GB T 16649.1-1996 识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分：物理特性.pdf

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1、中华人民共和国国家标准识别卡带触点的集成电路卡第部分物理特性发布实施国家技术监督局发布前言本标准等同采用国际标准识别卡带触点的集成电路卡第部分物理特性在总标题识别卡带触点的集成电路卡下包括下述部分第部分物理特性第部分触点的尺寸和位置第部分电信号和传输协议本标准的附录是标准的附录本标准由中华人民共和国电子部提出本标准由电子工业部标准化研究所归口本标准起草单位电子工业部标准化研究所中国人民银行中国工商银行本标准主要起草人李韵琴张一平仲安妮王云生刘钟前言国际标准化组织是一个世界范围的国家团体成员标准化联盟通过技术委员会的活动来推进国际标准化的工作每个对已建立的技术委员会感兴趣的成员体都有权参加这个委

2、员会与有联系的官方或非官方的各国际组织也参与此项工作国际标准草案在其理事会接受其为国际标准之前须由技术委员会分发给各成员团体进行表决按照规程至少需要的成员团体投票赞成国际标准由信息处理系统技术委员会制定用户应随时注意所有标准的更新除非特别说明在本标准中所示的其它国际标准均为有效中华人民共和国国家标准识别卡带触点的集成电路卡第部分物理特性国家技术监督局批准实施引言本标准是描述中定义的识别卡参数及这种卡在国际交换中应用的一系列标准之一范围的本部分描述了带触点的集成电路卡的物理特性它适用于的第部分至第部分中描述的包括磁条和凸字的型卡本系列标准的本部分适用于带有电触点的物理接口的卡但是没有定义卡上集成

3、电路的性质数目和位置注其他类型卡的格式或接口的未来发展将会要求对的本部分进行补充或者导致制定另外的国家标准引用标准下列标准中所包含的条文通过在本标准中引用而构成为本标准的条文本标准出版时所示版本均为有效所有标准都会被修订使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性识别卡物理特性识别卡记录技术第部分凸印识别卡记录技术第部分磁条识别卡记录技术第部分型卡上凸印字符的位置识别卡记录技术第部分只读磁道的第磁道和第磁道的位置识别卡记录技术第部分读写磁道的第磁道的位置识别卡发卡者标识第部分编号体系识别卡发卡者标识第部分申请和注册程序识别卡金融交易卡定义本标准采用下列定义集成电路为执行处理和或存储功能而

4、设计的电子器件集成电路卡卡内部封装一个或多个集成电路的型卡如第第部分和中描述的触点保持集成电路和外部接口设备间电流连续性的导电元件物理特性符合中第至第部分和要求的型卡插入带触点的集成电路后应具有以下物理特性注本标准后面的附录描述了对部分特性的规范测试方法总则中规定的各类识别卡的物理特性适用于卡中描述的金融交易卡的全部尺寸要求也应适用于这类卡注中规定的卡的厚度适用于带触点及集成电路的无凸印卡关于抗化学性见中发卡方应注意这种事实即污染会导致保存在磁条或集成电路中的信息无效附加特性紫外线超过周围紫外线的防护应是卡制造商的责任射线卡的任何一面曝光剂量相当于至的中等能量射线每年的累积剂量应不引起卡的失效

5、注这相当于人每年正常接收的剂量的两倍触点的表面断面所有的触点及其附近的卡的表面之间在水平上的误差应小于中规定的保护区域应扩大到图中和之间的区域见中的图卡和触点的机械强度卡应能抵抗对其表面及其任何组成成分的损害并在正常使用保存和处理过程中保持完好每个触点表面和触点区域整个导电表面在相当于对直径的钢球施加的工作压力下不应被破坏见附录中第章和章提供的测试方法触点的电阻卡连接部件的触点电阻可通过测试卡来确定和测量该测试卡在内部的触点之间短路在接通至之间的任何直流电流时任何两触点两触点串联之间测得的电阻应小于对于一个峰值为频率为的交流电流来说应使通过该阻抗的电压保持低于磁条和集成电路之间的电磁干扰如果卡

6、带有磁条磁条在读写或擦除后卡不应被损坏失效或改变反之集成电路的读写也不应引起磁条的失效或其读写和处理机制的失效电磁场卡暴露在的磁场中不应造成集成电路的失效测试应该在指定值的静磁场中进行警告磁场将会擦去磁条上的内容如果用磁条静电带静电的人在正常使用下集成电路不应被损坏在任意触点和地之间的静电由一个的电容器经过的电阻器放电卡暴露其中时其功能不应降低见附录中第章的测试方法热耗卡中集成电路的热耗应不大于警告无论在什么样的环境条件下应当注意卡的表面温度不能超过附录标准的附录测试方法弯曲特性过程把卡放在机器的两个夹头中间其中一个夹头是可移动和可弯曲的长边挠度周期每分钟弯曲次短边挠度周期每分钟弯曲次每弯曲次在读写状态下检验卡的功能推荐测试持续时间在四个测试方向每次至少操作次图认可标准在次弯曲后卡应保持其功能完好且不应显示出任何破裂扭曲特性过程把卡放在机器中对其短边进行扭曲交替变换方向速率为次最大偏差每扭曲次在适当的读写状态下检验卡正确的功能认可标准在次扭曲后卡应保持其功能完好且不应显示出任何破裂图静电过程如图所示一个的电容器经过的电阻器进行放电在卡的各触点之间按正常极性放电之后再按相反极性放电放电电压图认可标准在测试开始和结束时检测读写状态下的集成电路功能