GB T 14506.28-2010 硅酸盐岩石化学分析方法 第28部分：16个主次成分量测定.pdf

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1、ICS 73.080 D 53 道国中华人民=H二-、和国国家标准GB/T 14506.28一2010代替GB/T14506.28-1993 硅酸盐岩石化学分析方法第28部分:16个主次成分量测定Methods for chemical analysis of silicate rocks一Part 28: Determination of 16 major and minor elements content 2010-11-10发布2011-02-01实施数码防伪中华人民共和国国家质量监督检验检茂总局中国国家标准化管理委员会发布.LL. .; 目。昌GB/T 14506(硅酸盐岩石化学分析

2、方法由以下30部分组成:一一第1部分z吸附水量测定z一一第2部分:化合水量测定;一一第3部分:二氧化硅量测定E第4部分:三氧化二铝量测定:一一第5部分:总铁量测定;一一第6部分z氧化钙量测定;一一第7部分:氧化镜量测定;-一第8部分:二氧化铁量测定;第9部分:五氧化二磷量测定;第10部分:氧化锺量测定;一一第11部分z氧化饵和氧化铀量测定F一一第12部分:氟量测定z一一第13部分:硫量测定;一一第14部分=氧化亚铁量测定;第15部分:钮量测定;第16部分z铀量测定;第17部分z银量测定;第18部分:铜量测定;第19部分z铅量测定E一一第20部分z辞量测定;一一第21部分z镇和钻量测定;一一第2

3、2部分:饥量测定;一一第23部分:锚量测定;一一第24部分:铺量测定;第25部分:铝和鸽量测定;一一第26部分z钻量测定F一一第27部分z镰量测定;第28部分:16个主次成分量测定;第29部分z稀土等22个元素量测定;第30部分:44个元素量测定。本部分为GB/T14506的第28部分。G/T 14506.28-2010 本部分代替GB/T14506.28-1993(硅酸盐岩石化学分析方法X射线荧光光谱法测定主、次元素量。本部分与GB/T14506.28-1993相比主要变化如下:一一修改补充了名称为16个主次成分量测定;一一增加了规范性引用文件。I GB/T 14506.28-2010 E

4、本部分的附录A为规范性附录。本部分由中华人民共和国国土资源部提出。本部分由全国国土资源标准化技术委员会归口。本部分起草单位:国家地质实验测试中心。本部分主要起草人z王苏明、颜茂弘。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:一一一GB/T14506.28-1993。GB/T 14506.28-2010 硅酸盐岩石化学分析方法第28部分:16个主次成分量测定曹示一-使用本部分的人员应有正规实验室工作的实践经验。本部分并未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件。1 范围GB/T 14506的本部分规定了硅酸盐岩石中主、次成分量的测定方法。本部分适用

5、于硅酸盐岩石中二氧化硅、三氧化二铝、全铁(以TFe203表示)、氧化臻、氧化钙、氧化铀、氧化饵、二氧化铁、氧化锤、五氧化二磷、氧化坝、三氧化二铭、镇、铜、锤、和错量等主、次成分量的测定，也适用于土壤和水系沉积物中上述成分量的测定。硅酸盐岩石中主、次成分量的测定范围见附录A。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T14506的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T 6682 分析实验室用水

6、规格和试验方法GB/T 14506.1 硅酸盐岩石化学分析方法第1部分z吸咐水量测定3 原理试料用元水四棚酸埋熔融，以硝酸镀为氧化剂，加氟化鲤和少量澳化鲤作助熔剂和脱模剂。试料与熔剂的质量比为1: 8。在熔样机上于1150.Cl 250 .C熔融，制成玻璃样片。在X射线荧光光谱仪上进行测量，除镇、铜、智、和错用康普顿散射线作内标校正基体效应外，其余各分析元素均用理论系数校正元素间的吸收-增强效应，根据荧光强度计算主、次成分的量。4 试剂本部分除非另有说明，在分析中均使用分析纯试剂和符合GB/T6682的分析实验室用水。4. 1 元水四棚酸钮:在700.C灼烧2h。4.2 氟化铿:在105.C烘

7、2h4 h. 4.3 硝酸镀:在105.C烘2h4h。4.4 澳化鲤溶液(15g/L)。5 仪器5. 1 铀-金合金增塌(95%Pt+5%Au)，规格:30mL。若试料在增塌中熔融后直接成型，则要求增塌底面内壁平整光滑。规格:上端内径45mm，下端内径33mm，高25mm。5.2 铀-金合金铸模(95%Pt+5%Au)，规格:上端内径34mm，下端内径32mm，高3mm.铸模材料厚度约1mm，使其不易变形。铸模定期用粒度为14m的金钢砂软膏抛光，使玻璃片易从铸模中剥离而不破裂。1 GB/T 14506.28-2010 5.3 熔样机:自动火焰熔样机或高频电感熔样机。5.4 波长色散X射线荧光光

8、谱仪:端窗姥靶X射线管，功率3kW。5.5 天平:三级，感量0.1mg。6 试样6. 1 试样粒径应小于74m。6.2 试样应在105c预干燥2h4 h.置于干燥器中，冷却至室温。6.3 对易吸水的岩石，应取空气干燥试样，在称样的同时按GB/T14506. 1进行吸附水量的测定。最终以干态计算结果。7 分析步骤7.1 测定数量同一试料，在同一实验室，应由同一操作者在不同时间内进行2次3次测定。7.2 试样称取0.7g试料，精确至0.1mg o 7.3 验证试验随同试料分析同类型的标准物质。7.4 测定7.4.1 样片的制备7.4. 1. 1 混合将试料(7.2)置于25mL资蜡塌中，加入5.2

9、00g士0.001g无水四珊酸鲤(4.1)、0.400g士0.001g 氟化钮(4.2)和0.30g士0.01g硝酸镀(4.3)搅拌均匀，移入铀-金合金蜡塌中。7.4.1.2 烘干于装有试料的增捐(7.4.1.1)中，加入1mL澳化程溶液(4.的，置于电热板上烘干。7.4. 1. 3 熔融将增塌置于自动火焰熔样机上，盖上站塌盖，以丙皖气为燃气，氧气助燃，于1150 c 1 250 .C熔融10min15 min。熔融过程中要转动增塌，使粘在瑞墙壁上的小熔珠和试料进入熔融体中。每隔一定时间，熔样机自动摇动增塌，将气泡赶尽，并使熔融物混匀。7.4.1.4 浇铸7.4. 1. 4.1 熔融物在铸模中

10、浇铸成型。熔样机自动将增塌内熔融物倾人已加热至800.C的铸模中。移离火焰，通压缩空气冷却。已成型的玻璃圆片与铸模剥离。7.4. 1. 4. 2 熔融物在瑞塌内直接成型。熔融物也可在增塌内冷却直接成型。玻璃样片与增捐自然剥离。7.4. 1.5 样片的保存取出样片，贴上标签，放于干燥器内保存，防止吸潮和污染。测量时，只能拿样片的边缘，避免X射线测量面的沾污。7.4.2 标准化样片的制备选择某些分析元素含量适中的国家一级标准物质作为标准化试样，以下按(7.4.1.l)(7. 4. 1. 5) 步骤制备成样片。7.4.3 X射线荧光光谱分新7.4.3. 1 测量条件在X射线管电压为50kV.电流为5

11、0mA.粗狭缝，视野光栏直径为30mm条件下，各主次成分量分析元素的测量条件见表1.GB/T 14506.28-2010 表1测量条件2(/ C) 计数时间/s组分分析线分析晶体探测器pHN 衰减器干扰谱线峰值f背景峰值背景Na20 K. TAP 55. 15 58.50 100 40 F-PC 7-35 1 MgO K. TAP 45.17 48 100 20 F-PC 7-35 1 Ca K02 Ah03 K. PET 144.70 140 20 10 F-PC 7-35 1 Ca K02 Si02 K Sbln 144.66 140 20 10 F-PC 10-35 1/3 P20S K

12、. Ge(111)a 141. 15 144 40 10 F咛PC10-35 1 K20 K. LiF(200) 136.70 HO 20 10 F-PC 10-30 1 CaO K. LiF(200, 113.15 110 20 10 FPC 1).-35 1/3 Ti02d K. LiF(ZOO) .a6. 19 88.50 40 10 F-PC 10-30 1 V20S K. LiF(200) 77.00 78 40 20 F-PC 5-35 1 Ti Kl Cr2 03 K. LiF(200) 69.40 70. 50 40 20 F-PC 5,._ 35 1 V Kl MnO K.

13、LF(200) 63.01 64.50 40 20 F-PC 5-35 1 Cr Kl Fe2 03 L.l LiF(200) 57. 52 55 20 10 SC. 7-35 1/3 BaO K. LiF(200) 87.23 88 40 20 F-PC 10-30 l Ti K. Ni K. LiF(200) 48. 66 49.70 40 20 SC 7-35 1 Cu K. LiF(200) 45.02 47 40 20 SC 7-35 1 Sr K. LiF(200) 25.13 25. 70 40 20 SC 7-35 1 Zr K. LiF(200) 22.54 23.20 40

14、 20 SC 7-35 1 Sr Kl Rh K., LiP(200) 18.84 10 SC 7-35 1 a对PK.线推荐采用不反射二级线的Ge(l!D晶体。若用PET晶体，扣除CaK n线对PK.线干扰。b脉冲高度分析器的下限和上限。c流气正比计数器。d用于校正锐对锚的谱线重叠干扰。e闪烁计数器。f峰值是指实测值而非理论值a7.4.3.2 背景校正采用一点法扣背景。按式(1)计算扣除背景的分析线强度z式中zIN -扣除背景的分析线强度;Ip-峰值强度;IB-.一背景强度。7.4.3.3 仪器漂移校正通过标准化样片测量校正仪器漂移。7.4.4 校准系列的配制7.4.4.1 标准样片的制备I

15、N = Ip - 1B . ( 1 ) 选用硅酸盐岩石、超基性岩石、砂岩、蒙古土、土壤和水系沉积物国家一级标准物质作为标准绘制校准3 GB/T 14506.28一2010曲线。每个元素都应有一个具有足够的含量范围又有一定梯度的标准系列。如上述标准物质不能完全满足时，应加配适当人工混合标准补充之。校准系列范围见表2。表2校准系列范围% 组分含量范围组分含量范围组分含量范围Na, O o. 067. 16 CaO o. 0720. 51 Ni o. 000 20. 25 MgO o. 0841. 03 TiO, o. 017. 69 Cu o. 000 40. 12 Al, 03 o. 2136.

16、 74 Cr, 03 o. 000 3 1. 56 Sr o. 002 50. 12 SiO, 18. 9898. 51 MnO o. 0020. 32 Zr o. 002 90. 15 P, Os o. 0040. 95 TFe,03 o. 0924. 75 K, O o. 017. 48 BaO o. 0050. 21 标准样片的制备，按(7.4.1.l)(7. 4. 1. 5)步骤进行。7.4.4.2 校准与校正校准、基体效应校正和谱线重叠干扰校正采用数学方法进行回归。计算公式为zWi =(an十bli十c)(1+ ijWj)+B是Wk(2 ) 式中zWi一一标准物质中分析元素i的认定值

17、(或未知样品中分析元素i基体校正后的含量ha、b、c一一-分析元素i的校准曲线常数;-标准物质(或未知样品)中分析元素i的X射线强度(或内标强度比); 一一共存元素j对分析元素t的影响系数(理论系数); Wj一一共存元素j的含量;B边一一干扰元素h对分析元素i的谱线重叠干扰校正系数FWk一一干扰元素h的含量(或X射线强度)。标准物质分析元素i的推荐值经理论系数校正基体效应得表现含量。分析元素的测量强度和表现含量，用公式(2)回归计算求得校准曲线常数a，b、Co4 镇、铜、锯、和错四元素则以强度与RhKQ线康普顿散射强度之比值与推荐值回归分析进行校准。对有谱线重叠干扰的元素，则须进行谱线重叠干扰

18、校正。当试料与熔剂质量比为1: 8时，消去烧失量的理论系数计算值见表3。表3消去烧失量的理论系数成分Na, O MgO Al, 03 SiO, P, Os K, O CaO TiO, V, Os Cr, 03 MnO TFe, 03 BaO Na, O 0.074 0.095 0.110 0.121 0.131 0.160 o. 182 0.220 o. 238 0.286 0.338 0.359 0.373 MgO 0.350 o. 107 0.117 0.131 0.141 o. 163 o. 184 0.223 0.241 0.289 0.343 0.363 0.528 Al, 03 0

19、.353 0.387 o. 138 O. 143 0.155 0.165 O. 187 0.225 0.245 0.294 0.348 0.369 0.628 SiO, 0.354 0.388 0.430 0.171 0.173 O. 169 O. 190 0.228 0.247 0.296 O. 352 0.374 0.651 P, Os 0.355 0.390 0.432 0.471 0.211 0.171 O. 191 0.229 0.248 0.299 0.356 0.377 0.672 K, O 0.352 0.388 0.432 0.472 0.525 0.337 0.210 O.

20、 195 O. 198 0.225 0.265 0.287 O. 797 CaO 0.350 0.386 0.430 0.471 O. 525 1. 584 0.393 O. 213 0.208 0.235 o. 273 0.291 0.848 Ti02 0.350 0.385 0.431 0.472 0.527 1. 603 1. 596 0.475 。.4410.243 0.268 0.276 1. 181 V, Os 0.351 0.387 0.432 0.473 O. 530 1. 615 1. 609 0.487 0.517 0.566 0.273 0.273 1. 316 GB/T

21、 14506.28-2010 表3(续)成分NazO MgO Alz03 SiOz PzOS KzO CaO TiOz VzOS CrZ03 MnO TFez03 BaO CrZ03 0.344 0.381 0.426 0.468 0.524 1. 612 1. 607 1. 740 0.517 0.664 0.686 0.266 2.894 MnO 0.337 0.375 0.420 0.462 0.518 1. 609 1. 603 1. 739 1. 824 0.663 0.812 O. 701 3. 759 TFez03 0.342 0.379 0.425 0.467 0.524 1.

22、 623 1. 618 1. 756 1. 842 2.467 0.820 0.838 4.322 BaO 0.346 0.384 0.428 0.469 0.524 1. 599 1. 592 。.4390.447 0.327 0.289 0.261 1. 193 注1:仪器参数z入射角63.，出射角40.，X射线管靶角90.，X射线管的镀窗厚度127m，佬靶:50kV. 注2:VzOs用于校正饥对镑的谱线重叠干扰。7.4.5 测量7.4.5. 1 输入分析元素的有关参数输人分析元素测量条件，理论系数和标准物质中各元素的含量(推荐值)。7.4.5.2 测量标准化样晶输入标准化样品名称，测量标

23、准化样品的元素分析线强度。7.4.5.3 测量标准物质输入标准物质名称，测量标准物质的元素分析线强度。7.4.5.4 回归分析测得一系列标准样片各分析元素的强度，利用数学校正模式进行回归分析，求得校准曲线常数a、b、c和谱线重叠干扰校正系数B必存入计算机软件。7.4.5.5 测量未知样晶输入未知样品名称。先测量标准化样片，然后测量未知样片元素分析线的强度。8 结果计算测得未知样片分析元素的强度，由计算机软件按公式(2)计算含量并自动打印出分析结果。9 精密度硅酸盐岩石中16个主次元素量测定结果的精密度见表4。表4精密度% 成分水平范围m重复性限r再现性限RNazO 0.30-7.1 r=O.

24、096+0. 016 8m R=O. 104+0.047 6m MgO 0.20-40 r=0.057十0.0073mR=0.084十0.0171mAlz03 0.30-21 r=O. 067+0. 009 9m R=O. 104+0.014 6m SiOz 32-90 r=O. 315+0. 002 Om R=O. 503+0.003 2m PzOS 0.01-0.95 r=O. 006+0. 016 6m R=O. 007+0. 029 5m KzO 0.10-7.4 r=O.Ol1 5+0.011 7m R=O. 021 +0.018 8m CaO 0.10-10 r=O. 052 7m

25、O3S R=0.062十0.0240mTiOz 0.02-7.5 r=O. 008+0. 010 Om R=O. 008+0. 017 3m CrZ 03 0.005-1. 3 r=O. 016 4mo.41 R=0.037mo. MnO 0.02-0.21 r=O. 002+0. 037 Om R=O. 004+0. 044 4m 5 G/T 14506.28-2010 表4(续)% 成分水平范围m重复性限r再现性限RFe2 0 , 0.31-24 r=O. 059+0. 006 9m R=0.086十0.0165m BaO 0.02-0.20 r=0.005十0.0772mR=O. 010

26、+0. 061 5m Ni 0.002-0.25 r=O. 001 +0.043 5m R=0.033mo.51L Cu 0.002-0.006 r=O.OOl十0.214mR=O.OOl十0.3932m Sr 0.005-0.12 r=O. 001 +0.019 4m R=0.002十0.0613m Zr 0.009-0.15 r=0.004mO.36 R=O. 002+0. 051 9m 注2本精密度数据是由6个实验室对28个水平的试样进行实验确定。6 GB/T 14506.28-2010 附录A(规范性附录)硅酸盐岩石中主、次成分量的测定范围本部分测定硅酸盐岩石中主、次成分量的测定范围见

27、表A.lo表A.1硅酸盐岩石中主、次成分量的测定范围成分测定范围/成分测定范围/% % Na,O 0.3-7 Cr,03 0.005-1. 5 MgO 0.2-41 MnO 0.02-0.32 Al,03 0.3-36 TFe,03 0.3-24 SiO, 19-98 BaO 0.02-0.21 P,05 0.01-0.95 Ni 0.002-0.25 K,O 0.1-7.4 Cu 0.002-0.12 CaO 0.1-20 Sr 0.005-0.12 TiO, 0.02-7.5 Zr 0.009-0.15 OFON|N.om叮-H闰。华人民共和国家标准硅酸盐岩石化学分析方法第28部分:16个主次成分量测定GB/T 14506.28-2010 国中司除中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045 网址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销* 印张O.75 字数15千字2010年12月第一次印刷开本880X12301/16 2010年12月第一版 16.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533定价书号:155066. 1-40972 14506.28-2010 打印日期:2011年1月12日F002