QJ 2831-1996 半导体集成电路.HCMOS与门和非门详细规范.pdf

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1、Q.J 中国航天工业总公司航天工业行业标准FL 5962 QJ 2831-96 半导体集成电路HCMOS与门和与非门详细规范1996-04-19发布1996-12-01实施中国黠天工业总公司发布目次I范围.“（1)1. 1 主题内容.”.H（1)1. 2适用范围“”.(1) 1. 3分类.”“.（1)2 引用文件.“.(3) 3要求.（3)3. 1 详细要求.”. (3) 3. 2设计结构和外形尺寸.”.“（3)3. 3 弓l线材料和涂覆.(6) 3. 4 电辛辛性.“.H”. . ( 7) 3. 5 电测试要求.”.;. (10) 3. 6标志“.H .”. 3 、二QJ 2831 ）岳3.

2、 2. 1逻辑符号、引出端排列和逻辑图逻辑符号按GB4728. 12规定逻辑符号、引出端排列和逻辑图应符合图11 1 3 的规定。引出端排列苍苍图按GB/T7092第4章麓定。a. JC54HCOG 1A & lY lA 1B 2Y ZA ZB 主一3Y 3A 3B 3B 4A 4Y 4A 4B 4B d.JC54日C豆。lA一& 、一）一一lYlA lC Z且1B lC 2B 2Y ID 2C 2A 3A 2B 3B 3Y 2C 3C 2D a JC54HCOO D、F、豆、Jll!flMHz,T . 25，VooOV 所有型号1口pF 传归输出由高电号LVoo4. 5V JC54日C号。2

3、1 输平主主j低电平CLSOpF JC54日C自337 廷TA二125JC54HC08 28 迟输出自低电t,rn 幸运试线路及输入、输出波于费医见JC54HC10 23 时平王军高电平图2JC54HC20 25 问JC54HC30 41 输出座高电it相nns 罄JC54丑C号。20 t斗凶子至3低宅平JC54HC03 22 转JC54丑C号820 换输出自低电h主EJC54日ClO20 目才子量j高电子JC54日C2020 间JC54日C3020 注1)完整的澳i斌条件；电表9。2）抬举泌试在Vnn4.SV、125下进行，筛运吉普试在Vw4.SV、25下进行，在美他V固和温度下约参数为保证

4、参数，不泌试s8 QJ 2831雪63）传输延迟时间和输出转换吉扣留在125、Vnn2V时，可按表到数值，乘以系数5。在125、Voo6V时，可按表?JJ数篷，乘以系数0.85，当V004.5V、TA=5525时，可按表列数值，乘以系数o.75. (a）测试纹路输入Vnn4 5V 绪已。Jil-J S 表混定D它TGND （的波君在Illt 输。vj tPHL : : :90%i- - F 一Fm ITLH 二二：弩梧输出反丰EV也因2开关时间测试线路和电压波形rn注z输入旅冲要求：脉冲幅度VM=Von士10%1占空比q=SO%事重复频率f=lMHz1 QJ 2831雪6上升时；写下烽lt.f

5、n写在不大于加s,9负载电容CL50pF士10%（包括探头及夹具电容。9被试苦苦停DUT，被翠i输入主肯接输入脉i中，非被主运输入主富接GND豆豆V四（按袤规定）；被到输出端接Cu$被视l输出揭开路，分别幸运量每个草草也端。3.5 电测试要求各级器件的电测试要求应为表8规定的有关分毯。各分短的电测试要求按表9规定迸行。表8电测试要求3级器件B级器件Bl级器俘项自分主E变化量分组变阵化量民主| 分组变化量（巳表9)极骂王（见表白（见表9)毅限中1可（老化建宅淑试Al Al Al 中i可静态老化IAl :, 老化后静态老化EAt IY Al 车？宅楼试动态老化Al I 6 Al I 6 最主要电到

6、试I、A3.A7、lI A2, A3, A7、A2、A3.A7、！A9 A9 A主主检验电视；试I Al. A2. A3. Al. A2. A3, Al. A2. A3. , A4、A7.A8、A4、A7、A8、A4、A7、A8、A9、AlO、AllA9、Ale、AllA9 E组检验电测试I Al、A2.A3I 6 Al Al C毯终点电流过ALA2.A3 i二Al.A2.A3 I 6幻D主呈终J震、电测试Al.A2.A3 Al.A2、A3A1,A2、A3注：1)该分组要求PDA计算（见第4.2条儿2）老化和寿命试验要求变化量卒）被j试，其辍限值应符合表16的娩定。3. 6 标志苦苦件标志应符

7、合GJB597第二条的双定。3. 7微电路短的划分本规范所涉及的器件应为GJB597附录E（补充件）规定的第36微电路组。10 QJ 2831-96 表9-1A组电漠i试条伶1呈范锺分组符号方法单位GB3834 若无其他规定，TA25它最小最大iAl V+ GB3439 GND竭开路，丰童出楼开菇，DD幸地，1. 5 2.1 被现输入端JlmA，非被据1输入撬开路。v v，气GB3439 GND端接地，输出撬开路，Voo开路；1. 5 2. 1 被剥输入端J，.lmA，非被浏善意入端开路。JDD 2 15 V即6V，输出楼开盖在0 2 .严A 所有输入端接Vrn6V或VcovVoH) 2. 7

8、 被视i输出端v.o. 3V, vDD二2V1. 95 Io20A 其他输出端开路Vc0.9V,Vno生5飞4.45 v，1.2V,Vnn在V5. 95 被测输出端Io4mA其VcO. 9V ,Foo4. 5V 3. 98 fiil输出生撞开路被割草告出端Io5. 2mA ，l. 2V,Yun6V 5. 48 ！其他输出端开路！飞r号OL)2.在；被测输出端Io20A其继Vcl. 5V,Fno2V 0. 05 输出主赛开路Vi二3.15V,Fno4. SV 0.05 V,4. 2V,Fnn6V 0. 05 i 被理t输出端Io4mA其悠y，3.15，Yuo4. 5V o. 26 i 输出革革开

9、路被割t输出主在Ios.2mA冥Vi二年2V.Yno6V0. 26 i 他输出楼开路I田2. 9 V即6V，被测草草入端接V四6V，其他辘入竭接ViLov.幸告出主意开路，分呈交祖母每个输入绩。J,L 2. 10 FDD6V，被浏输入端接V泣ov，其引运输入端接V旧6V,-0. l 较出端开路，分裂祖每个输入祷。I OS) GB3439 Foo4V，所有输入端接V曰4V，输出楼接泡。120 10 mA 2. 21 A2 r，.12sc，除V+YK不测外，所有参委主、条件同Al分毯。规范徨主主表6-1,A3 TA 55，除V、V化动态老试验条佯D不要求试验条件D或i化12军C;l92hEl25气

10、;160h 中间（老ft叫时表II Al分组和表16Al分组和表16中（6）极限与中（乌）极限中（6）极限后宅测试允许不合格5%, （其字功能4号5%,Al分理。10% ,Al分毯。8) 品率CPDAl失效应不超过：若来Ji乏，但不若来递过，但不计算3%),Al分毯。合格品率未起合格品率未超若未通过，但不过10%量才可重过20%时可重合格品率未超新老化后主是交霎新老化后提交，过10%1lt可重但只允许一次，但只允许一次，!If老化后提交E旦PDA加严为旦PDA损严为只允许一次，3%, ？抖。且PDA法严为3%. 最终宅渎试AL A2. A3. Al AZ、A3.Al. AZ. A3. 9) A

11、7、A9分组A7、A9分经A7、A9分组密封1014 1014 1014 (a）细检漏试验条件Al试验条伶Al试验条件也或AZ或A2或A2（粗检苦苦试验条件Cl试验条件Cl试验条件Cl或C2主主C2或C214 筛选项目X射线照相鉴定或费量一致性检革主样品的摇取外部过检方法！2012 5005 2009 5级器件条件和要求两个被11)3. 5条3. l条QJ 2831 96 续表10方法条件和要求也JB54别B级器俘Bl级器件方法条件和要求方法条件和要求不要求不要求5005 3.5条3. 5条2009 3. I条2日093. 1条注，1)抬举i渎主盘.B级，LTPD5,Bl,LTPD二7（均对键

12、合委主而言至少3个器件。2）用方法！Oll试验条伶A(l5次错环）替代。3）可在密封策选后送行线革开落、外壳破裂、封羞段落为失效。4）可在温度键环之后，中l泻老化后）电那试之前前任何工序遂行eu应在中到（老化前电测试之前在每个器件主编号e的主EAl分经测试，剔除不合格器件，并记录合格器件的jDD筐，7)Bl级器件，可按本规范003刽线路，在静态或动态中任边一种老化。说弱10) 8）用老化失效（包括超过Al分程规范值和A极泼的器件数，除l!1该老化批所提交器俘的总数，主E为该批的不合格品率，若不超过规定的PDA,;Jltl该校应接收。9）本Z要筛选后，若引线涂覆玫变或返工，应再进行Al分组或A2

13、,A7分主D测试。10）可在发货前按批进行。4.3鉴定检验鉴定检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本模范A、B、C、D和E组检捡（见4.4. 1 4. 4. 5条）的规定。4.4质量一致性检验质量一致性检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、8、C、D和E组检验（觅4.4. 1 4. 4. 5条的奴定。4. 4. 1 A组检验A主E检验应符合表11的规定。筛选及B、C、D、E组检验所要求的A组电测试，按表8的规定，各分组的具体电参数浏试按表9的规定。A组检验各分组的数Ii式可用同一样本进行。当要求的祥本大小超过批的大

14、小时，允许百分之百检验e各分组的测试可按任意顺序进行。合格判定数（c）最大为2。15 a.JC54HCOO 动态者化b JC54HC03 动态老化o. JC54HC08 动态老化d. JC54HCIO 动态者化16 Voo Von RI IA IY R2 Voo Voo QJ 2831 96 Von/2 静态老化Voo 静态老化Von 2 RI IA 静态老化Voo Vnn/2 2飞止Jlr is ，生Rl 2B Voo/2 静态老化Voo 2, RI IA11 s LRl 1B也主二H晶晶 Voo/2 IY R2 二2Y R2 一一一3Y R2 一-L二4Y R2 !Y R二Von/2 n

15、IY R2 2Y R2 3Y R2 一一一-c二R2 Voo/2 I, 1Y R2 2Y R2 一一-L二3Y R2 e. JCo4HC2D 动态老化Ven R2 R2 QJ 283196 静态老化Vnn/2 2 is 静态者化f. JC54HC3D 动态老化Vnn Vnn/2 2 is R2 图3老化和寿命试验线路图注：Vnn二6V;Rl4.7k口，RZlkil,动态老化脉冲发生器特性要求Vnn Vnn Vn.OO. 5V;Vm4. 5 6V ;fZ5kHz！MHz;占空比q50%；转换时间小于0.5s。静态老化a.静态老化I所有输入端通过电阻器Rl接地（开关s置“lb静态老化E2所有输入端

16、通过电阻器Rl接VnnC开关s置“2，位置）。Vnn/2 R2 RZ Vnn/2 R2 17 QJ 2831 96 表11A组检验（对所有等级）分组测试LTPD Al 25下静态2 A2 125下静态3 A3 55下静态5 A4 25下动态（Crl2 A7 25下功能2 AS 125和55下功能5 A9 25下开关（不测Crl2 Alo 125下开关（不测Cr)3 All 55下开关（不测Cr)5 注，）仅在初始鉴定或工艺、设t十改进时才进行该分组测试。4.4.2 B组检验B组检验应符合表12的规定。若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。不要求终点电测试的分组可采用同一检验批

17、中电性能不合格的器件作为样本。表121 S级器件B组检验方法条件和要求（GJB548) 样本大小接收数试验或说明方法条件和要求LTPD Bl分组内部水汽含量试验仅适物理尺寸2016 按规定2 (0) 用于陶瓷熔封外壳的器内部水汽含量1018 在100时最大水汽3(0）或5(1)件。先试验3个器件，若含量为5000ppm一个失效，再追加2个器件，不允许失效。B2分组B2分组的样品必须经过抗溶性2015 按规定4(0) B6分组的温度循环和恒内部目检和机2013 按规定或由订货合2(0) 定加速度试验。械检查或同规定合格判据2014 键合强度g2011 3 LTPD系对键合数而言，超声焊试验条件C

18、或D至少4个器件。芯片抗剪强度2019 按芯片尺寸确定合3(0) 格判据。18 QJ 2831-96 续表12一l方法条件和要求（GJB548) 样本大小接收数试验或说明方法条件和要求LTPD B3分组15 可焊性2003 焊接温度3LTPD系对引线数而言，或245士5至少3个器件。2022 B4分组2 (0) 引线牢固性2004 试验条件B2密封1014 (a）细检漏试验条件Al或AZ(b）粗检漏试验条件Cl或C2B5分组5 电测试AL A2, A3分组读可采用A组检验的数据，数并作记录。不另行测试。采用图3或稳态寿命1005 试验条件C其等效的试验线路。温度，125时间，lOOOh 电测试

19、AL A2, A3分组和应按4.5. 2条规定，冷却表1日的A变化量极后再作电测试。E目B6分组15 电测试ALA2、A3分组读可采用A纽检验的数据，数并作记录不另行测试，温度循环1010 试验条件C循环100次恒定加速度2001 试验条件EYl方向密封1014 (a）细检漏试验条件Al或A2(b）粗检漏试验条件Cl或C2电测试AL A2, A3分组读数并作记录B7分组3(0) 除非另有规定，试验至少电测试Al分组应对鉴定或重新设计的静电放电灵敏度GJB 器件进行。1649 电测试Al分组19 QJ 2831 96 表122 B级和Bl级器件B组检验方法条件和要求（GJB548) 试验E级器件

20、Bl级器件方法条件和要求方法条件和要求Bl分组物理尺寸2016 按规定2016 按规定B2分组抗溶性2015 按规定2015 按规定B3分组可焊性2022 焊接温度22022 焊接温度g或245士5或245士52003 2003 B4分组内部目检和机2014 按规定或由2014 按规定或由械检查订货合同规订货合同规定合格判据定合格判据B5分组键合强度2011 2011 超声焊试验条件C试验条件C或D或DBS分组电测试Al分组Al分组静电放电灵敏GJB GJB 度1649 1649 电测试Al分组Al分组4.4.3 C组检验B级和Bl级器件的C组检验应符合表13的规定。S级器件不要求进行C组检验

21、。表13C组检验方法条件和要求（GJB548) 试验B级器件Bl级器件方法条件和要求方法条件和要求Cl分组电测试Al, A2, A3 Al, A2, A3 分组读数并分组读数并作记录。作记录。稳态寿命1005 试验条件C试验条件C温度，25温度，25时曰：lOOh时间：lOOOh电测试Al, A2, A3 分组和表16来的福变化量20 样丰大小接收数或LTPD 2(0) 4(0) 15 3(0) B级，5Bl级，73(0) LTPD 5 说明LTPD系对引线3个数器而件言，至少LTPD系对键合数而言，至少4个器件。除非另有规定，试验至少应对鉴定或重新设汁的器件进行。说明可采用A组检验的数据，不

22、另行测试。采用图3或其等效的试验线路。应按4.5. 2条规定，冷却后再作电测试。QJ 2831 96 续表13方法条件和要求（GJB548) 试验B级器件Bl级器件LTPD 说明方法条件和要求方法条件和要求C2分组15 温度循环1010 试验条件C1010 试验条件C恒定加速度2001 试验条件E2001 试验条件DYl方向Yl方向密封1014 1014 (a）细检漏试验条件Al试验条件Al或A2 或A2Cb）粗检漏试验条件Cl试验条件Cl或CZ或C2目检按方法1010按方法1010的目检判据的自检判据终点电测试AL A2, A3 AL A2、A3分作记组录读。数并分作记组录读。数并4.4.4

23、 D组检验D组检验应符合表14的规定。DLD2,D5、D6、D7分组可采用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。表14D组检验（对所有等级）方法条件和要求CGJB548) 样本大小试验S级和B级器件Bl级器件接收数说明或方法条件和要求方法条件和要求LTPD D1分组15 物理尺寸2016 按规定2016 按规定D2分组15 引线牢固性2004 试验条件B22004 试验条件B2密封1014 1014 (a）细检漏试验条件Al试验条件Al或AZ或AZ(b）粗检漏试验条件CJ试验条件Cl或C2或C221 QJ 2831 96 续表14方法条件和要求（GJB548) 祥本大小试验5级和B级器件Bl

24、级器件接收数说明或方法条件和要求方法条件和要求LTPD D3分组15 热冲击1011 试验条件B1011 试验条件B至少15次循至少15次循町、环温度循环1010 试验条件C1010 试验条件C至少100次至少100次循环循环Bl级器件可按抗潮湿1004 按规定，片式1004 按规定，片式载体不要求载体不要求GB 4590验第替3. 6 引线弯曲应引线弯曲应条的试代，力的预处理。力的预处理。严酷度，D密封1014 1014 （时间，56d）。(a）细检漏试验条件Al试验条件Al或A2或A2(b）粗检漏试验条件Cl试验条件Cl或C2或C2目检按方法1004按方法1004可在抗潮湿试和1010的目

25、和1010的目检判据。检判掘。验后和密封性终点电测试AL A2, A3 AL A2, A3 检验前进行终分组分组点电测试。D4分组15 用在D3分组中机械冲击2002 试验条件B2002 试验条件A“热稳定性和抗变频振动2007 试验条件A2007 试验条件A潮湿”中的器件恒定加速度2001 试验条件E1010 试验条件D可用在D4分组Yl方向Yl方向的“机械试验”中。密封1014 1014 (a）细检漏试验条件Al试验条件Al或A2或A2(h）粗检漏试验条件Cl试验条件Cl或C2或C2目检按方法2002按方法2002和2087的目和2007的目检判据。检判据。终点电测试AL A2、A3AL

26、A2、A3分组分组22 QJ 2831 96 续表14方法条件和要求CGJB548) 样本大小试验5级和E级器件Bl级器件接收数说明或方法条件和要求方法条件和要求LTPD D5分组15 Bl级器件若要盐雾1009 试验条件A求，可在订货舍同中规定。方法密封1014 要求条件同B(a）细检漏试验条件Al级器件。或A2(b）粗检漏试验条件Cl或C2目检按方法1009的目检判据D6分组3(0) 当试验3个器内部水汽含量1018 在100时最或件，若一个失效大水汽含量5(1) 再加试2个器为，5000ppm件，试验不失效贝Ll通过。若第次及追加试验来通过时，可在鉴定机构认可的另一试验室进行第二次试验，

27、若第二次试验通过，则该批器件应接收。D7分组15 引线涂覆粘附强2025 按方法20252025 按方法2025度第3.1条的第3.1条的失效判据。失效判据。DB分组5 (0) 仅适用于陶瓷封盖扭主E2024 按规定2024 按规定熔封的外壳。4.4.5 E组检验E组检验应符合表15的规定。E组检验不合格的器件不得作为被试RHA等级的器件，但可用作非RHA器件用，当器件符合较低等级要求时，也可作为较低等级的RHA器件。23 QJ 2831 96 表15E组检验方法条件和要求CGJB54的样本大小接收数试验方法条件和要求S级B级和Bl级E2分组试验前电测试按本规m:4. 5. 4条稳态总剂量辐射

28、1019 TA253最大电源电压。(a）鉴定检验(a)4(0) Call5(0) (b）质量一致性检(b)4(0) (b)ll(O) 验终点电视l试按表日的ALA7、A9和表17的规定。注g）抽样方法按GJB548方法5005表V的规定。4.5检验方法4.5. 1 电压、电流检验中规定：所有给出的电压均以器件GND端为参考点；电流以流入器件引出端为正。4.5.2老化及寿命试验的冷却过程在老化或寿命试验完成之后，去掉偏置电压之前，器件必须冷却到25土3，然后即可进行最终电参数测试。在老化或寿命试验前后应对表16中规定的参数进行测试并记录，以得出其变化量（.6）。参数静态电源电流表1625下变化量

29、（.6）极限符号Ion 器件型号所有型号变化量（6）极限土60nA4.5.3 静态电源电流(IDD ）的测试进行静态电源电流测试时，电表的安置应使全部电流流过该电表。4.5.4辐射强度保证CRHA）试验MOS器件的RHA试验应按GJB548方法5005表V和本规范表15的规定抽样进行。试验应遵循以下事项a. 试验前，应抽取在Al分组中电测试合格的样品，并按表17进行阂值电压（Vn-r, Vrp）的测试，以便试验后计算阂值电压的变化量C.6Vm,.6VTP）。阂值电压的测试线路和测试条件按图6和表17的规定。Bl级器件的阂值电压也可采用GJB548方法1022，在实测Icn的基础上增加lOA（电

30、流增量法），分别测出VTN、VTPo样品应放在合格的包装中；b. 为确定器件的RHA等级，器件应经受GJB597中规定的总剂量辐射。辐射期间器件应按表19的规定加偏置电压，且在整个过程中始终保持偏置；c. 辐射后，器件应进行原位测试或移位测试。移位测试时，器件应使用可移动夹具，并按规定保持其温度和偏置。移动偏置装置时，偏置的中断时间不得超过lmin;d. 辐射后，器件应在25下进行终点电测试，其电参数应符合表18的规定。器件的24 QJ 2831 96 功能应符合表5的规定。终点电测试应在辐射后2h内完成。(a) N沟测试5 6 (b) P掬测试DUT 13 12 11 10 到接表17规定的

31、引出端接表17规定的引出端接表17规定的引出端接表17规定的引出端图4淘值电压测试线路5V 一10,A地-5V lOpA 地25 QJ 2831 96 表17阂值电压测试条件Vw测试引出端连接VTN测试引出端连接器件型号地5V -lOA 地-5V JC54HCOO 2 1,14 4,5,7,9,10,12,13 2 4,5,7,9,10,12,l3 JC54HC03 2 1,14 4,5,7，日，10,12,13 2 4,5,7,9,10,12,13 JC54HC08 2 l.14 4,5,7,9,!0,12,13 2 4,5,7,9,10,12,13 JC54HC10 2 l.13,14 3

32、,4,5,7,9,10,11 2 3,4,5,7，日，10,11JC54HC20 2 1,4,5,14 7，日，10,12,132 7,9,10,12,13 JC54HC30 2 1,3,4,5, 7 2 7 6,11,12, 14 注1)测试时所有输出端开路；给出的引出端号均指D型封装。表18辐射期间的偏置引出端连接器件型号4. 5V（通过3060k.O电阻器）GND JC54HCOO 1, 2 ,4, 5 9,1012, 13 7 JC54日C031,2,4,5，日，10,12,137 JC54HC08 1,2,4,5，日，10,12,137 JC54HC10 1,2,3,4,5，日，1日

33、，11,137 JC54HC20 1,2 ,4,5, 9, JO, 12 ,13 7 JC54HC30 l,2,3,4,5,6,ll,l2 7 注I)测试时所有输出端开路，给出的引出端母均指D型封装。表19辐射试验终点电测试参数表（TA二25C)是 数VTH VTP 6VT I iPLH 4.6 数据报告26 测试条件Vrn 5 5 5 6 4. 5 4. 5 范围最小最大0 3 2.8 l. 0 100最大规范值1. 35最大规范值l. 35X最大规范值lOA 1,14 j ,14 1,14 1,13,14 1,4,5,14 1,3,4,5, 6,11,12, 14 4. 5V 14 14

34、14 14 14 14 单位v v A ns QJ 2831 96 当订货合同有规定时，应提供下列数据的副本ga. 所有筛选试验的特征数据（见4.2条）和所有老化和稳态寿命试验的变化量数据（见3.5条hb. X射线照片（如适用）； 质量一致性检验数据（见4.4条）；d. 老化期间的电参数分布数据（见3.5条he. 最终电测试数据（见4.2条）。5 交货准备5. 1 包装要求包装要求按GJB597第5.1条的规定。6说明事项6. 1 订货资料订货合同应规定下列内容：a. 完整的器件编号（见第1.3. 1条）; b. 需要时，对器件制造厂每次交付的器件，需提供相应检验批的质量致性检验数据的要求；c

35、. 需要时，对合格证书的要求号d. 需要时，对产品或工艺更改情况，除了通知鉴定机构外还要通知订货单位的要求ze. 需要时，对失效分析（包括GJB548方法5003要求的试验条件）、纠正措施和结果提供报告的要求；f. 对产品保证选择的要求；g. 需要时，对特殊载体封装、引线长度或引线形式的要求gh. 对认证标志的要求；i. 需要时，其它要求。6.2缩写词、符号和定义本规范采用的缩写词、符号和定义均符合GB3.431. 1、GB3431. 2、GB4728和GJB597 的规定。6.3 替代性本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件。普通工业用器件在军用温度范围内不具有与军用器件等效的工作性能和

36、特性，即可靠性不同于军用器件。因此，不允许用普通工业用器件替代军用器件。6.4操作器件必须采取防静电措施进行操作。推荐下列操作措施；a. 器件应在防静电的工作台上操作；27 QJ 2831 96 b. 试验设备和器具应接地；c. 未采取静电防护措施不得触摸器件引出端；d. 器件应存放在导电材料或导电材料制成的容器中ze. 生产、测试、使用以及传递过程中，器件所在区域内应避免使用能引起静电的塑料、橡胶或丝织物；28 f. 若可行，相对湿度应保持在50%以上。附加说明：本规范由中国航天工业总公司七O八所提出。本规范由中国航天工业总公司五院、七。六所、七七一所负责起草。本规范主要起草人g余振醒、薛仁经、吴志字、卡宗义、王增福。叫WA机4【问N。中国航天工业总公司航天工业行业标准半导体集成电路HCMOS与门和与非门详细规范QJ 2831 96 中国航天工业总公司第七O八研究所出版发行七O八所排版印刷1996年11月出版定价7.75元