SJ 20162-1992 半导体集成电路JT54LS283型LS-TTL四位二进制超前进位全加器详细规范.pdf

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1、SJ 中华人民共和国电子行业军用标准FL5962 SJ 20162-92 半导体集成电路JT54LS283型LSTTL四位二进制超前进位全加器详细规范Detai I specification for types JT54LS283 4町bitbinary FULL ADDERS with fast carry of LS叫丁丁Lsemiconductor integrated circuits 1992-11-19发布1993-05叫01实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JT54LS283型LS-TTL四位二进制超前进位全加器详细规范SJ 20162

2、 92 Detai I specification for types JT54LS283 4响bitbinary FULL ADDERS with fast carry of LS咱TTLsemiconductor integrated circuits 1 范围1. 1 主题内容本规范规定了半导体集成电路JT54LS283型LS-TTL4位工进制超前进位全加器(以下简称器件)的详细摆求。1.2 适用范围本规范适用于器件研制、生产和采购。1. 3 分类本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。1. 3. 1 器件编号器件编号应按GJB597 ;B2LJ 2 1

3、5 1 I 83 :王LCF:;F 1 r1 4 13113 F1, 17lP3 占主斗斗1B 11 I 6 ll11B4 81118 14日4C 101 1 7 10 I I F唱MOOO Q R u 。啼h哮GND叫84 逻辑回C04 B4 83 82 A且1二叫因1逻辑符号、逻辑酣和引出端排列3 SJ 20162-92 3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸应按GJB597和本规范的规定。3.2.1 逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合阁l的规定。引出端排列为俯视图。3.2.2 功能表功能表如下:L L 日L L 日 H L L H L L H 日日L

4、 L H L L H H 日L L 日L L H 日H L L L L L L L L 日L L 日L H L L 日L H L H L H 日H H H H H H L L L H L H L L L H H L L L H L H L 日H L 日L H 日 H L L L H H L L L L L H H L L H L 日H 日日L L L 日日L L L L L H 日L L L 日日L 到L 日L H H L H L H L 日H H H L L L L L H H 日L H H 日日日H 日战:中，日为高电平、L为低电平。先由Al、矶、A2、矶、CIo的输入条件确定矶、F2输出

5、和内部进位CO2的值;然后再由CO2、人3、A4、民的值米确定F3、凡、和C04。3.2.3 电原理罔制造厂在鉴定之前应将电原理因提交鉴定机构。电原理阁应由鉴定机构存档备菇。3. 2. 4 封装形式封装形式应符合本规范1.3.1.3条的规定。3.3 引线材料和涂覆引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。4 SJ 20162 92 3.4 电特性电特性应符合表l的规定。表l电特性条件。规范值特性符号若无其他规定最小最大单位 55 C:Tl.sI25 C 输出高电平电阻VOH Vcc=4.5 V, loH=叩400A2.5 V VlH=2.0 V, VL=0.7 V 输出低电子Vcc=

6、4.5 V, lQL4 mA 0.4 V 电lliVOL VIH坦2.0V, VL=0.7 V 输入钳位也压Vcc=4 .5 V, lIK=-18 mA 一1.5V VjK TA=25 C 最大输入电照时1 Vcc=5.5 V _. ., _.-_Bl :.84 200 A 输入电流Vj=7.0 V Clo 100 输入商电平IH Vcc=5.5 V AlA4 B1-B4 一40 A 电流问日辄2.7V Clo 一20 输入低电平lIL Vcc=5.5 V AlA4 BlB4 一0.8mA 电流VjL口0.4V Clo 一一0.4输出短路电流Ios2) Vcc=5.5 V 一20一100mA

7、所有输入接地一39 所有8端接地其他电拥电流Icc Vcc=5.5 V 输入34 mA 以扭4.5V所有输入一34以罕4.5Vtp回Vcc=5.0 V Clo叶任F5 40 tplJ.l CL=15 pF 5 39 tpH1 RL=2 kn A2 B2F2 5 40 传输延迟时间tP1H A4 B4叶凡5 40 ns tpH1 Vcc=5.0 V Clo C04 5 35 tPLH CL叫5pF 32 Bct60nt 儿，且叶C04战:1)究整的测试条件列于表3。2)每次只能烦路一个输出端。3.5 电试验要求各级器件的电试验要求应为表2所规定的有关分组，各个分组的电测试按表3的5 SJ 201

8、62-92 规定。表2电试验要求GJB 548试验方法分组(见表3)8级器件B，级器件中间(老化前)电测试Al Al 中间(者化后)电测试Al ) Al ) 最终电测试A2, A3. A7. A9 A2. A3. A7. A9 A细检验要求AI. A2. A3 , A7 , A9 , AI0 , All Al. A2. A3 , A7 , A9 C组终点电测试Al, A2. A3 AI. A2 , A3 C细检验增加的电分组不要求AIO. AI1 p组终点且拥|闵(方法500月Al. A2 , A3 AI , A2 , A3 注:1) 在分姐要求PDA计算(见4.2条)。表3JT54LS283

9、电测试组符号引用标准条件规范值单位GB 3439 (若无其他规定，TA=25 C) 最小最大VOH 2.2 Vcc=4.5 V，所有输入问俨2.0V，被跚输2.5 V 出10H=-400AVOL 2.5 Vcc=4.5 V.所有输入几出0.7V，0.4 V 被测输出10L=4mA V咂2.1 Vcc=4.5 V，被测输入IK=-18mA 一1.5V Al Vcc=5.5 V，被测输A(-A4, 200 A 2.1 1 入问=7.0V.其余B,:-_B4 A 所有输入V=OV CIo 100 Vcc口5.5V，被测输A(-A4 一40 11H 2.1 2 入问币2.7V.其余B，B4 A 所有输

10、入叫出OVClo 20 Vcc如5.5V，被测输A,-A4, 一0.8 11L 2.12 入问=O.4V.其余所1-B4 mA 有输入问=4.5V Clo 0.4 一10s 2.21 Vcc=5.5 V，所有输入叫嚣4.5V.被削输出一20-100 mA 接地所有输入问=OV一39 1cc 2.25 Vcc=5 .5 V 所有B端Vi=OV, mA 34 其余输入V，叩4.5V 所有输入V1需4.5V 一34 6 A2 A3 A12 AIO A门SJ 20162-92 续表3符号|唰准|条件规?也值GB 3439 (若无其他规定，几也25C) 最小最大功能测试tpHl tp111 tpI-I1

11、 tp1 I-I IpI-IL tPI.I-I tpI-I1 tptH Ip削t p, II tpRL tp1 负载线路几=125C，除V1K不测试外，参数、条件、规f债要求同Al分组TA=-55 C，除问K不测试外，参数、条件、规范值要求问Al分组3.5 3.4 3.5 3.4 3.5 3.4 3.5 3.4 3.5 3.4 3.5 3.4 Vcc=5.0 V，技功能表测试CIo任-FVcc=5.0 V, ;本规随即2Clo Co4 A4 B4叶Co4A2, B2 F2 A4、B4叶F2Clo任子一TA=125 C , Vcc骂5.0V, Clo Co4 见本规泡图2A4 B4 Co4 A2

12、, B2 F2 A4、B4F2睦几z55C外，参数、条件、规范值均同AIO分组接被测输出端ICL24 24 17 22 24 24 40 39 35 32 40 40 单位ns ns 7 SJ 20162 92 波形阁住:输入波形:户1MHz, t15肘，t同ns，tw:;O.5S， 3V 。VVOH ( RL=2 kO土5%(测Fl-F4输出);凡=5600土5%(测C04输出);CL=15 pF(包括探头和央具电容)，-二极管为2CK76或其等效型号。图2负载线路和波形图3.6 标志标志应按GJB597第3.6条的规定。3. 7 微电路组的划分本规ffl:所涉及的器件为第11微电路组(见G

13、JB597附录E)o4 质量保证规定4.1 抽样和检验除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2 筛选在鉴定检验和质蠢一致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规施表4的规定进行筛选。8 SJ 20162 92 表4筛选程序若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。条件和要求项目8级器件Bt级器件说明方法条件方法条件内部目检2010 试验条件B2010 试验条件B(封帽前)1键时瞅习嗖1008 试验条件C1008 试验条件C相冬点电测试)(150 C , 24 h) (150 C , 24 h) 温度循环1010 试验

14、条件C1010 试验条件C可用方法1011试验条件A替代慨定加速度2001 试验条件E，2001 试验条件D，Yl方向。Yt方向可在密封筛选后进自检行。引线断落、外壳破裂、封最脱南为失效。中问(老化前)本规藏人分组本规范At分组由制造厂决定是否进行电测试本筛选。老化1015 试验条件D1015 试验条件D采用本规部图3销路(1 25 C, 160 h) (125 C , 160 h) 中间(老化后)本规范At分组本规班人分组电测试允许的不合格5%，本规部Al分组，_?:!310%，本规范Al分组，所有批。若者化前来进品率(PDA)不合棉品率不超过10%时_?:!3不合格品率不超过20%行中间电

15、测试，则中间计算可重新提交:t化，但只允时可重新提交老化，但只(老化后)电测试Al分组许一次。允许一次。的失效也应计入PDA。本规跑A2、本规部A2、本筛选后，引线涂覆最终电测试改变或返工，则应再进A3 , A9 A3、A9行Al分组测试。密封细检漏1014 1014 粗检漏外部目检2009 2009 :在J:E戚质 致性检验的试5005 第3.5条5005 第3.5条验样品抽取9 SJ 2016292 4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和P组检验(见本规范4.4.14.4.4条)的规定。4.4 质量一致性检脸质量一致性

16、检验应按GJB597的规定。所进行的检跪应符合GJB548的方法5005和本规?在A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1*4.4.4条)的规定。4.4.1 A组检验A组检验应按本规?在我5的规定。电试验要求按本规?在表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。合格判定数(c)最大为2。表5A组检验试验LTPD 8银器件B1级器件Al分组(25C下静杏测试)2 2 A2分组(125C下静态测试)3 3 A3分组(-55C下静1fi蹦试)5 5 A7分组(25C下功能测试)2 2 A9分割(25C下开关栅试)2

17、2 AI0分组(125C下开关测试)3 不要求All分组(叩55C下开关割试).5 不要求Vcc 10 SJ 20162-92 注:输入信号G .7V 户100kHz , q=50 %。!J) R1口1kn:t5 %, Rz=10 n:t5 %, R3=27 n士5%。图3老化和寿命试验线路4.4.2 B组检验B组检验应按本规1t1表6的规定。Bl B5分组可用，同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。表6日组检验若无其他规定，表中采用的方法系捕。JB548的试验方法。条件和要求样昂拗项目B级器件Bl级器件(掏出胁说明方法条件方法条件戚四DBl分组2016 2016 2/(0) 尺寸B2分组2

18、015 2015 4/(0) 抗榕性B3分组2022戒焊接撒皮245c 2022就焊接温度245C 15 LTPD系对引线数可焊性2003 2003 丽富，被试器件数应多于3个。B4分组内部目检2014 2014 11(0) 和机械性能B5分组盯在封装工序前的键合强度2011 试验条件C戚D2011 试脆条件C戚。? 内部自检后随机抽(1)热lli焊取样品进行本试峨。)超声焊B8分割15/(0) (a)电参数GJB 1649 不要求(b)静电放Al分组仅在初始擦定成产电灵敏皮品熏新设计时进行等级(c)电参数Al分组11 SJ 20162:-92 4.4.3 C组检验C组检验应按本规?臣表7的规

19、定。表7C姐检验若无其他规定，表中采用的方法系指GJB如8的试验方法。条件和要求样品数项目8级器件肌级器件/(接收数)说明方法条件方法条件成LTPDCl分组5 稳态寿命1005 试验条件P躏1例5试验条件D或采用本规班回F(125 c, 1栅均F(125 c, 1:Oh) 3的试验线路终点电测试AI，础，A3分锢见Al，A2，A3分锁见本翔盹表2和我3)树服服2平I破3)C2分组15 据1皮循环1010 试验条件Co10Hl 试验条件C。恒定加速度2001 试验条件E，Yl 2001 试验条件E，Yl方向方向密封1014 1014 细检漏相检漏目检按1010的自揄按1010的目检判掘判据终点电

20、测试At. A2 , A3分Al , A2 , A3 组(见本规翻表2分组(见本规?在和表3)表2和表3)C3分组3 125 c下开关不要求AI0分组测试(见本规施表2和表3)C4分组5 55 C下开关不要求All分组测试(见本规范表2和表3)4.4.4 D细检验D组检验应按本规范表8的规定。D1. D2 , D5 , D6 , D7 , D8分组可用同检验批中电性能不合格的器件作为样本。12 SJ 20162-92 表8日组检验若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。条件和要求样品数项目B级器件Bl级器件/(接收数)说明1J法条件方法条件成LTPDDl分组2016 2016

21、尺寸15 D2分组15 引战牢剧性2004 试验条件B2(片状纫机试验条件时(片载体采用试验条状载体采用试验件D)条件D)密封1014 1014 细检漏粗检漏D3分割15 热冲击1011 试验条件81011 试验条件A15次循环15次循环温度锚环1010 试验条件C，1010 试验条件C，100次循环10次循环抗潮栅1004 片状幸自体不要求1004 片状载体不要求Bl锻器件允许引线弯曲应力的号l钱弯曲应力的按GB4590第3.61014 预处理。1014 预处现。条严格皮D进密封行试验。细输漏Bl级槽件允许翻检漏按GB45佣第自检按1010和1004按1010和10043.6条的目检判自检判

22、据自检别据据可在抗潮温终点电棚试Al , A2和A3分Al , A2和A3分盾和密捕前进组(见本规施表2组(见本规范表2行和表3)L-_.一和表3)13 SJ 20162 92 续表8条件和要求样品数1页口B级器件B 1银器件/(接收数)说明方、法条件方法条件民XLTPD04分组15 机械冲iti2002 试验条件B2002 试验条件A用于03分组的样变J顷振功2007 试验条件A2007 试验条件A品可用于04分组假定力11速度2001 试验条件E2001 试验条件DYl方向Yl方向律i封1011 1011 细检漏m柿漏H枪按22，却07按22，2佣7目自检判据检判据终点也测试A1 , A2

23、, A3分Al , A2, A3分组(见本规、范表组(见本规范表22平日表3)和表3)05分组15 盐雾1009 试验条件A，1009 试验条件A，对B1级椿件用户片状载体不要片状载体不要不要求时，可以不求引线弯曲应求引战苦苦曲应进行。力的预处理。力的预处理。密封1014 1014 细检漏来111世漏时枪按1009的目按1009的日检检判据判据3/(0)成065组5/(1) 内部水汽含1018 100 c时最大不要求当试验3个器件tl:l现丛靠在生水汽含盘为l个器件失效时可加5000 ppm 试两个器件并且本失效。若第一次试验未通过，可在鉴定机构认可的另一试验烹进行第二次试验。若试验通过，则该

24、批被接收。14 SJ 20162一92续表8条件和要求样品如项目8级器件B 1级器件(梅k蜘说明方法条件毡条件或LTPD。7分组15 31线涂覆粘2025 不适用于片状2025 不适用于片状LTPD系对可|线数附强度载体载体jTrj宵。8分组5/(0) 封盖扭矩2024 仪适用于炜封2024 仅用于熔封陶晓外壳L 陶饶外壳4. 5 检验方法检验方法规定如下:4.5. 1 电压和电流所有给出的电压均以器件GND端为基准。给定的电流以流入引出端为.LL0 5 交货准备5. 1 包装要求包装要求应按GJB597第5.1条的规定。6 说明事项6. 1 预定用途符合本规范的器件供新设备设计使用和l供现有

25、设备的后勤保障用。6.2 订货资料采购合同应规定下列内容:a.完整的器件编号(见1.3.1条);b.需要时，对器件制造广提供与所交付器件相应的检验批质量一致性数据的要求:C.需要时，对合格证书的要求:d.需要时，对产品或工艺的更改通知采购单位的要求:e.需要时，对失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求;f.对产品保证地拌的要求:g.需要时，对特殊载体、引线长度成引线形状的要求:h.对认证标志的要求;i.需要时，其他要求。6.3 缩写、符号和定义本规?也所采用的缩写、符号和定义在GB3431.1、GB3431.2和GJB597中规定。15 SJ 20162-92 6.4 替代性本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件。但不允许用普通工业用椿件替代军用器件。16 附加说明:本规范由中国电子工业总公司提出。本规范由机械电子工业部第四研究所负责起草。本规班主要起草人:胡燕、章本敏、孙人杰。计划项目代号:90100