GB T 4589.1-1989 半导体器件 分立器件和集成电路总规范(可供认证用).pdf

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1、1 范围中华人民共和标准半导体器件分Sem.iconductor devic回Generlc spedflcatlon for discrete devic回andIntegra幅ddrcul臼可供认证用本标准构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系(iECQ)的一部分.GB 4589.1-89 IEC 747-10 IECQ QC 700000 本标准是半导体器件分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路的总规范.本标准规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则g电恃性的测试方法，气候的机械试验，耐久性试验.注z当存在日批准的、适用于特定的一种或几种棉

2、件类型的分规范、种类或族规范和空白详细规范时必须用这些规范来补充本标准.2总则2. 1 优先顺序当出现矛盾的要求时，各种文件应按以下权限顺序排列E(1) 详细规范，(2) 种类(或族规范若存在时), (3) 空白详细规范，(4) 分规范，(5) )总规范g(6) 基础规范，(7) IECQ程序规则，(8) 需要参考的其他国际文件，如IEC文件，(9) 国家文件.同样的优先顺序也适用于等效的国家文件-2.2 有关文件详细规范应指出适用的文件sIEC标准sIEC 27 电工技术中使用的文字符号IEC 50 国际电工技术词汇(IEV)IEC 68 基本环境试验规程1989-03-18批准1990-0

3、1-01实施GB 4589.1-89 IEC 68-1 (1982) 第1部分U总则和导则IEC 68-2 第2部分z试验或者1EC147、IEC148, 1EC 147 半导体器件的基本额定值和特性及测试方法的一般原理IEC 147-0(1966) 第0部分2总则和术语及其补充IEC 147-1(1972) 第1部分s基本额定值和特性及其补充IEC 147-2(1963) 第2部分z测试方法的一般原理及其补充IEC 147-4(1976) 接收和可靠性IEC 148(1969) 半导体器件和集成电路的文字符号及其补充IEC 147-5(1977) 第5部分z机械和气候试验方法及其补充或者IE

4、C747 , IEC 748、IEC749. IEC 747半导体器件分立器件和集成电路IEC 747-1(1983) 第1部分总则IEC 748半导体器件集成电路IEC 749 机械和气候试验方法1EC 191 半导体器件的机械标准化1EC 191-1(1966) 第1部分z半导体器件的制图及其补充IEC 191-2(1966) 第2部分2尺寸及其补充IEC 191-3(1974) 第3部分=集成电路外形图制阁的一般原理及其补充IEC 410(1973) 计数检查抽样方案和程序IEC 617 示图中的图形符号IECQ QC 001002(1981) IECQ程序规则ISO标准zISO 100

5、0(1973) 国际单位。D和推荐使用的国际单位的组合及其他单位180 2015(1976) 周的编号180 2859(1974) 计数检查抽样程序和抽样表2.3 单位、符号和术语180 1000 1EC 27 1EC 50 IEC 617 执行本总规范的某一种半导体器件所特有的任何其他单位、符号和术语，应取自有关的IEC或ISO标准(见2.2条或根据上述标准的原则导出.2.4 电压、电流和温度的优先值电特性测试、试验和工作条件电压、电流和温度的优先值，见1EC747-1号标准和748-1号标准。GB 4589. 1-89 2.5标志a在器件上当面积许可时，应在器件上标出以下标志z(1) 弓|

6、出端识别标志(见2.5.1条。(2) 型号名称(见2.5.2条、质量评定类别见2.6条)和适用时的筛选序列(见2.7条)0(3) 制造商名称、起首字母或商标和适用时的工厂识别代码见2.5. 3条)0(4) 检验批识别代码(见2.5.4条)0(5) 如不采用合格证，就应有合格标志.(6) 适用时，标出特殊注意事项.当面积不允许全部标出时，详细规范应按上述优先顺序给出最低要求b.在初始包装上以下标志应出现在作为交货时的最初保护或包装的初始包装物上z(1) 除引出端标志之外的2.5条项所列的全部标志.(2) 详细规范号。(3) 任何特殊注意事项，例如小心标记等。2.5.1 引出端识别参照IEC747

7、-1号标准第四章第8条在详细规范中应参照规定的外形或底座图规定引出端的识别。2.5.2 型号名称当在器件上标志型号名称时，最好以字母和数字表示，或当详细规范有规定时用色标表示.色标可以在分规范中给出。2.5.3 制造商名称或商标如果制造商名称或商标不能追溯到生产厂，则应采用生产厂识别代码。2.5.4 检验批识别代码检验批识别代码用ISO2015号标准规定的周的编号之前加上年份的最后两位数字来表示例如E8345表示1983年的第45周。当器件上可标志的面积有限，且详细规范有规定时，则年份的第一位数字可以省略例如.345表示1983的第45周)。这个代码是批提交检验时的日期.当在同一周内某种型号提

8、交检验的批多于一个批时，则可采用检验批识别后缀(例如用一个字母来区别各个连续批.2.6 质量评定类别本规范规定了三个质量评定类别。有检验批代码的同一检验批内的器件，按规定的质量类别进行检验.与同样的检验分组对应的AQL或LTPD可依类别而异，并应符合详细规范的规定.对各类别的最低要求如下=I类一-该类器件符合E类或E类鉴定批准要求.各批都符合包括功能试验在内的A组检验要求。每三个月对一批进行可焊性检验，应符合要求。每年进行一次B组和C组检验，均应符合要求.E类一一该类的批符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。E类-一该类的批需进行100%筛选，并符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期

9、检验要求。分规嗖应规定对各类的最低要求.详细规范可以包括在总规范、分规范或空白详细规范中没有的，包括筛选在南的补充要求。2.7 筛选筛选是施加于一批中所有器件的检验或试验.当详细规范有要求时，应按分规范的有关表中所给出的序列之一种，对提交批中的全部器件进行筛选，并剔除全部有缺陷的器件.只有当上述序列与公认的失效机理无关或有矛盾时，才采用未规定的其他序列.当分规范的有关表中规定的筛选程序的一部分，按规定的顺序构成了制造工序的一部分时，则不必重复这些程序。就本规范而言，老化定义为在规定时间内对批中所有器件施加热应力和电应力，以GB 4589.1-89 GB 4589. -89 3.6. .2 B组

10、检验逐批，1类除外见2.6条)本组规定了用以评定椿件某些其他特性所要采用的程序，包括正常情况下在一周内能够完成的机械、气候和电耐久性试验.3.6.3 C组槛验周期本组规定了周期进行的用以评定楞件某些其他特性所要采用的程序，包括适合于每间隔三个月什类和E类或间隔一年(1类)，或按有关规范规定进行检验的电测试、机械、气候和电耐久性试验。3. 6. .4 B组和C组分组的划分为了能够比较和在必要时(见3.6.3条便于从B组到C组及相反的变化.B组和C组中相应的试验列入具有相同编号的分组.划分如下gBl/Cl分组z包括控制器件互换性尺寸的测量。B2a/C2a分组z包括评定器件设计恃征的电性能的测试。B

11、2b/C2b分组z包括在不同电压、电流或温度下对器件在A组中己测试过的某些电特性进一步评定的测试。B2c/C2c分组z适用时，包括器件额定值的验证。B3/C3分组，包括用以评定精件引出端机械强度的试验.例如，螺栓转矩、引线弯曲等试验.B4/C4分组s包括用以评定辑件焊接性能的试验。B5/C5分组g包括用以评定椿件经受气候应力能力的试验.例如，温度变化、密封等试验B6/C6分组E包括用以评定器件经受机械应力能力的试验.例如，恒定加速度试验，B7/C7分组E包括用以评定器件经受妖时间湿热能力的试验。B8/C8分组E包括用以评定糟件在耐久性试验条件下失效特征的试验.B9/C9分组E包括用以评定器件在

12、极限温度贮存条件下电性能的试脸。Bl0/CI0分组=包括用以评定器件在气压变化时的性能的试验。Bll/Cll分组z包括标志耐久性试验。CRRL分组z选择并列出上述各分组中己做过的部分试验和或测试，将其结果在放行批证明记录(CRRL)中给出.这些分组可以不全部要求。3.6.5 D组检验本组规定了每隔十二个月或仅供鉴定批准时所要执行的程序。3.6.2 检验要求应当采用在3.7条中叙述的统计抽样程序。3. 6. 2. , 批拒收判据不符合A组或B组质量一致性检验的批，不得接收.如果在质量一致性检验过程中，器件未能通过某个分组中的一项试验，将会导致这个批被拒收，质量一致性检验即可终止，并将这个批视作A

13、组或B组的拒收批。如果一个检验批不符合质量一致性要求又未被重新提交，则应被认为是拒收批.3. 6. 2. 2 重新提交的批当技术上可能时，经过返工并重新提交质量一致性检验的失败批，应只包含原来批中的那些器件，且每个检验组(A组和B组只能重新提交一次.重新提交的那些批应与新的各批分开，并应清楚地标明为重新提交批。重新提交的批应采用加严检验的办法随机地重新抽取样品，并对全部失败分组进行检验。B组失败的重新提交应包括A组检验g3. 6. 2. 3 试验设备故障或操作人员失误情况下的程序如果确信器件失效是由于试验设备故障或操作人员失误引起的，应把失效记入试验记录中但经NSI同意后可不记入CRRL中)，

14、连同为什么确认不汁作失效的一份完整说明提交给NSlo总检查员应GB 4589.1-89 决定是否可将同一个检验批中的替代器件补充到样品中.替代器件应经受报废器件在失效之前已经受过的同样的试验，还应经受报废器件按规定进行而在失效之前尚未进行过的试验。3. 6. 2. 4 周期性检验失败时的程序当B纽失效时，则相应的C组检验见3.6. 1. 4条即无效。如果周期检验失效不是由于设备故障或操作人员失误引起的，则z执行1ECQQC 001002号标准程序规则的12.6条，并作如下修改z12. 6. 1条a项产暂停该结构相似组合内的所有器件在本体系内放行，12. 6. 4条a项产在改正了制造错误之后，对

15、已改正的各批产品立即恢复在本体系内放行的程序-12. 6. 8条如果鉴定批准是按程序规则的12.6. 7条撤销的，则可按N51的意见采用一种简化程序(主要针对引起失效的那些特性的试验恢复鉴定批准飞3.6.3 放宽检验的附加程序3.6.3.1 B组可采用一种特殊的放宽检验程序，允许制造商在最长三个月间隔时间内对B组检验的所有分组每隔三批检验一批来代替逐批地进行B组正常检验。当某一分组符合要求条件时，这种特殊程序即适用于该分组。这种变化的条件是连续十批通过B组检验。在放宽检验程序下，当某组样品不符合某分组检验时，该分组应恢复为B组正常检验。3. 6. 3. 2 C组当周期试验的问隔时间规定为三个月

16、时，如果按三个月的问隔时间连续三次通过了周期试验，则试验周期可延长为六个月.在延长间隔时间程序下，当某组样品不符合某分组检验时，应恢复为正常的三个月间隔时间也见3.6. 2. 4条。3.6.4 小批量抽样要求批量小于或等于200时，应采用符合附录A相应要求的下列程序(当规定采用AQL方案时，应首先从附录A的表A3选择等效的LTPD值a. 非破坏性试验(1) 100%的器件应进行指明为非破坏性的试验。或者=(2) 附录A的表A2中适用的LTPD次抽样方案。或者z(3) 适用的LTPD二次抽样方案。b. 破坏性试验(1) 根据附录A的表A2中适用的LTPD一次抽样方案。或者s(2) 适用的LTPD

17、二次抽样方案。3.6.5 放行批证明记录(CRRL)见1ECQQC 001002号标准程序规则E的第14章。3.6.6 经受过破坏性或非破坏性试验的器件的交货在空白详细规范中标明(D)的试验被认为是破坏性的.经受过破坏性试验的器件，不得包括在交货批中。经受过非破坏性环境试验的器件，只要它们接A组要求重新检验且符合要求则可交货.3.6.7 延期交货贮存超过两年的批在交货之前，整批或要交货的部分，应经受规定的A组检疆和B组可焊性试验。在整个批都完成了这种检验和试验之后，则以后两年不再要求重新试验。3.6.8 交货的附加程序制造商可提供比指定的评定水平更加严格的器件代替评定水平较不严格的器件。3.7

18、 统计抽样程序对于A组检验，可以采用AQL抽样程序按1EC410号标准和1502859号标准)，或者LTPD抽样程序(按附录AL详细规范应规定采用哪一种程序s在分规范中给出AQL值和检验水平及LTPDGB 4589.1-89 值.对其他组栓验，应当采用LTPD程序。在任何一个分组或次分组中的所有试验，应按一个AQL(和检查水平或一个LTPD进行总评定-3.7.1 AQL抽样方案有三种类型的抽样方案z一次、二次和多次.当几种类型的抽样方案都适用于某个给定的AQL和代码字母时，则可采用任何一种见IEC410号标准的3.5条) 3.7.2 批允许不合格品率(LTPD)抽样方案见附录A.3.7.3 A

19、QL抽样方案和LTPD抽样方案间的相互关系为保证AQL和LTPD抽样方案间的对应关系.A组检验的最大合格判定数，应不大于4(见附录A的表A3).3.8 规定LTPD时的耐久性试验当规定了LTPD时，接收程序应按附录A的A2条的规定.倘若不合格，可采用附录A的A3或A4条的程序.倘若最后该批仍不合格，则应采用3.6. 2. 4条的程序.3.9 规定失效率(时的酣久性试验本规范所采用的失效率定义为以每1000h的百分数表示的LTPD.注z耐久性试踵的最大允许失效事，不应该用于正常工作条件下的可靠性的预测.在正常工作条件下，加在器件上的应力通常比耐久性试验时具有加速效应要低得多.同时在海命的初期例如

20、在工作的第一个lOOOh)器件的失效率往往比以后要离得多.3. 9. 1 概述当详细规范规定以A为判据时，试验时间为10h的耐久性试验应按所述的程序进行.器件在最大额定值或额定值范围内完成的耐久性试验，应认为是非破坏健的.3.9.2 样品的抽取耐久性试验的样晶应从该检验批中随机抽取见附录A).1000h试验的样品量应由制造商从表A1或表A2(见附录A)的规定失效率栏表A1)或实际批量栏表，2)中选择.合格判定数应与所选择的特定样品量相对应。3.9.3 失效一个器件在任何规定的读出时间，未能符合为耐久性试验规定的一个或更多的终点极限值，则应认为是个失效，而且在之后的任何读出时间也认为是失效的.如

21、果一组样品已不能符合耐久性试验的要求，制造商可自行停止试验.3.9.4 耐久性试验时间和样品量每当规定了失效率，初次耐久性试验时间应是10h.一旦通过了1000h的试验，对于自1000h耐久性试验之后不超过120天所进行的新的试验，即可开始至少340h的耐久性试验.详细规范可以允许最长200饨的试验时间.试验时间不是1000h的耐久性试验样晶量，应按试验时间与样品量之间的反比关系来选择，使累计的总的器件小时祥晶量X试验小时等于1000h耐久性试验所选择的器件小时数，合格判定数也应以10h试验时对应的样晶量来确定.如果在试验周期结束时失效数不超过合格判定数，则该项试验合格。3.9.5 发现的失效

22、数超过舍格判定数时采用的程序倘若在耐久性试验中发现的失效数超过合格判定数，制造商应任选下列方案中的一种2(1) 执行3.6. 2. 4条的程序g(2) 按3.9. 5. 1条追加样品g(3) 如果最初选择的试验时间短于1000h.则按3.9. 5. 2条将试验时间延长到1000h.GB 4 5 8 9. 1 - 8 9 执行(2)或(3)的程序后，如果试验不合格，则执行3.6. 2. 4条的程序.3. 9. 5. 1 追加样品对于每次提交，这种方案只能采用一次。当选择这种方案时，新的总样品量(最初的加上追加的应由制造商从表Al或表A2(附录A)的规定的失效率表Al)或实际批量表A2)栏中选取。

23、应从原批中抽取足以使样品增加到新选择的总样品量的追加量.新的合格判定数应与所选择的新的总样品量相对应.追加的样品应经受与最初的样品相同的耐久性试验条件和时间.如果发现的总的不合格品数(最初的加上增加的不超过总样晶对应的合格判定数，则该项试验合格，如果发现的不合格品数超过了新的合格判定数，贝.认为该项试盛不合格e3.9.5.2 耐久性试验时间的延长如果采用的耐久性试验时间短于100饨，而且在最初的样品中发现不合格晶数超过了合格判定数，制造商可不追加样品，而决定将整个最初样晶的试验时间延长到1000h.并根据表Al或表A2(附录A)确定一个新的合格判定数新的合格判定数与规定栏内小于或等于试验样品量

24、的最大抽样量相对应，在最初读出时间失效的器件，在1000h读出时间应仍认为是失效的喜如果发现的不合格品数超过这个合格当时定数，则认为该项试验不合格a4 试验和测试程序4. 1 电测试的标准大气条件除另有规定外，所有的电测试均在IEC147-5或IEC749号标准规定的大气条件下进行.环境温度，25土5C0 相对湿度，45%与75%之间(同时见IEC68-1号标准的5.3.2条。大气压力，86kPa与106kPa之间(860-1060mbar)0制造商也可以在其他温度下进行测试，只要能使国家监督检查机构确信在环境温度为25:1:1 .C、相对湿度在48%至52%之间若相对湿度是重要的测试时器件仍

25、将符合详细规范。4.2 物理检查4.2. 1 目检4. 2. 1. 1 外部目检除另有规定外，应在工厂正常照明条件下和正常目视条件下进行外部目视检查。应检查下述各项的正确性，(1) 标志及其清晰度，(2) 引出端识别，(3) 外观机械缺陷。4. 2. 1. 2 内部目检在分规范中规定.4.2.2尺寸应按规定的图样检验尺寸.附录B中规定了在B组和C组中应检验的尺寸。4.2.3 标志耐久性应按IEC147-5号标准第E章第2条或IEC749号标准第J章第2条对标志进行试验。4.3 电测试4. 3. 1 一般条件和注意事项4.3.1.1 替代方法可以采用规定的方法或能给出等效结果的任何其他方法进行测

26、试，但在有争议的情况下，只能采用规定的方法。注=等效指的是用这种方法所确定的特性值，当用规定的方法测试时也在规定的范围之内田GB 4 5 8 9. 1 - 8 9 8. 电测试方法应按IEC147-2或IEC747和748号标准的规定。当需要而且详细规范规定时应采用这些方法.b. 在IEC147-2或在IEC747和748号标准中未作规定的电测试方法，应在详细规范中规定-4.3.1.2 测试精确度详细规范中列出的极限是绝对的。在确定实际测试极限时，应考虑到测试误差。4.3.1.3一般注意事项通常应注意将测试误差降到最小和避免损坏器件.在IEC147-2或IEC747-1号标准中给出了最重要的注

27、意事项.4.4 环境试验环境试验方法应按IEC68-2和IEC147-5或IEC749号标准的规定.当需要而且详细规范规定时应采用这些方法.根据3.6.6条指明它们为破坏性的或非破坏性的气当要求强制性的试验顺序时，即应在分规范或在空白详细规范中予以规定.在IEC68-2或lEC147-5或lEC749号标准中未作规定的环境试验方法，应在详细规范中规定.对于需要观察或施加与器件的方位有关的外力的那些试验方法，这种方位和施力的方向应按附录C的规定.A1 概述GB 4589.1-89 附录A批允许不舍格晶事(LTPD)抽样方案补充件以下规定的程序适用于所有的质量一致性要求A 1.1 样晶的抽取应从检

28、验批中随机地抽取样品.在连续生产的情况下，只要批符合批的构成要求，在生产期间制造商可自行按有规律的周期方式抽取样品.A1.2 失效一个样品在一个分组的一项或几项试验中失效，应记为一个失效。A2 抽样方法逐批检验数据样品量和发现的不合格品数应在单一检验批中累计，以证明是否符合各分组的判据.周期检验见3.6条.A2.1 样品量每个分组的样品量应根据表A1或表A2确定，且应符合规定的LTPD。制造商可自行选择比需要量更大的样品量，但是，允许的失效数不得超过表A1或表A2中与所选样晶量相应的合格判定数.在表A2中，确定样品量用的LTPD栏应是数量上最接近实际提交批量的那个批量栏，如果实际批量处于表中给

29、出的两个批量之间，则制造商可自行采用相邻批量栏中的任一栏。在表A2中，如果适用的批量栏中没有等于鼓小于规定的LTPD值的LTPD值，则应采用100%检验。在表A2中，应采用数值最接近规定的LTPD值的适用批量栏中的LTPD值确定样品量。A2.2接收程序第一次抽样时，应选择一个合格判定数，然后根据规定的LTPD抽取相应数量的器件并对其进行试验见3.9. 2条如果在第一次抽取的样品中发现的不合格品数小于或等于预选的合格判定数，该批应当接收.如果发现的不合格品数超过了预选的合格判定数，则可选择追加样品使得总的样品符合3.9.2条。对每一批的提交适用于给定分组的第一次抽样的表A1或表A2.也适用于同一

30、批和分组的以后各次抽样.A3 追加样品制造商可以增加一个追加量到最初样品t.但对于任何一个分组都只能追加一次，追加的样品必须经受该分组的全部试验.应用由表A1或表A2所选定的一个新的合格判定数来确定总样品量(最初的和追加的样品A4 多重判据当一组样品有一个以上的合格判据时，分组中的全部祥品应对应于分组中的所有判掘。在表Al中，合格判定数应与适用的LTPD栏中小于或等于所使用的样品量的最大样晶量相对应.在表A2中，合格判定数应与所使用的样品量对应的批量栏中规定的LTPD值相对应。A5 百分之百徨验在制造商自愿时，允许对于不认为是破坏性的那些分组进行批的100%检验.如果发现该批的百GB 4589

31、. 1 89. 分不合精品率超过了规定的LTPD值，就应认为该批通不过该分组检验.在100%检验基础上试踵的那些批只能在100%基础上重新提交，且按加严检验的LTPD进行检验.A6 加严检验加严检验应按表A1或表A2中比规定的检验标准严一级的LTPD进行、89 1 4589. GB ( =、2，号, 8 0 肉E出Z 同H 同军国c: 至5的R由E ( Ht 吨ECE b Eo Z ( EZHEZS O 面Z F4N Z 0 gN s B 的目。白ZN问咽ED 。冒E。) 。) 。) c, ) 。) 。) 。同)。问)。 z言N0Z 3而J D E电沼F 2C3 P N3哩，( H 届-目m咀

32、茧-Y咀豆 ( s呻g 军。吨医 罢o罢N gN g 盯。 。) C ) CP 。) 。) CD 自言骂骂 回tNE= E O 去同Z 白5p2、雪0 、， 20 3 UgD Ex -= -言NS S【E、E gh 、-昌、，gE 同军8 口咀N m P) o o C3 ) c:, C) 。) C) C3 ) 。V D E P- eS 、NZS E2 -EN m EN S 何SN( ? E- gEZ 罢V N 面的O ( 刊H aEZ理U 白E-8-喜u 国吨的四，( ) N 同。.由gs o o ) C。) C3 ) 口) C) 。 。) 。) 。国，军4旦v E 国Z 山i【g 。g h

33、EFZ吨DH C:, 2m H2 D BH田ZO -言N吉的的EZ) 2町28 白的回( 坦。 的盯由( 主 。霄F4H R的E骂 g 的目 司3tE Ed 3 2自ES E Ed Z h s 面崎h -F- Z C3 ) 口) 口) C) 。) C3 间)。) 3 ) ) 222 国自H咱h g向= 室gg 唰( E 国N盯( E V 军由已a o h ( 险h、RF S sg N 恒唱N 同的白团回e唱d 、V D ) C) 。) 。) C) 。 。) 。) C) 。) 由hEE 5刊2 22 EE ( EE E同3E-sN 巳8 町:.l S同Z g mcH t 【h吨，() N 同 H

34、 H国N 回国回( ) 回 ) GV D ) C) ) 问( 咀咱8( 22 N回H ) D -) C3 N EZ 面町罩回国N ) H 回mE骂Eq e伺喃( N 喃町( N 回国( 由S咱嚣。，h p- ( 的回啤( 由的面 口8H 寸咀-( N o ) 同N ) 的) 回) 咽) 吨，) 的的 V 唱H -) N V 呻何V唱-) 国) 咀) ) E、) h V 。-面 国 z . 血+陆EpD_ Lrmn a和或)fIb+b. A_ 形式4e H.，m+H Lrain z_ 注，1)见IEC1913号标准.2)引出端的位置公差.取向X, Z. GB 4589.1-89 附录C机械试验加

35、力的方向补充件Y, 商X.主基固、底平面lII.聋露面Y. 图Cl帮件方位与加力方向的关系Y, X, Z , 主.Z. X. 1. 图C2只在一侧有径向引线的扁平封装器件方位与加力方向的关系GB 4589. 1 - 8 9 Y. 主幢X. Z. Z. X. 基面细暴温用弓l蝇捆民量用Y. 图C3圆柱体器件方位与加为方向的关系Y. 主X. i Z. 主由圃Z. 图C4双列直插式糟件方位与加力方向的关系GB 4589.1-89 Y, X皇Z , Z. X. 图C5扁平封装器件方位与加力方向的关系Y. X, Z, 基圃捆果适用Z. X. Y. 因C6圆柱体器件方位与加力方向的关系附加说明z本标准由全

36、国半导体器件标准化技术委员会提出。本标准由机械电子工业部!自口.本标准由机械电子工业部第五十五研究所、机械电子工业部电子标准化研究所负责起草.本标准主要起草人金毓锥、高俊华、吴建、童本敏、秦贤满.关于执行本标准的说明1.不进行国际认证的产品在执行本标准时可用下列国家标准代替本标准2.2条中所列的相应的IEC和lSO标准zGB 4938-85 半导体分立器件接收和可靠性GB 4937-85 半导体分立辘件机械和气候试验方法GB 4590-84 半导体集成电路机械和气候试验方法GB 7581-87 半导体分立器件外形尺寸GB 7092-86 半导体集成电路外形尺寸GB 4128-85 电气图用图形符号GB 3100-82 国际单位制及其应用GB 7408-87 星期编号GB 4589.1-89 GB 24212424 电工电子产品基本环境试验规程GB 2828-87 逐批检查计数抽样程序及抽样表GB 2829-87 周期检查计数抽样程序及抽样表GB 11499-89 半导体分立器件文字符号2.与本标准配套的国家标准4半导体器件分立器件分规范和4半导体糖件集成电路分规范发布两年后，原有国家标准GB4936. 1-85半导体分立器件总规范和GB4589. 1-84C半导体集成电路总规范将被废止.在此之前这两个总规范仍可继续执行，以便于过援。