SJ 20291-1993 半导体集成电路JT54LS279、JT54LS375型LS-TTL锁存器详细规范.pdf

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1、中FL 5962 SJ 20291一93、型Detail specification for JT54LS279, JT54LS375 types latches of LS TTL semiconductor integrated circuits 1993-05-11发布1993-07-01实施中华人民共和国电子工业部批中华人民共和国电子行业军用标准成电路JT54LS279、JT54LS375型半导体SJ 20291 93 LS TTL锁存器详细规范Dctail spccification for JT541LS279 , JT54LS375 1. 1 主题内本规范规定了硅单片JT54LS

2、279、JT54LS375型LS-TTL锁存器(以下简称器件)的详求。1. 2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采1. 3 分类本规范给出的器件按1. 3. 1 器件编号器件编号应按GJB597(微电路总规范1.3. 1. 1 器件型号器件型号如下:typcs catchcs of LS一-TTLscmiconductor intcgratcd circuits 范。件等级、封装形式、额定值和推存工作条件分类。件型号、3.6.2条的规定。称器件名四R-5锁存器双2位D锁存器号型件JT54LS279 JT54L臼751. 3. 1. 2 定的B级和本规范规定的Bl级。为GJB597第3.4

3、条所1. 3. 1. 3 封装形式封装形式如下:母封装形式1)OP3(陶瓷无引线片式载体封装)D16S3(陶瓷双列封装)F16X2(陶瓷扁平封装)H16X(陶瓷熔封扁平封装)16臼(陶瓷熔封双列封装)c-D-F-H-YJ 字按GB7092(半导体集成电路外形尺寸。注:1)1993-07-01实施l 中华人民共和国共电子工业部1993唰05-11发布1. 3. 2 绝对最大额定值绝对最大额定值如下:工页目电电压输入电压贮存温度功耗。JT54LS279 JT54LS375 引线耐焊接温度(10s) 结温符SJ 20291-93 数号最Vcc - O. 5 V, 一1.5T.咆65 Po Th TJ

4、 注:1) 器件应能经受测试输出短路电流(I)时所增加的功能。1. 3. 3 推荐工作条件推荐工作条件如下:参数数符号最大7.0 7.0 150 38.5 66 300 175 值最最大电源电压V 4.5 5.5 输入高电平电压VIH 2.0 输入低电平电压VL 0.7 出高电平电流IOH 400 出低电平电流IOL 4 工作环境温度TA 一55125 :ll.f时间t.u 20 保持时间tH 。2 引用文件GB 3431.1 82 半导体集成电路文字符号电参数文字符号GB 3431. 2 86 半导体集成电路文字符号引出端功能符号GB 3439 82 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本G

5、B 4590 84 半导体集成电路机械和气侯试验方法GB 4728.12 85电气图用图形符号二进制逻辑单元GB 7092 半导体集成电路外形尺寸GB 548 88 微电子器件试验方法和程序GJB 597 88 微电路总规范GJB XXX XX 电子产品防静电放电控制大纲3 要求2一单位V V mW 单位V V V A mA ns ns SJ 20291 93 3. 1 详细要求各项要求应按GB597和本规范的规定。3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸按GJB597和本规范的规定。3.2. 1 逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出JT54L

6、S279 逻辑符号33 3Q ER -1& 一-一AQ23 引出端排列GND 8 9 3Q (D、F、H，型)为俯视图。 逻辑图4豆一-1&4Q 43 (C型)3一SJ 20291 93 JT54LS375 逻辑符号(1/2) Qo i&仨1l100 00 100 t10 100 lLE-cl! 、H&l1Ql 卡、.l t ? 00 C2 101 2D 101 200 200 , , 3D 200 2LE一斗C3 C4 201 2D1 14D -201 LE - 01 Dl & 丁-01 引出端排列1DO LJ 1 16 I I VCc 100 U2 15 I I 2Dl 100 d 3 直

7、141, 2豆1W口吨白，口- 、J自.- lLE 1-.4 13 b 201 3 2 1 2019 12 b 2LE 101 n 5 1Q0 4 18 201 lLE 5 17 201 1Q1 n 6 11 b 200 日16 lD1 n l loh 101扣15 101 8 14 GND 08 9 tJ 2DO 9 10 11 1213 可ESlS- U N & (D、F、H，J型)(C型I图1逻辑符号、逻辑图和引出端排列3.2.2 功能表功能表如下:a. JT54LS279 入出川一HLHLzb一一R-HHLLQ一句HLF注:1)当5和R同时回复到高电平时，出状态定。2) 对于有忌和马的

8、锁存器，表中的S=SASB4一SJ 20291 93 b. JT54LS375 入出D-LHX LE H H L Q Q LHn啕HL一句注:H一高电平，L一低电平，00一稳态输入条件建立前Q的电平，X一任意。3.2.3 电原理图制造厂在鉴定前应将电原理图提交给鉴定机构。制造厂的电原理图由鉴定机构存档备查。3.2.4 封装形式封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3 引线材料和涂引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4 电特性电特性应符合表1的规定。表11 JT54LS279电特性条件1)规范值特性符号单位(若无其他规定，T A = - 55 - + 1251: )

9、最小最大输出高电平电压VOH Vcc=4.5V, IOH= -400A， 2.5 v V(L=0.7V, V(H=2.0V 出低电平电压VOL Vcc=4.5V, IOL =4mA, 0.4 V V(L=0.7V, VfH =2.0V 入籍位电压V(K Vcc=4.5V, I(K= -18mA, -1. 5 V TA =2.51: 高电平电流I(H Vcc= 5.5V, 20 V(=2.7V I( Vcc=5.5V, 100 电流V(=7.0V I(L V cc = 5. 5V, -0.4 V(=0.4V 出短路电流到Ios Vcc=5.5V 由20-100 mA 电源电Icc Vcc=5.5

10、V 7 mA 5一SJ 20291-93 续表1一1条件1)特性符号(若无其他规定T A = - 55 - + 125t ) 传l间tpLH CL = 15pF:t 10% ; s-Q RL=2kO :t 5% ; tpHL Vcc=5.0V R.Q 注:1)完整的测试条件列予表3。2) 每次只短路一个输出端。表12 JT54LS375电特性条件1)特性符号(若无其他规定.TA=-55-+12SC) t出电平电压VOH V cc = 4 . SV. IOH = -400A. V1L=0.7V. VIH=2.0V 出低电平电压VOL V cc = 4. 5V. IOL = 40mA. V1L=0

11、.7V. VIH=2.0V 入籍位电压V1K V=4.5V.I1K= -18mA. TA=2SC 入高电平电流IIH V= S.5V. V1 = 2. 7V 最大输入电压下Vcc= -S.SV. 的输入电流11 V1=7.0V 入低电平电Vcc= -S.5V. IIL V1=0.4V 输出短路电流2)Ic览Vcc=5.SV 电摞电流Icc Vcc=5.5V 传|肖tpLH CL= 1SpF土10%; tpHL RL=2kO士5%;tpLH Vcc=S.OV tpt咀，tpLH tp阻，tpLH tpHL 注:1)完整的测试条件列于表3。2) 每次只短路一个输出端。3.5 电试验要求6一D LE

12、 D LE D LE D-Q D-Q LE-Q LE-Q 范值单位最小最大35 26 ns 42 规范单位最小最大2.5 V 0.4 V -1. 5 V 20 A 80 100 A 400 -0.4 mA -1. 6 -20 -100 mA 12 mA 42 29 32 26 ns 42 39 46 26 SJ 20291 93 器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组。各个分组的电测试按表3的规定。表2电试验要求分组(且表3)项目B 件Bl级件中间(老化前)电测试A1 A1 中间(老化后)电测试A11) A1 1) 最终试A2, A3, A7 , A9 A2,A3, A7 , A9 俨

13、A组试验要求A1 , A2, A3, A7 , A9, AI0, A11 Al, A2, A3, A7 , A9 C组终点电测试Al, A2, A3 Al,A2,A3 C组加的分组不要求A10 , All D组终点电测试Al,A2, A3 A1 , A2, A3 注:1)该分组要求PDA计算(见4.2条)。表31 JT54 LS279电测试引用标准条件规毡值分组符号单位(若无其他规定，TA=25t) GB 3439 最小最大A1 V佣2.2条Vcc=4.5V, VH=2.0V，被测输出2.5 V 10H= -0.4mA，S端入个负脉冲1)VOL 2.5条Vcc=4.5V, VH=2.0V，被测

14、输出0.4 V 10L =4mA, R 入个负冲1)V.K 2.1条V=4.5V，被入端1.K=-18mA -1. 5 V 1. 2.11条Vcc=5.5V, 入V. = 7.0V，其余l100 A 入端V.=OV。1.H 2.12条Vcc=5.5V, 测入V. = 2. 7V，其余20 A 入端V.=OV1.L 2.13条Vcc= 5.5V，被入端V.=0.4V，其余-0.4 mA 入V.=5.5V 1c路2.21条Vcc=5.5V, R V.=5.0V, -20 -100 mA S 入端V.=OV，出端接地1cc 2.25条Vcc=5.5V, R V.=OV, 7 mA S 端V.=4.5

15、V，出端开A2 TA=125t外，参数、条件、规范值均Al分组。V.K不测A3 除TA=-55t外，参数、条件、规范值均同Al分组。V.K不测A7 按功能表进行一7一SJ 20291 93 续表31 引用标准条件规范值分组符号单位(若无其他规定，TA = 25(;) GB3439 最小最大A9 3.4条= 5. 、，tpLH 22 CL = 15pF:t 10%; sQ 21 tpHL 3.5条ns RL=2kn土5%;R.Q 27 A10 tpLH 3.4条TA = 125(;，条件A9分组35 s-Q tpHL 3.5条26 ns RQ 42 A11 除TA=-55(;外.参数、条件、规范

16、同A10分组注:1)脉冲特性:幅度为0-3V:宽度为500ns。表32 JT54LS375电测试引用标准条件范分组符号单位(若无其他规定，TA = 25(;) GB 3439 最小最大A1 VOH 2.2条V=4.5V，D输入: V，=2.0V(测Q2.5 V V,= O. 7V( Q端)，LE端入个正脉冲1，被测出端10H=-0.4mA VOH 2.5条V=4.5V，D输入:V,=2.0V( Q 0.4 V V,= O. 7V(测Q端)，LE t入个正脉冲1.被测输出端10L=4mAVK 2.1条V=4.5V，被l入端IK= - 18mA -1. 5 v 1, 2.11条V= 5.5V，被入

17、端1，=7.0V100 A 1H 2.12条V=5.5V，被入1, = 2. 7V 20 A 十IL 2.13条V=5.5V，被入端D 0.4 mA V,=0.4V IE 1. 6 , V = 4.布万布文c 10s -20 -100 mA V,= OV, (测Q);D 入V,=4.5V( V cc = 5 .5V, LE 入端，V,=OV, D 12 2.25条mA 1cc V, =OV，输出开路A2 除TA=125(;外.参数、条件、规范值均同A1分组。VK不测A3 TA= -55(;外，参数、条件、规范值均同Al分组。VK不A7 按功能表进行一8一时2029193 续表32 引用标准条件

18、分组符号GB 3439 (若无其他规定，TA=25t) A9 tpLH 3.4条Vcc=5.0V, 1) CL= 15pF土10%, RL=2kO土5%，见本规范图2tpHL 3.5条AI0 tpLH 3.4条TA= 125t，条件A9分组tpHL 3.5条All TA= -55t外，参数、条件、规范均同AlO分组注:1)脉冲特性:幅度为0-3V;宽度为50008。JT54LS279 且! 2.7V 1.3V O.7V tw Q 民tPHL测试点jCL V 1. 3V O.7V OV H VOL D Q D Q LEQ LE .Q D Q D Q LE .Q LE .Q D Q D-+Q LE

19、 .Q LE .Q D Q D Q LE .Q LE .Q Vcc !HL s 2.7V 范最小+ tt斗丁4 tw 直，最大27 20 27 30 17 15 25 15 42 32 42 46 29 26 39 26 3V 2.7V - ov VOH 1. 3V VOI, 单位ns ns ns ns 9一臼2029193 JT54LS375 Vcc RL 接被测-二出端; .飞i丰CL2.7V 3V 2.7V 1.3V 1. 3 D巳立O.7V .O.7V V LE tw 1. 3V 1.3V 注:脉冲发生器应具有下列特性:tw=40土10ns;tr15ns; tr6ns;f1MHz。RL

20、=2kO土5%0CL = 15pF士10%(包括探头和夹具电容)。二极管为2CK76。图23.6 标志标志应按GJB597第3.6条的规定。3.7 微电路组的划分VO lI 1. 3V VOL Q Q H 1.3V VOL 和波形图斗斗寸.1. tw tpLH 1. 3V .3V 本规范所涉及的器件应为第11微电路组(见GJB597附录E)。4 质量保证规定4. 1 抽样和检验3V 1.3V O.7V :-OV VOH VOL VOH VOL 除本规范另有规定外，抽样和检验应按GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2 在鉴定和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004

21、和本规范表4的规定进行筛选。若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。一10一 SJ 20291 93 表4筛选程序条件和要求筛选项目B 器件Bl级器件说明方法条件方法条件内目检2010 试条件B2010 试件B试验条件C试验条件C稳定性烘烙(不1008 : 150C 1008 (温度:150C 要求终点量)时间:24h)时间:24h)1010 试验条件C1010 试验条件C可1011试验条件A替代惺定加速度2001 试验条件E.2001 条件D.Y1 Y1方向方向目检可在密封选后进行。引线断落、外壳破裂、封普脱落为失效中间(老化本规范Al分组本规范Al分组由制造厂选择是否进行电

22、测试老化1015 试验条件D1015 条件D按本规范图3线路或等效(温度:125C : 125C. 路时:160h) 时:160h) 中间(老化后)本规范Al分组本规范Al分组电试PDA计算5%.本规范Al10% .本范分组。当不合Al分。当不若老化前未进行中间电参数格品率不超过合格品率不，那么老化后Al分组检20%时可重新过20%时可重出的失效数也应计入PDA内老化，但只新提交老化，但允许次只允许次最终电测试本规范A2、A3、本规范A2、A3、本项后.若改件的引A7、A9分组A7、A9分组线涂或返工，则应再进行Al和A7分组试验密封1014 1014 细粗一11一SJ 20291一93续表4

23、条件和要求选项目B级器件B1级器件说明1 方法条件方法条件外部目检2009 2009 可在发货批进行鉴定或最致性检试5005 3.5条5005 3.5条样品的选取JT54LS279 G Sl 曰，且且2 2Q 3 3 3Q 4 JT54 LS375 注:Vcc=5.0V;R(= 1kO土10%;R2=270;R3= 10(2。 脉冲发生器特性要求:V(H=2.0-5.5V; V1L = -0.5-0. 7V;f= 100kHz;占空比q=50%。图3老化和寿命试验线路图4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB597的规定。所进行的C和D组检验(见4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4 质量一致性检

24、验一致性检验应按GJB597的规定。所进行的检验符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4.1 A组检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、一12一SJ 20291-93 A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2，各分组的具体电参数测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行，合格判定数(c)最大为2。表5A组检验LTD 试B级A1分组25t下静态l试2 A2分组125t下静态测试3 A3分组-55t下静态测试5 A7分25t

25、下试2 A9分组25t下开关试2 A10分组125t下开关测试3 All分组-55t下开关测试5 4.4.2 B组检验B组检验应按本规范表6的规定。B1-B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。表6B组检验条件和要求样品数/(接收数)试验B级器件B1级件或方法条件方法条件LTPD B1分组2016 2016 2/(0) 尺寸B2分组2015 2015 4/(0) 抗溶性B3分组2022 焊度:2022 焊接温度:15 或可焊性245士5t245士5t2003 2003 B1级2 3 5 2 2 说明LPTD系对引线数言，被试器

26、件应多于3个一13一8J 20291 93 续表6条件和要求样品数/(接收数)试B级器件B1级牛或方法条件方法条件LTPD B4分组1/(0) 内部目检和机2014 2014 查B5 合强度2011 试条件C2011 试条件C7 (1)热压焊或或D或D(2)超声:B8分组不要求15/(0) (a)电参数A1分组(b)静电放电GJB 灵度等级xxx A1分组(c)电参数4.4.3 C组检验C组检验应按本规范表7的规定。若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。试验方法C1分组稳态寿命1005 终点电试C2分组温度1010 假定加速度2001 密封1014 粗14一表7C组检验条件和

27、要求B级器件条件|方法条件试验条件D1005 试验条件D严度:严度:f吁;lOOOh)MlOOOh) A1. A2. A3分Al，A2.A3分组(见本规范组(见本规范表2和表3)表2和表3)试验条件C1010 条件C件E.2001 条件D.Y.方向Y.方向1014 样品或LTPD 5 15 数)说明LTPD系对键合数言，被试件数至少4个仅在初始鉴定或产品重新设计时进行说明采用本规范图3的线路町2029193 续表7条件和要求样品数/(接收数)试验B级器件BI级器件或说方法条件方法条件LTPD 目检按方法1010按方法1010的目检判据的目判终点电试Al. A2. A3分Al.A2.A3分组(见

28、本规范组(见本规艳表2和表3)表2和表3)C3分AI0分组(见3 125C下开关不要求本规范表2试和表3)CA分组A11分组(见5 -55C下开不要求本规范表2和表3)4.4.4 D组检验D组检验应按本规范表8的规定。D1，D2，D5、D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。试验D1分组尺寸D2分组引线牢固性密封细粗D3分组热冲击度环表8D组检验条件和要求B级器件方法条件2016 2004 f牛B2(片式载体采用件D) I 1014 I 1011 试验条件B.15次环1010 试条件C.100次Bl级器件方法I* f

29、牛2016 2004 牛B2(片采用条件D) 1014 1011 f牛A.15 环1010 试验条件C.10次环样品数/(接收数)或LTPD 15 15 15 说明明一15一SJ 20291 93 续表8条件和要求试验B级器件I B1级器件方法条件方法条件抗潮温I 1044 I片式体不1004 片式不要求引线弯要求引线弯幽应力的预i曲应力的预处理按方法1004按方法1004和1010的目和1010的目检判据检判终点电I Al，A2.A3分A1. A2. A3分组见本规范组(血本规范表2和表3)表2和表3)D4分组机械冲击2002 条件B2002 条件A变振动2007 试条件A2007 试验条件

30、A恒定加速2001 件E.2001 试条件D.度Yt方向Yt方向密封1014 1014 粗目检|按方法2002按方法2002和2007的目和2007的自检判检判据终点电测试A1.A2.A3分A1. A2. A3分(见本规范组(见本范表2和表3)表2和表3)D5分组盐雾1009 A. 1009 试条件A.片式体不片不要求引线弯要求引线弯曲应力的预曲应力的预处理处理密封1014 细粗目检|按方法1009的目检16一样品数j(接收数)或LTPD 15 1S 15 按方法1009的目检判据说明Bt级器件可用GB 4590 3.6条的试验替代，时间:56d或按GB4590 3.6 条的目检判可在后和密封

31、试进行终点电参数测试用于D3分组的祥品可用在D4分组对B1级器件用户要求时可进行该分怨的试SJ 20291 93 续表8条件和要求样品数/(接收) B级器件Bl级器件或说明方法条件方法条件LTPD D6分组3/(0) 当试3个器件出内部水汽1018 100C时最大不要求或现1个失效时.可加含量水汽含量5/(1) 试2个器件并且不为:5000ppm失效。若次通过时，可在鉴定机掬认可的另室进行一次.若第一次试验通过.则该批应被收D7分组15 引线涂覆2025 不适用于片2025 不适用于片LTPD系对引线数钻附强度式言D8分组5/(0) 2024 仅适用于熔2024 仅用于熔封普扭矩封的外壳封的外

32、壳4.5 检验方法应按下列规定:4.5. 1 电压和电流所有电压的参考点为器件的GND端，电流约定以流入器件引出端为正。5 交货准备5. 1 包装要求包装要求按GJB597第5.1条的规定。6 说明事项6. 1 订货资料订货合同应规定下列内容:a. 完整的器件编号(见1.3.1条); b. 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性数据的要求:C. 市要时，对合格证书的要求:d. 需要时，对产品或工艺的更改，通知采购单位的要求:e. 前要时，对失效分析(包装GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果供报告的要求:f. 对产品保证选择的要求:一17一SJ 20291 93 g. 需要时，对特殊载体、引线民度或引线形式的要求:h. 对认证标志的要求:1 时，其他要求。6.2 、符号和定义本范所用的缩写、符号和定义按GJB597、GB3431.1和GB3431.2的规定。6.3 本规范规定件。附加说明:功能可通工业用器件，不允许用普通工业用器件替代军用器本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由国营八七八厂本规范主要起草人:孙人杰。计划项目代号:B01043。一18一