SJ 20293-1993 半导体集成电路JT54LS243、JTLS245型LS-TTL双向总线发送器 接收器（3S）详细规范.pdf

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1、中-FL 5962 SJ 20293 93 、I、 J Detail specification for types JT54LS243、JT54LS245of bus transceivers with three-state ortputs LS一TTLsemiconductor integrated circuits 1993-05-11发布1993-07-01实施中华人民共和国电子工业部批准目次1 范围. . 1. 1 主题内容. 1. 2 适用范围. 1. 3 分类 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . I 2 引用文件. . . .

2、 . . . 3 要求3.1 详细要求3.2 设计、结构和外形尺寸. 3.3 引线材料和涂覆. 3.4 电特性. 3.5 电试验要求. . . . . . . . 3.6 标志.IO ., . 3.7 微电路组的划分. 4 质量保证规定. 4.1 抽样和检验. 4.2 筛选. . . . 4.3 鉴定检时4.4 质量一致性. . . . . . . . 4.5 检验方法5 交货准备5.1 包装要求. 6 说明项.，6.1 订货资料.6.2 缩写、符号和定义6.3 替代性. , (1) 、，咱i，.、EJ4. ，、，4且，.、(4) (4) (4) (4) (7) (7) (10) (16) (

3、16) (16) (16) (16) (19) (19) (27) (27) (27) (27) (28) (28) (27) 中华人民共和国电子工业行业军用标准半导体集成电路JT54LS243、JT54LS245型LS TTL双向总线发送器/接收器(3S)详细规范SJ 20293 93 Dctail spccification for typcs JT54LS243、JT54LS2451 范围1. 1 主题内容of bus transccivcrs with thrcc statc outputs LS TTL scmiconductor intcgratcd circuits 本规范规定了

4、硅单片JT54LS243、JT54LS245型双向总线发送器/接收器(以下简称器件)的详细要求。1.2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采购。1. 3 分类本规范给出的器件按型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。1. 3. 1 器件编号件编号应按GJB597(微电路总规范第3.6.2条的规定。1. 3. 1. 1 器件型号器件型号如下:器件型号JT54LS243 JT54LS245 1. 3.1.2 器件等级器件名称四双向总线发送器/接收器(3S)八双向总线发送器/接收器(3S)级应为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的Bl级。1. 3. 1. 3 封装形式封装形

5、式如下:中华人民共和国电子工业部1993-05-11发布1993-07-01实一1一SJ 20293 93 字母封装形式1)C OP3(陶瓷无引线片体封装)D D14臼(陶瓷双列封装)D20S(陶瓷双列封装)F FI4X2(陶瓷平封装)H HI4X2( 瓷熔封扁平封装)J J14S3(陶瓷熔封双列封装)J20M3(陶瓷熔封双列封装)注:1)按GB7092(半导体集成电路外形尺寸。1.3.2 绝对最大额定值项目电源电压入电压贮存温度功耗1)引线耐度( 105) 结定符 号Vcc V( T啕Po Th Tj JT54LS243 最最大一0.57.0 -1. 5 7.0 -65 150 297 30

6、0 175 注:1)器件应能经受测试输出短路电流(Ios)时所增加的功耗。1.3.3 推荐工作条件推荐工作条件如下:项目符电电压入高电平电压入低电平电压输入高电平电流入低电乎电流工作环境温度2 引用文件Vcc VlH V(L IOH IOL TA 半号GB 3431.1 82 GB 3431.2 86 2一半导体JT54LS243 最最大4.5 5.5 2.0 0.7 -3 由1212 -55 125 电路文字符电路文字符号引出JT54LS245 最最大-0.5 7.0 -1. 5 7.0 -65 150 522.5 300 175 JT54LS245 最4.5 2.0 -3 -55 字符号功

7、能符号最大5.5 0.7 -12 12 125 单位V V mW 单位V V V mA mA GB 3439 82 GB 4590 84 GB 4728.12 85 GB 7092 GJB 548 88 GJB 597 88 GJB X X X 3 要求3. 1 详细要求臼2029393 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理半导体集成电路机械和气候试验方法电气图用图形符号二进制逻辑单元半导体集成电路外形尺寸微电子器件试验方法和程序微电路总规范电子产品防静电放电控制大纲各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。

8、3.2. 1 逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。a. JT54LS243 逻辑符号引出列D、F、H，J型C型ENBA ENl EVAB EN2 1A 4 !i71 飞2EN 4A 4 EN v BBB A吨，句J4B 58 闰闰t白QClI:、&J: V咱一mm姐姐拍到归宿栩1 20 17 16 lS 14 LO 1112 13 2 qd白ydaTeJ，。句F白西忧UAA凋，.F、d，nv7A 1234567 89M MMM叫UMlB b. JT54 LS245 逻辑符号EN M BBmmBB-B B-A5、678?幽191 J- 2

9、A AA战imMA咄咄qua吨，-4、-dcc一逻辑图4 一SJ 20293-93 2A lB lA 2B 3A 3B 4A AB 5A 6A 5B 7A 6 78 8A M. EN 8B 一图1逻辑符号、引出端排列3.3.2 功能表功能表如下:a. JT54LS243 控入功能ENAB ENBA HLHL HHLL B到A1) 隔离A到B注:1)如收发器两个方向同h贝。可能发生破坏性振蔼。5一臼2029393续表11 条件范值(若无其它规定.特性符号单位- 55C :;:; T A:;:; 125C ) 最小最大电源电流1cCH Vcc=5.5V 所有输出为高电平38 rnA 1CCL 所有

10、出为低电平50 1ccz 所有出为高阻态50 出短路电流1)1c后Vcc=5.5V -40 -225 mA 出间tpLH V= 5V, RL = 6670, 25 ns tpHL CL=45pF 30 输出允许时间tpZH VCC= 5V, RL =6670, 36 ns tpZL CL = 45pF 46 输出止时间tpHZ V CC = 5V, RL = 6670, 46 ns tpLZ CL罕5pF39 注:1)不能有一个以出端同时短路，输出短路时间不超过1秒。表1一2JT54LS245电特性条件范值特性符号(若无其它规定，单位- 55 c :;:; T A :;:; 125 c ) 最

11、小最大t入籍位电压V1K V CC = 4. 5V, 1IK = - 18mA( T A = 25C ) -1.5 v 出高电平电压VOH1 VCC=4.5V, VIH=2.0V, 2.4 V I佣=-3mA, V1L=0.7V Vg V=4.5V， VIH=2.0V, 2 v I佣=-12mA, V1L=0.5V 输出低电平电压VOL Vcc=4.5V, VIH=2.0V, 0.4 V VOL= 12mA, V1L=0.7V 出高阻态时高电10ZH Vcc=5.5V, VIH=2.0V, 20 A 平电流Vo=2.7V, V1L=0.7V 出阻态时低电10ZL Vcc=5.5V, VIH=2

12、.0V, -200 A 平电Vo=0.4V, V1L=0.7V 最大入电压时的11H Vcc=5.5V A或BVIH=5V 100 A 输入电流EN或MVIH=7V 100 输入高电平电流1JH Vcc=5.5V, VIH=2.7V 20 A 输入低电平电流1IL Vcc=5.5V, V1L=0.4V -200 A 电电流1c汇HVcc=5.5V 所有输出为高电平70 rnA 1ccL 出为低电平90 1ccz 出为高阻态95 一7一SJ 20293 93 续表12 条件规范特性符号(若无其它规定，单位- 55C ,.; T A; 125C ) 最小最大输出短电流。Ios Vcc=5.5V 甲

13、40-225 mA 出传时间tpUi Vcc= 5V. RL = 6670. 22 ns tpHL CL = 45pF 22 输出允许时t PZf Vcc = 5V. RL = 6670. 58 ns tpZL CL=45pF 58 出止时间tpHZ Vcc = 5V. RL = 6670. 39 ns tpLZ CL= 5pF 39 注:1)不能有一个以上的输出端同时短路.输出短路时间不超过1秒。3.5 电试验要求各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组，各分组的电测试按本规范表3的规定。表2电试验要求分组(见表3)项自B级器件Bl 器件中间(老化前)电测试Al Al 中间(老化后

14、)电测试All) All) 最终电试A2.A3.A7.A9 A2. A3. A7. A9 A组检验电试Al. A2. A3. A7. A9. AI0. All Al. A2. A3. A7. A9 B组终点电试Al C组终点(方法5005)Al, A2.A3 Al. A2. A3 C组增加的分组AI0. All D组终点电试(方法5005)Al. A2. A3 Al. A2. A3 注:1)该分组要求PDA计算(见4.2条)。8一SJ 20293 93 表31 JT54LS243电测试引用标准条件规范值分组符号单位GB 3439 (若无其它规定，TA=25t) 最最大Al V(K 2.1条V=

15、4.5V，被测I(K= -18mA 1. 5 V VOIn 2.2条V c= 4. 5V, EN、EN端O. 7V, A端接2V，测2.4 V B I佣=-3mA，EN、EN端接2V，B2V, A I佣=-3mA VOH2 2.2条V=4.5V，EN、EN端接O.5V, A 接2V，2 V B IOH= -12mA, EN、EN端接2V，B端2V，逐A I佣=-12mA VOL 2.5条V = 4. 5V, EN、EN端接O.7V. A 0.7V.逐0.4 v 测BIOL = - 12mA. EN、EN接2V.B接O.7V.逐测A端IOL= 12mA + IOZH 2.23条V=5.5V.EN

16、端接0.7V.逐测AVO= 2. 40 A 7V; 2V.逐测B端Vo=2.7VIOZL 2.24条V c= 5. 5V. EN 0.7V.逐测AVO= O. -200 A 4V;EN端接2V.逐测B端Vo=0.4V寸I(L 3.13条Vc=5.5V.被测输入V(=0.4V-200 A A时.EN接GND;测B时.EN接5.5V)h 2.11条V= 5. 5V，被测输入A或BV(= 5. 5V 100 A A时.EN接GND;B时.EN接5.5V)V= 5.5V，被测EN或ENV(=7V 100 I(H 2.12条V =5.5V. 入V(=2. 7V 20 A (测A时.EN接GND;测B时.

17、EN接5.5V)IH 2.26条V=5.5V.A端接5.5V. EN端接GND.EN端接38 mA GND IcL 2.27条Vc= 5. 5V. A端接GND.EN端接GND.EN端接50 mA GND Iz Vc=5.5V.EN端接5.5V，EN GND 50 mA Ios 2.21条V = 5. 5V, EN端、EN端接GND.A端接5.5V.被-40 -225 mA B端逐接GND.EN端、EN端接5.5V.B端接5.5V.被测A端逐接GNDA2 TA = 125t，除V(K不测试外.参数、条件、规范值要求同Al分组A3 TA= -55t.除V(K不试外.参数、条件、规范值要求同Al分

18、组A7 V=5V，按功能表进行测试一9一SJ 20293 93 续表31 引用条件范值分组、号单位(若无其它规定TA =25C) GB 3439 最最大A9 tpLH 3.4条Vcc = 5V. CL = EN、EN接GNDA曾B18 45pF. ns EN、EN接4.5VB.A RL=667!l 3.5条EN、EN接GNDAWB tpHL 见本规范围218 ns EN、EN接4.5VB.A tPZH 3.6条A接4.5V.ENGN叫ENB23 ns B接4.5V. EN接4.5VEN .A tPZL 3.7条A接GND.EN接GNDEN-B 30 ns B接GND.EN接4.5VEN A t

19、pHZ 3.8条VCC=5V.CL=5pF. A接4.5V. EN接GN叫EN-B30 ns RL=667!l B接4.5V.EN接4.5VEN .A tpLZ 3.9条见本范困2A接GND.EN接GNDEN-B 25 ns B接GND.EN接4.5VEN .A AI0 tpLH 3.4条TA = 125C.条件同A9分组A-B 25 ns 3.5条B.A 25 tpHL tPZH 3.6条36 EN-B ns 3.7条EN .A 46 tPZL tpHZ 3.8条ENB 46 ns 3.9条EN A 39 tpLZ All TA = -55C.参数、条件、规范值同AI0分组表3一2JT54

20、LS245电测试引用标准符号GB 3439 条件大值一最古T|最单位(若无其它规定TA = 25C) Al V1K 12.1条Vcc=4.5V. 入端IIK=-18mA 1. 5 V Vom!2.2条!V=4.5V. 0.7V. 收发器的入2.4 IV VIH=2V. 出IOH= -3mA (M为2V.测BoM为0.7V.测A)VO叫2.2条V= 4.5V. 0.5V.被测收的1人2 IV V1H=2V.被出端IOH=-12mA (M为2V.测BoM为0.5V.A) VOL ! 2.5条Vcc=4.5V. 0.7V. 测收发器的输入0.4 I V V1L = O. 7V. 出端IOL= 12m

21、A (M为2V.Bo M为0.7V.A) 一10一臼2029393 续表32 引用标准条件规市值分组符号单位(若无其它规定，TA = 25C) GB 3439 最最大Al IOZH 2.23条Vcc=5.5V, 2V，被测端Vo=2.7V20 A IOZL 2.24条V=5.5V，EN端接2V，被测端Vo=0.4V-200 A I(L 3.13条V= 5. 5V，被测入V(=0.4V- 200 A I( 2.11条V=5.5V，EN端接5.5V，被|A或B100 P.A V(=5.5V Vcc= 5.5V，被1入EN或MV(=7V 100 IIH 2.12条V=5.5V，EN端接5.5V，被测

22、输入V(=2.7V20 P.A 2.26条CC ICCH 70 mA 节带按十 飞，.1、ICCl 2.27条90 mA Iccz Vcc=5.5V，EN端接5.5V95 mA Ios 2.21条V=5.5V，EN端接GND，被测输出接GND-40 -225 A (M为GND，测AoM为5.5V，B) A2 TA = 125C，除V恨不试外，参数、条件、tiZ值要求同Al分组A3 TA = - 55 C, V(K不试外，参数、条件、范要求同A1分组A7 Vcc=5V，按功表进行试A9 tpLH 3.4条V CC= 5V, CL = 45pF, RL = 6670, l端接A h B 地，见本规

23、范图217 ns tpHL 3.5条(M为GND，Ao M为4.5V，测B)B.A tpZH 3.6条V CC= 5V, CL = 45pF, RL = 6670, A、BENA 分别接4.5V，见本规范图2EN W B 40 ns (M为GND，测AoM为4.5V，测B)tpZL 3.7条V= 5V, CL = 45pF, RL = 6670, A、B端EN-B 分别接GND，见本规范图2EN-A 40 ns (M为GND，测AoM为4.5V，B) tpHZ 3.8条V CC = 5V, CL = 5pF, R L = 6670, A、BEN W A 别接4.5V，见本规范图2ENB 2 2

24、5 ns (M为GND，Ao M为4.5V，测B)tpLZ 3.9条VCC= 5V, CL = 5pF, RL = 6670, A、BEN-B 别接GND，见本规范围2ENA 2 25 ns (M为GND，Ao M为4.5V，B) 一11一SJ 20293 93 续表32 分组符号引用标准条件规范值单位GB 3439 (若无其它, TA = 25C) 最最大AIO tpLH 3.4条TA = 125C，条件A9分组AB 22 ns BA tpHL 3.5条22 tpZH 3.6条EN-B 58 ns tpZL 3.7条EN A 58 tpHZ 3.8条ENbB 39 ns tpLZ 3.9条E

25、N A 39 All TA = -55C，参数、条件、范值同AIO分组负载线路Vcc RL 出端st 5kn S咀电压波形3v 入1. 3V Ov tpLH tpUf V)H 输出11. 3V VOL 出2tpLH tpLH Vc旧1. 3V 1. 3V Vc陀传输延迟时间的电压波形12一SJ 2029393 v EN输入(高电平允许)1. 3V 、1.-1. 3V Ov 低电平允许)飞午1.3V才4.3V3v Ov lt.(剧输出1南昌4.SVIv 01. + O. SV句1.5v 1. 3V OL VOL 出2.tt.J;.UlZP , 1.3V 一一一出允许和禁止的电压波形注:st闭合，

26、乌开启时测量t阻.St开启.闭合时测量tpzust闭合.闭合时测量tPHZ，tpLZ、tpLH和tpHLOVOH 句I.SV测tpHLtpLH tpzL和tPZH时CL=45问:测tp田和tpl.z时CL= 5pF(包括显示器探头和夹具电容)。RL=6670士5%。所有二极管为2DK76或等效型号。脉冲发生器:f = lMHz. Zo= 500. V m= 3V. t，15ns. t，骂王6ns。图2开关测试负载线路和电压波形图3.6 标志标志应按GJB597第3.6条的规定。3.7 微电路组的划分本规范所涉及的器件为第9微电路组(见GJB597附录E)。4 质量保证规定4. 1 抽样和检验除

27、本规范另有规定外，抽样和程序应按GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2 筛选在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB方法5004和本规范表4的规定进行表4筛选程序若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。条件和要求项目B级件81级件说明方法条件方法条件内部目检2010 试验条件B2010 条件B(封帽前)稳定性烘烙1008 试验条件C1008 试条件C(不要求终(150C 24h) (150C .24h) 点电l试)一13一臼2029393 续表4条件和要求项目B级器件B1级件说明方法条件方法条件环1010 件C1010 件C可用方法1011试验条件A替代

28、恒定加速度2001 牛E.2011 f牛D.Y1方向Y1方法目检可在密封选后进行。引线断落、外壳破裂、封普脱落为失效斗中间(老化本规程A1分组本规范A1分组由制造厂决定是否进行本筛电试老化1015 试验条件D或1015 试验条件D或采用本规范图3线路E( 125t 160h) E (125t.160h) 中间(老化后)本规范A1分组本规范A1分组电测试允许不合格品10% .本规范A1分组，当10% .本规范A1分组，当所有批.若老化前来进行中间率(PDA)计算不合格品率不超过20%不合格品率不超过20%电测试，则老化后中间电测试时可重新化，但只时可重新提交老化，但只(老化后)A1分组的失效也应

29、允许次允许次计入PDA密封1014 1014 细检漏粗最终电测试本规范A2、A3、本规范A2，A3、本筛选后.若引线涂覆改变或A7、A9分组A7、A9分组返二，则应再进行A1分组l试外部目检2009 2009 斗鉴定或质量5005 第3.5条5005 第3.5条致性检验的试样品抽取一14一a. JT54LS243 _n_ G b. JT54LS245 一JI G Rz Rz Rz 2A Rz R一-2 EN SJ 20293 93 ENl G3 飞jBA AB d .Jr Vcc 坠.Rj V_g; & Rj 注:输入信号:f = loifH毡，=50%方波V(L二-O. 5V-0. 7V.

30、VIH= 2V-5. 5V。( Rl =4700土5%.Rz=270士5%。RJ和Vcc选择应保证加在器件的实际电压至少为5Vo图3老化和稳态寿命试验线路4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4 质量一致性检验15一臼2029393 致性检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548的方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4.1 A组检验A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2的规定，各分组的电

31、测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。合格判定数(C)最大为2。表5A组检验LTPD 试B级器件Bl级牛Al分组(2St:下静态测试)2 2 A2分组(12St:下静态试)3 3 A3分组(-sst:下静态测试)5 5 A7分组(2St:下的功能试)2 2 A9分组(2St:下开关测试)2 2 AI0分组(12St:下开关试)3 不要求All分组(-sst:下开关5 不要求4.4.2 B组检验B组检验应按本规施表6的规定。B1-B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。表6B组检验若无其它规定，表中引用的试验方法系指

32、GJB548的试验方法。条件和要求样品数/项目B级器件Bl 件(接收数)说明方法条件方法条件或LTPDBl分组2/(0) 尺寸2016 2016 斗B2分组4/(0) 抗溶性2015 2015 B3分组15 可焊性2022 焊接温度:2022 焊接度:LTPD系对引线数或24St: 或24St: 而言，被试器件数2003 2003 应多于3个一16一SJ 20293 93 续表6条件和要求样品数/项自B级牛B1级件(接收数)说明方法条件方法条件或LTPDB4分组1/(0) 在封帽和打印后内部目检2014 2014 的任意工序抽取和机械性样品B5分组7 可在封装工序前合强度2011 试件2011

33、 件的内目检后C或D(1)热压焊C或D机取样品进行(2) 焊本试验B6分组15/(0) (a)电测试A1分组不要求仅在初始鉴定或(b)静电放电灵GBX X X 产品重新设计时敏度等级进行(c)电测试A1分组4.4.3 C组检验C组检验应按本规范表7的规定。表7C组检验若无其它规定，表中引用的试验方法系指GJB548的试验方法。条件和要求项目B 件条件B1级器件方法王仲即如m口mM旧U斟酌嗨或说明方法Cl分组I 5 1005 条件D1005 试验条件D采用本规范图3或E或E的终点电测试Al,A2.A3 Al,A2. A3 I 分组(见本分组(见本规范表2和规范表2和表3)表3)分组环恒定加速度1

34、5 1010 I试验条件CI 1010 I试验条件C2001 I试验条件E.I2001 I试验条件D.Y1方向Yl方向密封1014 1014 粗17一臼20293-93续表7条件和要求样品数/项目B 器件B1 器件(接收数)说方法条件方法条件或LTPD目检按1010的按1010的目检判目检判据终点A1. A2. A3 A1. A2.A3 分组(见本分组(见本规范表2和规范表2和表3)表3)C3分3 125t下开关测不要求AI0分组(见本规范表2和表3)c4分组5 -55t下不要求All分组试(见本规范表2和表3)4.4.4 D组检验D组检验应按本规范表8的规定。D1、D2，D5，D6、D7和D

35、8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。表8D组检验若无其它规定，表中采用的试验方法系指GJB548的试验方法。条件和要求样品数/项目B级器件Bl级器件收数)说方法条件方法条件或LTPDD1分组15 尺寸2016 2016 D2分组15 引线牢固性2004 试验条件四2004 B2试件(片状体(片状体采用试验条采用试验条件D)件D)密封1014 1014 细检D3 15 热冲击1011 试验条件B.1011 f中B.15次环15次一18一明明臼2029393 续表8条件和要求B级器件I Bl级器件方法条件方法条件即业m口叩mUH帕啤或说明项目温度1010 |试验条件C.1010 条件

36、C.100次环片10次环抗潮温1004 不要1004 Bl级件可按求引线弯曲GB 4590 3.6条.应力的预处严格度:D封检检检密细粗目1014 1014 按1010和1004目检判Al. A2. A3 (见本规范表2和表3)按1010和1004目检判据Al. A2. A3 分组(见本规范表2和表3)Bl级器件可按GB 4590第3.6条的目检判可在抗潮醒后和密封试验前进行终点测试终点电测试D4分组15 冲击2002 f牛B2002 条件AI D3分组的样品可用于D4分组变频振动2007 件A2007 条件A恒定加速度2001 f牛E.2001 试验条件D.Yl方向Yl方向密封1014 10

37、14 细检粗检目检l按2002和按2002和2007日检2007目检判据判据终点电测试Al. A2. A3 Al. A2.A3 分组(见本分组(见本规商表2和规范表2和表3)表3)D5分组盐雾15 1009 I试验条件A.片状载体不要求引线弯曲应力的预处理对Bl级器件用户要求时进行该分组19一SJ 20293 93 续表8条件和要求样品数/项目B级器件Bl 器件(接收数)说明方法条件方法条件或LTPD寸密封1014 细检粗检目检按1009的目检判D6分组3/(0)或5/(1) 内部水汽含量1018 100C对最大不要求试验试31水汽含量为件出现1个失效500ppm 碎男置专来21次过，可在鉴定

38、机构认可的另试验室进行第-次。过.贝IJ该批被D7分组15 引线涂覆2025 不适用于2025 不适用于LTPD系对引粘附强度片状载体片状体数+ D8分组5/(0) 封普扭矩2024 仅适用于2024 仅适用于熔封陶瓷熔封陶瓷外壳外壳4.5 检验方法检验方法规定如下:4.5. 1 电压和电流所有给出的电压均以器件GND端为准，给定的电流以流入引出端为正。5 交货准备5. 1 包装要求包装要求应按GJB597第5.1条的规定。6 说明事项6. 1 订货资料订货合同应规定下列内计:一20一SJ 20293-93 a. 完整的器件编号(见1.3.1条)。b. 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相对

39、应的检验批质量一致性数据的要求。c. 甜要时，对合格证书的要求。d. 需要时，对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。e. 南要时，对失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求。f. 对产品保证选择的要求。g. 南景时，对特殊载体、引线长度或引线形式的要求。h. 对认证标志的要求。i. 需要时，其他要求。6.2 缩写、符号和定义本规范所采用的缩写、符号和定义按GB3431.1、GB3431.2和GJB597的规定。6.3 替代性本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件。不允许用普通工业用器件替代军用器件。附加说明:本规程由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由中国电子技术标准化研究所负责起草。本标准主要起草人:李燕荣、孙人杰。计划项目代号:B01042。一21一