SJ 50597 55-2002 半导体集成电路JSC320C25型数字信号处理器详细规范.pdf

《SJ 50597 55-2002 半导体集成电路JSC320C25型数字信号处理器详细规范.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《SJ 50597 55-2002 半导体集成电路JSC320C25型数字信号处理器详细规范.pdf（21页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、SJ 50597/55 2002 共和FL 5962 b理E口可信子JSC320C25型2002-05-01实施Semiconductor integrated circuits Detail specification for JSC320C25 digital signal processor 生1 2002-01-31发布批准息产业部中华人民共和国目、户，-、1 范围.川.11.1 主题内容.1 1.2 适用范围.川.1 1.3 分类. 1 2 引用文件. . . 3 3 要求. .3 3.1 详细要求. . .3 3.2 设计、结构和外形尺寸.3 3.3 引线材料和涂覆.,. 8 3.

2、4 电特性.B3.5 时序图.93.6 电试验要求.;.9 3.7 标志. 11 4 质量保证规定. 11 4.1 抽样和检验. 11 4.2 筛选.11 4.3 鉴定检验. . . 13 4.4 质量一致性检验. 13 4.5 检验方法. 17 5 交货准备17 5.1 包装要求. 17 6 说明事项.176.1 订货资料.17 6.2 缩写词、符号和定义.17 6.3 替代性.176.4 操作. 17 中华人民共和国电子行业军用标准成电路JSC320C25型数字信理器详细范SJ 50597/55-2002 Semlconductor Integrated c1rcnits DetaU sp

3、ecification for JSC320C2S digita1 slgna1 proc四sor范围1. 1 主题内容本规范规定了半导体集成电路JSC320C25型数字信号处理器(以下简称器件的详细要求.1. 2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产采购.1. 3 分类本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式分类.1. 3. 1 器件编号器件编号应按GJB597A-96 (半导体集成电路总规范3.6.2的规定.1. 3. 1. 1 器件型号器件型号如下z嚣1. 3. 1. 2 器件等级件型号嚣JSC320C25 器件等级为GJB597A第3.4条规定的B级和81级.1. 3. 1. 3

4、 封装形式封装形式如下z类G 1. 3. 2 绝对最大额定值绝对患大额定值如下z型电源电压，Voo=-0.3-7V 输入电压，V1= -0.3-7 V 输出电压:Vo = -0.3-7 V 功将，Po运1500mW 中华人民共和2002-01-31发布件名数字信号处理器外形代号PGA68 称2002-05-01实施SJ 50597/55-2002 贮存温度:T1t8二65-1500C引线耐焊接温度(10s)，几三二3000C热阻(结一外壳)Rh(J-C)吨。C/W纺沮，1三主1500C1. 3. 3 推荐工作条件推荐工作条件如下z电源电压，Voo=4.5V-5.5V. Vss=OV 工作环境温

5、度，TA = -55 oC-125 oC 输入电容，C，运15pF 输出电容:C。三三15pF 内部时钟g在X，和X2/CLKIN之间连接一晶体可启动内部振荡器(见图1).品振时钟频率/,=6.7-40.96 MHz.串行口频率!x，=O-5120MHz (串行口参数在段小为1.25MHz下测试，为全静态.!x,=0 Hz时仍能工作0)电容C，=10pF.C2=10pF. ,.-x. X,/CLKIN, 斗日C，工图1内部时钟外部时钟:一个外部频率源可用来将频率直按输入给X，/CLKIN.而x，不被连接(见图2).时钟周期IC(C)(CLKOUTI/CLKOUT2) = 97.7-597 ns

6、.时钟周期IC(CI)(CLKIN) = 24.4-150 nso +5V CLKI 47pF 2 2 40.96MHz 口47kQ 47pF 外部时钟20pF I u F 1.811 、, SJ 50597/55-2002 引用文件2 GB 343 1.2-86 半导体集成电路文字符号引出端功能符号GB 3834-82 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理GB厅4728.12一1996电气图用图形符号二进制逻辑单元GJB 548A-96 微电子器件试验方法和程序GJB 597A-96 半导体集成电路总规范SJ厅10734-96半导体集成电路文字符号电参数文字符号要求3 G GGG G

7、GG L则川剧NMM们四川U剧3. 1 详细要求各项要求应按GJB597A和本规范的规定.3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸应按GJB597A和本规范的规定.3.2.1 引出姥排列和功引出端排列应符合图3的规定.功能框图见图4.A 3 1 1 10 9 8 7 仰视图6 5 4 3 2 SJ 50591/55-2002 标志俯视图图2引出端排列团引出端功能符号引出端引出端功能符号功能符号序号/座标序号/座标I/A6 微处理器/微机方案MPJMC 17.尼20 , 并行数字总线21B6 0 181F1 00 3/A5 0 191F2 同步输入SYNC 41B5 0 20/01 卧I

8、T，5/A4 0 21/G2 外部用户中断输入INT, 并行数字总线61B4 0 2万HI卧IT，7/A3 0 23耳边电源VDD 81B3 0, 24111 串行数据接收输入OR 9/A2 O. 25/12 接收输入帧同步脉冲FSR IOIBI 地Vss 261K 1 并行地址总线Ao 1I1B2 0 , 4 271L2 地Vss I2ICI O. 28反2A, I3/C2 并行数字总线0 , 291L3 A, 14/01 O. 30足315/1)2 0 , 31几416尼l0 , 3万K4一4 L SJ 50597/55-2002 号|出揣功能符号引出端功能符号引出端功能符号序号IJI!i

9、.标序号/座标+33几5并行地址总线A. I/GlO 晶振引脚1、34反5A, 5万F11晶振或时钟输入X,ICLKlN 35血电源Voo 531F 10 传送输入I输出帧同步脉冲FSX 361K6 A. 4尼11串行数据传送输出DX 37尼7A. 5尼10保持响应信号HOLDA 381K7 AIO 6/O11 外部标志输出XF 39几EAI1 57/010 次时钟输出信号CLKOUT, 并行地址总线401K8 A 8/C11 主时钟输出信号CLKOUT1 411L9 A 9/C10 微状态完成信号MSC 42/K9 A 601B 11 中断响应信号lACK 43几10A -t 61/A lO

10、 电源Voo 441K11 地V 62IB 10 电源Voo 451K1O 数据选择信号DS 63/A9 传送时钟输入CLKX 46/Jl l 输入输出选择信号IS 641B9 接收时钟输入CLKR 47/Jl0 程序选择信号PS 6/A8 复位输入RS 481H 11 读写信号RIW 661B8 数据准岳输入READY 49IHI0 选通信号STRB 67/A7 保持输入HOLD O/Gl1 总线申请信号BR 681B7 分支控制输入BIO 256宁2881页敢提单纯(16位量嚣/fiT宇fi!l! RAM 1 RAM 叫4k宁ROM16位，展拮据11+ 多址理器lt口32 f按ALU/AC

11、C指令将存粮中断寄1+器:t.n撞u|卡|忡雄u=3 控制器定时器井行地f且钱16位|卡时钟世生根辑f.l曙存嚣回4功能框图5 SJ 50597/55-2002 3.2.2 外形图外形图应符合图5的规定.D N 6 SJ 50597/55-2002 mm 数值最公称是大A 1.78 3.68 ;b3 0.41 0.51 ;b4 1.48 e 2.54 L 4.57 L, 1.27 z 3.48 4.09 D(E) 27.60 28.20 5 外形图3.2.3功能测试该电路主频为40MHz.机器周期为25ns.执行大多数指令须4个机器周期，故其指令周期为1ns.在功能测试中，对所有ROM、RAM

12、寄存器、堆校进行测试，同时在40MHz下执行所有指令.功能测试波形图见图6.PS DS STRB READY RIW AwAo Dw口。二VALID二二图6功3.2.4 电路图(或芯片图制造厂在鉴定前应将电路图(或芯片图)提交给鉴定机构，并由鉴定鉴定机构存档备查.7 SJ 50597/55-2002 3.2.5 封装形式封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定-3.3 引线材料和涂覆引线材料和涂覆应按GJB597A第3.5.6条的规定-3.4 电特性3.4.1 电特性应符合表1的规定.8 表1电特性条件特n 1) 符号除另有规定外Voo= V -.CTA12 .C 除CLK的所有输入端输入高电

13、平电压VIH INT (0-2)端CLK卧CLKX CLKR端除CLK1N的所有输入端输入低电平也压VL CLKIN端输出高电平电流10H 作ORC叫6V输出低电平电流10L VFORC =0.4 V 输出高电平电压VOH 输出低电平电压VOL 三态漏电流Iz 输入高电平电流IIH 输入低电平电流hL 普通状态工作电流IA =20 MHz lDLE、HOLD状态外部时钟开关特性传输延迟Id(CIH.C) t升时间叫C)下降时间lac 时钟脉宽(低)2) w(CLl 时钟脉宽(高)2) Iw(CH) 传输延迟到Id(CI-Cl) 外部时钟的时序要求问步输入建立时间同步输入保持时间I Ih(S)

14、注:1)电压均以Vss为基准V，臼=0.电流以流入器件引出端为正.2) Q=1/4/(C) 3)时钟输入占空比/Cl沪t叫C1H)I归Cl)必须为40%-60%.规范值是小2.3 2. 2. -0.3 -0.3 -300 2 2.4 -20 -10 -10 5 2Q-8 2Q-8 Q-5 5 8 + 量大Voo+0.3 Voo+0.3 Voo+0.3 0.8 0.8 0.6 20 10 10 18 100 30 5 5 2Q+8 2Q+8 Q+5 Q-5 单位V V V V V A mA V V 弘AA A mA mA ns ns ns ns ns ns ns ns SJ 50597/55-2

15、002 3.5 时钟特性时序图见图7).其中IqCI)运5ns: Ir(CI)二5ns: Iw(clL)20 ns: Iw(clH)20 ns. .C4 呵。)-O!，.! li气产十h町I l.l :1 r I : 1 I 问悟h阳叫、帽4 例C)qE Mil-l JEer L刊叫i!j HC叫+气卜寸.,., It皿,-CL) -剖r t,(C) .1日C了一?Lq-口句叫Cl L 吨时钟特性时序图7 音冒画EQV町n置景E/ ldcC1 _. a.凰g鼠m电试验要求各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组，各个分组的电测试按本规范表3的规定.3.6 电试验要求表2项目分组见表3

16、)(GJB S48A试验方法)B级器件81级器件中间(老化前)电测试AI , A7 AI、A7中间(老化后)电测试AIIl、A1JAl P、A7)1最终屯测试A2、A3、A8a，A8b、A9A2、A3，A8a, A8b、A9A纽试验要求AI , A2、A3、A4、AS、A6、A7、AI、A2、A3、A4、AS、A6、A7、A8a, A8b、A9、AIO、AIIA8a, A8b、A9、AIO、AIIC组终点电测试AI , A7 AI , A7 D组终点电测试AI、A7AI , A7 9 1 )该分组要求PDA计算(见本规范4.2条).注zSJ 50597/55-200豆表3A组电测试引用标准*

17、件极-限值单位分组符号GB 3834 (除另有规定外VooV) ，n小最大除CLK的所有输入端2.3 Voo+0.3 V Vm 第2.1条1NT，时，端2. Voo+0.3 v CLKIN CLKX CLKR端2. Voo+0.3 V -+ 除CLKIN的所有输入端-0.3 0.8 V 町L第2.2条CLKIN端-0.3 0.8 V A1 IOH 第2.7条F斗FORCE4.6 V -300 A IOL 第2.8条VFOR.4V 2 mA VOH 第2.9条2.4 V VOL 第2.10条0.6 V Iz 第2.11条-20 20 A 1m 第2.12条-10 10 A IL 第2.1条-10

18、 10 A A2 TA=12 C 除外，所有参数*件同A1分组，规范值按表1A3 TA- C 除外.所有参数条件同A1分组，规范值按表lA4 普通状态18 mA IA 第3.2条产20MHzTA-2 C IDLE、HOLD状态100 mA A 所有参数条件同A4分组，规范值按表1TA=12 C A6 所有参数条件同A4分组，规范值按表1TAS C A7 见3.2.3条TA=2S C A8a 同A7分组TA=12S C A8b 同A7分组TASS C 10 分组A9 TA-2S .C A10 符号引用标准GB 3834 第3.9条3.1 S 3.16 第3.3条第3.3条3.9条第3.6条SJ

19、50597/55-2002 见图77 图7见图7见图77 见回77 表3(续条件除另有规定外所有参数条件同A9分组.规范值按表1V) 量TA=12S .C A l1 所有参数条件同A9分组，规范值技表1.C 3. 7 标志标志应按GffiS97A第3.6的规定.4 质量保证规定4.1 抽样和检验若无其它规定，抽样和检验程序应按Gffi597A和GJB548A方法5005A.4.2 筛选单位5 30 ns ns n, ns ns ns 5 ns 8 ns 在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按Gffi548A方法S004A和本规范表4中给出的要求进行筛选.装4筛选条件和要求(GJBS48A

20、) 项目B级器件Bl级器件说明方法条件方法条件筛选前后(封盖前).可任意抽取BS分组(键合强内部目检201 0A 试验条件B2010A 试验条件B度的样品，进行(封装前BS分组试验.内部目检中的不合格键合失效也应于以计数.11 SJ 50597/55-2002 表4(续)若无其它规定，表中引用的试验方法指018548A. 条件-和要求项目B级嚣件BI级黯件方法条件方法4民件稳定性烘培1008A 试验靠件c1008A 试验条件C不要求终点电(150.C. 24 h) (I50.C.24h) 测试温度循环1010A 试验条件CIOIOA 试验条件C恒定加速度200lA 试验条件D200lA 试验条

21、件CYI方向YI方向目检初始(老炼前)本规范Al、A7分组本规范AI，A7分组电测试老炼1015A 试验条件c1015A 试验条件C(125.C. 160 h) (125.C. 160 h) 中间老炼后本规范AI，A7分组本规范AI，A7分组电测试允许不合格品率S%.本规范AI，A7分组.当不合格10%，本规范AI，A.1分组.当不合(PDA)计算品率不超过20%时，可重新提交老格品率未超过20%时，可重新提交老炼，但只许一次.炼.但只许一次.是终电测试本规范A2，A3 , A8a、A8b、A9分本规范A2、A3、A8a、A8b、A9分组组密封1014A 1014A 细检漏试验条件AI或A2试

22、验条件AI或A2粗检漏试验条件CI或C2试验条件CI或C2外部目检2009A 2009A斗鉴定或质量一致5005A 第3.5条5005A 第3.5条性检验的试验样品选择12 说明可用方法10llA试验条件A替代.可在密封筛选后进行.引线断落，外壳破裂，封盖脱落为失效.由制造厂决定是否进行本筛选.采用本规范图8电路图.SJ 50597/55-2002 Voo=5V 500 27 29 31 33 37 39 41 43 26 28 30 32 34 36 38 40 42 45 24 25 47. 46 22 23 49. 48 20 21 51 50 I JLW 18. .19 53 S2 I

23、 OV 16 17 55. 54 I 1MHz 14 15 57. 56 12 13 59. .58 10 11 8 6 4 2 68 66 64 62_ 60 9 7 5 3 1 67 65 63 61 注g在安装和调试老化饭时.应考虑去锅及商、低频RC混波.对直流电源和信号源应采取限流拮施.8 4.3鉴定检验鉴定检验应按GJB597A的规定，并在筛选之前按GJB597A和GJB548A方法3015的规定进行ESDS等级鉴定，所有检验符合GJB548A方法和本规范A、B、C、D纽检验(见本规范4.4.1-4.4.4 )的规定.4.4质量-致性检验质量一致性检验应按GJB597A的规定.所进行

24、的检验应符合GJB548A方法5005A和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4)的规定.4.4. 1 A组检验A组检验按表5给出的要求进行.电试验要求按表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定.各分组的测试可用一个样本进行.当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验.各分组的测试可按任意顺序进行.合格判定数(c)段大为2013 SJ 50597/55-2002 表5A组检验LTPD B级楼件-霄一AI分组(2.C下态试验)2 2 A2分组(12.C下静态试验3 3 A3分组.C下静态试验5 5 A4分组(2.C下动态试验2 2 A分组(12.C下动态试验3 3

25、 A6分组(四.C下动态试验5 5 A7分组(2.C下功能试验)2 2 A8a分组(12.C下功能试验3 3 A8b分组(-.C下功能试验5 5 A9分组(2.C下开关试验2 2 AIO分组(I2.C下开关试验3 3 AII分组(-.C下开关试验5 5 4. 4. 2 B组检验B组检验应按本规范表6的规定.BI-B5分组可用同一检验批中的电性能不合格的器件作为样本.袋68组检验(8级和81级GJB 48A 样品大小试验(接收数)说明方法条件或LTFD81分组2(0) 尺寸2016 82分组3 (0) 耐帮剂性201A 83分组I LTPD系对引线数而言.披试可焊性2022A 焊接温度为24:t

26、.C 器件数不少于3个.或2003AB4分组1 (0) 内部目检2014 和机械性能B分组10 LTPD系对键合数而言，被试键合强度20llA 试验条件C或D器件数不少于4个.(1)热压焊(2)超声焊4. 4. 3 C组检验C组检验应按本规范表7的规定.14 SJ 50597/55-2002 袭7C组检验GJB 48A 试验B级器件81级器件LTPD 说明方法条件方法条件CI分组5 稳态寿命100SA 试验条件D100A 试验条件D采用本规范图S线(12 C. 1 000 h) (125 C. 1000 h) 路终点电测试本规范AJ，A7分本规范AJ，A7分组见表2和表)组(见表2和袤的C2分

27、组I 温度循环10lOA 试验条件C10lOA 试验条件c恒定加速度200lA 试验条件D200lA 试验条件CYI方向YI方向密封1014A 1014A 细检漏试验条件AI或A2试验条件AI或A2粗检漏试验条件CI或C2试验条件CI或C2目检按方法10lOA的目按方法10lOA的曰检判据检判据终点电测试本规范AJ，A7分本规范AI，A7分组见表2和表们组(见表2和表)4.4.4 0组检验D组检验应按表9的规定。Dl、D2和D7分组(不要求终点电测试的分组)可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本.I SJ 50597/55-2002 表90组检验GJB 548A 试验B级嚣件BI级嚣件LT

28、PO 说明方法条件方法条件01分组15 物理尺寸2016 2016 斗02分组10 LTPO系指试验引线引线牢固性2028 2028 数或引出端数，被试辑件应不少于3个03分组15 热冲击10llA 试验条件B10tlA 试验条件A15次循环15次循环温度循环10lOA 试验条件C1010A 试验条件C100次循环100次循环耐湿1004A 技方法1010A和1004A 技方法1010A和1004A1004A的目检判据的日检判据密封1014A 101 4A 细检漏试验条件A1或A2试验条件A1或A2粗检漏试验条件C1或C2试验条件CI或C2终点电测试本规范A1.A7分本规范川、A7分组见组见表

29、2和表3)表2和表3)04分组15 机械冲击2002A 试验条件B2002A 试验条件B打频振动2007 试验条件A2007 试验条件A恒定加速度200lA 试验条件D2001A 试验条件C用于D3分组的样品Y1方向Y1方向可用在04分组密封1014A 1014A 细检漏粗枪漏目检技方法2002A和控方法2002A和20072007的目位可据的目检判据终点电测试本规范A1、A7分本规范Al.A7分组见组见表2和表3)表2和表3)D5分组运用时15 B1级器件可在订货盐雾1009A 试验条件A合同上要求目检按方法1009A目检1014A 判据密封细检漏试验条件A1或A2#1检漏试验晕件C1或C2

30、16 SJ 50597/55-2002 袋9(续GIB 48A 试验B级器件BI级u件LTPO 说明方法条件方法条件06分组不要求3 (0) 内部水汽含量1018 100 .C时是大水汽威含量为000ppm , (1) 07分组l 引线涂覆202A 202A LTPO系对引线数而粘附强度4.5检验方法检验方法应按下列规定进行-4.5.1 电压和电流电压以器件的s踹为参考点:电流以流入器件引出端为正.5 交货准备5. 1 包装要求包装要求应按GJB597A第5.1条的规定-6 说明事项6. 1 订货资料订货合同规定下列内容z8. 完整的器件编号见1.3.1条).言b 需要时，对器件制造厂提供与所

31、交付器件相应的检验批质量一致性数据的要求-c. 需要时，对合格证书的要求.d. 需要时，对产品或工艺的更改通过采购单位的要求.e. 需要时，对失效分析(包括GJB548A方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求.f. 对产品保证选择的要求.g. 需要时，对特殊载体、引线长度或引线形式的要求.h. 对认证标志的要求.i. 需要时的其他要求-6.2 缩写词、符号和定义本规范所使用的缩写词、符号和定义按GB3431.2、GJB597A和SJ厅10734的规定-6.3 替代性本规范规定的器件其功能可替代曹通工业用器件.普通工业用器件在军用温度范围内不具有与军工器件等效的特性和性能.因

32、此不允许用普通工业用器件替代军用器件.6.4 操作器件必须采取防静电措施进行操作.推荐下，rJ操作措施28. 器件应在防静电的工作台上操作:17 18 b 试验设备和黯具应接地gC. 不能触摸器件引线:SJ 50597/55-2002 d. 器件应存放在导电材料制成的容器中:e. MOS区域内避免使用能引起静电的塑料、橡胶或丝织物:f. 若可行，相对湿度保持在50%以上.附加说明:本规范由信息产业部电子第四研究所归口.本规范由信息产业部电子第五十八研究所负责起草.本规范主要起草人z颜燕、武乾文.计划项目代号IB 91009. 中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JSC320C25型数字信号处理器详细规范SJ 50597/55-2002 * 版刷行出印发中国电于技术标准化研究所中国屯子技术标准化研究所中国电于技术标准化研究所电讯，(010) 84029065 传真，(010) 64007日12地址E北京市安定门东大街1号邮编，100007 网址:wwv. ces 1. ac. cn * 字数，40干字印张zIf2002年4月第一次印刷1/16 开丰，880X 1230 2002年4月第一版版权专有不得翻印举报电话:(010) 64007804