QJ 2835-1996 半导体集成电路.JF741A、747A通用运算放大器.详细规范.pdf

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1、Q.J 中囡航天工业总公司航天工业行业标准QJ 2835 96 半导体集成电路JF741AJF747A通用运算放大器详细规范1996-04-19发布1996一10-30实施中望航天工业总公司发布1范围中国航天工业总公司航天工业行业标准申导体集成电路JF741A,JF747A通用远算放大器详细规范1.1 主题内容QJ 2835-96 本规范规定了磁岛生片集成电路JF741A、JF747人通用运算放大器（以下简称器件的详细要求。1. 2适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采购。1. 3 分类本规范给出的普普件按器件型号、器件等级、封幸运形式、额定值和推荐工作条件、功糕和热特性分类。1. 3. 1

2、 器件编号苦苦件编号成按GJB597徽咆路总规WE贵在3.6. 2；.持的规定。1. 3. 1. 1 器件型号器件理型号见我1。普普仲型号JF741A JF747A 1. 3. 1. 2 器件等级表1器件型号及名称然f牛称通用运算放大器JifiJlj 运算放大器器件等级成为GJB597第3.4 g民规定的S级、日级丰日本规部规定的日1级。Bl级产品保证要求的筛选、鉴定和质量一致性检验的某些项目和要求不同于日级。1. 3. 1. 3 封族形式封装形式应符合GB7092的规定。具体封装形式见袋2。中国航天工业总公司19960419批准1996-10 30实施QJ 2835 96 表2封装形式及代号

3、封装形式JF74IA代号JF747A代号D型型号瓷双葬j封装D08S3 Dl4S3 J型（沟瓷熔封双尹j封装J08S3 Jl4S3 T Z盟金属圈壳封装T08A4 TlOA4 1. 3. 2 绝对最大额定僵绝对最大额定值见表3。表3绝对最大额定值数值项吕符号单位最小最大电辈革电压的Vs 主22输入电压V,c 主20v 差摸输入宅压Vw 主30输入电滚I飞0.1 10 mA 重Z存温度T啕-65 150 C 输出短路时间 不限定弓线ilt焊接温度（白宫）T, 300 结温T, 175 注，1)当电源电压小子主20VE苦，输入电压绝对最大额定值等于电草草电压。2) 短路可对地或对任一电源，额定值运

4、用于125壳温或75C环境温度。3) 如果电压差不超过抖V，超出22V的电压对短期试验可以适用。1.3.3推荐工作条件推荐工作条件见表4.表4推荐工作条件数值项吕符号单位最小最大电漂电压Vs 50 立20v 工作环境温度TA 55 125 2 QJ 2835 96 l. 3. 4功耗和热特性功籍和热辛辛注见表5o表5功耗和热特性最大允许功耗PD最大热阪R,是外竟至代号(T.;=125R,w C) mW W D08S3 400 35 D14S3 J08S3 4白。35 Tl4S3 08A4 330 40 TlOA4 2 引用文件GB 3431. 1 半导体集成电路文字符号电参数文字符号GB 34

5、31. 2半导体集成电路文字符号引出端功能符号GB 3442半导体集成电路运算电压）放大器测试方法的基本原理GB 4590半导体集成电路机械和气候试验方法GB 4728 电气图用图形符号GB 7092 半导体集成电路外形尺寸GJB 548微电子器件试验方法和程序GJB 597 微电路总规范3 要求3. 1详细要求各项要求应按GJB597和本规范的规定3.2设计、结构和外形尺寸设计、结构应符合GJB597和本规范的土重定。外形尺寸应符合GB7092的奴定e3.2.l 51出端排列引出端排列应符合图1的规定，引出端排列为俯视图引出端向下R,HJ-A) W 120 120 150 3 QJ 2835

6、 96 JF741A OA. lN V中IN-OU v 飞七OA, (a) T型(b) D主豆、1型JF747A 1 lN 13 lV+ IDA, 12 lOUT Z马v 2Il吁l。：LI 20UT r2IN+ ZIN斗S2飞211 7 20A, (c) T型(d) D型JE蓝图1引出端排列3. 2. 2电路墨电路图应符舍图2的规定。承制方在鉴定之前，应将器件的电路图提交给鉴定机构。承制方的电路图应由鉴定机梅存档备查。4 QJ 2835-9岳JF741A V+ IN IN十OU v OA, OA, (a) JF747A(l/2) IN-IN，号OUT 飞JOA, OA, 图2电路图5 QJ

7、2835 9岳3.2.3封装形式封装形式应按本规范1.3. l. 3条的规定$3.3 号线材料和涂覆弓i绞材料和涂覆应按GJB597第3.5. 6条前规定。3.4 电特性器件的电特性应符合表6的规定。若无其它规定，工作温度范围为55125，Vs 为土5土20Vo表8电祷性测试条俘规范筐特俭符号除非另有规定，见3.4条毅军哥们最小；最大！单位V10 R，son. T., 25 -3. o I 3 o , 输入失词电压nmV 55CTA二十1254. o I 4. o : TA55 15 I 15 输入失调电IE温度系数avw 15 I 严VTAl25 15 T25 30 I 3号猿人失调电流Ul

8、zo nA 65运T.，12570 I 70 较入失调电流T 55 soo I so号温度系数lJO pA r.,，12s 十IwTzs I LO llG Tsl25 TA 55 265 输入衡量宅言在1、nA Iw T，.25 1.0 llO TA=l25 T 5王265 V+=lOV T.;=25 50 50 KsvR-V = 20V 丘，50055运TA运二十125-100 10白看Z苍草电压t坦青！；比V+=ZOV 50 I 飞VTA=25汇50 Kev军V一二lOVRs=5号Q55运TA运十125100 ioo I 主专漠抑肯Jt江KcM；主V，土ZOVV1=L SV足气500so

9、dB b QJ 2835 96 续表特性单位输入失调电压调整范围输出短路电波（正输出输出短路电波！）负输出电源电流单运放符号+ VroR+ Vro友干:=+ .I.OS-ls 测试条件（涂学另有翅定，见3.4条辛苦图7)规落值最小最大v，土20VVs土2白V5 一5V5=15V S运25阻SVs=l5V z运25ms25运TA125V 5 1 士一S V TA= 55 -6号-吉。UFU mV mA 皿AmA 输出电压幅度（最大齐环电压垮益f单端Avn（土2Vp AvD TA=25 TA=l25 Vs主20VRL=lOkO Vs土20VR,=2k0 Vs土20Vi . - -i，25 RL=2

10、k0 L一一一一一一一一一Vo士15VI -55运；y，运125Vs士sv且L=2k0Vo士2V磷态确应上升时间i 磷态响应过神系数ix醉50 25 I一10 v V/mV 见图8ns 见008 800 % 转换速率遥遥分离度（对JF747A)宽带噪声格对于输入端突发噪声f裙对于输入端Vm牺VNI(PC手s. s. c,. V，土sv:Av=l 见皇军8; v有Av=l f 见题si 55TA罢王i2scT,=125 55运TA乓125TA=l25 25 。.3 jul二气V/s dB V V Vs土20VTA=25 觅图EVs土20VBw=5kHz T,=25 Vs土20VE易5kHzTA=

11、25C 7 QJ 2835 9岳注各统范值仅适？牙子JF741A，对JF747AJi)吁示规这值豆豆为每个单运放的规莲洼， ls M双运放JF747A为主墨范1值的二倍e1) 在共摸Vrco,v十15V,V1c15V下遂行苦苦试。2) 在于在T，二75下，连续续路电泼Ia.，将使结温T，超过175，所以连续短路对闵应大大小于武主主的规豆Ef室3) 未规定V阳被告豆处的土重益。但在VIOA毅徨处往往会出军军士曾益的减小考虑到院合应用（阕合增益寸、于10号。），:zjs:规范规定的开骂自尊试（Avo）将保证有一正部和较好约转移特性e然而，这些溅试不能保证超出工作范匿时，开环增益仍为正或为线性。当有

12、这方富的要求开苏增益为正或为线性7时，应作为F营方去要求在具位部署句货文件中指明e的在草草态确豆豆试验中，C,=!OpF，这里。包括杂散电容。3. 4. 1失调混零电路在55TA运125下，应采用图3,P,厅示宅势。具有调零输入的放大器能够超出规定失询电压极限值lmV的范围进行调零。IN OUT IN+ OA 飞F图3失满满零电路3.4.2薇率补偿当工作在本规范给出的测试条件时，器件不应振荡e无外部补偿并且使用不太子lOkO的源也！毡，工作在单位培益同相方式时，器件也不应振荡。3.5 电到试要求器件的电测试要求应按表7Ji,哥规定的有关分组。各分组的电费：试按表8的统定。表7电测试要求本规范分

13、主呈项日条款S级器件E级器件Bl级器件中每老化前）4. 2条Al Al Al 电漠j试中写（老化后4. 2条Al Al Al 电泌试最终电泌试4. 2条! A2,A3,A4 , A2,A3.A4 A2.A3,A4 8 QJ 2835-96 续表7电测试要求京规范分组项自条款S级器件B级器件Bl级器件A级电祖9武4. 4. 1条Al,A2,A3.A4 Al ,A2 ,A3 ,A4 Al ,A2 .A3 ,A4 A5,A6,A7,A8 A5 ,A6 ,A7 ,AS AS ,A6 ,A 7 ,AS B纽电、试4. 4.主条Al,A2,A3和表白的卒极限C组终点44.3条! Al和表9a专车极Al和表

14、9的A极电淡i试军区E臣D主主终点4. 4. 4条Al,A2.A3 Al Al 电丑恶试注，！）该分组要求PDA计算晃本规范4.2条。 主JZlS.35 J6 表SA组电测试测试电丧$试引出端条件开关位置被3届主啬规范值单位分组符号3 4 等式卫）备注号1 2 Kl K2 K3 K4 K5 K6 编号数值悴位最小最大Al Vro 1 35V -5V 开路-15V 1 1 1 1 1 1 5 El v TO二El-3 3 mV 2) crAzsc) 2 SV 35V 15V E2 V10E2 3 20V 20V 。vE3 VwE3 4 5飞r5V E4 VwE4 十Im5 35V 5V 开路-1

15、5V 1 2 1 1 1 1 5 E5 v +Ira (El-E5) X 10 /Rs 110 nA 2) - 6 sv 35V 15V E6 +Im (E2-E6) X 10 /Rs 一7 20V 一20V。vE7 十Irn(E3 E7) X 10/Rs 8 sv 5V E8 + Irs (E4 E8)10/Rs Im 9 35V 5V 开路-15V 1 1 2 1 1 1 5 E9 v Im= (E9-El) X 10 /Rs 110 nA 2) 10 5V -35V 15V ElO -;,= (ElO E2)IO/Rs 11 zov -20V 自飞JEll lrn=(Ell E3)XlO

16、/Rs 12 5V 5V El2j 一Im二(El2E4)Xl06/Rs fro 13 35V 噜5V开路15V! 1 2 2 1 1 1 5 El3i V lro= (El-El3) X 106 /Rs 3( 30 nA 2) 14 sv 35V! 15V El4 h,=(E2 E14）工o/Rs! 15 20飞fzov G飞fEl5 Ir,= CE3-El5) X 10 /Rs 一一16 sv -5 Dl6 !,= (E4-El6 .:trzi dB Ill 25积26测试数据汁算出lo.+ 46 15V 15V 开路-lOV 1 1 1 1 1 2 6 I惆3mA Io.世十二Ios3-

17、60 mA 5) los 47 15飞r15V 开路lOV 1 l 1 2 6 I臼4mA I臼Ios460 rnA ! Is 48 15V 15V 开路ov 1 1 1 1 1 1 2 ls2 mA ls=Is, 3、4mA i VroR+ 49 20V 一20V开路合V1 1 1 2 1 1 5 E39 v V10R+=(E23-E39) 5 mV V10R 50 zov 一20V开路自V1 1 1 3 1 1 5 E40 v Vw =( E23-E40) -5 mV QJ 2835 96 续表S；符号测试电草屋试引出端条件开关位置被望自端规范值分组编号数值单位等式l)最小最大i单位备注号

18、1 2 3 4 Kl K2 K3 E王4KS K6 A3 Vm 51 35V -sv 开路-15V 1 1 1 1 1 1 5 E41 v VwE4l -4 2) 一(TA 5552 5V 3SV! 15V E42 Vm=E42 53 20V 20V 。vVro=E43 54 5V -sv ! Vro=E44 avro 55 avro（主3-E43）125 15 15 V/C! 十lrn56 35V 一5V开路15V 1 2 1 1 l 工5 E45 v +Irn=(E41 E45)XlO/Rs 265 nA 2) 57 5V 35飞r15V E46 fr,= (E42 E46)IO/Rs 5

19、8 20V -20V ov E47 十fr,=(E43 E4 7)10/Rs 一59 5V -5V E48 十Iw二二（E44主48)XIO/RsIw 60 35V 5V 开路15V 1 1 2 l 1 1 岳E49v 一Irn=(E49-E41) X IO I且s265 nA 2) 61 SV -35V 15V ESO lrn= (ESO E42）芦10I丘s62 20V -zov ov 立51-Im= (E51-E43) XIO/R., 63 5V sv E52 Iw= (E52 E44 88 I l：V号i 5 E65 AvD ( +) = 15/ CE23 E65) 25 V/mV 6

20、) 一A叩一89 E66 Avo( )=15/(66 E23) Avv 90 5V sv zv E67 10 二Avv=4/(E68 E67) 2V E68 A6 Vo，斗91 zov 20飞F开路-zov 1 1 1 1 2 1 6 (Eo)9 Vo，十(Eo)9 16 (TA= - 55VoP- 92 2白V(Eo)lO Vor =(Eo)lO 16 二Vop 93 zov 3 (Eo)ll :VCEo)ll 15 v 一二VoP 94 飞：飞f(Eo)l2 VaP =CEo)l2 15 v AvoC十95 5 E69 A,-vC十）15/CE4E9) 25 V/mV 6) AvvC-)

21、96 15V E70 AvvC )= 15/(E70 E43) A，写97 5V 5V zv E71 10 一AvD=4/(E72 E71) 2V E72 1A QJ 2835 96 续表8试测电测试引出端条件开关位置被泌主啬主革范值单公组啕符号等式）位备注号1 2 3 4 Kl KZ K3 K4 E王5K5 编号数值惮位最小最大A7 trm的98 zov 20V 5日mV开路6 今岛ns tr= lC,.t1 800 ns 图8（波形I)( T, = Vw 25K晴99 5臼卫V/Vo, mV Kov=lOO(fe,.V01/V,) 25 % SR+ 100 , 5V LC,.V母l(+)V

22、I严S二6V011十i/6tH十o. 3 V阳图7, 5v LC,.t十）(j皮形2，波形3)SR- 101 6VoH VII SR一Le,.V，LC,.t，5V Lt, CSR 102 30V 。vv. v CSR=2司log(Vo,/O.lXV,) 80 dB 图自开路2 V旺国一（Eo)l3/1000VNHBB 103 (E,)13 mV 15 一V Nl(PC) 104 开路1 (E,)14 VNHPC= (Eo)l4/1000 40 V 图10A8 tr1r., 105! zov -20V 50mV 开路6 今岛主卫Str1rm=Lt, 800 ns 图8（波形1)(TA = V。，

23、.125Kov 106 LV倪四VKov=IOO(fe,.V,/V,) 25 % 一二一SR+ 107 5V Le,.V，十V/ SR十二LC,.V，十，！6t，忡30. 3 V/s 图SSV 6t，忡被形2，波形3)s. 108 5V 6V咀2(-)/ Ss-=6V, ,/6t,1叫5V 6t A8 若T(Tl的1号E20V -20V 50四V开路6 6t, ns tr,r.,=6t, 800 ns 图以波形1)CT,= V饲g55C) Kov 110 LV, mV K悍10白（6V,/V,)25 % SR+ 111 -5V LVo引V i弘S+=6V剧，Lt十Q, 3 V严图85V Lt村

24、泼形2，波形3)s,_ 112 5V LV眠V j斜SR-=6V四，Lt-5V Lt,_, 注1)等式既考虑了1000的闭环电压增益，又考虑了标爱ml子，使计算值符合表l的单位，测量值单位应在等式中使用（织如g若El=2V,Vm=El，照ro=2mV）。2) 每个器件应在袤3妓定的共模范围内遂行测试。Vrc条件由输入接地，用代数方法从电器草电压中减去Vrc来得到。例如z若Vrc=-llV,J/llJ十Vs=(ISV)( 11V)=26V，一Vs二（15V) ( llV)= 4Vlo 约为满足KwR、KMR要求的分辩能力，测量这些血V为单位的电Bi要精确到第囚位。钞根据在共模范围终点所测量的失演

25、电压值计算共模抑制比。5) 输出对边短路时IEij25ms或更短一些e心为了使热漂移减至最小，对增益浏试的基准电压也3,E23和E43）应在读出相应器件增益的测量值E61、军挝、E65、E66,E69、E7白）之前或之后立那读取加上。在RL=lOKll时的主曾益基本上是tii定结温下的生曾益并且通常是线性给a由于内部受热，在Rt三Zkll对始增益受嗡出级功率产生的热摔度始影响使得培益不再是线性的，甚至不再是原培益规定工作点附近的增益了。QJ 2835-9岳表S级B组，B级、Bl级C组终点电i踏法(T,=25、Vs立20V、V1c=OV)表在S级，B级规范值Bl级规范值试验号试主主最小i 1量限

26、3.0 3 Vm 批量一0.5 ！极限1 G 7 +ha ！交化量12 ！极限1 0 11 JIB ！变化量（6)12 3.岳标志标志应按GJB597第3.6条的奴定23.7微电路组的主Ij分最大最小3.0 -3 0 0 5 -0 5 110 i，。l2 一24llO l. 0 12 24 本规范liJf规定的器件应为GJB597戴录E所娩定的第49微电路毯。4质量保证规定4. 1 抽样和检验最大3. 0 0. 5 llO 24 11。24 单位mV nA nA 除本规范另有规定外，搞祥和检验程序应按GJB5好和GJB548方法5005的规定。4.2筛选在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件

27、应按GJB548方法和5004积本奴范表”的规定进行筛选。表10筛选程序方法、条件和要求CGJB区别筛选项3! S绞器”辛E级器件Bl级吉普件说可写方法l条给方法条件方法条件茹片主主验：设5007 : 按裁定5级器洋所有批非破坏性键2023 接去军走合拉力试验内部吕检201口试验条件A2试鼓条簿B2010 试主主条件E童f李雪前17 QJ 2835苦6续表10方法、条件和要求也JB548) 筛选项旨S级器伶B级器件Bl缀器件说现方法条件方法条f辛方法：条件稳定位烘绪1号。8试验条件C1008 试验条件C1008 试验条伶c（不要求终温度，1so,ci Iii度，150温度,15号点没i试时间，

28、24h对i司2委hI 时i乓，24温度循环1010 试验条件C101号试验条件C1010；试验条件c程定组速度2告。1试验条件E2001 试验条得E2010 试验条件DYl方向YI方；电YI方自巨检2009 按主革定2009: 按规定2009 按规定可在“密封n费费远后遂行引线建苦落、管壳破裂、封德脱落、校为失效。颗章主碰撞! 2020 试验条件A!202号试拴条伶A可在温度循环之后噪声检漠j 中间（老化后电测(P!ND) 该项吕之前的任何赎序上进行B级、Bl级器件屠户若要求，可在订货合词中虫草定编序列号100% 中间老化本规范Al分本规范Al本主主范Al前宅测试辈革读写主并记分组分经牵制造厂

29、决定是否录进行。老化1015 ：试敦条件D1015 试验条伶D1015 试验条件D采用本规范图4或试验条件C或试验条伶C采用本规范图5温度，12sc温度s125 温度,125对同，240ht时间d60h时间,l60h2或试验条中F或试验条伶F,采用本规范图E反偏老化1015 试验条件Ci采用本规落图5I i温爱，150一对阅，72h18 QJ 2835 96 续表10方法、条件和要求也JB548) 筛选项百S级器伶B级器件Bt级器件说磅方法条件方法条件方法条件中向，营化本规寇Al分本规范Al分本援范Al分后电泌试组读取并记起组一录计算A极努允许不合格！本规范Al本规范Al本辈辈范Al若老化前采

30、进行中品率（PDA)分组PDA分组PDA分主主PDAi湾f老化前电泌试，计算t为5%为10%为10%；由i老化后中同（老化若夫通若未通者来通后电没j试Al分组过该项，但过该项，但过该项但前失效数也应tt入PDA值不PDA i庭不PDA值不PDA 超过20%超过20%超过20%；对可重新均可重新时可重新t提交老化，提交老化，提交老化，但只允许但只允一但只允许一次改一次最主要电测试本主运范本规范本规范本项擦拭后，若改变A2,A3、A4A2、A3、A4A2.A3，叫程i分组分组分经或返工，则应再进行Al分组测试密王若1014 1014 1014 缀检漏试验条件试验条件试验条件Al或A2Al或A2Al

31、或A2起检漏试验条件试验条件试验条件Cl或C2Cl或C2Cl或C2X射线照裙2012 两个被图任何厥，字上进行19 QJ 2835-96 续表10方法、条件和要求CGJB区别筛选项吕5纺、器待B级器件Bl级器件说i)j方法条件方法条宁方法：条件釜定或质量5005 第3.5条5005 第3.5条5005第3.5条一致注检验的试验桂药在主取外部自检2009 按规定2009 按规定2口09按规定j可在发货市接批遂行飞rntv lOOkO R3oon 图4老化辛苦稳态寿命试验电路注：(j)T，二125，Vs工2ov,J5Hz, v土3.OV（仅对JF741A)V立0.5V（仅对JF747A。对JF74

32、7A商言，上医仅为试袭电路的一半。 由于老化和热效应，所用电阪误差为土5%。20 QJ 283主96IN Rc300丘立57。图5老化（稳态功率与反煽）和稳态寿命试验电路注CDr,12s，v，士2ov Vm3.岳飞（对JF741A),VwO. 5V（仅苍JF747凶。 对JF747A而言，上留仅为试验电路数一半。 该试验电路中，器侍应不幸在荡。十五在s6 加速老化和寿命试验电路V 21 QJ 2835费4 ,i_i, L一一一工n一一一一一J 4 -, 1 穹以2月将Fqu-E CCUN哼4i !Okn 117 静态和动态试验电路注：怎为了防止插件和开关位窒变更时对草委测器件造成损坏，应采用棍

33、应措施自3争建立时！写应合适，使得每个参数稳定在其最终筐舵5%偏差窝。辛辛除非另有规定注U，所有电:;fl.约允许误差为0.1%乡大于300mV若是幅（峰一蜂值总经传振荡应认为器f中央效。乏善零位放大器是个JF741A型运算放大器，在襟E值防卫在允许零位放大器饱翔。每对JF747A测试时，先视！单运放1，再没j单运放2o1) 如果用豆CM丑共模输入法试验，这些电理部允许误差为0.在1%，运腿之间的误差0.001%。2) 主主要求防止振荡，应遵循密定主主连接方式e国路确应隶主建立时间应与榕试速lit:一致a3) 负载电罢王（20501和11.lkn)提供有效的ff:载电边为法。在10k1,6 R

34、, 2kD 卡！0. 1浮lth哺hufQK叩一ti一(a) 试验电路z QJ 2835 96 注脉冲发生器上升对！司运100肘，重复额率lkHz（最女儿参数（Av二1)然冲发生器我量等式单位tn上升时可50mV辐度t (ns）见泼形1t.T ns Kev过冲因数50mV辐度,0,V(mV) 车vx1-00 5这波形150 % s，转换速率1-s牛5V段跃6V0(V),L,t(n,) 卒Fo（5这波彭216t（十）103 VJs SR转换速率l+sv 5V防军走6VaW），乌乞（ns)LO.Vo（一见波形31,0,t( )10 3 VI阳输出电压【mV)6.V 输出电压十。V) l I-t川十

35、V-2%/,_ -so I I +V-2% +v 25 I /I ：/I LWo仆）v 2 。搜影I被形z输出电E豆币1。一兹形3(b）波形图图8毒草态响应与转换速率试验电路注，CD电应允许误差士1纭，电容允许误差为士10%.vs士2ov.1) 电路可以加入R，当如入主对，其值为lOkil，此时，单位增益增为2，为适应增益除这种交化电脉；市发生器的幸窜入宅压应减为一半s2) c，lOpF土10%，包括杂室主电容。ov2吁z立士v 2% 23 QJ 2835-9岳lGk!i lOk!i lOOk!i VrnV捂30V2k!i -0 2kfl 18kfl r Vn, V 图通道分离度仅对JF747

36、Al注：(l)Vs士20V。24 斗争在lkHz,O.lmV jjJi;更高约精度下测量Vo,(PF值运号以第二遥遥输入为基准的迢迢分离度（dB)为20logCV0,XO.lXV，出。毛毒所有电盟刻允许误差运1%。QJ 2835-96 560pF 49. 91童白。飞Ts-0.lF Eo v, 图10噪声试验电路等效输入噪声符号开关状态IJiJ试值整；试单t豆测试等式单位宽辛苦噪声V盯(BB)关E. 四VE。1000产V突发噪声I V,1CPC) 开E. mV E,/1000 V 注,1)Rs20kD, 2) Eo使.i!H告方车是值电压表(IOHz15Hz）芳百峰值淦视！苦苦同时进行裁量，检

37、测锋值试主主至少15秒，回路辛苦宽至少为5kHz,4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验见本规范4.4. 1条至4.4. 4条）的规定。4.4质量一致性检验质量一致性检验应按GJB597的规定。所进行的检验豆豆按GJB548方法5005租本规范A、B、C幸在D经检验（见本主E范4.4. 1条至4.4条的规定。4. 4. 1 A组检验A组检验应按本主呈范表11的规定a电试测要求应按本规范表7的规定，各分经的电参数浏试按本规范表8的规定。各分组的测试可用同一样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小对，应10号.%检验。

38、各分组淡i试可接任意烦？于进行。合格判定数（C）最大为主。25 QJ 2835-9岳表11A组检坠LTPD 试验s B Bl Al分组25巳下吉普态测试2 A2分组125下静态测试3 A3分皇室一55下静态测试5 A4分主呈25下动态苦苦试2 AS分组125,C下动态然试3 A6分组55下动态测试5 A7分组25下功能滚！试2 A8分重呈-55和125下功能襟试5 4. 4. 2 B经检验S级器件的B组检验应按本规范表121的m定。BlB4分组采用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。B级和Bl级器件按表122的规定，BlBS分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。表12l 3级器件B

39、组检验方法和条件（GJB548 试验项目I 样品数I 说明方法条件（接牧数或LPD注Bl分组2016 2/(0) 尺寸；在100时最大! I穹瓷熔封管壳，旦完试主主内部水汽含量1018 水汽含量3（吕或二个器件，若一个失效，5000ppm 三（！）再追加试验两个器件葵无失效。B2分组遂行B2分毯的样品必须抗F寄住2015 4/(0) 遂过B6分组的全部被i内部自检和2013和由订货合同规定2/(0) ！浅。对键合强度试验机被检查2014 ；合格判据LTPD系指键合数夜言。键台强度2011 3 热压焊斌验条件C或D超声焊试验条件C或D3（日）芯片剪切强度2019 接棺应芯片尺寸部分组15 LTP

40、D系对引线数到昌可得住2003或焊接温度被试器件数应不少于32022 24f土5-C个。26 QJ 2835-9岳续表121 方法和条件凶恶548)试验攻自1 样是数说明方法条件接收数或LTPD值B4分组引线牢密注2004 试5主条件BZ2/(0) 引线疲劳密幸亏1014 主苦检在毒试验条件Al或AZ幸量检漏试验条件Cl或CZ圭幸盖主E矩这验只适用于主才盖组主E2024 接密封面权确定相应扭矩要导瓷熔封管壳。部分组5 电参数ii:主E范Al,A2，程稳态寿命食约电参数王军A3分组直接采泪A组检验数据，读写主并记录不再另行现i试。本主军范A4,A5,A6A7,A8分运作标记稳态寿命1005 试验

41、条件D和C采用规范应4和图5温度125。E才陪glOODh 电参数本主军范Al,A2，和A3分组渎取并记录本主主范A4,A5,A5A7,A8分组作骂王记并计算A极有主B6分组15 电参数试验黎甜电参数可直接A3分组采用A组检验数据，不再渎军主并记录另行1运试。温度循环!Cl 过验条件C循环JOOE史。1宣定加速度2001 试验条件EYl方向。密圭于1014 主望检喜事试验条件Al或A2运检禄过验条件Cl或C2电参数本主主范Al,A2秸A3分组渎取并记录，作：标记，计算A极民主27 试验项目B7分组电参数静电放电灵敏度等级电参数试验项目方法Bl分组尺寸2016 B2分主主抗溶这2015 B3分经

42、可焊这2022或2。034分主主内部目检2014 和机械检奎B5分组键合强度2011 热压焊超声焊部分组电参数静电主主电GJB 灵1649 敏度等级电参数28 QJ 2835 9岳续表12-1方法剥条件（GJB548) 样品数说晓1f法条件（接收数或LTPD笙15,( 0) 本规范Al分组GJB1649 至少在初始鉴定或产品重新设计时送行。本主主范Al分运表12-2B级和Bl级器件8组检验方法和条件（GJB548) E级器件Bl级器件样品数i （接收数）条件方法条件或LTPD值！2/(0) 2015 i 4/(0) I 2015 15 ：结接温度z2口22或焊接温度245士51二2003 24

43、5土5X二l/(O) 7 1试验条件时DI试验条件C或D试验条件C或D这验条件C或D15（白）本主里范Al分组本主E范Al分组说明LPD系对寻l线数有言，被试苦苦件妻生应不少于3个。LPD系指键会数百毫言仅在苍苍始鉴定或产品重新设计时进行QJ 2835 9岳4.4.3 c级检验S级器件不要求进行C组检验。B级和Bl级器件的C经检验按本规范表口的规定。表l.lc组检验方法章白条件（GJB548) 试军主项目B级器件Bl级器件样品数说明接收数方法条俘方法条件或LPD值Cl分氢5 电参数本规范Al分组本规范Al分组稳态寿命1005 试验条件D或10白5试验条件D或采，电本规范罢H4试验条件C试验条件

44、C采F在本规范窗5温度，125温度z125 时lil!100他时闵z!OOOh 或试主主条件F或试验条件E采湾本规范留在终点电草草本规范Al和表z在统范Al和表试9L极限值。正主极限值eC2分组15 电参数本规范Al分组本规范Al分组温度循环1010 试驻条件C1010 试验条件C程定如速2001 试验条件E2001 试验条件E度YI方向YI方向密量才1014 1014 细检漏试验条件Al或试验条件Al或A2 A2 起检漏试主主条件Cl或试验条件Cl或C2 C2 目检接方法1010剖f量方法1010豹自检判努目检判据终点电测本规范Al和表本主翠范Al和表试百A极限值9L极限倍。4.4.4 D组

45、检验D组检验应按本规范表14的规定cDl,D2,D5,D6,D7和D8分组可采用罔一检验批中电性能不合格的器件作为样本。29 QJ 2835 96 表14D组检验方法和条件（GJB548) 试验项吕3级和E级器件Bl级器件祥品数说明（接收数）方法条件丁育法条件或LPD值Dl分组15 尺寸2016 2016 D2分组15 引线牢固2004 试主盘条件B22004 试验条f牛B24性工014密量才101岳试验条伶3恒检漏试验条件Cl或试验条件Cl或Al或A2户。09 四分组15 热J中击lOll 试验条件ElOll 试验条件A15次循环15次辛苦骂：温度循环1010 试验条件C1010 试验条件C

46、100次循环10次键环抗溜湿10白毛按规定1004 主主魏定Bl级器f寺允许按GB4590第密封1014 1014 15 3. 6条56d进行细检漏试验条件Al或试验条件Al或试验。A2 AZ 程检漏试验条件Cl或试验条件Cl或CZ CZ 层检按方法1004和接方法1004和1010 的吕检判据到10前百检我摇终点、宅lltlS级Al分组可在抗襟湿试试Al.AZ却A3分远主主廷和密封试B级z革盘前进行终点Al分运电参数没l试。30 QJ 2835 96 续表14D组检验方法和条件（GJB548) 试验项目S级租E级器件Bl级器件葬品数说明接收数方法条件方法条件或LTPDf主D8分组5/(0)

47、封盖握主E2024 仅适用于陶瓷熔2024 仅适用于陶瓷熔封扑壳主幸外壳4.5检验方法检验方法应符合本标准的规定。本规范绘出的或GJB548试验方法的试验电路均可使用，替代的试验电路应由鉴定机构批准。4.5.1 电压和电流所有绘出的电压均以受试器件的GND楼为基准，绘出的电流均以流入器件引出端时为正。4.5.2寿命试验冷却程序器件进行稳态寿命或老化试验后，应先将器件冷却至与室温下加电时的稳定温度之差不超过10对，才能去除偏置，然后进行25下测量。4. 6数据报告当采购文件有规定对，应提供下列数据的副本za. 所有筛选试验始特征数据（见本规范4.2条）和所有老化和稳态寿命试验的变化数据见本规范3.5条）0b. 每张X射线照片的拷贝（对5级h 质量一致性检戳数据（见本规范4.4条）; d 老化期间的参数分布数据见本规范3.5条）; e . 最后屯测试数据（见本规范4.z条。5 交货准备5. 1 包装要求包装要求应按GJB597第5.1条的规定。6说明事项6. 1订货资料32 订货合同应规定下列内容ga. 完