GB T 6609.3-2004 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 钼蓝光度法测定二氧化硅含量.pdf

《GB T 6609.3-2004 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 钼蓝光度法测定二氧化硅含量.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《GB T 6609.3-2004 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 钼蓝光度法测定二氧化硅含量.pdf（4页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、GB/T 6609. 3-2004 前言GB/T 6609-2004分为29部分，本标准为第3部分。本标准是对GB/T6609. 3-1986(氧化铝化学分析方法铝蓝光度法测定二氧化硅含量的修订。修订的内容是:为适应氧化铝产品质量的变化情况，将方法的测定范围由原来的0.01%0.30%修订为O. 005%0. 30%.并相应修订了允许差。为简化操作手续，增加了抗坏血酸作为第二种还原剂。本标准非等效采用I501232 :1976(主要用于铝生产的氧化铝硅含量的测定锦蓝光度法).主要技术差异如下:-一将国际标准中关于试样的分解，称样5g于大铅皿中用碳酸销和唰酸熔融，制成250mL或500 mL酸性

2、试液从中分取测定，修改为称样0.5g 1M成100mL试液，熔剂和酸化试剂不变，用量相应缩减。国际标准控制显色酸度pH为O.850. 90.是在pH计指示下，测定每份试液的加酸量，然后另外分取试液按所测定的加酸量加酸显色。本部分通过试验采用固定加酸量的方法控制显色酸度，省去了用pH汁逐个测定加酸量的手续。显色剂硅锢酸的显色速度和稳定性与温度有较大影响，国际标准规定了温度18C35.C时的显色时间，修改后只规定了温度20.C25C时显色时间为10min-15 min。-一一磷饥共存时，由于形成磷饥铝酸产生正干扰，方法原理类似I501232，1976加了注明。本标准自实施之日起，同时代替GB/T6

3、609.3-1986。本标准由中国有色金属工业协会提出。本标准由全国有色金属标准化技术委员会归口。本标准由中国铝业股份有限公司郑州研究院、中国有色金属工业标准计量质量研究所负责起草。本标准由中国铝业股份有限公司山东分公司起草。本标准主要起草人:陈金魁、裴存燕、屈谓年、冯志好。本标准由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:GB/T 6609. 3-1986. 1 范围氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法锢蓝光度法测定二氧化硅含量本标准规定了氧化铝中二氧化硅含量的测定方法。本标准适用于氧化铝中二氧化硅含量的测定。测定范围:0.005% O. 30%。2 方法原

4、理GB/T 6609. 3-2004 试料用碳酸销珊酸熔融，将熔融物用硝酸溶解后，在pHO. 800. 85的硝酸介质中，使硅酸与铝酸形成硅铝杂多酸。然后，在酒石酸-硫酸介质中，用氨基磺酸或抗坏血酸选择还原为硅铝蓝。于分光光度计波长815nm处，测量其吸光度，借以测定二氧化硅量。磷、饥共存(V20S+P205) ,; 0. 02% (质量分数)时对测定无影响。3 试剂3.1 棚酸z优级纯。3.2 碳酸纳.无水，优级纯。3.3 硫酸(1十1)。3.4 硝酸:(3.00 mol!L)。3.5混合酸z称取33.0g酒石酸溶于水中，加水至60mL，混匀(必要时过滤)。加硫酸(3.3)至1 000 mL

5、.混匀。如溶液发黄需另配。3.6 锢酸镀(NH)6Mo，O，4H20J溶液(100g/U必要时过滤，如沉淀较多需重配。贮存于聚乙烯瓶中。3.7 还原剂3.7.1 还原剂一，氨基磺酸溶液:将7.00g元水亚硫酸销溶解于50mL水中，加入1.50 g 1氨基-2-荼盼4磺酸(C，O比NO，S)，搅拌使之溶解。在另一烧杯中，将90.00g无水偏重亚硫酸钩(Na2S，05)溶解于900mL水中。将两种溶液合并.并稀释至1000mL.混匀。使用前用慢速定量滤纸过滤。此溶液低温避光贮存于聚乙烯瓶中，可稳定20夭。3.7.2 还原剂二，抗坏血酸C6H806J溶液(20g/U:使用时配制。3.8 二氧化硅标准

6、贮存溶液s称取0.5000g基准试剂二氧化硅【预先用玛淄研钵研细，于1000C灼烧2 h.置于干燥器(4.6)中冷却至室温J.置于销增揭中.加入5.0g碳酸锅(3.2).搅匀，再覆盖0.5g.盖上培塌盖，置于950C离渥炉中熔融12min，取出稍冷。加入热水，低温加热待熔块松动后，将溶液和熔块移入聚囚氟乙烯烧杯(4.3)中，用热水充分洗净增塌和盖。将烧杯置于电热板(4.4)上，加热至熔块全部溶解后，取下冷却至室温。将溶液移入预先加有约600mL水的1000mL容量瓶中，用水稀释至刻度，混匀，立即移入聚乙烯瓶中保存。此溶液1mL含0.5mg二氧化硅。3.9 二氧化硅标准溶液z移取25.00mL二

7、氧化硅标准贮存溶液(3.的于500mL容量瓶中，用水稀释至刻度，混匀，移人聚乙烯瓶中。此溶液1mL含25问二氧化硅。使用时配制。3.10 基体溶液2称取13.0g碳酸锅(3.2)缓慢加人预先盛有253mL硝酸(3.4)的1000 mL烧杯中，加入36.8g硝酸铝Al(NO，)， 9H20J、5.0g棚酸(3.1).加水至约500mL.加热煮沸，滴加高锺酸饵GB/T 6609.3-2004 溶液(1.0g/L)至呈明显的红色并在2min内不褪色，再过加2滴，加热至红色褪去。冷却后用水稀释至1000mL，混匀。用中速定量滤纸过滤后备用。4 仪器、装置及器具4.1 铅捕病:30mL，带盖。4.2 高

8、温炉，1OOOC土20C.4.3 聚囚氟乙烯烧杯:150mL.带盖。4.4 电热板:用调压器控制加热温度不高于250C.4.5 分光光度计。4.6 干燥器:用活性氧化铝作干燥剂。4.7 烘箱:300C土10C。5 试样5.1 试样应通过0.125mm孔径筛网。5.2 试样预先在300C土10C烘干2h.置于干燥器(4.6)中，冷却至室温。6 分析步骤6.1 试料称取。.5000日试样(5).精确至0.0001 g. 6.2 自由l定次数独立地进行两次测定.取其平均值。6.3 空白试验随同试料做空白试验。6.4 测定6.4.1 将试料(6.1)置于锦增塌(4.1)中，加入0.50g跚酸(3.1)

9、和1.30 g碳酸销(3.幻，用铅勺搅匀，盖上站揭盖，置于约700C的高温炉(4.2)中，升温至1OOOC土20C熔融20min，取出稍冷。空白试验直接在1OOOC熔融2min-3 min后，取出稍冷。6.4.2 向增塌中加入沸水，加热至近沸使熔块全部溶解，将溶液移入预先盛有22.3mL(空臼试验则为12.6 mL)硝酸(3.4)的150mL聚囚氟乙烯烧杯(4.3)中，均揭用热水冲洗两次，用聚四氟乙烯棒搅拌使沉淀尽量溶解，柑城和盖用3.0mL硝酸(3.4)和热水充分洗净，洗涤液并人烧杯中，盖上表皿，置电热板(4.4)上加热至沸，待沉淀完全溶解后，取下，置冷水槽中冷却至室温。将溶液移入100mL

10、容量瓶中，用水洗净烧杯，洗涤液并人容量瓶中，并用水稀释至刻度，混匀(此溶液也可用以测定氧化铁含量).6.4.3 分取25.00mL试液于100mL容量瓶中，加入2.4mL硝酸(3.4) 如试样中二氧化硅大于0.12%时，分取10.00mL试液，加3.5mL硝酸(3.4).对应做空白试验.用水稀释至约60mL，混匀。6.4.4 向容量瓶中加人5.0mL铝酸镀溶液(3.的，用水冲洗瓶颈，并使体积为70mL. lt匀。于20C25C放置10min-.15 min，加入15.0mL混合酸(3.5).混匀，立即加入4.0mL氨基磺酸溶液(3.7. 1)或5.0mL抗坏血酸溶液(3.7.2).用水稀择至刻

11、度，混匀，放置10mino 6.4.5 将部分溶液移入1cm2 cm吸收池中，于分光光度计波长815nm处，以水为参比，测量其吸光度。注亦可用2cffi-3 cm吸收池，于波长700nm处测量其吸光度。6.4.6 将所测得试料溶液的吸光度，减去随同空白试验溶液的吸光度后，根据试料溶液的分取量，从对应基体溶液体积的工作曲线(6.5.1)或(6.5.2)上，查出相应的二氧化硅量。GB/T 6609.3-2004 6.5 工作曲线的绘制6.5.1 移取0，1.00 , 2. 00 , 3. 00 , 4. 00 , 5. 00 , 6. 00 , 7. 00 mL二氧化硅标准溶液(3的，置于一组预先

12、加人25.00mL基体溶液(3.10)的100mL容量瓶中，用水稀释至约60mL，以下按6.4. 46. 4. 5进行。将测得系列标准溶液的吸光度，减去试J空白溶液的吸光度，以二氧化硅量为横坐标，吸光度为纵坐标，绘制工作曲线。6.5.2 移取0，1.00 , 2. 00 , 3.00, 4. 00 , 5. 00 , 6.00, 7.00 mL二氧化硅标准溶液(3.9)，置于一组预先加入10.00mL基体溶液(3.10)的100mL容量瓶中，用水稀释至约60mL，以下按6.4. 46. 1. 5进行。将测得系列标准溶液的吸光度，减去试剂空白溶液的吸光度，以二氧化硅量为横坐标，吸光度为纵坐标，绘

13、制工作曲线。7 分析结果的计算按下式计算二氧化硅含量四(SiO，)(%)，式中:。iO，)一旦己L一寸X100 &0 V , X 1 m, 自工作曲线上查得的二氧化硅质量，单位为微克(g), mo 试料的质量，单位为克(g)，V , 分取试液的体积，单位为毫升(mL)，Vo 试液的总体坝，单位为毫升(mL)。8 精密度8.1 重复性在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果的绝对差值不超过重复性限(r)超过重复性限(忖情况不超过5%，重复性限(r)按以下数据采用线性内插法求得zw(SiO,)(%) 0.0202 0.0752 0.1282 重复性限r(%)0.0008 0.0024 0.0013 8.2 允许差实验室之间分析结果的差值应不大于表1所列允许差。亵1% w(Si02) 允许差o. 005 OO. 0100 0.003 5 0. 0100. 030 0.005 0. 0300. 060 0.007 0. 0600. 100 0.010 0. 1000. 150 0.012 0. 1500. 300 0.016 9 质量保证和控制应用标准样品或控制样品，每月至少对本标准的有效性校核一次。当失效时应找出原因、纠正后重新进行校核。