SJ 20014-1992 半导体分立器件GP、GT和GCT级3CG110型PNP硅小功率晶体管.详细规范.pdf
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1、FL 5961 11、,、E E目.1田、 -SJ 20014 92 Semiconductor discrete device Detail specification for silicon low. power transistor for types 3CG 110、3DG130、3DG182 GP、GTand types GCT classes 1992-02-01发布1992-05-01实中国电子工业总公司批准中华人民共和国电子行业军用标准1 范围1. 1 主题内容半导体分立器件GP、GT和GCT级3CG110型PNP硅小功率晶体详细规范Semicondudor discrete
2、device Detail specification for PNP silicon low-power transistor for type 3CG 110 GP、GTand GCT classes SJ 20014 92 本规范规定了3CGllOB、3CG110C型PNP硅小功率晶体管(以下简称器件的详细要求.每种器件均按GJB3385(半导体分立器件总规范的规定,提供产品保证的三个等级(GP、GT和GCT级。中国电子工业总公司1992-02-01发布1992-05-01 SJ 20014 92 1. 2 外形尺寸外形尺寸应符合GB7581(半导体分立器件外形尺寸中的A3-01B型及如
3、下规定,见图1 : 中450 j 中D-中D、tb2 4 图1外形尺寸1. 3 最大额定值Ptot1VCIlO 型号TA=25C (mW) (V) 3CGl10B 300 40 3CG1l0C 300 50 X 吨VCEO (V) 30 45 注:1) TA2SC时,按1.7lmW /C的速率线性-2一。A + .pb1 .pb2 .pD .pD1 1 K L Ll VE (V) 5 5 引出1.发射极2.基极3.集电极性:位zmmA3-01B 寸Imin nom I max 十4.32 O. 407 5. 31 4.53 0.92 0.51 12.5 Ic (V) 50 50 2.54 1.
4、 04 5.33 1. 01 0.508 5.84 4.95 1. 16 1. 21 25.0 1. 27 Ti和T叫CC) 65,._,200 65,. -200 SJ 20014 92 1. 4 主要电特性(TA=250C) 参符号(单位)hFE1 hFE2 hFE3 fT (MHz) Cobo (pF) V nE(.t) (V) V CE(.t) (V) 2 引用文件GB 4587 84 GB 7581 87 GJB 33 85 GJB 128-86 3 要求3. 1 详细要求数型号测试条件VCE= 10V 3CGIIO Ic一0.5mAVCE= 一件10V 3CG110 lc-10mA
5、 VCE= 5V 3CGllO lc=50mA (脉冲法)VCE= 10V 3CG110 lc=10mA f=30MHz Vcn=-5V 3CG110 ln=O f=lMHz lc=30mA 3CG110 In=3mA Ic =30mA 3CG110 In=3mA 双极型晶体管测试方法半导体分立器件外形尺寸半导体分立器件总规范半导体分立器件试验方法各项要求应按GJB33和本规范的规定。3.2 设计结构和外形尺寸极小值20 40 20 十100 器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33和本规范的规定。3. 2. 1 引出端材料和涂层限大值180 6 1. 0 O. 5 一3一SJ 20014 9
6、2 引出端材料应为柯伐.引线涂层应为明确规定(见6)03. 3 标志器件的标志应按GJB33的规定.,对涂择时,在合同或订单中应4 证4. 1 抽样和检验样和检验应按GJB33和本规范的4.2 鉴定检验定检验应按GJB33的规定。4.3 筛选(仅对GT和GCT级筛选应按GJB33表2和本规范的规定b下列测试应按本规范表1进行,超过规定极限值的器件不J:. 7 , J3II; 。验一一级试一-T 一C或一G一和试一TG (GJB 33表2)试一,.四咽a国锢织一回可一l圃中一功 吁,一n6Ic回1和hFE2见4.3.1 9. 试按本规范表1的A2分组zt:JCOO1=初始值的100%或5nA,取
7、较大者zt:.hFEZ=初始值的士15%4.3. 1 功率者化条件功率老化条件如下FTA-25C士3C,VCB 20V, 注s不允4.4 质量一致性检验Ptot 300mW GJB 33的规定进行.4.4. 1 A组检验A组4.4.2 B组GJB 33和本规范表1的规定进行。可B组检验应按GJB33和本表4的步审1.,.1-104.4.3 C组检C组栓验应按GJB33和本规施表3的表4的步抓1J04.5 检验方法检验方法应按本规范相应的表和下列冲测试2的规定进行。最后测试和(A)要求应按本规范进行.变化量(A)要求.,I 4.5. 1 一4一SJ 20014 92 脉冲测试应按GJB128的3
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