SJ 20287-1993 半导体集成电路JT54LS123型LS-TTL双可重触发单稳态触发器详细规范.pdf

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1、中FL 5962 SJ 20287 93 里口争、 J Detail specification for JT54LS 123 type monostable multwibrator of LS TTL semiconductor integrated circuits 1993-05-17发布1993-07-01实施中华人民共和国电子工业部批准目次1 范围. . . . . . . . . . ., . . . . . . . .,. . . . 1.1 内容. . . . . . . . 1.2 适用范围. . . . . . . ., 1.3 分类. . . . . . . . . .

2、,. . . . . . . . . 2 引用文件. . . . . . . . . . ., . . . . . . . . . . . .,. . . . . . . . . . 3 要求. . . . . . . . . . . . .,. 3.1 详细要求. . . . . . . . . . . . . . . . . ., . . . . 3.2 设计、结构和外形尺寸.3.3 引线材料和涂. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3.4 电特性. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3.5 电试验要求

3、. . . . . . . . . . . . . . . 3.6 标志3.7 微电路组的划分. . 4 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ., 4.1 检验. . . . . 4.2 . . . . . . . . . . . . . . . . . 4.3 定检验.4.4 验. . 4.5 . . . . . . . . . . . . . . . . ., . . . . . . . . . . . 5 交货准备5.1 包装要求6 说明. . . . . . . . . 6.1 订货资料.6.2 写、符号和定义6.3 替代性.、，/4A /飞、-

4、F咱i，、-F嘈i，、1/唱A，、(3) (3) (3) (3) (4) (4) (6) 、，nu 4i /、，A 4且，、(10) 、-JAU 唱A，、1Jhu 4且，、(13) (13) (18) (18) (18) (18) (19) (19) (19) ST20287 93 态触发器(以下简称器件)工作条件分类。中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路口54LS123型LSTTL 双可重触发单稳态触发器详细规范Detail specification for JT54LS123 type monostable muitwibrator of LS TTL semiconductor

5、 integrated circuits 范围定值和推片JT54LS123型LS一TTL双可重触发单电路总规范第3.6.2条的规定。器件名称双可重触发单稳态触发器件型号JT54LS123 器件等级为GJB597第3.4条所规定的B级和本规范规定的Bl级。1. 3. 1. 3 封装形式封装形式如下:1. 3. 1. 2 1. 1 主题内容本规范规定了硅的详细要求。1. 2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采购。1. 3 分类本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、1 .3. 1 器件编号件编号应按GJB597( 1. 3. 1. 1 器件型号器件型号如下:封装形式1) OP3(陶瓷

6、无引线片式载体封装)D16S3(陶瓷双列封装)F16X2(陶瓷扁平封装)H16X2(陶瓷熔封扁平封装)l6S3(陶瓷熔封双列封装)母c-D-F-un-u 字注:1)按GB7092半导体集成电路外形尺寸。1993-07 -01实施1 中华人民共和国电子工业部1993-05-11发布臼2028793 1. 3. 2 定绝对最大定值如下:数值项目符号最最大电电压V , - 0.5 7.0 输入电压V( -1.5 7.0 度T stg 65 150 功耗1) PD 110 引线耐焊接( 108) Th 300 TJ 175 注:1)器件应能经受测试输出短路电流(08)时所增加的功耗。1.3.3 推荐工

7、作条件推荐工作条件如下:参数电电压输入高电平电压入低电平电压出高电平电流出低电平电流工作环境接外电阻接外电容2 引用文件3 GB 3431. 1 - 82 GB 3431. 2 - 86 GB 3439-82 GB 4590-84 GB 4728.12 - 85 GB 7092 GJB 548- 88 GJB 597 - 88 GJB XXX一XX3. 1 详细要求2一数符号最最大Vcc 4.5 5.5 V(H 2.0 V(L 0.7 IOH -400 IOL 4 TA -55 125 斗Re . 5 180 C四t无要求半导体集成电路文字符号电参数文字符号半导体集成电路文字符号引出端功能符号

8、半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理半导体集成电路机械和气候试验方法电气图用图形符号二进制逻辑单元半导体集成电路外形尺寸微电子器件试验方法和程序做电路总规范电子产品防静电放电控制大纲单位V V mW 单位V V V A mA kn SJ 20287 93 各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸按GJB597和本规范的规定。3.2. 1 逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出逻lA lB 3.2.2 功能表功能表如下:RD L x x H H & I n 入A x H x L L 注:H-高电平，L-

9、低电平，x-任意。3.2.3 电原理因逻辑图(1/2)lQ B x x L H H 为俯视图。输出Q Q L H L H H 造厂在鉴定前应将电原理图提交给鉴定机构。制造厂的电原理图由鉴定机构存档备查。3一臼2028793 3.2.4 封装形式封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3 引线材料和涂覆引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4 电特性电特性应符合表1的规定。表1JT54LS123电特性条件t) 规范值特性符号单位(若无其他规定，T A = - 55 - + 125 C ) 最小最大出高电平电压VOH Vcc=4.5V, I佣=-400A， 2.5 V Vt

10、L = O. 7V, V1H= 2.0V 输出低电平电EVOL Vcc=4.5V, IOL =4mA, 0.4 V V(L=0.7V , V1H=2.0V 输入籍位电压V(K Vcc=4.5V, I(K= -18mA, -1. 5 V TA = 25C 入高电平电流11H Vcc=5.5V, Vt=2.7V 20 最大入电压下I( Vcc=5.5V, V(=7.0V 100 A 的入电流输入低电平电流I(L Vcc=5.5V, V(=0.4V - 0.4 mA 出电流2)I岱Vcc = 5.5V - 20 -100 mA 电电流Icc V cc = 5. 5V 20 mA AQ 57 延迟时间

11、CL = 15pF :t 10% , tpLH RL = 2k!H 5% , B.Q 74 Ro Q 75 Vcc=5.0V ns Q R3) A 75 ext , tpHL C3 ext , B.Q 92 Ro .Q 48 最小出脉冲宽Vcc=5.0V, tW(Q) RL =2kO士5%，308 度n s (MIN) CL = 15pF :t 10% , 出脉冲宽度tW(Q) R的ext 3 6.25 s C的注:1)完整的测试条件列于表3。2)每次只短路一个输出端。3)测A、BQ、白时:R四=5kO; Cex宫廷二1000卢。测RDQ、电时:Rext=10kO; C酣45pF。的测tW(Q

12、)(M(N)时:R e = 5kO; Ce.不接。tW(Q)时:Re. = 10kO; Cext = 1000pF。4一SJ 20287-93 3.5 电试验要求器件的电求应为本规范表2所规定的有关分组。各个分组的电测试按表3的规定。表2电试验要求分组(见表3)项目B 器件BI级器件中间(老化前)电测试Al Al 中间(老化后)电测试Al ) Al ) 最终电测试A2, A3 , A7 , A9 A2,A3, A7 , A9 A组试验要求Al , A2, A3, A7 , A9, AI0 , All Al, A2, A3, A7 , A9 C组终点电测试Al,A2,A3 Al, A2, A3

13、C组检验增加的分组不要求AI0 , All D组终点电测试Al,A2,A3 Al , A2, A3 注:1) 该分组要求PDA计算(见4.2条)。表3JT54LS123电测试引用标准条件规范值分组符号单位(若无其他规定，T A = 25t: ) GB 3439 最小最大V佣2.2条Vcc=4.5V, VlH=2.0V, Vn.=0.7V, 2.5 V 按功表使被出为高电平.被测输出端10H= -0.4mA VOL 2.5条Vcc=4.5V, VlH=2.0V, Vn.=0.7V, 0.4 V 按功使被输出为低电平.被测输出端10L =4mA V(K 2. 1条Vcc=4.5V，被测输入1(K=

14、 -18mA - 1. 5 V 11 2.11条Vcc= 5.5V，被l入V(=7.0V, 100 A Al 其余输入端V(=OV1lH 2.12条Vc汇=5. 5V, 输入端V(= 2. 7V, 20 A 入V(=OV 1(L 2.13条Vcc= 5.5V, 入端V(=0.4- 0.4 mA 入端V(=5.5V1c施2.21条Vcc= 5.5，按功能表使被测输出为高电平，被测出端一20- 100 mA 接地105 2.25条Vcc= 5.5V 入端V(=5.5V20 mA 出端开路，态和触发态各测次A2 除TA= 125t:外参数、条件、规范值均同Al分组，V(K不测A3 除TA= -55t

15、:外，参数、条件、规范值均同Al分组，V(K不测A7 按功进行5一时2028793 续表3引用标准条件分组符号(若无其他规定，T A = 25C ) GB 3439 V cc= 5 .OV, A9 tpLH 3.4条CL = 15pF土10%，RL=2kO士5%，见本规范图2，RE ext , cu ext tpHL 3.5条tW(Q) 3.1条Vcc=5.0V, CL=15pF:!:10% , (MIN) RL =2kO土5%，见本规范图2，R21 ext tW(Q) 3.1条C2) ext AI0 TA = 125C，条件同A9分组tpLH 3.4条t PfL 3.5条tW(Q) 3.1条

16、TA = 125C，条件同A9分组(MIN) tW(Q) 3.1条All TA = -55C外，、条件、规市AI0分组。注:入脉冲特性:幅度为0-3V;宽度为500ns。1)测A、BQ、白时:民xt= 5kO; Ccxt1000Fo 测EnQ、Q时:Rext = lOkO; Cext:;:45pF。2)测tW(Q)(MIN)时:Rext=5kO;Cext不接。tW(Q)时:R酣=10kO; Cext = 1000pF。6一规范值单位最小最大AQ 33 B Q 44 ns RDQ 45 A Q 45 BQ 56 RQ 27 200 s 4 5 US AQ 57 B Q 74 RD Q 75 ns

17、 A Q 75 BQ 92 RD Q 48 308 ns 3 6.25 s SJ 20287 93 测试点V 一7可RL F I土1,. 1,., 1-叶|哇3V lL-,H 3V . 、一 1. 3V 斟1.2EO.7V nv A 司r.Vo1JOV A ， 主盟，Q|协V侃、,1.3V 飞晴-VOL -.HJ写，_.t，.!xmQ (Q)VDL 乌斗l串.1-与L叶|-11与i3V 3V . B 打UVI0.7VOV B L3V 甩l、马川币,OV tPHL斗陆t炖1:LtVOH 飞如豆1. 3V 1.3V飞VOL 1-，.I VOL Q CQ) t. f B .7V 1. 3V 3V O

18、V Ro i岛2.7V .立UV t由.t,. OV VOH VOL 1. 3V Q-QtpLH VOH 1. 3V VOL 注:脉冲发生器应具有下列特性:tw40 ns; t.运15ns;tf6ns; f运lMHz;q = 50%。RL=2kO土5%.CL=15pF:tl0%(包括探头和夹具电容)二极管为2CK76。图2负载线路图和波形图3.6 标志标志应接GJB597第3.6条的规定。3.7 微电路组的划分本规范所涉及的器件应为第10微电路组(见GJB597附录E)。一7一4 质量保证规定4. 1 抽样和检验SJ 20287-93 范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597和GJB548

19、方法5005的规定。4.2 筛选在鉴定和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法表4筛选程序条件和要求r 目B级器件Bl级器件方法条件方法条件内目检2010 试验条件B2010 试验条件B稳定性烘烙(不1008 条件C试验条件C要求终点测量): 150C 1008 : 150C 时间:24h)时间:24h)2001 试验条件C1010 试验条件C十恒定加速度1010 立，2001 试验条件队Y1方向Y1方向自中间(老化前)本规范Al分组本规范Al分组电测试老化1015 D 1015 条件D(温度:

20、125C (温度:125 C , 时: 160h) 时间:160h) 中间(老化后)本规范A1分组本规范Al分组电测试PDA计算5%.本规范Al10% .竟姊I1 分组。当不合分组。当不合格品率不超过格品率不超过20%时可重新20%时可重新提交老化，但只提交老化，但只允许次允许次一8一说明可用方法1011试验条件A替1l: 可在密封筛选后进行。引线断落、外壳破裂、封普脱落为失效由制造厂选择是否进行。按本规范图3线路或等效线路若老化前未进行中间电参数试验，那么老化后Al分组检出的失效数也应计入PDA内臼2028793 续表4条件和要求目B级器件B1级器件说明方法条件方法条件最终电测试本规范A2、

21、A3、本规范A2、A3、本项筛选后.若改变件的引A7、A9分组A7、A9分组线涂覆或返工，则应再进行A1和A7分组试验密封1014 1014 细粗粗目2009 2009 可在发货前按批进行鉴定或量致性检试验5005 3.5条5005 3.5条样品的选取飞卫正FR2 V cr; G &.飞了飞飞 V，汇R1 1Ro 1C四t.Rl .fl_ 12Q Rl Rl 一一R, 2C卢.2R回/C酣一飞注:V=5.0V;R，=1kO土10% ; R i 270。脉冲发生器特性要求:Vrn=2.0-5.5V; VL= -0.5-0.7V; f = 100kHz;占空比q=50%。图3老化和寿命试验线路图4

22、.3 鉴定检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、1C和D组检验(见4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4 质量一致性检验检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4.1 A组检验9一臼20287-93A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2，各分组的具体电参数测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行，合格判定数(c)最大为2。表5A组检验LTPD

23、试验B级B1级Al分组25t下静态测试2 2 A2分组125t下静态测试3 3 A3分组-55t下试5 5 A7分组25t下功2 2 A9分组25t下开关试2 2 AI0分组125t下开关测试3 All分组-55t下开关试5 4.4.2 B组检验B组检验应按本规范表6的规定。B1-B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。一10一SJ 20287-93 表6B组检验条件和要求样品数/(接收数)试B级件Bl级件或说明方法条件方法条件LTPD Bl分组2016 2016 2/(0) 尺寸B2分组2015 2015 4/(0) 抗溶性

24、B3分组2022 度:2022 焊 15 LTPD系对引线数可焊性或245 :t 5t: 或245士5t:言.被试器件数应多2003 2003 于3个B4分组1/(0) 内自检和2014 2014 机械检查B5 2001 试条件C2011 试条件C7 LTPD系对合数而键合强度或D或D言，被试器件数至少(1)热压焊或4个(2) 焊B8分组Al分组不要求15/(0) (a)电参数仅在初始鉴定或产(b)静电放电GJB 品重新设计时进行灵敏度等级(c)电参数xxx Al分组4.4.3 C组C组检验应按本规范表7的规定。若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。11一SJ 20287 9

25、3 验一检一组一C一吁表一求要和牛TS4EE 条试B级器件B1 方法|条件|方法器件条件样品数/(接收数)或LTPD 说明C1分组5 命1 1005 1. 验条件D或1005 验条件D或J采用本规范图3的2线路温度:125. c、度:125C : 1000h) 问:1000h) 终点电测试1. A2. A3分组1, A2. A3分见本规范表(见本规范表3) 和表3)C2分组15 度环1010 件C1010 f牛C15 恒定加速度2001 件E.2001 验条件D.1方向1方向密封11014 1 I 1014 细检粗目方法1010的方法1010目自检判据终点电测试1. A2. A3分组1, A2

26、. A3分见本范表(见本规范表表3)和表3)C3分组125C下开关试3 求分组(见施表2和c4分组-55C下开试求l分组(见范表2和5 4.4.4 0组检验D组检验应按本规施表8的规定。01，02，05，D6、07和四分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。一12一SJ 20287-93 验一检一组D-00-土农一求要和协Td., 条B级器件方法|条件B1级件数瞅:mH川到T数L口阳样说明试验方法条件D1分组尺寸2016 2016 15 D2分组I 2004 I试验条件Bz引线牢固性I 2004 I (片式载体采用试验条件D) 试验

27、条件Bz(片式载体采用试验条件0) 15 密封1014 1014 粗检D3分组15 热冲击1001 件B.1001 试验条件A.15 环15次循环温度1010 件C.1010 条件C.100 环10次环抗潮湿I 1004 I片式体不1004 片式体不Bl级器件可用要求引线弯要求引线弯GB 4590第3.6条的曲应力的预由应力的预试验替代，时间:56d处理处理密封1014 1014 15 目检按方法1004和1010的目检判按方法1004和1010的目检或按GB4590第3.6条的目检判终点电测试Al,A2. A3分组(见本规程表2和表3)Al, A2. A3分组(见本规m:表2和表3)可在抗潮

28、湿后和密封试验前进行终点电参数测试。D4分组15 用于03分组的样品机击2002 试验条件B2002 试验条件A可用在D4分组变频振动2007 试条件A2007 试验条件A恒定加速度2001 条件瓦2001 试验条件O.Y1方向Y1方向密封I 1014 细检13一SJ 20287-93 续表8条件和要求试目检终点电05分组盐雾密封细目检时分组内部水汽含量B级件方法条件按方法2002和2007的目检判据I A1.且，必分组(见本规范表2和表3)1009 试验条件A(片式体不要求引线弯曲应力的预I 1014 I 按方法1009的目检判1018 I 100C时量大水汽含量为5000ppm D7分组引

29、线涂附强度粘I2025 不适用于片体B1级器件方法1009 I 1014 2025 条件按方法2002和2007的目检判据A1.A2. A3分组(见本规范表2和表3)试验条件A(片式体不要求引线弯曲应力的预处按方法1009的目检判据不要求不适用于片式载体08分组封盖扭矩2024 I仅适用于熔2024I仅适用于熔封的外壳封的外壳4.5 检验方法检验方法应按下列规定:4.5. 1 电压和电流|样品数/(接收数)或LTPO 15 3/(0) 或5/(1) 15 5/(0) 说明对B1级件用户要求时可进行该分组的i试验当试验3个器件出现1个失效时，可加试2个器件并且不失效。若第一次试验未通过时，可在鉴

30、定机构认可的另一试验室进行第二次试验，若第二次试通过，则该批应被接收LTPO系对引线数而言所有电压的参考点为器件的GND端，电流约定以流入器件引出端为正。14一臼20287-935交5. 1 包装要求包装要求按GJB597第5.1条的规定。6说明6. 1 订货资料订货合同应规定下列内容:a. 冗登田器件编号(见1.3.1条); b. 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性数据的要求:C. 市安时，对合格证书的要求:d. 需要时，对产品或工艺的更改，通知采购单位的要求:e. 市安町，对失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求;6.2 f. 对产品保证选择的要求;r. 市号是时，对特殊载体、引线长度或引线形式的要求:h. 对认证标志的1. 时，其他要求。写、符号和定义 , 范所用的缩写、符号和定义按GJB597、GB3431.1和GB3431.2的规定。6.3 替代性本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件，不允许用普通工业用器件替代军用器件。附加说明:本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由国营八七八厂居于。本规范主要起草人:孙人杰。计划项目代号:B01034。一15一