承受正常使用过程中可能受到的轴向挤压负荷的能力。4.5. ?2 概述牢固地夹持住试样，对光缆施加轴向压缩负荷。4.5. 7- 3 装置试验装置包括:能以规定的速率对试样平稳地施加压缩力的装置;一一合适的光缆夹持件:接头或接头盒的固定夹具。4.5.7.4 程序a)将试样可靠地固定在安装夹具上。b)在

30、规定的作用点上夹持住光缆。c)对光缆平稳地施加轴向压缩力。d)保持负荷至少2mino 4. 5. 7. 5 严酷度严酷度由轴向压缩力的幅值确定。在详细规范中应规定严酷度。本试验可规定F列优先严酷度z283 GB/T 16529-1996 4.5.7.6 规定的细节按适用情况，在有关规范中应规定下列细节负荷幅值;-一负荷作用点;一一施加负荷的速率事对试祥是否作光学监测，一一预处理程序p恢复程序;一初始测量和性能要求;一一试验过程中的测量和性能要求;一一最后测量和性能要求3一一与标准试验程序的差别。4.5.8撞击4.5.8.1 目的负荷N 10 20 50 100 200 本程序旨在评定接头或接头

31、盒承受硬吻局部的或一连串撞击的能力。4.5.8.2 概述使具有半圆柱表面的锤子跌落在放置于耐面的试样上。4.5.8.3 装置试验装置包括2具有规定硬度的帖子;一一具有半圆柱表面洛氏硬度为Rb90的重量可调节的跌落锤;一能提升并下降跌蔼矮的机构，(阿29为一示例。此机构包括一个由缆绳和滑轮与跌落锤相连接的驱动曲柄)。284 G/T 16529-1996 导向件二半圆柱形撞击表面可调重锤50mrn长跌落高度优先值样/人R不小于跌落高度之半nuAHII 、图29撞击试验装置4.5.B.4 程序a)试样按规定的位置和方向放置在陆子上。b)将跌落锤重量调整至规定值。c)将跌落锤升到础子之一七150mm处

32、并跌落。4. 5. B. 5 严酷度严酷度由跌落锤面半径、锤重、撞击次数和落锤高度的组合确定。在详细规范中应规定严酷度。本试验程序可规定下列优先严酷度:跌落锤半径跌落锤重量m口】g 5 50 10 100 20 250 30 500 40 1 000 2000 落锤高度撞击次数口1m150 1 100 4.5.B.6 规定的细节按适用情况，有关规范应规定下列细节:跌落锤面半径;2t: 跌落锤重量z撞击次数;落锤高度z对试样的撞击点;一-试祥方向;对试样是否作光学监测，干预处理程序;恢复程序p初始测量和性能要求;试验过程中测量和性能要求z一最后测量和性能要求;一一与标准试验程序的差别。4.5.9

33、 恒加速度GB/T 16529-1996 本程序应按IEC68-2-7试验Ga进行。4. 5. 9. 1 目的本程序旨在评定恒定加速度在产品使用期间可能出现的幅值对试样的影响。4.5.9.2 概述将试样安装在离心机上，在三个互相垂直平面的各二个方向上承受规定的峰值加速度，上述平面之一与光学轴线平行。4. 5. 9. 3 装置试验装置包括2一一符合IEC68-2-7试验Ga规定的离心机，符合IEC68-2-7试验Ga规定的合适的安装夹具。4.5.9.4 程序按IEC68-2一7试验Ga的程序进行。4.5.9.5 严酷度严酷度由加速度值确定。在详细规范中应规定严酷度。本试验程序可规定下列优先严酷度

34、。加速度值等效的重力加速度值m/s2 49 98 196 498 980 1 960 4900 9800 4. 5. 9. 6 规定的细节按适用情况，在有关规范中应规定下列细节:安装方法p一一接头或接头盒支承与夹持f牛z加速度值;286 E 5 10 20 50 100 200 500 1 000 、一加速度持续时间;一一辅向和加速度方向6对试样是否作光学监测;预处理程序;二十恢复程序;GB/T 16529-1996 一-一初始测量和性能要求;一一试验过程中的测量和性能要求;一最后测量和性能要求:一一与标准试验程序的差别D4. 5. 10 霉菌生长本程序按IEC68-2-10试验J进行。4.5

35、.10.1 目的本程序旨在确定霉菌生长对光纤和(或)接头盒光学和机械性能的影响。本程序以采用规定严酷度的两种试验方法之一研究试样性能下降的未预见原因，要IJ定试样是否由耐霉菌生长的材料制成。4.5.10.2 概述将试样暴露在合制号环境试验箱中的规定培养基里保持规定的时间。本试验程序提供两种不同的试验。试验类型I评定保温28d后霉菌生长程度和由此引起的物理损坏。如果有关规范有要求，应将保温期延至总共84d.检查对试样性能的影响。试验类型E评定以营养物半将染保温28d后霉菌生长程度和由此引起的物理损坏，并检查对试样性能的影响。警告z伴随本试验有潜在的对健康的危害，应注意IEC68-2-10附录A和

36、附录Co4. 5. 10. 3 装置试验装置包括z 一-符合IEC68-2-10试验J规定的合适的环境试验箱5一符合IEC68-2-10试验J规定的具有紧闭盖子的玻璃或塑料容器。4.5.10.4 程序按IEC68-2-10试验J的程序进行。4.5.10.5严酷度严酷度由用来生长的培养基或抱子和试验类型中规定的暴露持续时间的组合确定。在详细规范中应规定严酷度。本程序可规定以下推荐性的优先严酷度:培养基和泡子序号名称定名人典型菌种性质-(只作指导)1 黑曲霉V Tieghem ATCC.6275 在许多材料上大量生长，并抗铜盐12 土曲霉Thom. PQMD.82J 破坏塑料材料3 出芽短梗霉(D

37、e Barry) Arnaud ATCC.9348 腐蚀涂料油漆4 宛氏拟青霉Bainier IAM.5001 破坏塑料及皮革5 绳状青霉Thom. IAM.7013 损坏许多材料特别是纺织品6 猪色青霉Biourge ATCC. 9122 抗铜盐，并损坏塑料及纺织品7 光抱短帚霉(Sacc. )Bain Var. Glabra Thom IAM .5146 破坏橡胶8 绿色本霉Pers. Ex. Fr. IAM .5061 破坏纺织品纤维及塑料287 GB/T 16529-1996 4.5.10.6 规定的细节按适用情况，在有关规范中应规定下列细节.按IEC68-2-10试验J.试验类型;一

38、一采用的培养基和袍子，试样是否作光学监测;预处理程序g一一恢复程序;初始测量和性能要求;试验过程中的测量和性能要求;一一最后测量和性能要求;与标准试验程序的差别。4. 5. 11 寒冷本程序按IEC68-2-1试验Ab进行。4.5.11.1 日的本程序旨在确定接头和(或)接头盒在低温条件下使用和(或)贮存的适用性。本程序与温度的逐渐降低有关对进行低温试验的试样，时间应足够长使试样达到温度稳定状态。不允许在温度变化过程中评定试样耐受能力或工作性能，在这种情况下应采用温度变化程序(见4.5.16)。4.5.1 1- 2 概述将试样置于箱温为环境温度的试验箱中，然后将温度以不超过IC/min的速率降

39、低至试验温度并在规定持续时间内保持此温度不变。保温结束时，试样留在试验箱中，将温度升至环境温度。在进行最后测量前允许在环境温度下使试样达到温度平衡。4. 5. . 3 装置试验装置包括符合IEC68-2-1试验Ab规定的环境试验箱。4. 5. . 4 程序按IEC68-2-1试验Ab的程序进行。4.5.1 l5 严酷度严酷度由温度和持续暴露时间的组合确定，在详细规范中应规定严酷度。本程序可规定下列优先严酷度2E 4.5.11.6规定的细节温度C 一6555 一4025 10 U b 按适用情况，在有关规范中应规定下列细节2温度;一一暴露持续时间;288 持续时间h 2 16 72 96 GB/

40、16529-1996 一一试样是否作光学监测;预处理条件p恢复条件;初始测量和性能要求;干干一试验过程中的测量和性能要求3二一最后测量和性能要求p一一与标准试验程序的差别。4. 5. 12 干热本程序按IEC68-2-2试验Bb进行。4.5.12.1 目的本程序旨在确定在高温条件下试祥使用和(或)贮存的适用性。本程序与温度的逐渐升高有关，对进行高温试验的试样，时间应足够长，使试祥达到温度稳定状态。不允许在温度变化过程中评定试祥耐受能力或工作性能，在这种情况下应采用温度变化程序(4.5.1的。4.5.12.2 概述将试祥置于箱温为环境温度的试验箱中，然后将温度以不超过lOC/min的速率升高至试

41、验温度并在规定持续时间内保持此温度不变。保温结束时，试样留在试验箱中，将温度降至环境温度。在进行最后测量前允许在环境温度下使试样达到温度平衡。4. 5. 12. 3 装置试验装置包括符合IEC68-2-2试验Bb规定的环境试验箱。4.5.12.4 程序按IEC68-2-2试验Bb的程序进行。4.5.12.5 严酷度严酷度由温度和暴露持续时间的组合确定。在详细规范中应规定严酷度。本试验程序可规定下列优先严酷度。温度C 30 155 40 175 55 200 70 85 100 125 持续时间h ，dauq缸b;179 4.5.12.6 规定的细节按适用情况，在有关规范中应规定下列细节:温度-

42、一暴露持续时间p试样是否作光学监测z一一预处理程序F恢复程序;一一初始测量和性能要求;试验过程中的测量和性能要求;, 2民9GB/T 16529-1996 -一最后测量和性能要求;一一与标准试验程序的差别。4.5.13 稳态湿热本程序按IEC68-2-3试验Ca进行。4. 5. 13. 1 目的本程序旨在确定在高相对湿度条件F试样使用和(或)贮存的适用性。本试验主要是能在给定时间内观察恒定温度下高混度的影响。4-5. 13. 2 概述将试样置于试验箱中，在规定持续时间内承受相对湿度为93%的40(:稳态湿热环境的作用。4. 5. 13. 3 装置试验装置包括符合IEC68-2-3试验Ca规定的

43、环境试验箱。4. 5. 13. 4 程序按IEC68-2-3试验Ca的程序进行。4. 5. 13. 5严酷度严酷度由温度、湿度和暴露时间的组合确定，在详细规范中应规定严酷度。本程序可规定下列优先严酷度之一=4. 5. 13. 6规定的细节暴露时间d 4 10 21 56 按适用情况，在有关规范中应规定下列细节z一一暴露持续时间;一一有关去除表面水分的特别注意事项p-一对试验是否作光学监测g一一预处理程序g恢复程序s初始测量和性能要求，一一试验过程中的测量和佳能要求;一最后测量和性能要求;一一与标准试验程序的差别。4. 5. 14 气候顺序4.5.14.1 目的本程序旨在提供标准气候顺序，包括干

44、热、湿热、寒冷和低气压的顺序应用。气候顺序根据IEC68-1第7章标准气候顺序，适用于湿热为4.10，21和56d气候类别的试样。本试验应按照详细规范中规定的程序和严酷度进行。4.5.14.2 概述本程序为气候顺序，试验中试样以固定顺序进行若干气候条件试验。有三种方法z方法l首先使试样暴露在高温下，然后在55.C作一次湿热循环。湿热试验后立即进行寒冷试验，这样侵入试祥表面裂纹中的水分将冻结并引起进一步损坏。低气压试验完成对试样的密封检验。方法2给出更严酷的条件试验。它在每一湿热循环之间插入一次寒冷试验。290 GB/T 16529-1996 方法3为旨在用于逐批检验的短期程序。气候顺序通常在环

45、填试验之后采用，例如在振动或碰撞试验之后证明试祥未因环境试验而开裂或损伤。4.5.14.3 装置在本试验程序中采用的装置包括符合干热、湿热、寒冷和低气压基本试验程序规定的一合适环境试验箱或一系列试验箱。4.5.14.4 程序方法1:a)试样应在上限类别温度或详细规范中规定的温度下经受IEC68-2-2试验Ba。注z当详细规范中规定时，可在高温下对试样进行测量。b)对试样作外观检查。c)在本试验阶段允许有不超过72h的一次中断。在中断过程中，试样应保持在正常试验室环境条件下.lSC-3SC。d)环境类别为/-/4或一/-/10或/-/21或/一/S6的试样应经受IEC68-2-30试验Db.严酷

46、度B.型式1.24h一个循环，接着恢复1.Sh-2h。e) d)项湿热循环试验后试样应立即在下限类别温度或详细规范中规定的温度下经受IEC68-2-1 试验Aa.2h. 注:当详细规范中规定时，可在低温下对试样进行测量。在本试验阶段允许有不超过72h的一次中断。在中断过程中，试祥应保持在正常试验室环境条件下.1SC-3SC。g)然后采用详细规范中规定的严酷度使试样经受IEC68-2-13试验M。除非在详细规范中另有规定，应在1SC-3SC下进行低气压条件试验1h. h)在本试验阶段允许有不超过72h的-次中断。在中断过程中，试样应保持在正常试验室环境条件下.1SC-3SC。i)然后试样应进行下

47、列循环次数的IEC68-2-30试验Db.气候类自l循环次数一/一/565 一/一/211 一/-/101 /- 14 1 j)当详细规范中规定时，在规定的试验循环次数后应从试验箱中取出试样，摇动试样去除水滴，并在15min之内进行光学和机械检验。k)允许试样在标准恢复条件下恢复1.5h-Zh.l)应按照详细规范中规定对试样进行外观检查、光学和机械检验。m)当在详细规范中规定延沃恢复时，试样应保留在标准大气条件下延长恢复24h.延长恢复期结束时应对试样作外观检查，并应按详细规范规定测量插入损耗，测量结果应符合本规范要求。方法2，a)当详细规范中要求时，本方法适用于气候类别为一/一/5日的试样。

48、b)应对试样按方法I步骤a)-灿的要求进行试验。c)然后试样应经受IEC68-2-30试验Db一个循环24h.接着是l.Sh-2h恢复期。d)在本条步骤c)湿热循环后，试样应立即在下限类别温度下经受lEC68-2-1试验Aa2h. e)应再对试样进行本条步骤c)和d)三次，接着进行本条步骤c)。当这一系列循环所用的时间太长291 GB/T 16529-1996 而有必要中断程序时，如l程序中允许有不超过72h的一次中断.任何此类中断必须发生在寒冷循环和下列湿热循环之间。当详细规范中规定时，应接着将试样从试验箱中取出，摇动试样去除水滴并在15min内进行规定的光学和机械检验。g)对试样进行外观检

49、查并按相关分规范和(或详细规范中的规定作光学和机械检查。有关规范可规定试样在标准大气条件下再恢复24h。h)在恢复期结束时，应对试样作外观检查并按有关分规范和(或)详细规范规定进行插入损耗测量，测量结果应符合本规范要求。方法3: 方法3除下述情况外，与方法1相同。a)方法1步骤a)中干热条件试验后无外观检查要求。b)仅当详细规范要求时方采用方法1步骤g)中试验M低气压条件试验。c)在方法1步骤i)第二次采用IEC68-2-30试验Db严酷度B型式I循环湿热条件试验时，试样应仅经受一次循环。4.5.14.5 严酷度严酷度由干热温度及持续时间、湿热温度及持续时间、寒冷温度及持续时间和低气压及持续时间的组合确定。在基本程序中方法1、2、3具有优先严酷度。4.5.14.6 规定的细