SJ 20157-1992 半导体集成电路JT54LS32和JT54LS86型LS-TTL或门详细规范.pdf

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1、S.J 中华人民共和国电子行业军用标准SJ 20157一一92半导体集成电路JT54LS32和JT54LS86型LS-TTL或门详细规范Detail specification for types JT54LS32 and JT54LS86 OR GATES ofLS嗣TTLsemiconductor integrated circuits 1992-11一19发布1993-0501实施中华人民共和国机械电子工业部发布目;欠l 班同!1.1 主题内容.111 . 1 1.2 适川范罔.1.3 分类.2 引用文件. 2 3 要求3.1 详细要求.3.2 设计、结构和|外形尺寸3.3 引线材料和l

2、涂覆.4 3.4 也特性.4 fOAYAUJnynynyAU唱i分H验i1 求盹陡验如要细湖检u验致验川胳讪和检一试志山保样选定且凰山标做脚抽筛鉴质、Jfnv叶JtA吨，句、wd4丁句3句3、JA崎A件A斗A件A呻4.5 检验方法.165 交货准备.16 5.1 包装要求.166 说明事项.17 6.1 预定用途.176.2 订货资料.176.3 缩写、符号和l定义.176.4 替代性.17中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JT54LS32和JT54LS86型LS一丁丁L戒门详细规范SJ20157 92 Detail specification for types JT54LS32

3、and JT54LS86 OR GATES 。fLS-TTL semiconductor integrated circuits 1 范因1. 1 主题内容本规范规定了半导体集成电路JT54LS32和JT54LS86型L8TTL成门(以下简称器件)的详细要求。1. 2 适用范围本规?也适用于器件的研制、生产和采购。1.3 分类本规范给出的器件投器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件来分类。1. 3. 1 器件编号器件编号应按GJB597 P SW B l3民481 .圃418.4 lY I I 3 12 I 4A 2 I I 4 1 I I ,y lOE3B L! 2Y I I 6

4、 9 I 13 PN吨O钢GW 町同IJ HO I I 7 鼻LJ3Y 因1逻辑符号、逻辑罔和引出端排列3. 2. 2 功能表功能表如下:输入A 日 L B H L JT54LS32 3.2.3 电原理阁输出Y 日H L 输入输出A B Y L L L L H H H L H H 日L JT54LS86 制造厂在鉴定之前应将电原理图提交给鉴定机构。电原理因应由鉴定机构存档备查。3.2.4 封装形式封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3. 3 寻|线材料和涂覆引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4 也特性也特性应符合农1的规定。 4 SJ 2b157-92 表ll盯54

5、LS32的l也特性条件1)规泡值性符号若无其他规定单位由55oCTA罢王1250C最小f民大输111向I仙LJt.VOH Vcc=4.5 V, VH=2幽OV2.5 V 10H叩400A输111低IL平IL以VOL Vcc口4.5V, VIH2.0 V 。4V VL =0.7 V, lQL =4 mA 输入创|位IJ长VK Vcc=:4 .5 V, lIK=-18 mA 可1.5V TA二250C耻大输入Il.i版时输入电流1, Vcc=5.5 V, V,=7.0 V 0.1 mA 输入内Il.iflL流lJH Vcc二5.5V, V,=2.7 V 20 A 输入低Il.i、|Il.i流IL

6、Vcc出5.5V, V,=O.4 V 一0.4mA 输111知路电路2)los Vcc=5.5 V 一20一100mA 岗山、fll.i源Il.i流lCCH VcC=5.5 V, V，出4.5V 6.2 mA 低lj，、IIL掠Il.i流lCCL VCC=5.5 V, V!,=O V 9.8 mA 传输延j时间tpHL Vc俨5.0V, RL 2 kQ , 35 ns tPLH CL=15pF 35 :f: 1)充整的测试条件别于农3。2)每次扎能知路一个输出端。表1-2JT54LS86的电特性条件1)规?也值特性符号若无其他规定最小最大单位由55oCTA主运1250C输111，印IL干II长

7、VOH Vcc=4.5 V，民H=2.0V 2.5 V 10H口400A输Ifl低1江、11lt!)长VOL VCC=4.5 V, VJH=:2.0 V 0.4 V 问L=:0.7V, 10L叫mA输入钊忧l.iJt.V1K VCC=4.5 V, IK拮18mA1.5 V TA出250C最大输入山脉，时输入电流4 Vcc=5.5 V, V,=7.0 V 。.2mA 输入向lLllL流1m VCC口5.5V, V口2.7V 40 A 输入低l包干IL流lIL VCC=5.5 V, 川口0.4V 一0.8mA 输111l路山路L,OS 2) VCC=5 .5 V 6 40 mA Fl.i源Il.i

8、流lcc Vcc=5.5飞J10 mA 币5一特性符号传输班迟时间tpHL tpLH tpHL tpLH 沌:1)完整的测试条件列于表302)每次只能短路一个输出端。3.5 t:g试验要求SJ 2157 92 续表条件1)若无其他规定一55oCTA:;:二1250CV巳c=5.0V, A、BYRC=2 kQ , (才下被测输入CL码15pF 为低电平)A、BY(非被恻输入为高电平)规屹值最小最大单位29 ns 35 37 40 各级器件的电试验要求应为表2所规定的有关分姐，各分姐的电测试按表3的规定。表2电试验要求分组(见表3)i员目B级器件Bl级器件中间(.在-化前)rg测试Al Al 中间

9、(:在化后)rg测试Al l) Al l) 最终lH测试A2 , A3. A9 A2 , A3 , A9 A组试验要求Al, A2 , A3 , A9 , AI0 , All Al, A2 , A3 , A9 C组终点19测试A1. A2 , A3 Al. A2 , A3 C如恰验增加的分割不要求AI0, All 。组终点也测试(方法5005)Al , A2 , A3 AL A2 , A3 业:)该分姐要求PDA计算(见4.2条)。一6SJ 20157一92表3一1JT54LS32的A组电测试分组符号引用标准条件规币值单位GB 3439 最小最大A1 VOH 2.2 Vcc 4.5 V，被测门

10、一端输入VIH=2.0V，纯2.5 V 一输入任意，其余所有输入问口4.5V，被测输出10H400J.lA VOL 2.5 Vcc =4.5 V，被测门所有输入问L=0.7V.其0.4 V 余所有输入问=4.5V，被测输出10L叫mAV1K 2.1 Vcc=4 .5 V，被测门一端输入lIK=-18mA 一1.5 V 1, 2.11 Vc =5.5 V.被测门端输入问=7.0V.其一100 A 余所有输入川口。v1m 2.12 Vcc =5.5 V，被测门一端输入问=2.7V，其 20 A 余所有输入问=OVlIL 2.1 3 Vcc叶.5V，被测门一端输入问=0.4V，其胁。.4mA 余所有

11、输入V14.5V los 2.21 VC =5.5 V，被测门所有输入问=4.5V，其呻20问100mA 余所有输入开路IccH 2.26 Vcc=5.5 V.被测门所有输入问4.5V 6.2 mA lcCL 2.27 Vcc=5.5 V，被测门所有输入=OV9.8 mA A2 TA=1250C外，除问K不测试外，参数、条件、规范值要求同A1分组。A3 除几白白550C外，除问K不制试外，参数、条件、规?也债要求向Al分组。tpHL 3.5 22 A9 Vcc=5.0 V，本规范阁2A、BYns tpLH 3.4 一22 tpHL 3.5 几=125吧，Vc=5.0 V，见一35 AI0 A、

12、a.Yns tpLH 3.4 本规?自因2一35 A11 除几口甲550C外，参数、条件、规泪值均间AIO分姐。? SJ 20157-92 表3-2盯54LS86的A组电测试分组符号引用标准条件规?也值单位GB 3439 最小最大Al VOH 2.2 Vcc =4.5 V，被测门分别输入V1L=0.7V和2.5 一V 问H=2.0V，其余所有输入问=4.5V，被测输出IOH口-400AVOL 2.5 Vcc =4.5 V，被测门分别输入VIH=2.0V (或0.4 V 问L0.7V)，其余所有输入川口4.5V，被测输出IOL=4mA V1K 2.1 Vcc=4.5 V，被测门一端输入IIK=-

13、18mA 四1.5V h 2.11 Vcc =5 .5 V，被测门一端输入问=7.0V，其200 A 余所有输入只需OVIJH 2.12 Vcc =5 .5 V，被测门一端输入叫=2.7V，其40 A 余所有输入问=OVIIL 2.13 Vcc =5 .5 V，被测门一端输入只i=0.4V，其由0.8mA 余所有输入问=4.5V los 2.21 Vcc =5.5 V，被测门所有输入问=0V，其余问6由40mA 所有输入开路Icc 2.25 Vcc=5.5 V，所有输入叫出OV10 mA A2 TA=1250C外，除叫K不测试外，参数、条件、规市债要求同Al分姐。A3 除TA叩550C外，除V

14、1K不测试外，参数、条件、规范债要求同Al分姐。A9 tpHL 3.5 Vcc=5.0 V，本规范回A、BY17 ns 2 (非被测输入为低tpLH 3.4 电平)一23 tpHL 3.5 A、BY22 (非被测输入为高tpLH 3.4 电平)30 AI0 tpHL 3.5 几=1250C，A、自Y35 ns Vcc=5.0 V, (非被测输入为低tPLH 3.4 见本规市阁2也平)29 tpHL 3.5 A、自Y 40 (非被测输入为高tPLH 3.4 电平)37 A门除几口时550C外，参数、条件、规范值均同AIO分姐。8 负载线路波形图接被测输i出端:CLSJ 20157一白3V 也、J

15、JT54LS32 JT54LS86 1主:输入波形:产1MHz, tr乓15ns , tf三6ns , tw三0.5闷。3V 。v飞fOIt( RL2 kQ士5%，CL15 pF:t lO% (包指探头和央具电容)，二极管为2CK76成其等效型号。图2负载钱路和波形3. 6 标志标志应按GJB597第3.6条的规定。3. 7 微电路制的划分本规范所涉及的器件为第8微电路细(见GJB597附录E)。4 质最保证规定4.1 抽样平n检验除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597和GJB548方法5005的规定。4. 2 筛选在鉴定和质量致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本

16、规范表4的规定进行筛选。-9一SJ 20157-!12 表4筛选程序若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。方法和条件sw Ll B级器件Bl级器件方法条件方法条件内部门1构2010 试验条件B2010 试验条件B(主H目前)稳定性tltt!j-(不1008 试验条件C(150 1008 试验条件C(150 求纯点测试)。C，24 h) 。C，24 h) 温度循环1010 试验条件C1010 试验条件C恒JE加速度2001 试验条件E，YI 2001 试验条件。，Y1 方向。方向。目价中间(老化前);本规范Al分组本规范AI分组rU测试在化1015 试验条件D(125 1015

17、 试验条件。(125。C，160 h) oc, 160h) 中间(1;化后)本规范Al分组本规;屹Al分组电测试允i午的不合格品5%，本规范Al分组，10%，本规沼Al分姐，当本(PDA)计算均不合格品率不超过不合格品率不超过20%时10%时可重新提交老化，可重新提交者化，但只允但只允许一次。许次。f最终，测试-丰;规范A2，A3 , 本规范A2，A3 , A9分组A9分组密封1014 1014 纠11柿漏1111怆漏外部H柿2009 2009 辑:它旦li:质量一到(5005 第3.5条5005 第3.5条性价验的试验样品抽取4. 3 鉴定检验说i则有J刑方洁1011试验条件A替代。可在密封

18、筛选用ill行。引线断落，外壳破裂、封盖脱;搞为失效。由制造厂决定否进行;本筛选。采用本规范阁3钱赂。所有批。智者化前米进行中间电测试，则中间(老化后)电测试A1分组的失敢也应计入PDAo 本筛选后，若引线除覆改变成远工，则阵进行A1分组测试。鉴定检验肉按GJB597的规定，所进行的检验的;符合GJB548万出5005和本规范A、10 SJ 201572 日、C手11D 日检验(见本规范4.4.14.4.4条)的规定。4.4 质业致性检验质量一致性检验应按GJB597规定。所进行的检验问符合GJB548的方法5005平本规范人、日、C和lD细检验(见本规范4.4.14.4.4条)的规定。4.4

19、.1 A组检验A细检验Jl.按本规范表5的规定。l也试验要求按本规范表2的规定，各分织的电测试版本规范表3的规定。各分细的测试可用同一细样本进行，当所要求的样本大小超过批的大小时，允许:100% 检验。合格判定数CC)最大为20表5A细检验LTPD 试验8级器件Bl级捕件人l分组(250C下静态测试)2 2 A2分组(1250C下静态恻试)3 3 A3分细(-550C下静态测试)5 5 人9分组1(250C下开关测试)2 2 A10分组(1250C下开关测试)3 不要求A门分组1(四550C下开关测试)5 不要求v JT54LS32 11 SJ 20157-92 v JT54LS86 1主:输

20、入波形:户1MHz, tr 15 ns , tf6 ns, tw0.5A。 R2币2200士5%，R3=27 n土5%0R(值的选择应使器件Vcc端至少为5Vo 因3老化和寿命试验线路4.4.2 B组检验日组检验应按本规范表6的规定。BlB5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。表6日组检验若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。条件和要求样品数/试验8银器件Bl级器件(接收数)说明方法条件方法条件戚LTPDBl分组2/(0) 尺寸2016 2016 B2分组4/(0) 抗梅性2015 2015 B3分组15 可焊性2022戚焊接撒度2022或焊接温度LTPD系对引钱

21、数而2003 2450C 2003 2450C 亩，但被试器件数应多于3个。B4分组1/(0) 内部目枪和机2014 2014 械性能问12-SJ 21572 续表6若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方浊。条件和要求样品数/试验8级器件Bl级器件(接收数)方法条件方法条件BX; LTPO 85分组2011 试验条件2011 试验条件7 融合强度C成DC旦O( I )热!世焊(2)相声焊B81组A1分组15/(0) (a) I参数Cb)静电放IGJB/Z 关敏度等105 不安:求级(c) I参数A1分组4.4.3 C细检验C细检验所按本规施表7的规定。表7C组检验若无其它规定，表

22、中采用的方战系指GJB548的试验方浊。条件和要求顷目8级器件Bl级器件方陆条件方法条件CI分组稳态寿命1005 试验条件。成E1005 试验条件D成EC 125 oC , 1000 h) (1250C, 1000 h) 终点r测试A1、A2，A3分组A1、A2，A3分组(见本规?在农2和(见本J!11点表2和，丧3)斗是3)C2分割温度循环1010 试验条件C1010 试验条件C但定加速度2001 试脸条件E，Yl 2001 试验条件O.YI方方向1014 向密封1014 纠llf贪漏将l价漏口阶按1010目枪判据位1010H柏判据终点I测试A1 , A2 , A3分组人1，人2，A3 )红

23、l(见本Jll表2和(见本圳&表2和表3)表3)说明盯在封装工序前的内部目检后随机抽取样品进行本试验。仅在初始鉴定或产品重新设计时进行。样品数/(接收数)说明成LTPO5 采用本规也因3的试验线路。15 13 SJ 20157-92 续表?若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。条件和要求项目日级器件Bl级器件方法条件方法条件C3分组125 oC下开不要求AI0分组(见本规关测试?自表2和表3)C45H1i -55 oC开关不要求Al1分组(见本规测试m表2和表3)4.4.4 0组检验D细检验应按我8的规定。样品数/(接收数)说明注LTPD 3 5 OL 02 , 05、06、

24、07，08分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。表80组检验若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。条件和要求样品数/项目8级器件日l级器件(接收数)说明方法条件方法条件成LTPDD1分组15 尺寸2016 2016 D2分组15 引线牢阴性2004 试验条件B22004 试验条件m(片状载体来(片状载体来用试验条件用试验条件。)D) 密封1014 1014 细检漏相i检漏问14SJ 20157-92 续表8若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。条件和要求样品数/顷目B级器件Bl级器件(接收数)方法条件方怯条件成LTPDD3分组15 热冲市1011

25、试验条件B，151011 试验条件A，次循环15次循环温度循环1010 试验条件C，1010 试验条件C，10100次循环次循环抗潮i日1004 片状载体不要1004 片状载体不要求寻|线弯曲应求引线弯曲应力的预处理。力的预处现。?告封1014 1014 细检漏相!枪漏目检报1010和1004按1010和1004目检判据目检判据终点电测试AI , A2和A3Al , A2和A3分组(见本规分组(见本规?在表2和农3)范表2和表3)C4分组15 机械冲击2002 试验条件日2002 试验条件A变颇振动2007 试验条件A2007 试验条件A固定加速度2001 试验条件E，Yl 2001 试验条件

26、D，Yl方向方向密封1014 1014 细检漏粗柿漏自检按2002，2007 按2002，2007 的目检判据的目检判据终点rt!测试Al , A2，人3Al , A2 , A3 分组(见本规分组(见本规也表2平口号援引范表2和我3)说明Bl级器件允讲按GB4590第3.6条严格度D进行试验。BI级器件可用GB4590 第3.6条的目惊判据。可在抗潮湿后和密封试验前进行。用于D3分组的样品可用于D4分组15 -SJ 20157 92 续表8若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。条件和要求样品数/项目8级器件Bl级器件(接收数)方法条件方法条件成LTPO05分组15 盐葵100

27、9 试验条件A.1009 试验条件A.片状载体不要片状载体不要求引线弯曲应求引线穹曲应力的预处理力的预处理密封1014 1014 细检躏相柑漏目枪按1009的目榆按1009的自判据检判据06分组3/(0)或内部水汽含1018 100 oc时最大不要求5/(1) 最水汽含量为5000ppm D7分组15 gl线涂穰粘2025 不适用于片状2025 不适用于片状附强度载体载体。8分纫5/(0) 封益相知2024 仅适用于熔封2024 仅适用于姆封陶资外先陶烧外壳4.5 检验方法检验方法规定如下:4.5.1 电压和电流说明对自l级器件用户不要求时，可以不进行。当试验3个器件出现1个失效数，可加试两个

28、器件并且不失效。若第1次试验未通过，可在鉴:机构认可的另一实验室进行第一次试验。若试验通过，则该批被接收。LTPO系对引钱数而宵。所有给出的电压均以器件GND端为基准。给定的电流以流入引出端为正。5 交货准备5. 1 包装要求包装要求J5Y.按GJB597第5.1条的规定。SJ 2cr157-2 6 说明事项6. 1 vl定Jijj念符合本规范的器件供新设备设计使用不11供现有设备的后勤保附肘。6. 2 订货资料采购合同JW.规定F列内容:a 完整的器件编号(见1.3.1条)。b 需要时，对器fit制造广提供与所交付器件相同的检验批质挝致性数据的要求。C. 需要时，对合格证刊的要求。d. 需要

29、时，对产品DXJ艺更改通知采购单位的要求。e. 需要时，对失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求。f. 对产品保证选择的要求。g. 需要时，对特殊载体、引线长度j:!JZ引线形式的要求。h. 对认证标志的要求。i 需要时，其他要求。6. 3 描写、符号和定义本规范所采用的缩写、符合和定义按0日3431.1、GB3431.2平11GJB 597中的规定。6.4 替代性本规?在规定的器件其功能可替代普通L业用器件。但不允许用普通工业用器件替代军用器11: 附加说明:本规范由中国电子工业总公司提出。本规范由机械电子工业部第四研究所负责起草。本规范主要起草人:胡ffi 童本敏孙人杰。计划顷日代号:900980 17