JB T 7369-1994 机械密封端面平面度.检验方法.pdf

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1、 J 22JB/T 73691994机械密封端面平面度检 验 方 法1994-07-26 发布1995-07-01 实施中华人民共和国机械工业部 发 布11 主题内容与适用范围本标准规定了机械密封端面平面度的检验装置、检验程序、平面度测定值的判读等内容。本标准适用于采用单色光源的光学法检验机械密封环端面平面度。2 术语2. 1 干涉图光波干涉产生的干涉条纹(亮带或暗带)所组成的图形。2. 2 干涉光谱带(光带)干涉图上的暗带。3 检验装置3. 1 推荐使用的检验装置结构见附录B(参考件)。3. 2 光源应为单色光源。3. 3 检验用光学平晶应为一级精度(其平面度应在 0.020.10 m 之间

2、)，光学平晶的直径应大于被检密封环端面的外径。3. 4 装置放置在干燥、洁净、避免振动干扰的工作间内。3. 5 装置要有一定的保护元件，避免光束直接照射到观察者的皮肤或眼睛。3. 6 如果采用反光镜观察，应保证反光镜没有变形和失真。4 检验程序4. 1 检验时，环境温度应控制在 205。4. 2 打开平面度检测仪的电源开关，预热至灯管充分发光。4. 3 清除被检密封环端面和光学平晶表面上的纤维、颗粒、油渍、水汽等污物，且使密封环端面和光学平晶表面不受损伤。4. 4 将被检密封环轻轻放置在光学平晶上(或将平晶轻轻放置在密封环上)，使密封环端面和光学平晶紧密接触，判读光谱带数时不应使其受到附加外力

3、的作用。4. 5 通过镜面观察密封端面的干涉图形(或透过光学平晶观察密封端面上的干涉图形)，判读干涉光谱带。5 平面度测定值的判读5. 1 平面度测定值的判读按附录A(补充件)的规定。对于附录A未含的图形，判读者应在正确理解应用光干涉原理的基础上，参照附录A的图例进行判读。机械工业部 1994-07-26 批准中华人民共和国机械行业标准机械密封端面平面度检 验 方 法JB/T 736919941995-07-01 实施JB/T 7369199425. 2 球形凸面和球形凹面的确定5. 2. 1 观察干涉图由上向下移动眼睛，若干涉光谱带向圆心移动，则为球形凹面；若干涉光谱带向外径移动，则为球形凸

4、面。5. 2. 2 将平晶放在密封环上，用手指轻轻地在平晶外边上加压，若干涉光谱带围着手指弯曲，则为球形凸面；若干涉光谱带向手指外弯曲，则为球形凹面。5. 3 平面度的测定值的计算公式为：=0.5N式中：平面度的测定值；N干涉光谱带数；单色光波波长。JB/T 736919943附 录 AA1 一条光带图示见图 A1。图 A1A2 二条光带图示见图 A2。图 A2常见干涉光谱带图示例(补充件)JB/T 736919944A3 三条光带图示见图 A3。图 A3A4 多条光带(三条光带)图示见图 A4。图 A4JB/T 736919945附 录 BB1 推荐采用的检验装置结构示意简图见图 B1。图

5、B11箱体； 2活动门； 3密封环； 4光学平晶； 5带孔活动板；6玻璃镜； 7毛玻璃； 8钠光灯管； 9稳压元件； 10隔光板附加说明：本标准由机械工业部合肥通用机械研究所提出并归口。本标准由机械工业部合肥通用机械研究所负责起草。本标准主要起草人李小瓯、吕康、何玉杰、程传庆。推荐采用的检验装置结构示意简图(参考件)JB/T73691994中 华 人 民 共 和 国机 械 行 业 标 准机械密封端面平面度检 验 方 法JB/T 73691994*机械科学研究院出版发行机械科学研究院印刷（北京首体南路2号 邮编 100044）*开本8801230 1/16 印张1/2 字数10,0001995年4月第一版 1995年4月第一次印刷印数1500 定价 3.00元编号 94114机械工业标准服务网：http:/www.JB