SJ 20286-1993 半导体集成电路JT54LS74、JT54LS112、JT54LS174和JT54LS175型LS-TTL触发器详细规范.pdf

《SJ 20286-1993 半导体集成电路JT54LS74、JT54LS112、JT54LS174和JT54LS175型LS-TTL触发器详细规范.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《SJ 20286-1993 半导体集成电路JT54LS74、JT54LS112、JT54LS174和JT54LS175型LS-TTL触发器详细规范.pdf（29页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、中巧*D电FL 5962 SJ 20286 93 可I、主IDetail specification for type JT54LS74, JT54LSl12, JT54LS174 and JT54LS175 flip-flops of LS-TTL semiconductor integrated circuitsTFT-LCD 1993-05-11发布1993-07-01实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JTLS74、JT54LSl12、JT54LS174和JT54LS175型LS TTL触发器详细规范Detail specification fo

2、r type JT54LS74, JT54LS112, JT54LS174 and JT54LS 175 f1ip-flops of LS-TTL semiconductor integrated circuits 1范1. 1 主题内容SJ 20286 93 本规范规定了半导体集成电路JT54LS74JT54LSl12JT54LS174和JT54LS175型LSTTL译码器(以下简称器件)的详细要求。1.2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采呐。1. 3 分类本规范给出的器件按型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。1. 3. 1 器件编号器件编号应按GJB597(微电路总

3、规范第3.6.2条的规定。1. 3. 1. 1 器件型号器件型号如下:器件型号JT54LS74 JT54LS112 JT54LS174 JT54LS175 1.3. 1. 2 器件器件名双上升沿D触发(有预置、清除端)双下降沿JK触发器(有预置、清除端)上升沿D触发器四上升沿D触发器(有公共清除端)称器件等级应为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的Bl级。1.3. 1. 3 封装形式封装形式如下:中华人民共和国电子工业部1993-05-11发布1993-07-01实施SJ 20286-93 字母封装形式1)C OP3(陶瓷无引线片式载体封装)D14臼D D16臼(陶瓷双列封装)F14

4、 X2 F F16X2(陶瓷平封装)日14X2H H16X2(陶瓷熔封平封装)J J14臼J16S3(陶瓷熔封双列封装)注:1)按GB7092 (半导体集成电路外形尺寸的规定。1. 3.2 绝对最大额定值绝对最大额定值如下:项目符电电压入电压贮存温度功耗1)引线耐焊接温度(10s) 结数号最Vcc - O. 5 V( -1. 5 T.甸甲65PD Th 飞注:1)器件应能经受测试输出短路电流(Ios)时所增加的功耗。1. 3. 3 推荐工作条件推荐工作条件如下:项自电源电压入高电平电压入低电平电压工作环境建立T54LS112 时间T54LS74 T54LS174 T54LS175 一2一符规范

5、号最飞Vcc4.5 V (H 2.0 V(L TA -55 25 tsu 20 值最7.0 7.0 150 25 300 175 值最5.5 0.7 125 大大单位V V mW 单位V V V ns 臼2028693 续表规范值项目符号最最大保持JT54LS112 。时JT54LS74 tH JT54LS174 5 JT54LS175 2 引用文件半导体集成电路文字符号电参数文字符号成电路文字符号引出端功能符号GB 3431.1 82 GB 3431. 2 86 GB 3439 82 GB 4590 84 GB 4728.12 85 GB 7092一成电路TTL电路测试方法的基本原理成电路机

6、械和气候试验方法3 GJB 548 88 GJB 597 88 GJB X X X 求电气图用图形符号二进制逻辑单元半导体集成电路外形尺寸微电子器件试验方法和程序微电路总规范电子产品防静电放电控制大纲3. 1 详细要求各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3.2. 1 逻辑符号、逻辑图和引出端排列单号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出JT54LS74 为俯视图。逻辑符号引出端排列D、F、H，J型C型位ns 3一逻辑图JT54LS112 逻11主os 1J lJ lCP Cl ?斗lKR 2J 2CP也逻

7、辑图一4一E 10 卡10-2Q 2Q RO J CP K SJ 20286-93 So Q CP -Q D RO 引出端排列D、F、HJ型C型, J。!因d 。1CPU 1 16 U YCC 显iu-lR 1 .5 lRD 3 Z 1 2019 2 4 18 2豆。1J 1J 3 14 2RO 1SDt-吕17畸ZCP 16 1D口413口2CP.6 7 1511zK lQ 10 s 12 2K lQ 8 14111 2J 310111213 16 6 1 1 2J iN CF Q Z l国Q 2Q n7 。aN 10 D ZSO 。GNO a 9 2Q & 1关i& q Q & 臼2028

8、693 JT54LS174 引出端排列号C型D、F、H，J型Vcc J _u 幅- D 5Q 14 10111213 40 a 3D 40 E革句 - QZO 4Q CP 1 Ii 2 1 1) 2 2019 lB 17 16 15 11 6 10 7 9 a CR lQ CR I 2 3 s lD 20 ZQ 30 1) Q 3Q 6Q 圭旦Ii D 5Q D 14 13 12 R 3 . s 10 20 2Q jq一Q-Q一Q-2-34一lD 1旦20 一主ECP 豆豆垦旦GNO lQ Cl R 10 CR 逻2Q Cl E 20 3Q 3D 4Q Cl E 40 5Q 10 Cl 50

9、6Q 60 5 Cl CP SJ 20286-93 JT54LS175 逻辑符号引出端排列D、F、H，J型C型CR -R GR Y 1 16Vcc i国ga CP _ 10 嘈lQ _J 2 15 W呻10 110 10 lQ rl3 14 1 4Q 1. 4-1 2019 10 18 . Q 10 2D ZQ LD d 13口40lD 5 17 . 40 2Q 6 16 3D E 30 20 n 5 12口3030 20 7 15 . 3口40 4Q 叶611 h 3Q 2Q 丛1411 3Q 40 2Q 910111213 GND 9 20 7 10 30 QZO N . U呵8 CP O

10、E H ot: 01 a t: 。z1: az 。z61 1 :骨It，俨I I . 7 v -t t=-11. ，飞、IL巳11cp i.v _.二L一专sw一、一-一_t , 主旷、_ , d F -一一-1+-0.7 1 _. -. _ ;同-tl 121v i一131th 一-Y-:一，自c: , - 1 izv-l气107V!一鸟一J一一一斗叫一. D 司-可。H-一一一.一一一一二一4甲号VOL-一一-一一_.QH 一-斗1.31叫F i - l f HL 3 l3V w t_ L嘈-r町Qr- ，.叫,. . l PLH - -_.、.飞l气.- - - - -_I_-_. -Q

11、 12 SJ 20286 93 JTS4LS112 -句，1.7 唱itrSo 问amT1一一- - -步V主V辽r-OV同tw -一-一cp Hv 1 .气陆-t，-t w t川。Adn喝1;-一-一-自1付巳1.-ty 良p-1 tw 一_1-_一- -一-,-盼, Q 4 H二tpL,1 -一-一回凰-呻-tpVf -气忻州时4F wb川WM协3 ov 3 。山内凶 -iJK -1 tr iJ-I +2.7 V ,V tw 。LL一-2.7 V 1.3 V - -。.7VG.,i1 PHL t PLH 11.也._-一.一-一-vOH I .，.、，!.O) ., I Ol VOH 回-

12、VOL一13一臼2028693 3 1/ JT54LS174JT54LS175 p V -QV - -D - VOH -VCL u Jiva，-，l PLH -E-v。1 1 1 -平-言7V1.3Y斗!. :3 V -VOL 一_.t俨一叫FJ呻2.71/ -扣JL一一-:1:- -一l3iEJ27V3V一iv-Jt-i-u 0.7V-UAd v 一-川-t川-，二-07 1 -主Vtw D _1 OH -叫!于一一-一一.飞!OL-一-vOH 一lpLH a -VOL !tr冉一1 1 2 V -t 1/:.3/ 0. V 11 f- -艺忖飞;l UV -1注i。.7V寸JLL-勺阿卡i

13、咽一1.-_ a 14 一SJ 20286-93 3V CR :4叭￥13V 广I :3 -m-V OL c.p :) I -YO叫tw V OL OH PL H -._, E马Q 入波形:RD或ED输入:f运1MHz，问6ns，t，.35ns。CPCP输入:f运1MHz，t, 15ns, j运6ns，t，.30ns。: f:0.5MHz， t斥15ns内运6ns，tsu运20ns，tH = 5ns, tw = 25ns(测f，时，tr = 4:6ns， fo = 1/ 注:D 2fp)。CR输入:f1MHz, t，15ns，问6ns，t，.30ns。 RL = 2kO :t 10% , CL

14、 = 15pF士10%(包括探头和夹具电容)，二极管为2CK76或其等效型号。1)仅适用于JT54LS175。负载线路和波形图T54LS74电测试图2表31 引用标准条件规范值分组符号单位(若无其他规定，TA = 25C ) GB 3439 最小最大A1 V=4.5V, 入条件按功置1) VOH 2.2 2.5 V 被输出IOH=-400A V = 4. 5V, 入条件按功表预置1) VOL 2.5 0.4 V 被出IOL=4mA V1K 2. 1 V= 5. 5V, 入I(K= 1.8mA 一1.5V D、CP0.1 2.11 V = 5. 5V, 入V(=7VmA Ro、So0.2 IIH

15、 2.12 V= 5. 5V，被测入V(= 2. 7V D 20 A Ro 40 So 40 CP 20 I(L 2.13 V=5.5V, V(=0.4V D 一0.4mA Ro - O. 8 So 一0.8CP - O. 4 15 -w-一几干-4SJ 20286 93 续表3一1引用标准条件规范值分组符号单位(若无其他规定，TA = 25 t: ) GB 3439 最小最大A1 los 2.21 V= 5. 5V，被1输入端接地一20-100 mA IED输入V=4.5V，其他输入I 2.25 Vcc=5.5V 8 mA 50 入V=4.5V，其他输入端接地 A2 TA = 125t:，除

16、VK不试外，参数、条件、规范要求同Al分组A3 TA = -55t:，除VK不测试外，参数、条件、规范值要求Al分组注:1)功中H为2.OV, L为0.7V。16一SJ 20286 93 表32 JT54LSl12电测试引用标准条件规程分组符号单位(若无其他规定.TA = 25C) GB 3439 最小最大A1 Vcc = 4. 5V. 入条件按功能表置1)，被测输出VOH 2.2 2.5 V I惆=-400A Vcc = 4. 5V.输入条件按功表预置1)，被测输出VOL 2.5 0.4 V IOL =4mA V(K 2.1 Vcc = 5. 5V.被入I(K=-1.8rnA-1. 5 V

17、白了2.11 V= 5. 5V.被测输入V(=7VJ、K0.1 RD、SD0.3 mA CP 0.4 IIH 2.12 V= 5. 5V.被l输入V(=2.7VJ、K20 A RD、SD60 CP 80 I(L 2.13 Vcc = 5. 5V.被测输入V(= O. 5V J、K- 0.4 mA RD、SD- O. 8 CP - O. 8 los 2.21 Vcc=55V，IED和SD依次V(=4.5V.其余输入端接地-20 -100 mA Icc 2.25 Vcc=55V，itD和SD分别V(=4.5V.其余输入端6 mA A2 TA = 125C.除V(K不测试外，参数、条件、规范值要求A

18、l分组A3 TA = -55C.除V(K不测试外，参数、条件、规高值要求同Al分组A7 功Vcc= 5.0V.按功能表试A9 frnax 3.10 V= 5. OV.被入VIH=3.0V.CP按图2输入脉冲25 M Hz Vcc= 5.0V.CL = 15pF. SD如QtpHL 3.5 RL =2kO.见本规范图2RDQ ns CP Q.Q SD Q tpLH 3.4 RDQ 20 ns CP Q.Q 17一SJ 20286-93 续表32 引用标准条件规范分组符号单位(若无其他规定.TA = 25t) GB 3439 最小最大AI0 fmax 3.10 除TA= 125t外，条件同A9分组

19、30 如1Hz除TA= 125t外，条件同A9分组So Q 40 ns + tpHL 3.5 Ro Q 40 CP Q.Q 42 缸Qns tpLH 3.4 RoQ 32 CP .Q.Q All 除TA=-55t.参数、条件、规程同AI0分组注:1)功能表中H为2.0V.L为0.7V。表33 JT54LS174电测试引用标准条牛规范值分组符号单位(若无其他规定，丁A= 25t) GB 3439 最小最大Vcc=4.5V.CR输入VIH=2.0V.CP入正脉冲1)Al 测VOH 2.2 2.5 V 入VIH=2.0V.被测出IOH=-400A VOL V=4.5V.CR输入VIH= 2. OV.

20、 CP 入正脉冲1)，被测0.4 V 入V(L=0.7V.被测输出IOL=4mA 2.5 V=4.5V.CR输入Vll.=0. 7V.被测输出IOL=4mA V(K 2.1 V=4.5V.被入I(K= - 18mA - 1. 5 V I( 2.11 V=5.5V.被测入V(=7V。.1 mA IIH 2.12 V=5.5V.被测入V(= 2. 7V 20 A I(L 2.13 V=5.5V.被l入V(=0.4V一0.4mA V=5.5V.CR输入V(=4.5V. CP 入负脉冲2)被测输I 2.21 一20-100 mA 入V(= 4. 5V V= 5.5V. CR输入V(= 4. 5V. C

21、P 入负脉冲到所有输Icc 2.25 26 mA 入V(= 4. 5V A2 TA=125t.除V试外，参数、条件、规范值要求同Al分组A3 TA= -55t.除V(K不测试外，参数、条件、规范要求同Al分组A7 功能测试V= 5.0V.按功表测试一18一SJ 20286-93 续表3-3引用标准条件分组符号(若无其他规定，T A = 25C ) GB 3439 A9 fmax 3.10 Vcc=5.0V，CR输入VIH=3.0V，D端按图2输入脉冲tPHL VCC=5.0V, CL=15pF, CP，任Q 3.5 RL =2kn，见本规范图2CR.任Q tpUl 3.4 CP 任Q A10

22、3.10 除TA= 125C外，条件同A9分组tPHL TA = 125C外，条件同A9分组CP，任Q 3.5 CR.任Q tpUl 3.4 CPw任-Q十All TA = -55C，参数、条件、规范值同A10分组注:1)正脉冲为3.0V OV 分组A1 A2 A3 A7 负脉冲为符号引用标准GB 3439 VOH 2.2 VOL 2.5 V(K 2. 1 2.11 IIH 2.12 I(L 2.13 los 2.21 Icc 2.25 3.0V OV 表34 T54LS175电测试条件(若无其他规定，TA = 25C ) Vcc=4.5V，输入条件按功表预置1)，被测输出VOH= -400A

23、 Vcc=4.5V，输入条件按功能表预置1，被测输出IOL =4mA Vcc=4.5V，被测输入I(K=一18mAVcc = 5. 5V, 入V(=7VVcc=5.5V，被测输入V(= 2. 7V Vcc = 5. 5V，被测入V(=0.4VVcc= 5.5V, CR和被入接地，Q端V=5.5V，CR和D输入V(=4.5V，WJQ端V= 5 .5V, CR和D输入V(=4.5VTA = 125C，除V(K不测试外，参数、条件、规范值要求A1分组TA = - 55C, V 试外，参数、条件、规范要求同Al分组功能测试Vcc= 5.0V，按功能表测试范值单位最小最大25 M Hz 30 ns 35

24、 30 ns 25 M Hz 52 ns 52 47 ns 规范值单位最小最大2.5 V 0.4 V -1. 5 V O. 1 mA 20 A - O. 4 mA 一20-100 mA 18 mA 19一SJ 20286 93 续表3-4引用标准条件分组符号(若无其他规定.TA=25C)GB 3439 A9 fmax 3.10 Vcc=5.0V.二R输入VlH=3.0V. D端按图2入脉冲tpHL VCC=5.0V.CL=15pF. CR任Q 3.5 RL =2kn.见本规范图2CP，任Q 寸tpLH 3.4 CR-任Q CP叫圭Q A10 f . 3.10 除TA= 125C外，条件同A9分

25、组斗tPHL 除TA= 125C外，条件同A9分组CRw任Q 3.5 CP-任-QtpLH 3.4 CR-任Q CP-任Q Al1 除TA=-55C.参数、条件、规范同A10分组注:1)功能表中H为2.OV. L为0.7V。3.6 标志标志应按GJB597第3.6条的规定。3.7 微电路组的划分本规范所涉及的器件为第10微电路组(见GJB597附录E)。4 质量保证规定4. 1 抽样和检验规范值单位最小最大30 MHz 30 ns 25 30 ns 25 25 MHz 55 ns 55 51 ns 46 除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2

26、 筛选在鉴定检验和定进行川础。性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。表4筛选程序条件和要求项自B级器件B1级器件说明方法条件方法条件内部目检2010 B 2010 件B(封帽前)稳定性烘熔1008 C 1008 件C(不要求终点电测(150 C .24h) (1 50C .24h) 试)一20一臼20286-93续表4条件和要求项目B级件B1级器件说明方法条件方法条件1010 试件C1010 试验条件C可用方法1011试验条件A替代恒定加速度2001 试验条件E.2001 试验条件D.Y1方向Y1方向;百门。可王

27、耳目检断落、外裂、封普脱落为失盐中间(老化前)电本规范A1分组本规范A1分组由制造厂决定是否进行本筛选测试老化1015 试验条件D.1015 试验条件D.采用本规范图3线路(125 C .160h) (125C .160h) 中间(老化后)电本规范A1分组本规程A1分组试允许的不合格品5%.本规范A1分组，当不10% .本规范A1分组，当所有批。若老化前未进行中|哥率(PDA)计算合格品率不，过10%时可不合格品率不超过20%时电测试，则老化后中(老化后)重新化，但只允许叮重新老化.但只允许电测试A1分组的失效也应计次次入PDA最终电测试本规范A2，A3、本规范A2、A3、本选后.若引线涂覆改

28、变或返A9分组A9分组工，则应再进行A1分组测试密封1014 1014 粗外部目检2009 2009 鉴定或最致5005 |第3.5条5005 第3.5条性检验的试样品抽取4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规洒A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4 质量一致性检验一致性检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548的方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4.1 A组检验21一臼2028693 A组电各分组的范表5的规定。本规范表2的规定，各分

29、组的电测试按本规范表3的规定。试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。合格判定数(c)2。表5A组检验LTPD 试验B级器件Bl级器件Al分(25C下2 2 A2分组(125C下静态3 3 A3分组(-55C下静态测试)5 5 A7分组(25C试)2 2 A9分组(25C下开关试)2 2 AlO分组(125C下开关测试)3 不要求All分组(-55C下开试)5 不要求Vcc R2 ! Vcc ih v Rl G IfD 吨4今，SJ 20286 93 Vcc 百畜CP R2 旦旦旦姐姐DG _n_ r=tOOkHz R Vcc 10 主鱼肉G f飞 t:=SOk

30、Hz Vcc RZ G I CR -f R CP n Cl Vcc r=100kHz i lQ 10 7.0 2Q 陇1G 3D 3Q Rl n 3Q Rl 4Q 4D r=SOkHz 4Q _Rt 注:输入1日亏:GA 2.0V ,0. 7 V 2.0V O.7V G6 fA = 100kHz, fB = 50kHz, q = 50 %。 Rl = lkO :t 5% , R2 = 270土5%，V值的选择应使器件V端至少为5V。图3老化和寿命试验线路4.4.2 B组检验B组检验应按本规范表6的规定。BI-B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。若无其他规定，表中采用的方法系指G

31、JB548的试验方法。23一臼20286一93表6B组检验条件和要求样品数/(接收数)项目B级器件Bl级器件说明或LTPD方法条件方法条件B1分组2/(0) 尺寸2016 2016 B2分组4/(0) 抗溶性2015 2015 B3分组15 可焊性2022或焊接温度:2022或焊接温度:LTPD系对引线数而言，被2003 245C 2003 245C 试数应多于3个B4分组1/(0) 内部目检和机2014 2014 械性能B5分组7 键合强度2011 试验条件2011 试验条件可在封装工序前的内部目(1)热压焊C或DC或D检后随机抽取样品进行本(2) 焊试验B8分组15/ (0) (a)电参数

32、Al分组不要求(b)静电放电灵GJB 仅在初始鉴定或产品重新敏度xxx 设计时进行(c)电参数Al分组4.4.3 C组C组检验应按本规范表7的规定。若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。24一项目Cl分组命终点电测试分组温度f亘定加速度密封细粗目检终点电试C3分组125(;下开关试c4分组-55(;下开关试4.4.4 D组检验SJ 20286 93 表7C组检验条件和要求B级器件Bl级器件方法|条件1方法|条件1005 1010 21 1014 验条件D或125(;.1000时.A2.A3分见本规范表表3)C 条件E.Yl向脑1010的目检据1.A2.A3分组见本规市表表3)

33、要求求1005 1010 2001 1014 条件D或125(; 1000h) A2.A3分见本规范表表3)验条件C条件D.Y向性1010的目1, A2. A3分(见本规范表和表3)0分组(见m:表2和1分组(见范表2和D组检验应按本规范表8的规定。样品数/(接收数)或LTPD5 15 3 5 说明采用本规范图3的试验线路Dl，D2，D5，D6，D7，D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。25一项D1分组尺寸D2分组目引线牢固性密封D3分组热冲击环抗潮湿密封目检D4分组机械冲击变频振动恒定度密封细粗自检一26一臼20286-

34、93条件B级器件方法|条件表8D组检验和要求2016 BI级器件方法|条件2016 2004 I试条件四I2004 采用试验条件B2(片状载体采用试验条件D)试验条件D)1014 1014 1011 试件B，1011 试验条件A，15 15次环I 1010 I试条件C，1010 试验条件C，100次环10次环I 1004 I片状体不要1004 片状体不要求引线弯曲应求引线弯曲应力的预力的预处理|按1010和按1010和1004目检判据1004目检判据A1、A2和A3Al、A2和A3分组(见本规范分组(见本规范表2和表3)表2和表3)I 22 I试验条件BI 2002 I试验条件AI 2007

35、I试验条件AI 2007 I 件AI 2001 I试验条件E，2001 试验条件D，Y1方向Y1方向1014 1014 |按2002，2007按2002，2007目检判据目检判样品数/(接收数)或LTPD15 15 15 15 l兑明Bl级器件允许按GB 4590第36 条，严格度D进行试验B1 件允许按GB 4590第36 条的目检判据可在抗潮湿后和密封前进行;用于D3分组的;样品可用于D4;分组SJ 20286 93 续表8条件和要求B级器件方法|条件件一件器-t一条级-m一法方样品数/(接收数)或LTPO说明项目终点电测试A1.础.A3分组(见本规范表2和表3)A1. A2. A3分组(

36、见本规范表2和表3) 05分组盐雾15 1009试验条件A.片状载体不要求引线弯曲应力l的预处理密封I 1014 I 1014 细粗目检I I按1009的目检II按1009的目检判据I I判据对B1级器件用户要求时进行该分组试验水大情为m协町乱旷-Eny忧创帕m汽moo n 量含汽水组币分阳时3/(0)或5/(1) 不要求当试验3个器件出现1个失效时，可加试两个器件并且不失效。若第一次试验未通过，可在鉴定机构认可的另一试验室进行第二次试验。响叫咀峭屿贝。该批被接收D7分组引线涂强度15 粘附I2025 I不适用于片状|载体2025 I不适用于片状|载体LTPO系对引线数而言08分组封盖扭矩5/

37、(0) 2024 I仅适用于熔封2024仅适用于熔封陶瓷外壳陶瓷外壳4.5 检验方法规定如下:4.5. 1 电压和电流所有给出的电压均以器件GND端为基准。给定的电流以流入引出端为正。27一时2028693 5 交货准备5. 1 包装要求包装要求应按GJB597第5.1条的规定。6 说明事项6. 1 订货资料采购合同应规定下列内容:a. 完整的器件编号(见1.3.1条)。b. 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性数据的要求。C. 南要时，对合格证书的要求。d. 需要时，对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。e. 南安时，对失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求。f. 对产品保证选择的要求。g. 需要时，对特殊载体、引线长度或引线形状的要求。h. 对认证标志的要求。i. 需要时，其他要求。6.2 缩写、符号和定义本规范所采用的缩写、符号和定义按GB3431.1、GB3431 2和GJB597中规定。6.3 替代性范规定的器件其功能可替代普通工业用器件。但不允许用普通工业用器件替代军用器件。附加说明:本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由中国电子技术标准化研究所起草。本规范主要起草人:胡燕、童本敏。计划项目代号:B01033o28一