JB T 5533-2007 静电复印硒鼓.膜层附着力试验方法.pdf

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1、ICS 3710001G81备案号：21875-2007 J臣中华人民共和国机械行业标准JB广r 553孓一2007代替JBT 5533-1991静电复印硒鼓膜层附着力试验方法Selenium drum for electrostatic copying_。Testing method of adhesive force between coating and backing20071 008发布 20080301实施中华人民共和国国家发展和改革委员会发布刖青1范围2原理3试验设备4试样5试验步骤6试验报告目 次，1，+11一12JBfr 55332007刖 昂本标准代替JBT 5533-19

2、91静电复印硒鼓膜层附着力试验方法。本标准与JBfl5533-1991相比，主要变化如下：增加标准的英文名称；增加前言；将第一章“主题内容与适用范围”改为“范围”；删除附加说明。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国复印机械标准化技术委员会(SACTC 147)归口。本标准由天津复印技术研究所负责起草。本标准主要起草人：赵晓东、唐云山、蔺亿铭。本标准所代替标准的历次版本发布情况：JB，T 5533一】991。静电复印硒鼓膜层附着力试验方法JBFr 5533乏0071范围本标准规定了静电复印硒鼓膜层附着力的试验方法，其中包括：原理、设备、试样、试验步骤和试验报告。本标准适用于se，seTe

3、及Ae2Se3等类型硒鼓。2原理硒鼓底基材料与膜层材料的热膨胀系数不同，在一定的高低温冷热循环冲击下产生的应力变化，使膜层出现隆起、龟裂、脱落，由此判定硒鼓膜层的附着力是否合格。3试验设备3 1试验箱：311 应提供两个试验箱，一个作为冷箱，一个作为热箱，试验箱的放置应便于硒鼓试样在两箱之间迅速转换。312试验箱应该能够在放置硒鼓试样的区域内保持试验所要求的温度。312试验箱内的空气应流通，靠近硒鼓试样处测量其速度应不小于2ms。31 4试验箱内的容积应保证在硒鼓试样放人后不超过5min就能使温度保持在规定范围内。32支撑件：硒鼓试样的支撑件的导热率应该是低的，以使实际上硒鼓试样近似于绝热。3

4、3 510倍放大镜。4试样试样的膜层应无任何脱落、隆起、龟裂、划伤等会影响试验结果的缺陷。5试验步骤51按硒鼓的类型，将热箱和冷箱的温度调整控制在表1规定的值。表1、试验条件热箱温度L 冷箱温度死 试验室温度 循环次数硒鼓类型、 次Se，Se一1b 251 -201 1525 1Ae2Se 701 -251 1535 1052将不带任何包装的硒鼓试样在试验室环境温度下直接放人热箱内。53硒鼓试样放在热箱内放置1h。54将硒鼓试样从热箱中取出，迅速放人冷箱内，从热箱转换到冷箱的时间应不超过30s。55硒鼓试样在冷箱内放置1h。56将硒鼓试样从冷箱中取出，在试验室的环境温度下放置30min，在此时间内用放大镜或目视检查硒鼓膜层表面有无脱落、隆起、龟裂。如出现上述任一现象，则中止试验，判定膜层附着力不合格。57 6266构成一个循环(见图1)。按表1规定的次数进行循环。2JBT 553湖007A循环起点；瓦热箱温度值；巧一冷箱温度值：f。试样在热箱及冷箱内的放置时间k试样从热箱到冷箱的转换时间：t3试样在实验室内的放置时间。图16试验报告报告应包含下列内容：a)试验依据；b)产品名称(本标准号)；c)生产厂家或委托试验单位d)生产日期；e)样品编号；f)试验条件及日期：g)试验结果及判定；h)试验人员签名。