GB T 7234-2004 产品几何量技术规范(GPS)圆度测量 术语、定义及参数.pdf
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1、ICS 17.040.20 J 04 华2004-11-11发布GBjT 7234 2004 代替GB/T7234-1987 现|Geomerical Produc SpecificationsC GPS)一Measuremen of roundness一Terms, definitions and parameters of roundness 2005-07-01实施.飞、/ , 中华人民共和国国家质量监督检验检菇总局中国国家标准化管理委员会发布一一一一一-一一本标准是对GB/T7234-1987(圆度测量术语、定义及参数标准的修订。本标准与GB/T7234一1987相比主要变化如下s一一
2、给出了标准的适用范围,使标准更完善。GB/T 7234-2004 一-标准的技术内容与产品几何技术规范(GPSl标准体系协调一致。如对国标中的轨迹轮廓、实际轮廓、滤波器波数范围等术i吾定义作了相应的修改。一在标准编写格式上按新的GB/T1. 1的规定作了相应的修改。本标准附录A为资料性附录。本标准由全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位g机械科学研究院、北京计量科学研究所。本标准主要起草人2王欣玲、陈月祥、吴迅。本标准于1987年2月首次发布。I J 2 范围产品几何圄度测术规范CGPS)术语、定义及参本标准规定了有关困度测量的术语、定义及参数。本标准适用于确定圆
3、度误差的计量学术语.附录A给出了测量过程图例和坐标系统。规范性引用文件GB/T 7234-2004 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本.凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T 3505-2000产品几何技术规范表面结构轮廓法表面结构的术语、定义及参数(eqvISO 4287: 1997) GB/T 6062 2002 产品几何技术规范(GPS)性(eqvISO 3274 ,1 996) GB/T 18777-
4、2002 性(eqvISO 11562: 1996) 3 一般术语产品几何技术规范(GPS)表面结构表面结构轮廓法接触(触针)式仪器的标称特轮廓法相位修正滤波器的计量特由GB/T3505、GB/T6062和18777标准确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3. 1 -般术语3. 1. 1 实际表面real surface 物体与周围介质分离的表面。3. 1. 2 名义回转轴线nominal axis of rotation 仪器主轴回转的理论轴线。3. 1. 3 瞬时回转轴线instantaneous axis of rotation 在任意瞬间仪器主轴实际的回转轴线。3. 1. 4 基准回
5、转轴线reference axis of rotation 仪器主轴各瞬时回转轴线的平均轴线.3. 1. 5 瞬时回转误差instantaneous e0 of rotation 由于瞬时回转轴线和基准回转轴线位置间的差别而产生的误差。注.仪器的回转误差可包括径向、轴向及倾斜误差分量。1 GB/T 7234-2004 n m nu mH d个回一归的ha线m轴回转回回义面名平器量仪测于义直6名垂qiw 3. 1. 7 测量平面plane of me阻unllent垂直于仪器基准回转轴线旦通过仪器触头与零件接触点的平面。3. 1. 8 测量方向direction of measurment 确定
6、零件轮廓径向变化量的方向,该方向与仪器回转轴线大致相交,且通常位于测量平面内。3. 1. 9 零件轴线axis of workpiece 假定零件相应部分围绕其旋转的给定直线(见图A.2)。注2零件轴线可以用以下几种拟合方法z1) 对零件的提取中心线按最小区域拟合得到的轴线。对零件的提取中心线按最小二乘拟合得到的轴线.通过相离的两个给定横截面的拟合圆心的一条直线.通过个给定的横截面的拟合圆心,且垂直于给定轴肩的一条直线.通过两支承中心的直线,该直线与零件表面无关.2) 3) 4) 5) 3. 1. 10 安装偏心setting-up. eccentricty 在测量平面内,零件轮廓拟合圆心相对
7、于仪器基准回转轴线与该平面交点之间的距离。3. 1. 11 仪器放大率faclor of amplificalion 仪器输出量与测量方向上仪器触头的位移量之比。3.2 轮廓3.2. 1 实际轮廓real profile 垂直于圆形零件轴线的平面与零件实际表面相交所形成的轮廓。3.2.2 轮廓转换profile Iransformalion 在测量过程的任一阶段(如g触针滑移、滤泼、记录等)预期地或非预期地导致轮廓表面形式产生的过程。3.2.3 轨迹轮廓traced profile 测量表面时,触头在被测表面的横切面内触头中心点的轨迹,这个触头具有理想的几何形状(带有球形尖端的困锥体)、标称尺
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