GB T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法.pdf
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1、G/T 1 6526 1 996 去口本标准等效采用半导体设备与材料国际组织(SEMI)的国际标准SEMIG24 89(测量封装引线的引线间电容和负载电容。本标准可用于集成电路各类封装的引线间电容和引线负载电容的测血。本标准的第3章是由SEMIG24一89的第3章和第4章合并而成,条款作了相应处理。同时删除了SEMI G24 89中的表1,修正了图2中的错误。本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国集成电路标准化分技术委员会归口。本标准起草单位:上海无线电七厂、西安微电子技术研究所。本标准主要起草人:叶曾达、王先春。中华人民共和国国家标准封装引线间电容和引线负载电容试方法Test m
2、ethod measuring the lead-to-lead and loading capacitance of package leads GB/T 16526 1996 本标准规定了半导体集成电路封装引线间电容和引线负载电容的测试方法。本标准适用于半导体集成电路陶瓷、金属、塑料封装引线间电容和引线负载电容测呈。2 设备和器材2. 1 电容仪采用加屏蔽的两探针法,并配有两根同轴电缆的电容仪,也可采用加屏蔽的四探针法的电容仪,但必须将四根探针在电缆端处改接成两探针。两种方法均要求用于屏蔽连接的绝缘线的线径大于等于1. 0 mmo除非具体设备另有规定,应保持同轴电缆于最小长度(1m)。电容
3、仪的准确度为士2%,范围为O100pF。探针屏蔽必须连接在一起,连线长度应尽量短,大约为2.5 cm5 cm。2.2 探针台配有两根同轴探针和d根普通探针的微动探针台(推荐使用同轴探针的型号为44-FPC-6000,普通探针型号为OON-FPC-6000)。,、:口.1.) I且甘3. 1 测引线间电容3. 1. 1 置电容仪测试频率选择开关于1MHz,如果电容仪具有电缆长度选择开关,则调节开关选择适当的同轴电缆长度。3. 1. 2 将封装上所有最接近待测引线的引线连接在一起。例如对于68线陶瓷针栅阵列封装待测引线周围的8根引线要连接在一起,对于124线陶资针栅阵列封装,待测引线周围的12根引
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