GB T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分 分立器件和集成电路总规范.pdf

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1、JCS 31. 080. 01 L 40 中华人民共和国国家标准GB/T 4589. 1-2006/IEC 60747-10: 1991 QC 700000 代替GB4589.1-1989 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范Semiconductor devices-Part 10 :Generic specification for discret垂devicesand integrated circuits OEC 60747-10:1991,IDT) 2006-10始发布2007-02-01实施中华人员共和国国家质量重督挂验捡襄总局也古中国国家标准化苦理委员会。叩GB4589

2、. 1-2006/IEC 60747-10, 1991 E次言言.凰. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . I 1 范围2 总到lj.a . 1 2. 1 优先颊序2. 2 有关文件，.12. 3 单位、符号和术语，.2 2. 4 电压、电流和温度的优先值.2 2. 5标志.2 2. 6 质量评定类别.3 2. 7 潇选. . . . . . . . . . . . . . . . . . 3 2. 8 注意事项，川，.3 3 质量评定程序.3 3. 1 鉴定批准的资格. . . . . . . . . . . 3 3. 2 商业保密信息

3、OO000000 OO 000 . 0000 O OOOH 000000 000000 000 . 4 3. 3 检验批的构成.，量.43. 4 结构相似器件，.川，. . . . . . . . . . . . . . . . . 4 3. 5 鉴定批准的授予.43. 6 质量一致性检验.，.4 3. 7 统计抽样程序.，.，63. 8 规定LTPD树的磁久性试验. . 7 3. 9 规定失效率时的耐久性试验.7 3. 10 加速试验程序.，.8 3. 11 能力批准.10 4 试验和测试程序. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

4、. . . . . . . . . . . . . .羽毛1电测试和光溅试的标准大气条件.”2 破坏位试验定义，.HO. . . . . . . . . . . . . . . . . 16 3 物理检查.，.16 4. 4 电测试和光溅试.17毛5环境试验.44. 17 附录A愣范性附录批允许不合格品率（LTPD）捻样方案，.18 附录B（规范住宿录需检查的尺寸. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23 附录c（窥范性附录机械试验刻力的方向，.25附录D（资料性摘录）按ppm（百万分

5、之一评份质量水平. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27 附录NA（资料性附录）本标准对！EC60747 10，回到所傲的编辑性修改和原因.30 GB/T 45日旦1-2006/IEC6日747-10,1991 前本部分是半导体器件系列国家标准之一e下面列出本系列己出版的医家标准一GB/T12560 199 半导体器件分立器件分规范一GB/T17573 1998半导体器件分立器件和集成电路第1部分z总则一GB/T4台23一1997半导体器件分立器件积集成电路第2部分z整流二极管GB/T 6571-1995半

6、导体器件分立器件第3部分信号（包括开关和满整二极管GB/T Z台516-200在半导体器件分立器件第4部分：微波器件GB/T 15291一19但半导体器件第6部分3品凋管一一GB/T4587 1994半导体器伶分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管GB/T 4586 1994半导体器伶分立器件第5部分z场效应晶体管GB/T 16464 1996半导体器件集成电路第1部分z总则GB/T 17574 1998半导体器件集成电路第2部分工数字集成电路GB/T 17940 20号。半导体器件集成电路第3部分z模拟集成电路GB/T 12750 1991 半导体集成电路分规范不包括混合电路GB/T 8吉7

7、61996 膜集成电路和混合蹊集成电路总规范GB/T 11498 1989 摸集成电路和混合摸集成电路分规范采用鉴定批准程序）GB/T 16465 1996 草草集成电路和混合旗集成电路分规范（采用能力批准程序）本部分等同采用IEC60747 10,199l(QC 700000）半导体器件第10部分2分立器件和集成电路总统范只英文版入同盟才将下列三个修改单的有关内容纳入其中zAmendemen乞(199502);Amendement 2(1996号2);Amendemen乞30996OSL 本董事分代替GB4589.1 198到半导体器件分立器件和集成电路总统范）0 本部分与GB/T4589.

8、 1 1989相比，主要变化如下2. 1条优先顺序中“空白详细规范”排在了“族规范”之前；2. 2条有关文件中翻徐了与IEC147、IEC148有关的标准，增加了！EC60747-5,1984、！EC6074711,1985、IEC60748 1,1984,IEC 60748 2,1985、！EC60748 3 ,1986、IEC60748-11, 1990 等有关标准，同时ISO2015, 1976被ISO86号1,1988替代.ISO 100台的年代号更新为1981,ISO 2859的年代号更新为1989;增刻了2.8“注意事项”的内容；增刻了3.10“加速试验程序”、3.11能力批准”和

9、4.2“破坏性试验的定义”等极关内容：增刻了附录DC资料性附录沪按ppm（百万分之评价质量水平”；对第3.9. 5 1)的内容进行了变更；对第4章“电测试”内容进行了调整，本章内容也适用于光测试，困此该章所有“电测试，改为“电测试和光测试”；对第4章中王文参考的标准，如IEC创7472、!EC60747号，本部分删除该标准号及其相关内容：附录B“需检查的尺才”中xt集成电路部分进行了调整3本部分之2有关文件中与IEC标准相对应等同采用的国家标准是：I GB/T 45吕立1-2006/IEC60747-10, 1991 !EC标准编号国家标准综号!EC标准编号国家标准编号!EC 60068 l

10、, 1988 GB2421 1999 IEC 60747 1,1983 I GB/T 17573-19始IEC 6006岳21,1990 GB2423. I 2001 IEC 6074 7 11, 1985 i GB/T 12560 1999 !EC 60068-2 2:1974 GB/T 2423. Z 2001 !EC 607 48 1 :1984 GB/T 16464 1996 IEC 600617-12,1991 Gl主.T4728. 12 1996 IEC 67482:1985 GB/T 17574 1998 !EC 600617-13,1993 GB/T 4728. 13 1996

11、 IEC 607483,1986 i GB/T 17940-2000 本部分对！EC60747 10,1991的编费性修改意见见影录NA。本部分的附录A、附录8和附录C是规范性附录，附录D、附录NA是资料位附录。本部分由中华人民共和国信息产业部提出。Il 本部分由全国半导体器件标准化技术委员会归口。本部分起草单位z中国电子技术标准化研究所（CESI)窑本部分主要起草人2罗发明、陈裕昆、金毒草娃。GB4589. 1-20在6/IEC60747-10, 1991 半导体器件第10部分z分立器件和集成电路总理范1 范围本规范构成国际电工委员会电子元器伶质量评定体系。ECQ）弱一部分。本规范是半导体器

12、件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定韵总程序，并绘出了下述方窝的总原则z电特性测试方法g气候和机械试验g一一革时久？主试验a这：当存在已数准的、适用于特定的一种或几种器件类型的分规范、族规范和空白详继续范时，必须用这些短范辈补充本主里范。2总JJ!IJ2. 1 优先额序当出现矛盾的要求时，各种文件应按以下权限额序簿尹rj,1) i羊细奴范42) 空白详细规范；3) 室主规范（若存在时h4) 分规范s5) 恙、规范6) 基础幸运范；7) IECQ程序规则：8l 需要参考的其他恿际文件，如IEC文件29) 主墨家文件。同样

13、的优先顺序也适用于等效的窗家文件。2.2 有关文件详级主军范Iii.指出适用的文件2!EC标准：!EC 60027 电工技术中使用剖文字符号IEC 6白050国际电工技术词汇。EV)!EC 6006邑基本环境试验规程!EC 60068 1,1988第1部分总郑和寻到!EC衍。682 第2部分z试验!EC 6白白191半导体器件的机械标准化!EC 6号。191-1,1966第1部分半导体器件的J图及其补充IEC 60191 2，四66第2部分z尺寸及其补充IEC在01913 ,1974 第3部分s集成电路外形图绘销部一毅规则GB/T 4589. 1-2006/IEC 60747-10, 1991

14、 及其补充TEC 60410 ,1973 计数检查撼祥方案和程序!EC 60617 示图中的图形符号JEC 60747半导体器件分立器件和集成电路JEC 60747 1,1983 第1部分2总贼JEC 6台7475,1984第5部分光电子器件!EC 607 4 7 11 ,1985 第11部分3分立器件分规范!EC 60747-12/QC 72在100,1991半导体器伶第12部分g光电子器件分规范!EC 60748半导体器件集成电路!EC 60748-1, 1984 第1部分总JI!EC 60748-2 ,1985 第2部分z数字集成电路!EC 60748 3,1986 第3部分z模拟集成电

15、路!EC 607 48 11 ,1990 第11部分：半导体集成电路（不包括混合电路分辈辈范!EC 60749半导体器件机械和气候试验方法!EC QC 001002, I 986 IECQ程序规则ISO标准ISO 1000, 1981 国际单位（SD和推荐使用的目标单位剖组合及其他单位ISO 86在1,1988 数据元和交换格式一信怠交换一一日朗和时伺表示法ISO 2859 ,1989 计数检查抽样程序2.3 单位、符号和术语单位、图形符号、文字符号和术语应尽可能从下列标准中选取：ISO 1000 !EC 60号27!EC 6号050IEC 60617 执行本总短范的某矜半导体器件所辛辛有的其

16、他单位、符号和术语，应取自有关的JEC或ISO标准（觅2.2）或根据上述标准剖原型tl导出。2. 4 电压、电流和温度的优先锺屑于电特性测试、试验和工作条件的电压、电流和温度的优先值，见！EC60747 1积！EC创748L 2.5标志主a) 器件上的标志当面积许可对，应在器件上标出以下标志21) 引出端识到j标志见2.5. 1); 2) 型号（觅2.5. 2）、质量评定类JJJJ（见2.6）和适用时的筛选序列（见2.7); 3) 锁造商名称、起首字母或商标和适用时治工厂识别代码（兑2.5.3);4) 检验批识到代码见2.5. 4); 5) 知不采用合格认证标志，就应有合格标志，们适用时标出特

17、殊注意事项。当面积不允许全部辛辛出时，详细规范应按上述优先顺序绘出最低要求。讪初始包装上的标志以下标志应出琛在作为交货时灼最初保护或包装豹初始包装物上21) 除寻itll端标志之外的2.5 a) JiJT列的全部标志；2) 详细规范号zGB/T 4589. 1-2006/IEC 60747-10, 1991 3) 特殊注意事项，例如警告标记等。2. 5. 1 引出端i.RJ（参照！EC60747 1第百章幻在详级规范中i;.r参照规定的外形或底座回去重定引出端豹识到e2. 5. 2 型号各称当在器件上标志型号对，最好以字母和数字表示，或当详细规范有短定时用色标表示。色标可以在分规范中绘出。2.

18、 5. 3 和j造商名称或商标如果制造离名称或商标不能追溯到制造厂，则应采用剥造厂识到代码。2. 5. 4 检验批i,lJJIJ代码检验报识到代码用ISO8601规定的局豹编号之前加上年份的最后两位数字来表示（例如，0445表示20台4年的第45周）。当器件上可标志的商积有限，且详细统范有规定肘，则年份的第一位数字可以省略（例如，445表示20悦的第45周。这个代码是报提交检验时的日期。当在同一周内某矜型号提交检验约拉多于一个批肘，则可采用检验披识JJIJ后缀倒织用一个字母来区别各个连续批。2.6 质量评定类jjlj本规范规定了三个质量评定类别。有检验教识到代码前同一检验批内部器件，按规定价质

19、量类别进行检验e与同样幸亏检验分组对应的AQL或LTPD可依类别而异，并fj_符合详细规范的规定。对各类别的最低要求如下z：类一该类器件符合E类或理类鉴定批准要求。各批毒草符合包括功能试验在内的A级检验要求。每三个月对一批进行可撑住检验，应符合要求。每年进行一批8级和C组检验，应符合要求。主类该类的批符合A组和B经逐批检主主要求以及C组周期检验要求。医类该类的批需进行100%筛选，并符合A组和B缰逐批检验要求以及C经周巍检验要求每分规范应蔑定各类的最低要求。详细规范可以包含在总统范、分规范或空白详细规范中没有的，包括筛选在内的补充要求。2. 7 筛选筛选是对一批中所有器伶进行的检验或试验。当详

20、细规范有要求时，应按分规范必有关表中所给出的序列之一对提交批中的全部器伶进行筛选，并剔除全部有缺陷的器件。只有当主述序列与公认的失效机理元关或有矛盾肘，才采用未茂定的其他序列。当分规范的有关表中规定的筛选程序的一部分，按规定的效序构成了制造工序的一部分时则不必重复这些程序。就本规范而言，老练定义为在规定时间内对批中所有器件施刻热应力和电应力，以检出并剔除潜在的早期失效器件。2.8 注意事项觅！EC60747 1，第IX章a对有害产品（虫QBeOl应绘出充分的警告。3 质量评定程序质量评定包括3.5中规定的获得鉴定批准的程序及之后接详级规范规定的逐批如要求的也包括筛选以及周期的质量一致性检验a质

21、量评定试验分为逐批或周期进行的（按2.6规定）A组、B组和C组试验。在某些情况F，也可以巍定D组试验，例如为了进行鉴定批准。3. 1 鉴定批准的资格当IECQC 001002的第11章的条件得以满足时，某个型号韵器件翔有资格进行鉴定批准63. 1. 1 初始制造阶段初始制造阶段在分娩范中规运。3 GB/T 4589. 1-2006/IEC 60747-10, 1991 3. 2 商业保密结患如果秘造过程的部分是商业上保密的，那应加以适当的标注，而总检查员应当证确已经遵循了!EC QC 001002的犯.2. 2的要求，使民家盗督检查机构（只SD满意e3. 3 检验毅的构成见！ECQC 0010

22、02的12.2 0 3. 4 结构穗似器件见！ECQC 001号饨的8.5. 3 0 有关分组的细节在有关的分短范中给出。3.5 鉴定批准的授予觅！ECQC 001002部11.3. L 制造离可以按分规范中绘出的检验要求，选用IECQC 001002中lL3.1的方法d或方法。样品河自适当剖结构相似器件组成。在某些情况下，鉴定批准要求D组试验。详细螺范中作为试验结束后要求的所有变化量溅试，王军记录变化量数据。鉴定报告应包括一份各组和各分经所透行幸亏全部试验结果的撼要，包括被试器件数和失效器件数。根据变化量和或）计数数据得出这份摘要e创造商应保留所有的数据，以供NS！要求时使用。3.6 质量盖

23、章位检撞质量一致性检验应由A经、B组、C组和当有规定时的D组检查和试验组成。对于B组检验和C经检验，其样品可由结构相似器件组成。周期检验的样品应从一批或几批中抽取。这些数也应通过A组和B组检验。各个器件应通过按详细规范要求的A经测试a3. 6. 1 组和分组的划分fij!J定详细规范时要遵循以下准则e3. 6. 1. 1 A组检验逐批）本组规定了逐批进行的评定器件主要持住的目检和电测试。除另有规定外，不允许结构棺似分组。A组检验分为以下各分组zAl分组：本分经出4.3.1.l条规定的外部自检组成。A2分组：本分组出对器伶主要特性的测试组成eA3和A4分组z可不要求这些分组。它们由对器件次要特性

24、的获ll该组成。Xt每个器件类冽的恰当要求，在有关的分规范中绘出。测试项吕列入A3还是A4分组本质上取决于需要在哪一个质量水平上遂行这些测试c3. 6. 1. 2 B组检验：逐兹，I类除外见2.6) 本组主是定了用以评定器件某些其他特性所要采用的程序，包括正常情况下在一周内能够完成的机械、气候和电耐久性试验e3. 6. 1. 3 c组检验周窥）本组主E定了周窥进行的用以评定苦苦件某些其他特性所要采用剖程序，包括适合于每间隔三个月( II类和匪类）或间隔一年（I类，或按有关规范规定进行检验的电测试、机械、气候和副久这试验。3. 6. 1. 4 B组和C组分短的划分为了能够比较辛苦在必要时（兑3.

25、6.3）便于从已经到C组及相反的转化，B级和C组中相应的试验列入具有相同编号的分笼。主tl分郊下：Bl/Cl分组2包括控刽器件互换性尺寸的测量。B2a/C2a分组包括评定器件设计特征的电幸在光性能的测试。4 GB古4589.1-2006/IEC 60747-10,1991 B2b/C2b分组包括在不同电压、电流毛温度或光条件下对器件在A组中己军在试过的某些电和光特性进一步评定幸亏测试。B2c/C2c分组z适用时，包括器件额定值的验证。B3/C3分组包括用以评定器符号j出端机械强度的试验a例如李螺接转短、引线弯油等试验。B4/C是分组z包括用以评定器伶焊接性能的试验。BS/CS分经z包括用以评定

26、器件经受气候应力能力的试验。例如，温度变化、密封等试验。B6/C6分组：包括用以评定器件经受机械应力能力的试验。例如，桓定加速度试验。B7 /C7分组2包括用以评定器件经受长时间潮热能力的试验。B8/C8分组包括用以评定器件在革时久性试验条件下失效特征的试验。B9/C9分组包括用以评定器件在毅限温度贮存条件下电剥光佳能的试验。BlO/ClO分组包括用以评定器件在气应变化时约性能的试验。Bll/Cll分组z包括标志对久性试验。CRRL分组选择并列出上述各分缝中己做过的部分试验和（或）测试，将其结果在放行批证明记录CCRRL）中绘出。这些分组可以不全部要求。3. 6. 1. 5 D经检验本组主髦定

27、了每隔十三个月或仅供鉴定批准时所要执行的程序e3.6.2 检验要求应采用3.7叙述剖统计捻样程序。3. 6. 2. 1 敛拒收费Ut君不符合A经或B组质量一致性检验的妓，不应接收。如果在质量一致性检验过程中，器件未能通过某个分组中的一项试验，将会导致该批被拒收，质量一致性检验flll可终止，并将该批视作A纽或B组的拒收批G如果一个检验批不符合质量一致性要求又未被重新提交，则应被认为是拒收批3.6.2.2 重新提交的批当技术上可能肘，经过返工并重新提交质量一致位检验的失效批，应只包含原来我中的那些器件，豆每个检验组A组辛苦B组）只能重新提交次。重新提交的那些数应与新的各数分开，并应清楚地标哥哥为

28、重新提交批。重新提交的批应采用细严检验灼办法隧机地重新抽取样品，并对全部失效分组进行检验。B组失效前重新提交应包括A纽检验。3. 6. 2. 3试验设备故障或操你人员失误情况下的程序如果磷信器件失效是由于试验设备放障或操作人员失误引起的，应把失效记人试验记录中（但经NSI Fol意后可不记人CRRL中），连同为什么确认不诗作失效的份完整说院提交给？可SL总检查员应决定是否可将同一个检验批中的替代器件补充到样品中。替代器件应经受报废器件在失效之前已经受过的同样的试验，还应经受报废器件按规定进行丽在失效之前尚未进行过的试验。3.6.2.4 题期性检验失效时的程序当B徨失效时，则棺E室的C组检验（见

29、豆.6.1.4rnP元效。如果周期检验失效不是自于设备故障或操作人员失误引起的，则：执行！ECQC 001002的12.6并作如下修改z12. 6. 1 a），“暂停该结构相似组合内的所有器件在本体系内放行”。12. 6.生a）“在改正了制造错误之后对已改正的各批产品立即恢复在本体系内放行的程序12.6.8如果鉴定批准是按！ECQC 001号02的12.6. 7撤销的，要u可按NS！的意见采用一种简化程序主要针对引起失效的那些特性的试验）恢复鉴定批准”。5 GB/T 4589. 1-2006/IEC 60747-10, 1991 3.6.3放宽检验的黝加程序3. 6. 3. 1 B短可采用一矜

30、特殊的放宽检验程序，允许制造商在最长三个月胃痛时间内对B组检验的所有分组每隔三批检验一批来代替逐批地进行B组正常检验。当某分组符合要求条件时，这矜特殊程序p适用于该分组。这称变化的条件是连续十数通过B组检验。按放宽检验程序，当某毯样品不符合菜分组检验时，应恢复为B经正常检验。3. 6. 3. 2 c组当周鹦试验的问搞时伺规定为三个月时，如果按三个月的问隔时间连续三次通过了周期试验，则试验周魏可延长为六个月。按延长i河南时i司程序，当某经样品不符合某分组检验时，应恢复为正常的三个月间隔时闵见3.6. 2.的。3. 6. 4 4、批量锦样要求批量小于或等于zoo肘，应采用符合附录A相应要求的下列程

31、序当妮定采用AQL方案砖，应首先从附录A的表A.3选择等效的LTPD值。a) 非破坏性试验1) 100%的器件或电路应进行指确为非破坏性的试验；2) 或者，附录A的表人2中适用的1，PD一次抽样方案s3) 或者，适用豹LTPD二次抽样方案。b) 破坏性试验:被据附录A的表A.2中适用的LTPD一次抽样方案；2) 或者，用的LTPD二次抽样方案e3.6.5 放行批汪盼记录（CRRL)见！ECQC 001002始第14章。3.6.6 经受过毒草坏性或非破坏性试验的器件的交货认为是破坏性的试验应在空白详级规范中标昵(D），经受过破坏性试验的苦苦件不应包括在交货被中。经受过非破坏性环境试验的器件，只要

32、它们按A缰要求重新检验且符合要求则可交货。3. 6. 7 延期交货贮存超过两年的批在交货之前，整批或要交货的部分豆豆经受短寇的A组检验和B组l1T焊性试验。在整个批都完成了这种检验积试验之后，则以后病年不再要求重新试验g3.6.8 交货的树加程序刽造重善可提供比指定的评定水平更加严格的器伶代替评定水平较不严格的器件。3. 7 统计抽样程序对于A经检验，可采用AQL掠样程序（按！EC60410和ISO2859），或者LTPD抽样程序（按附录Al。详细窥范应规定采用哪一种程序；在分规范中绘出AQL值（和检验水平及LTPD值。对其他组检验，应采用LTPD程序。在任何一个分组或次分组中的所有试验，应按

33、一个单一的AQL（和检查水平或个LPD进行总评定。3. 7. 1 AQL（可接受质量水孚）抽样方案有三矜类型的拍祥方案一次、二次和多次。当几种类型的抽样方案都适用于某个给定的AQL和代码字母时则可采用任何手中（觅IEC60410的3.幻。3. 7. 2 批允许不合格品率（LTPD）捕事羊方案见附录A,3. 7. 3 AQL始样方案和LTPD掘祥方案阔的稽互关系为保证AQL和LTPD摇样方案问剖对应关系，A组检验的最大合格判定数应不大于4(觅附录A6 GB4589. 12006/IEC 60747斗S,1吉吉1的我A.3) 0 3.8 规定LTPD对自告磁久性试验当规定了LTPD时，接收程序应按

34、附录A的儿2的规定。倘若不合格，可采用附录A的A.3的程序。倘若最后该批仍不合格，则应采用3.6. 2. 4的程序。3.9 规定失效率时的耐久性试验本规范fifr采用的失效率定义为以每1000的百分数表示前LTPD注耐久性试验的最大允许失她率，不应该用于正常工作条件下的可靠性的预测。在正常工作条件下，加在器件上的应力通常比耐久性试验时（具有加速效应要低得多。同时在寿命的初期（例如在工作的第一个l000 hl器件的失效率往往比以后要离得多。3. 9. 1 概述耐久性试验应按所述的程序进行。苦苦j牛在最大额定值或最大核定筐范窗内完成的磁久性试验，应认为是非破坏性的。3.9. 2 样品的抽取草草久性

35、试验的样丢在应从该检验批中路桃摇滚（见附录Al0lOOOh试验的样品垒成由制造商从表A. l或表A.2（见附录Al的规定失效率栏（表A.1）或实际批量栏（我A.2）中选择。合格判定数应与月If选择的特定样品簸格对应。3.9.3 失效一个器件在任何规定的读版时间，未能符合耐久性试验规定的一个或多个的终点极限值，则应认为失效，部旦在之后的任何读取时间也认为是失效的。如果一缀样品失效，常j逃离离自行停止试验。3.9.4 耐久性试验时间和样品最每当规定了失效率，初次耐久性试验时间成是1000人一段通过了1000 h的试验，对于自l 000商久饺试致之后不超过12白天所提交约新灼样品，即可开始至少340

36、h的露营久饺试验。详细竣范吁以允许最长2000 h的试验时间。试验时间不是l000 h的耐久性试验样品量，应按试验时间与样品蜜之间的反比关系来选择，使累计的总的器件小fl仅样lib囊X试验小时）等于l000 h E苦久性试验所选t擎的器件小时数，合格判定数也应以l000 h试验时对成的样品缝来确定。如果在试验周期结束时失效数不超过合格判定数，则该项试验合格。3. 9. 5 发琉约失效数超过舍楼判定数时采勇的毅序倘若在耐久性试骏中发现的失效数越过合格判定数，制造商应优选下列方案中的种21l 撤i肖整个批次；2) 按3.9. 5. l遍加样品；3) 如果最初选择的试验时间短于1000 h，则按3.

37、9. 5. 2将试验时间延长到1000人执行以j工程序之一后，因i执行3.6. 2. 4的程序。3. 9. 5. 1 追加样晶对于每次提交，这种方案只能采用一次。当选择这种方案时，新的总样品最（最初的加上迫切的）应由制造商从表A.l或表A红辞辛录均的烧定的失效率（表A.ll或实际批量表A.2）栏中选浓。应从原批中抽取足以使样品增加到新选择的总样品量的追加量。新的合格判定数应与所选择的新的总样品量相对应。追加的样品应经受生于最初的样品相同的耐久性试验条件秘时间。如果发现的总的不合格品数（最初的加上追加的不超过总样品对应的合格判定数，则该批接收$如果发现的不合格品数超过f新的合格判定数，贝tl认为

38、该批应拒收。3. 9. 5. 2 磅久性试验费苦闷豹延长如果采用的耐久性试验时间短于1000 h，而且在最初的样品中发现不合格品数量E过了合格判定数，创造离可不追加样品，而决定将整个最初样品的试验时间延长到1000七，并根据表A.l或表A.2 GB/T 4589. 1-2006/IEC 60747-10, 1991 （附录A）确定一个新约合格判定数新约合格判定数应与小于或等于试验样品量级定栏内的最大抽样量相对应。在最初读凉时何失效的器件，在1000 h读取时间应仍认为是失效的2如果发现的不合格品数超过这个合格判定数，贯主认为该批应拒收e3.汩汩速试验程序适用时，加速试验程序能在短于非如速试验要

39、求均时间内得到试验结果并绘出等效的质量评定。详细规范应说明该加速试验是否是被坏性的a适用于2a) 鉴定批准和质量一致性如果3.10. 1的要求能完全满足，作为总规范及适当时分媲范）前强制性要求部分，周期试验（C组和D组试验可以采用本条中或分规范相应条款）给出的试验程序。b) 成品筛选分规范和总规范允许采用加速试验程序。3. 10. 1 适用于周期试验约条件如果满足下列条件制造商可被据3.10 a）采用加速试验程序。应通知NSI哪些试验已采用加速试验程序及其根应变化$每一CRRL指晓何处采用了加速试验程序；一一制造商需向用户（包括从被认可的销售商采购产品的用户）提供所有加速试验程序的详细说明。3

40、. 10. 2 热加速电耐久性试验程序加速是以过热应力来实现的，只有在非奴速试验及加速试验所获得必有效结温范围内器件均失敛率可用恒寇的激活能描述对才适用e在适用处，刘速试验程序将检查出2一预期的失效机理是否达到异常严重的程度是否显著存在新约缩短寿命的失效机理。1) 理论模型假设失效梳理可通过提高有效结温来加速。妇果与器件预期失效机理有关的激活能值是已知必且在整个有效结温范窗内恒定不变，那么该失效就理始时间和温度之间的关系可泪下式（Arrh巳niusE主律）表示F t1 E. / 1 1 t; exp k飞T,T, 式中F 盖在加速因子；E. 激活能信，用eV表示，t，、121非加速试验和加速试

41、验的持续时间，用时间单位表示sT，、卫非加速试验和汹速试验的有效结湿，用K表示z是军主尔兹曼常数（是8.62 10 5eV/K九2) 试验条件温度：制造商应指定一个有效结温（T，）的值，指定值发生改变时豆豆符合3.10. 1韵要求。仅对集成电路，指定值应小于或等于某一有效结温，高于这一有效结温时电源电流与有效结湿的关系曲线将偏离线性。8 在指定的有效结温T，下参与非加速试验条件相比，器件工作应无显著变化。持续时间2GB4589. 1-2006/IEC 60747-10, 1991 加速试验持续时间比）应由3.10. 2 1)的公式求滚。电负载z除另有规定外，器件加电条件见!EC6074 7 1

42、、！EC60747 2、!EC向747-3等标准第5章或!EC龄7482和！EC6074垣30 3) 结构格似组合当用草草试验中采用加速试验时，按同空白详级规范 co. 01) C0,007) (O. 005) 10 oo:n (0.002) 晶晶晶晶晶晶晶晶叩晶晶4咧8 13 18 25 :rn 55 77 129 195 258 390 555 778 l 296 1 946 2 5!J2 3 891 ( 4. 4) ( 2. 7) CZ OJ (I. 4) ( 0. !)4) (0. 65) (0. 46) (0, 281 ( 0, 18) （飞I,14) (0 09) (0. 06) (0.045) (0.027) (0. 018) co. 013) (0.川的11 18 2., 只31 52 巧户 105 176 266 354 5:l3 759 1 065 1 773 2 662 3 547 5 223 2 ( 7. 4) ( 4. 5) 3 1) ( 2. 21) (I. 6) (I. j) (0. 78) (0. 4 7) co. :rn co. z:n ( 0. OJ (0. 1 ll (0. 0浅。）co. 015) ( () 03 j