SJ 20281-1993 半导体集成电路JT54LS13、JT54LS14和JT54LS132型LS-TTL与非门详细规范.pdf

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1、，、FL 5962 SJ 20281一93、l、E 电Detail specification for types JT54LS13, JT54LS14, and JT54LS132 positive NAND gates of LS TTL secmicondudtor circuits 1993-05-11发布1993-07-01实施中华人民共和国电子工业部批准目次1 范围.,._._. 1. 1 内容. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1. 2 适用范围. . . . . . . . 1. 3 分类. . .

2、, . . . . . . . . . . . . . .,. . . . . .,. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 引用文件. . . . . . . . . . 3 要求-. . . . . . .,. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3. 1 详要求. . . . . .,. . . . . . . . . . . . . . . . 3.2 设计、结构和外形尺寸. . 3.3 引线材料和涂覆. . . . . 3.4 电特性. . . . . . . . . .

3、 . . . . . . . . 3.5 电要求. . . . .,. . . . . . . . . .,. .、. . . . . . . . . . . . . . . 3.6 标志3.7 微电路组的划分. . . . 4 质定. . . 4.1 检验. 4.2 . . . . . . 0 0. _o. . . . . . . ., .,. 4.3 鉴定检验. . 4 .4 性检验. 4.5 检验方法5 交货准备5.1 包装要求6 说明项. . . . . 6.1 订货资料. 9 a 6.2 . . . . . . . . 写、符号和定义6.3 替代性、，4A ，、(1) 、，A ，、，

4、4A ，、(2) (3) (3) (3) (5) (5) (8) 、，4A 4A ，、.，4晶唱， ，.、， 4且，、，且, . ，、(11) (12) (12) (17) (17) (17) (18) (18) (18) (18) 中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路口54LS13，JT54LS14和JT54LS132型LSTTL与非门详细规范1 范围Detail specification for typ四JT54LS13.JT54LS14and JT54LS132 positive NAND gat由of LS - TTL secmiconductor integrated ci

5、rcuits 1. 1 主题内容臼2028193 本规范规定了半导体集成电路JT54LS13、JT54LS14和JT54LS132型LS-TTL与非门(有施密特触发器)(以下简称器件)的详1. 2 适用规范本规范适用于器件的研制、生产和采购。1. 3 分类本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。1.3. 1 器件编号器件编号应按GJB597(微电路总规范第3.6.2条的规定。1. 3. 1. 1 器件型号器件型号如下:器件型号JT54臼13I双4输入与非门(JT54LS14 JT54LS132 1. 3. 1. 2 器件等级甲立/、(有施密特四2输入与非门(件

6、名称器件等级应为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的民级。1. 3. 1. 3 封装形式封装形式如下:中华人民共和国电子工1993-05-11发布1993-07-01实一1一臼2028193 字母封装形式。C OP3(陶瓷无引线片式载体封装)D 014臼(陶瓷双列封装)F F14X2(陶瓷扁平封装)H H14X2(陶瓷熔封扁平封装)J14臼(装)注:1)按GB7092(半导体集成电路外形尺寸的规定。1. 3.2 绝对最大额定值绝对最大额定值如下:项目符电源电压输入电压度十JT54LS13 功耗1)JT54LSl4 JT54LS132 引度(105) 数号最最大V -0.5 7.0 V

7、1 -1.5 7.0 T -65 150 38.5 Po 115.5 77 Th 300 Ti 175 注:1)器件应能经受测试输出短路电流(I)时所增加的功耗。1.3.3 推荐工作条件推荐工作条件如下:项自电源电压入高电平电压入低电平电压出高电平电流出低电平电流工作环2 sl用文件GB 3431.1 82 GB 3431.2 86 GB 3439 82 2一符号V cc V IH V IL I佣IOL TA 半导体半导体半导体集成规范最最大4.5 5.5 1.4 1.0 -400 4.0 -55 125 电路文字符号电参数文字符号文字符号引出端功能符号TTL电路测试方法的基本原理单位v ,

8、V mW 单位v v V A mA 创2028193 GB 4590 84 GB 4728.12 85 GB 7092 93 GJB 548 88 GJB 597 88 GJB 1649 93 电路机械和气候试电气图用图形符号-电路外形尺寸和程序法元方电子微电路总规范电子产品防静电放电控大纲3 求3. 1 详细各项要求应按GJB597和本规范的3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3.2. 1 逻辑符号、逻辑固和引出端排列号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出。排列为俯视图。JT54LS13 CD I-KDC ，、9句，a引出端排列C型阁:s.

9、 F -6 逻辄符号D、F、H，JE 01 lA 01 14 lB q2 13 3 12 lC 04 11 10 Os 10 lY口69 2Y 逻辑图ABCD -1且且lY ABCD 句-衡，&句444 JT54LS14 逻辑符号引出端排列1-UT AYAYMM呼1122:1 D、F、H，J型bVa: 13n6A 10口5YC 何UYZJ 、44EE300句14OCJd唱11IIIUU-YBTxn品LF带Il-11 叫zmAOZOFH3456789pnF巩YM叭，-句44GND 3一臼2028193 逻辑1A 1Y. 4A 4Y 2A 2Y SA SY 3A 6Y 3Y 6A T54LS132

10、 逻辑符号引出排列D、F、H、J型1A 01 v C型14 8 iXlt 1Bd2 . 1Y 13 4B 1Y 3 12 4A 1Y 2A A 11 4Y 2A6 2B05 1003B 7 2YD6 3A 2B8 .111，)，吃3B 回. GND 7 3Y 逻辑图A币MmA也AB-4Eaa4啕-d凋aa.，1Y 2Y 3Y 4Y 图1号、和引出3.2.2 功能表功能表如下:JT54LS13 输入输出A B C D Y L L , L L H H L L L H 寸L H L L H H H L L H L L H L H H L H L H L H H L H H H H L H L L L

11、 日H 一4一H L L H H H L L H L L H H H JT54LS14 入A L H JT54LS132 A L H L H 注:H为高电平;L为低电平。3.2.3 电原理图制造厂在鉴定之前应将档备查。3.2.4 封装形式臼2028193 续表输入L L L H H H H 入B L L H H 提交给鉴定机构。封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3 引线材料和涂引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4 电特性电特性应符合本规范表1的规定。输出H E王H H H H 日H H H H H H L 功Y H L 输出Y H H H L 造厂的电原理图应

12、由鉴定机构存-5一臼2028193 表1-1JT54LS13的电特性条件1)特性符号(若, -55t:运TA运125t:) 输入正向值电压V.T+ V c= 5.0V 输入负向阂电压V.T-Vcc=5.0V 滞后电压1 VT Vcc=5.0V 出高电平电压VOH V=4.5V， v.L =0.5V, VOH= -0.4rnA 出低电平电压VOL V=4.5V， V.H= 1. 9V, IoL=4rnA 输入籍位电压V.K Vcc=4.5V, V.K= -18r,_ 最-入电压时输1. V;=5.5V， V.=7V 入电流输入高电平电流I.H Vcc=5.5V, V.=2.7V 低电平电流I.L

13、 V=5.5V， v.=O.4V 输出电流到Ic后V= 5.5V; 出俞电平时电源V= 5.5V, IH 电V. =:= GND 出低电平时电源IL V= 5.5V, 电流V.=5.5V Vcc=5.0V 时间tPHL RL =2kO t PI.H CL =:= 15pF 注:1)完整的2)每次只试条件列于表3。路-个输出端。表1-2JT45LS14的电特性特性符号条件1)(若无其他规定，-55t:运TA运125t:) 输入正向阂值电压V.T+ V=5.0V 输入负向阂值电压V1T-Vcc=5.0V 滞后电压1 VT V=5.0V 出命电平电压VOH Vcc=4.5V, V1L=0.5V, V

14、OH= -O.4rnA 出低电平电压VOL V=4.5V， VIH= 1. 9V, IOL =4rnA 入籍位电压V1K V=:=4.;V， V.K=:= -18rnA + 最大输入电压时输11 Vcc=5.5V, V.=7V 入电流6一规班单位最小最大1.4 1.9 v 0.5 1.0 v 0.4 1.4 V 2.5 v 0.4 、飞J寸甲1.5v 0.1 rnA 十20 A -0.4 mA -20 -100 mA 6.0 mA 7.0 mA 斗52 ns 52 规范单位1.4 1.9 v 0.5 1.0 v 0.4 1.4 V 2.5 V 0 .4 v -1.5 v 0.1 rnA 回20

15、28193 续表1-2条件1)将性符号(若无其, -55t运TA运125t)高电平电流IIH Vcc=5.5V, V,=2. 7V 低电平IL Vcc=5.5V, V,=0.4V 输出电流2)105 V= 5.SV, 出高电平时电源V= 5.5V, Ic苦电流V,=GND 输血低电平时电源Vcc=5.5V, IL 电流VI=5.5V 传迟时间t冉钮，V=5.0V RL=2kO tpLH CL = 15pF , 注:1)完整的测试条件列于表3。2)每次只特性入正向阂电压负向电压后电压出高电平电压输出低电平电压输入籍位电压最大入电压时输入电流输入高电平电流输入低电平电流输出短路电流出高电平时电源电

16、流出低电平时电源电流迟时间注:1)完整的2)每次只表1-3JT45LS132的电特性条件1)符号, -55t运TA; 125t ) V1T+ V=5.0V VIT-V=5.0V .0:1 V T V=5.0V VOH Vcc=4.5V, VIL=0.5V, VOH= -O.4mA VOL Vcc=4.5V, VIH= 1. 9V, IOL =4mA VK V=4.5V， VIK= -18mA II V工5.5V，VI=7V IIH Vcc=5.5V, VI=2.7V IL Vcc=5.5V, VI=O.4V 105 V=5.5V， I:H Vcc=5.5V, V,=GND V cc= S.5V

17、, ICCL V,= 5.5V tPf咀. V=5.0V RL=2kO tPLH CL= 15pF 件列于表3。出咽。规范单位最小最大20 A -0.4 mA -20 -100 mA 16 . mA + 21 mA 52 ns 52 规范值最小最大单位1.4 1.9 V 0.5 1.0 V 0.4 1.4 V 2.5 V 0.4 V 1.5 V 0.1 mA 20 A -0.4 mA -20 -100 mA 11 mA 14 mA 52 DS 52 一7一臼2028193 3.5 电试验要求各级器件的电3的规定。要求应为本规范表2所规定的有关分组，各分组的电测试按本规范表表2电试验要求分组(见

18、表3)项目B级件s. 中闵()电Al Al 中间(老化后)电测试All) A1l) 最终电A2. A3. A7. A9 A2. A3. A7. A9 A组试验妥求Al. A2. A3. A7. A9. AI0. All Al. A2.A3.A7. A9 C组终点电试(方法5005)Al. A2.A3 Al. A2.A3 C组检验增加的分组|不要求A10.All D组终点电(方法5005)Al. A2.A3 Al. A2.A3 注:1)该分组要求PDA计算(见4.2条)。表3-1JT54LS13电测试l用条件规范值分符寺单位(若无其他规定.TA=25t) GB 3439 最小最大Al VOH 2

19、.2 VCC= 4.5V, 入条件按功表预置1出I佣=2.5 v -4A VOL 2.5 V=4.5V.被入VH= 2.0V. 出101.= 0.4 v 4mA V阪2.1 Vcc= 5.5V. 入IK=-1.8mA 1.5 v 1, 2.11 VCC= 5.5V. 入V，=7V0.1 mA IH 2.12 V= 5.5V, 入V，=5.5V20 A IL 2.13 Vcc=5.5V, 入V，=O.4V-0.4 A Ic路2.21 V= 5.5V. 入-20 -100 mA ICCH 2.26 V= 5.5V.所有入接地，出开-6.0 mA IL 2.27 Vcc=5.5V. 入V，=5.5V

20、.出开路-7.0 mA A2 TA = 125t. V!K不试外，、条求同Al分组A3 TA = -55t , VK不试外，参数、条Al分组A9 tPHL 3.5 V=5.0V.见本规范困227 ns tpLH 3.4 22 8一, SJ 20281 93 续表3-1引用标准条件规范值分组符号单位(若无其定，TA = 25(;) GB 3439 最小最大A10 tpHL 3.5 Vcc=5.0V，见本规范图252 ns tpLH 3.4 TA = 125(; 52 A叫除TA=-5咒参数、条件、规范A10分组17id1)功能表中H为2.OV, L为0.7Vo，表3-2JT54LS14电测试 葡

21、事条件规范值单位一(若无其他, TA = 25(;) 最小最大一一/1 VOH 2.2 Vcc=4.5V, 入条件按功能表预置1)，测输出I佣2.5 V = -400A VOL 2.5 Vcc=4.5V, 入V(H= 2.0V，被测出IOL= 0.4 V 4mA V1K 2.1 V cc= 5.5V, 入I(K=-1.8mA 1.5 V 1( 2.11 VC= 5. 5V, 入V(=7V0.1 mA I lH 2.12 Vcc=5.5V.被入V(=5.5V20 A 11L 2.13 Vcc = 5.5V，被入V(=0.4V- 0.4 A los 2.21 Vcc=5.5V, 入端接地-20 -

22、100 mA ICCH 2.26 VCC = 5.5V，所有入接地，出开路16 mA ICCL 2.27 Vcc=5.5V，所有入V.= 5.5V, 出开路21 mA A2 TA = 125(;，除V(K不试外，参数、条件、规范值要求同A1分组A3 TA=甲55(;，除V1K不试外，参数、条件、规程值要求同A1分组 A9 tpHL 3.5 VCC= 5.0V，见本规范图222 ns tpLH 3.4 22 斗AIO t p口，3.5 VCC二5.0V，见本规范围252 ns tpLH 3.4 ! TA =二，125(; 52 .-.、一一一一All !除TA= -55(;，参数、条件、规范值同

23、AlO分组注1)功能表中H为2.OV. L为0.7Vo9一臼2028193 表3-3JT54LS132电测试用条件规范值分组符号单位(若无定，TA= 25C) GB 3439 最小最大Al VOH 2.2 V cc= 4.5V, 入条件按功能表预置EL测出I惆2.5 V = -400A VOL 2.5 V=4.5V，被视l入VIH= 2.0V，被测出10L=0.4 V 4mA V(K 2.1 Vcc = 5. 5V，被测输入I(K=-1.8mA 1.5 V 11 2.11 V= 5.5V，被测输入V(=7V0.1 mA IIH 2.12 Vcc= 5.5V，被测输入V(=5.5V20 A II

24、I. 2.13 平cc=5.5V，被V(=0.4V - 0.4 A Ios 2.21 VCC = 5.5V.被测输入端接地-20 -100 mA ICCH 2.26 V CC = 5.5V，所有输入接地，输出开路11 mA ICCL 2.27 VCC = 5.5V.所有输入V(=5.5V, 出开路14 mA A2 TA = 125C.除V(K不测试外，参数、条件、规范值要求同Al分组13 TA = -55C.除VIK不测试外，参、条件、规范值要求Al分组A9 tpHL 3.5 VCC= 5.0V，见本规范图222 ns tpLH 3.4 22 AIO tpHL 3.5 VCC= 5.0V，见本

25、规范图252 ns + tpLH 3.4 TA = 125C 52 A11 除TA= -55C.参数、条件、范值同AI0分组注1)功能表中H为2.0V.L为0.7V。负载线路波形图tr t主试点、2.7V 3V A B 四1.3V1I1.3V V C D 0.7V 0.7V . . OV y I 1: tw V佣工CL1. 3V 1. 3V VOL tPHL tpLH 注:输入波形:f = 1 MHz. t ?豆15ns，t ?二6ns.t 200土20nso R c= 2kO. C c= 15pF(包括探头和夹具电容)，二极管为2CK76或其等效型号。图2负载线路和波形图一10一臼20281

26、93 3.6 标志标志应按GJB597第3.6条的规定。3.7 微电路组的划分本规范所涉及的器件为第8微电路组(见GJB597附录E)。4质4. 1 抽样和检验本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2 筛选在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。表4筛选程序若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548 。条件和要求项目B级件Bt f牛方法条件条件内部自检2010 f牛B2010 !试验条件B(封帽前)稳定性烘烙1008 试验条件C1008 i试验条件C(不要求终点电测(150C 24h) (

27、150C .24h) 试)+ 度环1010 件C1010 试验条件Cf亘定加速度2001 件E.2001 1试验条件D.Yl方向。Yl方向。目检+ 中间(老化前)电本规范Al分组本规程Al分组测试老化1015 试验条件D1015 试验条件D( 125 C 160h) (125C. 160h) 中!可(老化后)电本规范Al分组本范Al分组测试说明可用方法1011试件A替代。可在密封选后进行。引线断落、封盖脱落为失效。由制造厂决定是否进行本采用本规范图3线路一11一SJ 20281 93 续表4条件和要求项目B级Bt 器件说明方法条件方法条件-一一一-允许的不合格品率5%.本规范A1分组，当不合H

28、r%.本规范A1分组，当不所有批。若老化未进(PDA)计算格品率不超过10%时可重新合格品率不超过20%时可重行中间电测试，则老化后提交老化，但只允许次。新交老化，但只允许次。中间(老化后)电测试Al分组的失效也应计入PDA。F一，-段终电测试本规范A2、A3、A9分本范A2、日、A9分本筛选后，若引线涂覆改组组变或返工，则应再进行A1分组测试。一一一密封1014 1014 起一一外部吕检2009 2009 鉴定或质量致性5005 第3.5条5005 |第3.5条检验的试验样品抽取4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组

29、检验(见本规范4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4 质量一致性检验质量一致性检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548的方法5005和本规范A，B、C和D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4.1 A组检验A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检费G合格判定数(c )最大为20表5A组检LTPD 试验B级器件B1 器件Al分组(25C下静态测试)2 2 A2分组(125C下静态测试)3 3 一12一/ 臼2028193 续表5

30、LTPD 试B级器件Bt 器件A3分组(-55C下静态测试)5 5 A7分组(25C下功能测试)2 2 A9分组(25C下开关测试)2 2 AI0分组(125C下开关测试)3 不要求All分组(55C下开5 不要求T54LS13 Vcr; 2D R. 飞kG lB DE鸣44 R, T54LS14 lY 2 T54LS132 Voc 4B 4Y R, 一13一SJ 20281 93 注:输入信号:f = 100kHz. q = 50%。( R1=lkO :t 5%.R2 使器件Vcc端至少为5V。图3老化和寿命试验线路4.4.2 B组检B组检验应按本规范表6的规定。BI-B5分组可用同一检验批

31、中电性能不合格的器件作为样本。表6B组检验若夫其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。条件和要求样品数/项日B级件Bt级器件(接收数)方法条件方法条件或LTPD81分组2/(0) 尺寸2016 2016 82分组4/(0) 抗溶性2015 2015 B3分组15 可焊性2022或焊接2022或焊接2003 度245(;2003 度245(;B4分组1/(0) 内目检2014 2014 和机械性能85分组7 强度2011 试验条件2011 试条件(1)热压焊C或DC或D(2) 88分组15/(0) ( a)电参数(b)静电放电灵敏GB1649 A1分组不要求度等级(c)电参数A1分组

32、4.4.3 C组检验C组检验应按本规范表7的规定。14一2.0V O.7V 说明LTPD系对引线数言，被试器件数应多3个。可在封装工序前的内部目检后随机抽取样品进亏。仅在初始鉴定或产品重新设计时进行。臼2028193 表7C组检验若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。条件和要求样品数/(接收数)项自B级件B1 说明或LTPD方法条件方法条件, Cl分组5 寿命1005 l试验条件D或E1005 |试验条件DE 采用本范图3(125t .1000h) (125t. 1000h) 的试验线。终点电测试Al, A2. A3分组Al. A2. A3分组(见本范表2和(见本规范表2和表

33、3)表3)口分组15 环1010 |试条件C。1010 试C。f亘定加速度2001 |试验条件E.Yl2001 试条件D.Yl方向方向密封1014 1014 细粗目检按1010的目检判按1010的自检判据据终点电试Al, A2.A3分组Al. A2. A3分组(见本规范表2和(见本规范表2和表3)表3)C3分组3 125t下开关测不要求AI0分组(见本规试范表2和表3)c4分组5 -55t下开关不要求All分组见本规测试范表2和表3)4.4.4 D组检验D组检验应按本规范表8的规定。D1 . D2 . D5 . D6 . D7 .四分组可用同批中电性能不合格的器件作为样本。一15一臼20281

34、93 表8D组检验定，表中采用的方法系指GJB548 条件和要求若无其项目B级方法条件Dl分组尺寸2016 D2分组引线牢固性方法2016 2004 1试验条件B2(片12004状载体采用试验条件D)密封细盘盘噩D3分组热冲击1014 温度抗潮湿封细粗检密目终点电测试试验条件B2(片状载体采用试验条件D)1014 。样品数/(接或LTPD说明15 15 1011 I试验条件A15次1010 1试验条件C.10次1004 1片状载体不要求引线弯曲应力的预处理。表3)I I表3)10111试验条件B15 1010 1试验条件C100次循环1004 1片状载体不要求引线弯曲应力的处理。川41014

35、按1010和1004I I按1010和1004目检判据I I自检A1.A2和A3分组II Al. A2和A3分组(见本规范表2i I (见本规范表2D4分组机械冲击I 2002 I试验条件B2007 I试验条件A恒定加速度I 2001 I试验条件E.Yl方向封细粗检密目1014 按2002.2007日检判A1.A2.A3分组(见本规范表2和表3终点电测试一16一2002 2007 2001 D. A 条件AYl方向1014 按2002.2007日检Al.A2.A3分组(见本规范表2和表315 Bl级器件允许按GB4590第3.6条严格度D进行试。BI级器件允许按GB4590第3.6条的目检判据

36、可在抗潮湿后和密封前进行。15 用于D3分组的样品可用于D4分组, 臼028193 8 条件和要求B级器件条件Bt级器件祥品数/(接收数)或LTPD说明项目条件D5分组盐雾15 1009 I试验条件A.片状体不要求引线弯曲应力的预处理对Bl级器件用户要求时进行该分组试验。封细粗检密目1014 1014 按1009的目检判据按1009的目检判据汽n水明大陆最刷时:为E 则梢。00 量含汽水组分阳山3/(0)或5/(1)不要求当试验3个器件出现1个失效时可加试两个器件并且不失效。若一次试验未通过，可在鉴定机构认可的另一试验室进行第二次试。若试验通过，被接收。强;线涂覆粘附2寸适用于叫|叫;适用于片

37、状15 LTPD系对引线数川口。D8分组封盖扭矩5/(0) 2024 I仅适用于熔封陶I2024 I仅适用于熔封陶瓷外壳I I瓷外壳4.5 检验方法检验方法规定如下:4.5. 1 电压和电流所有给出的电压均以器件GND端5 交货准备5. 1 包装要求包装要求应按GJB597第5.1条的规定。6 说明事项。给定的电流以流入引出端为正。一17一SJ 20281 93 6. 1 订货资料采购合同规定下列内容:3. 完整的器件编号(见1.3.1条)。b. 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验一致性数据的要求。c. 南安时，对合格证书的要求。d. 需要时，对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。e. 商安时，对失效好析包括GJB548方法5003要求的试验条件、纠正措施和结果提供报告的要求。f. 对产品保证选择的要求。g. 前要时，对待特殊、引线长度或引线形状的要求。h. 对认证标志的要求。i. 需喜时其他要求。6.2 缩写、符号和定义本规范所采用的缩写、符号和定义在GB343.1、GB343.2和GJB597中6.3 替代性。本规范规定的器件其功能可替代件。工业用器件。但不允许普业器件替代军用器附加说明z本规范由中华电子工业部科技质量局提出。本规范由电子工业部第四研究所负责胆币。本规范主要起草人:胡m、计划项目代号:B01032一18一