SJ 20075-1992 半导体集成电路Jμ8309A型可编程中断控制器详细规范.pdf

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1、S.J 中华人民共和国电子行业军用标准SJ 20075-92 半导体集成电路J8259A型可编程中断控制器详细规范19921119发布1992-05一01实施中华人民共和国机械电子工业部发布目次l 范闸1. 1 主题内容.，.，.，.1 1.2 适用范闸.1.3 分类2 引川文fI:. 2 3 要求. 2 3.1 详细要求.23.2 设计、结构和外形尺寸.1.2 3.3 引线材料和涂覆.4 3.4 山仲性.4 3.5 山试验要求.4 3.6 1)，卒.，.4 3.7 微山路细的划分44 质量保证规定.11 4.1 抽样和l检验.114.2筛j是.114.3 接定检验.124.4 质量一致性检验

2、.134.5 检验方法.1，75 交货准备.18 5.1 包装要求.186 说明事项四6.1 关于测试欠量的一般规定.186.2 订货资料.186.3 功能说明、符号和定义.18 6.4 替代性.111.196.5 操作.11 .,.20 中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路J8259A型可编程中断控制器详细规范SJ 20075 92 1 范围1. 1 主题内容本规范规定了半导体集成电路J8259A型可编程中断控制器(以下简称器件)的详细要求。1. 2 适用?在罔本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3 分类本规范对微电路按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推存工作条件来分类。1

3、. 3. 1 器件编号器件编号应按GJB597 IR6 。56 23 IR5 D4 咱IR5 。47 22 IR4 。3IR4 D3 8 21 IR3 自2革IR3 D2 9 20 IR2 IR2 Dl 10 19 IRl IRl DO 11 IRO CASO 12 INT 55353EE CASl 13 16 SP/EN V 14 15 CAS2 片式载体封装引出端排列双列挝装引出端排列因l引出端排列3.2.2 功能框图功能杠因应符合阁2的规定。INTA INT 制逻辑RD CS 甲阶月民?于饥冗仪IWV需求IRO ，总寄存器分解器于守1号E器IRl 叫可槐眩级钱CISR) (JRR) IR

4、2 CASl 冲器/比IR3 CAS2 较器IR4 IR5 SPI巳Nr-1R6 IR7 中断屏蔽寄存器(lMR) 怪12功能概因句、dSJ 26075-92 3. 2. 3 功能说明、符号和定义功能说明、符号和定义，应符合本规范6.3条的规定。3.2.4 封装形式封装形式应符合本规范1.3.l.3条的规定。3. 3 引线材料和涂穰引线材料和涂覆，应按GJB597第3.5.6条的规定。3. 4 也特性也特性所符合表l的规定，若无其它规定，适合于全工作泪皮范围。3. 5 l试验要求各级器件的电试验要求，应为表2所规定的有关分组，各分细的电测试技表3的规3. 6 标志标J占应按GJB597第3.6

5、条的规定。3. 7 微电路细的划分本规范所渺及的器件为第107微电路姐(见GJB597附录E)。表l电特性序.1) 特性符号条件2)规j也值单位时序;在小最大因输入低电平电EF.y肌0.5 0.8 V 2 输入商电子I也EF.VlH 2.0 VDD+0.5 V 3 输tHf民也平电压VOL IOL 2.2 mA 0.45 V 4 输出高电平也应VOH IOH:= -400A 2.4 V 5 中断输出商也平IOH扭叫IOOIlA3.5 VOH(INT) V t也lliIOH=四400llA2.4 6 输入负载电流11 V1 =OV-VDD 一1010 IlA 7 输IH向阳态时商IOZL VO=

6、0 .45 V-VDD 10 10 IlA rt!平电流8 输出高阳和时低IOZH VO= VDD 10 mA 电平电流9 rt!源电流IDD 85 IlA 10 输入电容C1 Tc口250C，VDD口。V，10 pF 1=1 MHz 11 输入/输出屯在CIIO Tc=25吧，VDD=O V, 20 pF 非测试端接Vss12 AWCS建立时间tsu(AH-RL) 。ns 8 到RDANEA)13 而/丽亚后AOth(RHAX) 。ns 8 CS 保持时间14 RD脉宽tw(RLl 235 ns 8 4 序号l)特性符号15 AWCS建i时间tsu(AH叩WL)(到WR)16 WR JD A

7、O!CS th(WH叩AX)保持时间17 W只脉宽tW(WL) 18 数据1主:时间tsu(DV-WH) (到百k)19 WR后数据保th(WH-DX) 持时间20 中断请求脉宽tW(lRL) (低r平)21 第一次成第二次tsu(CASV-INTAL) INTA前CAS边把时间(1又从n) 22 RD材iW:到下一tW(RH) 个命令开始的持续时间23 WR结束到下一tW(WH) 个命令开始持楼时间24 数据有效时间td(RL-DV) (从议。!INTA 开始)25 RW INTA后数th(RH吨。且)据悬当习时间26 中断输出延边时td(IRH-INTH) |可27 CAS有效时间td(I

8、NTAL-CASV) (从第一次币丑开始)28 允许有效时间td(RL-ENL) (从RD民JNTA开始)SJ 07592 续表l条件2)数据总统电容C为:最大测试电容100pF 最小测试电容15pF 规范值段小最大。290 一240 。100 55 300 370 一200 10 100 350 565 125 单位被形罔ns 7 ns 7 ns 7 ns 7 ns 7 ns 10 ns 10 ns 9 ns 9 ns 8 ns 8 ns 10 ns 10 ns 8 5 序IJ1) 特性29 允许无放时间(从RD成币7天开始)30 数据有放时间(从自放地址开始)31 CAS有效到数据总钱有效

9、时间符号td(RH耐ENH)th(AH-OV) th (CASV户。V)SJ 2.0075 92 续表l条件2)数据总销I包容C为:最大测试电容100pF 最小测试电容15pF 注:1)本表中参数的序号与时序图中参数的编号是一致的。2)若无其它规定，TC=-55- 125 oC , Voo础知O.5V，Vss埠。V，表2电试验要求规范值单位被形最小最大国150 ns 200 ns 8 300 ns 10 试验要求分组(见表3)B级器件Bl级器件中间(老化前)电测试Al , A7 AJ.人7(方法5004)最终ll!，测试。Al. A2 , A3 , A7 , A8 , A9 , AI0 , A

10、1. A2 , A3 , A7 , A9 (方法5004)AIl A组试验要求2)A1 , A2 , A3 , A4 , A7 , A8 , A9 , A1 , A2 , A3 , A4 , A7 , A9 (方法5005)AIO, All 日组VZAP试验见本规?也4.5.3条见本规;范4.5.3条C组终点!也测试A2 , A3 , A8 A2 , A8 (仅1250C)(方法5005)C组枪验增加l的分组不要求AI0 , All 。组搀点11!.测试A2 , A8 (仅1250C)A2 , A8 (仅1250C)(方rt:5005) 注:1) A1、A7分组l要求PDA计算(见本规部4.2

11、条)。2) A4分组(C1、CI/O)仅用于鉴定(见本规市4.4.1条)。6 分组A1 A2 A3 A4 A7 A8 A9 符号V1L V1H VOL VOH VOH(lNT) h IOZL IOZH IOD 波形回SJ却075-92表3A组电测试条件IOL且2.2mAIOH=四400AIOH坦白100AIOH =-400A V1=0 VVDD VO =0.45 V VDD VO= VDD 除T俨1250C外，参数、*件、规?在值均同Al分组。除TC=由550C外，参数、条件、规范值均阿Al分姐。q VDD=O V，产1MHz CIIO VDD出OV，未测试端接Vss规施值最小最大0.5 0.

12、8 2.3 VDD+O.5 0.45 2.4 3.5 2.4 -10 10 -10 10 10 一85 10 20 按6.2条的规定，Tc=250C，在VDD=4.5V和Voo=5.5V下分别进行功能测试。除TC550C和1250C外，均同A7分姐。su(A曰-RLl8 。一fh(RH-AXl 8 。一tW(RLl 8 235 fsu(AH-WLl 7 。th(WH叫AXl7 。fW(WLl 7 290 fsurDV-WHl 7 240 th(WH-OXl 7 。fW(lRLl 10 100 tsu(CASV也INTAL】10 55 一fW(RHl 9 300 一lW(WHl 9 370 一l

13、d(RL血。Vl8 数据总统电容C为: 200 lh(RH-DZl 8 最大测试电容100pF 10 100 td(lRH-INTHl 10 最小测试电容15pF 350 fd(INTAL-CASVl 10 565 f!l(RL-ENLl 8 125 ld(RH-ENHl 8 150 lhiAH-OVl 8 200 thiCASV-DVl 10 300 单位V V V V V V A A A mA pF pF ns ns ns ns ns ns ns ns ns ns ns ns ns ns ns ns ns ns ns ns 一?一SJ 26075-92 表3A组电测试分割守机J ilJ(形

14、条因件规范值最小最大A10 除T(=1250C外，参数、条件、规划值均同人9分组。All 除T(=-550C外，参数、条件、规范值均间A9分组。|I m! E二3一一刊).。一-c二3一一一的珩C1接被测器件in 1f:Rl取合适的限*电阻; C1=IOO pF:t20%: 几AP=400 V，在器件输入端上测得:脉冲转换时间(tTLH)运50ns (lO%90%)。因3高电压(VZAP)试验电路一8一单位SJ 2.0075-92 5V 卡川卡500nsG 注:老化过程中观黯12、13、15、17端的输出信号，老化前必须进行下列预置1引出端AO WR RD 。l02 03 04 05 06 0

15、7 。条件。因4老化和寿命试验线路图一9叫SJ 28075 92 2.4 :测叫:0.45 因5交流测试输入/输出波形图型于一主L=lUUP站:1) CL包括央具电容。因6交流测试负载电路t 罚瞅则峰楠、 能尊图7写周期波形图tIJI11mI 四阁8读/INTA时序因一10町SJ 0075-92 即棚贺 自隙因9其它时序凶IR 4画L汇)-I附1m -咽-幽幽幽幽幢呻回幽H:作少在第一个INTA主边沿前中断输出必须保持高|扫干。1) 8086、8088系统中的第一周期，数据总线处于7G放状态。因10INTA时序图4 质最保证规定4. 1 抽样平11检验若无其它规定，抽样和检验程序应按GJB59

16、7和IGJB 548方法5005的规定。4. 2 筛选在鉴定和质量一致性检验之前，全部器件按GJB548方法5004和!表5的规定进行筛选。4A A SJ M075-92 农5筛选程序若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。项目方法和条件8级器件Bl级器件内部目检方法2010，试验条件B方法2010，试验条件B稳定性烘焰f(不方法1008，试验条件方法1008，试验条件要求终点测盘)C: 24 h, 1500C C: 24 h, 1500C 温度循环方法1010，试验条件C方法1010，试验条件C恬定加j禀度方法2001，试验条件方法2001，试验条件E，仅Yl方向D，仅YI方

17、向目检中间(老化前)AI , A7分组AI , A7分组电测试老化方法1015，试验条件。方法1015，试验条件。成臣，125吧，160h 成E，125吨，160 h 中间(者化后)AI , A7分组AI , A7分组电删试PDA计算5% 10% 最终也测试A2、A3、人8、A9、AIO、A2、A3、A9Al1 密封方法1014方法1014制检漏鞋i检漏外部目检方法2009方出2009鉴定或质量一致方法5005方法5005性检验的试验样3.5条3.5条品抽取4. 3 鉴定检验说明叮用方法1011试验条件A替代。可在密封筛选后进行。号!统脱落，外壳破裂、封盖脱落为失效。由制边厂选择是否进行。采用

18、本规部阁4所示的线路或与其等效的线路。报Al、A7分组，若老化前未进行中间电测试，那么老化后川、A7分细检出的所有失效数都应计入PDA.若老化前进行中间电测试，那么老化筛选前引起的失效数不计入PDA。本顷试验后，若改变器件的号|钱涂覆或者返工，则应再进行Al和A7分组试验。鉴定检验问按GJB597第4.4条的规定，所进行的检验应符合GJB548方法5005和一12一SJ 20075一92本规范A、B、C、D组检验(见本规范4.4.14.4.4条)的规定。4.4 质量一致性检验质最一致性检验应按GJB597第4.5条和本规范的规定。所进行的检验服符合GJB548 方法5005和1本规范A、日、C

19、、D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4.1 A组检瞌A组检验应按表6的规定。电试验要求按本规?在表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用问一组样本进行，当所求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。合格判定数(C)最大为2。表6A组检验LTPD 试验8级器件Bl级器件Al分组2 2 250C下静态测试A2分组3 3 1250C下静测试A3分割5 5 -550C下静态测试人4分组2 2 250C下的功态测试A7分组2 2 250C下的功能测试A8分组最高和最低工作温度下的功能测5 不要求试A9分组2 2 250C下的开关测试AI0分组3 不要求12

20、50C下开关测试All分组5 不要求-55 oC 开放测试注:A4分组仪在初始鉴定时和工艺戚设计更改后进行。 A9、AI0、All分组的验证参数仅在初始接定时和工艺成设计更改后进行。4.4.2 日组检验日细检验应按表7的规定。不要求终点电测试的分组可用间一检验批中电性能不合格的器件作为样本。句、ME-SJ 20075 92 我7日细检验1i兀其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。试验方法和条件样品数/(接收数)江LTPD B级和B1级器件81 Hll 2/(0) ).寸方法2016B2 HLl 4/(0) 抗i有r叶方出2015831史IJ15 日H早忡方法2022或2003，焊

21、t妥榻皮245士50C84分切11(0) 内部门怡和机械检查1J去201485分组7 挝合强度方法2011，试验条件C1 ) 热长焊成D2) 超声焊88分组15/(0) 1 ) Il.测试Al分细(见本规范表2和表3)2) 的ll.欣f此敏肢GJB/Z 105 3) Il.测试AI分组(见本圳市农2和农3)B9分组15 i式验技本规frL第4.5.3条4.4.3 C细检验C细检验应按表8的规定。14 说l闪LTPD系对号|钱数1M言，但被试器件数不应少于3个。LTPD系对键合数i的言，但被测器件数吁:少4个。仅在初始鉴定成产品敢新设计时进行。附加分组。SJ 20075 92 表8C组检验若无其

22、它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。试验方法和条件样品数/(接收数)日级器件B1级器件成LTPDC1分割5 稳态寿命方法1005，试验条方法1005，试验条牛。，1250C, 1000 h 件D，1250C, 1000 h 终点tl!.测试A2 , A3和A8.5f组A2 , A3 (仅1250C)C2分组15 温度循环方法1010，试验条方法1010，试验条件C件C假定力11速度方法2001，试验条方法2001，试验条f牛E，Y1方向件D，Yl方向密封方怯10141014 纠H阶漏tll柿漏目椅t虫方法1010成1011技方法1010成1011的目柿判据的目检判据终点也测试A2

23、, A3和A8分组A2, A8 (仅1250C)C3分组125 oC下开关测不要求AI0分组试C4分组5 -550C开关测试不要求All分组4.4.4 D细检验D细检验内战表9的规定。不要求终点电测试的分组可用同一检验批中也性能不合格的器件作为样本。说l归15 SJ LO075-92 表9D细检验若:己其它规定，求中采用的方法系指GJB548的民验方法。方法和条件样品数/试验日组器件(接收数)BI级器件!JJG LTPD 。i分组15 尺寸方I尘:2016 方法2016D2分组15 1) 1绒$1叫性方出2004，试验条方法2004.试验条件B2件B2密封方法10141014 纬!价漏啊!恰漏

24、D3分组15 热冲巾方法1011，试验条方法101j，试验条件B，15次循环件A，15次循环站H变循环方法1010，试验条方法1010，试验条件C，100次循环件C，10次循环抗潮限方法1004方出1004密封方洁1014方法1014纬!柑嗣柏树漏H枪性方法1004和1010技方法1004和1010的自检判掘的目检判据纯点f1测试A2、A8(仅1250C)人2、A8(仅1250C)D4分支u15 机械冲击方法2002.试验条方法2002，试检条件B件人变颇振动2007，试验条方法2007，试验条件A件A恒定力11速度方法2001.试验条方法2001.试验条件E，Yl方向件。.YI方向律:封10

25、14 方法1014纠11价耐:fll价漏叫价J虫方法2002成2007技方法2002成2007的H枪判据的目柑判据终点111测试A2 , A8 (仅1250C)A2、A8(仪125OC) 16 说i归H式载体采用试验条件。做抗潮湿试验时，对片i载体不要求引线弯曲应力的预处理。Bl级器件可用GB4590第3.6条替代。时间:56 d 口J在抗潮温试验后和密封试验前进行。用于D3分细的样品叮用+D4分组。SJ 20075-92 续表9若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。方法和条件样品数/试验8级器件BI级器件(接收数)成LTPO05分组15 战茹方法1009，试验条方法1009

26、，试验条件A件A密封方法1014方法1014纠I!柿漏*H舍漏目柿t去方法1009的时检技方法1009的目检判据判据06分组3/(川江内部水汽介方法1018，100 oc 不要求5/(1 ) 主如F鼠也时最大水汽含最为5000 ppm 07分组15 可|线惊磁帖方法2025方法翩2025附强度4. 5 检验方法检验方法按下列规定。4.5.1 山陀利也流说明n式载体;不要求寻!钱弯曲!但力的预处理。对B1级器件，空l使用方不要求时，盐雾试验可不做。可试验3个器件出现l个失放数，可力Ui式附个器件并且不失效。若第1次试验样品(3个成5个器件)失效，可在鉴定机构认可的另一实验室进行第二次试验。若试验

27、通过，则该批l也被接收。LTPO系对号|钱数而言不适用于片式载体。若无其它规定，所有给出的电压均以器件地端为基准。所有电流均以流入引出端的山流为1L4.5.2 老化和1寿命试验冷却程序被试器件(DUT)在完成龙化和寿命试验后，应先冷却到35oc，然后再去掉偏景，最师在250C俨进行电参数终点白测试。4. 5. 3 输入保护电路的高压(几AP)试验被试器11:CDUT)的所有输入端(最多四个)，应经受由充山到400V的100pF电容产生的山Fk脉冲。该破坏性试验应按;规定进行:a. t 25 oC 下，按表3的规定测最选定输入端的IL和IHob. 把试验4!ffi(几AP=400V)加到选作漏电

28、流测量的问一端f上。按如卡的顺序如剧3的试验线路施加VZAPo17 1)输入(一)至Vsso2)输入(+)至VssoSJ lO075一92C. f 24 h内按上述操作茧复测量同一引出端的IIL*11 IIHo 如果几AP试验后，被试器件(DUT)的漏电流超过规定的规范僚，则该器111:视为失效。5 交货准备5. 1 包装要求包装要求JY.按GJB597第5.1条的规定。6 说明事项6. 1 关于测试欠挝的一般规定肘子血流参数、交流参数手Il功能测试的欠量表，自制造厂自行规定。测试欠量表J.保证检验电路的全部功能以及满足直流参数和交流参数测试的要求。为了便于使川和l提高测试效率，建议将欠量表分

29、为若干段，以适应各个分姐和各个类型测试对测试欠敏的要求。6.2 订货资料采购文件所规定F内容:a. 完成的器件编号(见本规范1.3.1条)。b. 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相同的检验批质量一致性数据的要求。C. 需要时，对合格证书的要求。d. 需要时，对产品成工艺更改时通知采购单位的要求。e. 需要时，对失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求。f. 对产品保证地择的要求。g. 需要时，对特殊载体、引线长度成引线形式的要求。h. 对认证标志的要求。i. 常要时，其他要求。6.3 功能说明、符合和定义本规范所用的功能说明、符合和道义按GB34

30、31.1、GB3431.2和GJB597的规定，并作If补充:18 SJ 20075-92 引111端J符J名称输入/输出说明28 VDD 5V电源14 Vss OV Lh源CS 选RD和WR由片选决定，II INTA JJ之无关。2 WR 呼写命令通常是从CS-80系统中8228开始成从iAPX86系统中8086开始。 3 RD 读读命令通常是从CS-80系统中8228开始成从iAPX86系统中8086开始。114 DOD7 双向数据总线I!O 用于a)8259A的编程方式(编程由软件完成)b)微处理器能够读8259A状态c) 1NTA有效时，8259人将发送欠量数据到微处理器。1213，

31、CASO 线联线I!O 三个级联钱，.1方式下的输出和从方式下的输15 CAS2 入。在这些钱上，控制端发生接收中断电平的二进制方式信号。每个从Jt用此信号与其本身方式进行比较。16 SP!EN 从片输入/允许110 SP!EN 是双功能引山端。在缓冲方式下用作允许总统战发器(EN);在非缓冲方式下决定:8259A是主片(SP叫)峰是从片(SP$0)。17 INT 中断。INT为高电平有?效。直接到做处理器中断输入。这个输出端高山子VOH对J5i.8080A 3.3 V VIH, 1825 IRO-中断请求异步输入端。一个JE脉冲边缭产生一个中晰请JR7 求信号，然后利用此战产生请求信号，井保

32、持为高Eg平，直到响!均为止，成由负脉冲触发。在电平触发方式时，无边缘请求。这明线为高电平有效。26 INTA 中断响同中断响应通常来自CS80系统的8228，iPAX86 系统的8086、在一个中晰周期期间，8288产生三个相同INTA脉冲，8086产生两个相同的INTA脉冲。27 AO 地址总线通常是做处理器地址输出的最低有效位。当AO=1时，中断J)融奇存器可以力u负载和i卖:当AO啡时8259A方式口J编程或其状在可读。古3为低f1:!平有效。6.4 替代性本规范规定的微电路，其功能可替代普通工业用器件，、阵迫r业m稽111:不能替代本规范规定的器f!:o一19叩SJ 0075-92

33、6. 5 操作MOS 微处理器件的操作必须采取一定的防护措施，以避免由于静电积累引起的损坏。且然在芯片中己设计有输入保护山路，具有定的抗静电能力，但还需推荐下列操作措施:20 a 器1l阳在具有导电车11接地表面的r作台上操作。b 试验设备和l器件应接地。C. 测试者通过导线按地，并尽量不触摸器件引线。d 器n应存放在导电池沫材料lfX容器中。e国MOS器件避免使用塑料、橡胶、丝物。附加说明:本规范由中国电子工业总公可科技质量周提出。本规?自由机械电子工业部电子标准化研究所归口。本规范机械电子E业部第四十七研究所负责起草。本规范主要起草人:张继勇棋艳玲吴佑华朱恨静。计划顷日代号:B01048 0