ITU-T O 171 SPANISH-1997 Timing Jitter and Wander Measuring Equipment for Digital Systems Which are Based on the Plesiochronous Digital Heirarchy (PDH)《基于准同步数字体系(PDH)的数字系统的定时抖动和漂移测.pdf

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1、UNIN INTERNACIONAL DE TELECOMUNICACIONESUIT-TO.171SECTOR DE NORMALIZACINDE LAS TELECOMUNICACIONESDE LA UIT(04/97)SERIE O: ESPECIFICACIONES DE LOS APARATOS DEMEDIDAAparatos de medida para parmetros digitales yanalgicos/digitalesAparato de medida de la fluctuacin de fase yde la fluctuacin lenta de fas

2、e de latemporizacin para sistemas digitales basadosen la jerarqua digital plesicronaRecomendacin UIT-T O.171(Anteriormente Recomendacin del CCITT)RECOMENDACIONES DE LA SERIE O DEL UIT-TESPECIFICACIONES DE LOS APARATOS DE MEDIDAPara ms informacin, vase la Lista de Recomendaciones del UIT-T.Generalida

3、des O.1O.9Acceso para el mantenimiento O.10O.19Sistemas de medida automticos y semiautomticos O.20O.39Aparatos de medida para parmetros analgicos O.40O.129Aparatos de medida para parmetros digitales y analgicos/digitales O.130O.199RECOMENDACIN UIT-T O.171APARATO DE MEDIDA DE LA FLUCTUACIN DE FASE Y

4、DE LA FLUCTUACINLENTA DE FASE DE LA TEMPORIZACIN PARA SISTEMAS DIGITALESBASADOS EN LA JERARQUA DIGITAL PLESICRONAResumenLos requisitos de las caractersticas del aparato de medida de la fluctuacin de fase y la fluctuacinlenta de fase descritos a continuacin deben satisfacerse para asegurar la compati

5、bilidad entre losequipos procedentes de distintos fabricantes.Si bien se especifican los requisitos del equipo, no se estudia su configuracin, que deber serconsiderada cuidadosamente por el diseador y el usuario. En particular, no es necesario que todaslas caractersticas indicadas a continuacin se e

6、ncuentren en un equipo. Los usuarios puedenseleccionar las funciones que se adapten mejor a sus aplicaciones.OrgenesLa Recomendacin UIT-T O.171, ha sido revisada por la Comisin de Estudio 4 (1997-2000) delUIT-T y fue aprobada por el procedimiento de la Resolucin N. 1 de la CMNT el 19 de abrilde 1997

7、.Palabras clavefluctuacin de fase a la entrada tolerable, fluctuacin de fase a la salida, funcin de transferencia dela fluctuacin de fase, generacin de la fluctuacin de fase, generacin de la fluctuacin lenta de fase,medidas de la fluctuacin de fase, medidas de la fluctuacin lenta de fase.ii Recomend

8、acin O.171 (04/97)PREFACIOLa UIT (Unin Internacional de Telecomunicaciones) es el organismo especializado de las Naciones Unidasen el campo de las telecomunicaciones. El UIT-T (Sector de Normalizacin de las Telecomunicaciones de laUIT) es un rgano permanente de la UIT. Este rgano estudia los aspecto

9、s tcnicos, de explotacin ytarifarios y publica Recomendaciones sobre los mismos, con miras a la normalizacin de lastelecomunicaciones en el plano mundial.La Conferencia Mundial de Normalizacin de las Telecomunicaciones (CMNT), que se celebra cada cuatroaos, establece los temas que han de estudiar la

10、s Comisiones de Estudio del UIT-T, que a su vez producenRecomendaciones sobre dichos temas.La aprobacin de Recomendaciones por los Miembros del UIT-T es el objeto del procedimiento establecidoen la Resolucin N. 1 de la CMNT.En ciertos sectores de la tecnologa de la informacin que corresponden a la e

11、sfera de competencia delUIT-T, se preparan las normas necesarias en colaboracin con la ISO y la CEI.NOTAEn esta Recomendacin, la expresin “Administracin“ se utiliza para designar, en forma abreviada, tantouna administracin de telecomunicaciones como una empresa de explotacin reconocida detelecomunic

12、aciones.PROPIEDAD INTELECTUALLa UIT seala a la atencin la posibilidad de que la utilizacin o aplicacin de la presente Recomendacinsuponga el empleo de un derecho de propiedad intelectual reivindicado. La UIT no adopta ninguna posicinen cuanto a la demostracin, validez o aplicabilidad de los derechos

13、 de propiedad intelectual reivindicados,ya sea por los miembros de la UIT o por terceros ajenos al proceso de elaboracin de Recomendaciones.En la fecha de aprobacin de la presente Recomendacin, la UIT ha recibido/no ha recibido notificacin depropiedad intelectual, protegida por patente, que puede se

14、r necesaria para aplicar esta Recomendacin. Sinembargo, debe sealarse a los usuarios que puede que esta informacin no se encuentre totalmenteactualizada al respecto, por lo que se les insta encarecidamente a consultar la base de datos sobre patentes dela TSB. UIT 1997Es propiedad. Ninguna parte de e

15、sta publicacin puede reproducirse o utilizarse, de ninguna forma o porningn medio, sea ste electrnico o mecnico, de fotocopia o de microfilm, sin previa autorizacin escritapor parte de la UIT.Recomendacin O.171 (04/97) iiiNDICEPgina1 Alcance . 12 Referencias 12.1 Referencias normativas. 12.2 Referen

16、cias bibliogrficas. 23 Definiciones 24 Abreviaturas 25 Diagrama de bloques. 26 Interfaces.36.1 Interfaces elctricas. 36.2 Impedancias de interfaz 47 Fuente de seales de prueba 47.1 Fuente de modulacin. 47.2 Generador de seales de reloj . 47.2.1 Precisin del generador de seales de reloj. 67.3 Generad

17、or de la secuencia de prueba 67.3.1 Secuencias de prueba. 67.3.2 Errores en la generacin 68 Circuito de medida de la fluctuacin de fase 78.1 Sensibilidad de entrada de las interfaces elctricas 78.2 Gamas de medidas de la fluctuacin de fase. 78.2.1 Medida de la fluctuacin de fase cresta a cresta 78.2

18、.2 Umbral seleccionable. 88.2.3 Medida del valor eficaz de la fluctuacin de fase 88.3 Anchura de banda de las medidas. 88.3.1 Respuesta en frecuencia del circuito y los filtros de medida de lafluctuacin de fase. 88.4 Precisin de las medidas. 98.4.1 Consideraciones generales. 98.4.2 Error fijo 98.4.3

19、 Errores a otras frecuencias. 98.4.4 Error dependiente de la secuencia de prueba. 118.4.5 Forma del impulso en el punto de acceso de medida 11iv Recomendacin O.171 (04/97)Pgina8.5 Facilidades suplementarias . 118.5.1 Salida analgica. 118.5.2 Seal de temporizacin de referencia 119 Condiciones ambient

20、ales de funcionamiento 11Apndice I Directrices relativas a la medida de la fluctuacin de fase. 11I.1 Definiciones y causas de la fluctuacin de fase 11I.2 Entorno de prueba. 13I.2.1 Secuencias de prueba controladas . 14I.2.2 Velocidad binaria. 14I.2.3 Forma del impulso y caractersticas del cable. 14I

21、.2.4 Parmetros del entorno de prueba secundarios 14I.3 Glosario de componentes del bloque funcional de la configuracin de prueba 15I.4 Medida de la tolerancia de fluctuacin de fase. 16I.4.1 Tolerancia real . 16I.4.2 Conformidad con la plantilla de la tolerancia de fluctuacin de fase 20I.5 Medida de

22、la caracterstica de transferencia de la fluctuacin de fase 20I.5.1 Procesos lineales 20I.6 Medida de la fluctuacin de fase de salida . 24I.6.1 Trfico real. 25I.6.2 Secuencias de prueba controladas . 26Apndice II Directrices relativas a la medida de la fluctuacin lenta de fase. 26II.1 Medidas de la f

23、luctuacin lenta de fase 26II.1.1 Configuraciones de las medidas de la fluctuacin lenta de fase Consideraciones generales. 26II.1.2 Medidas sincronizadas de la fluctuacin lenta de fase 27II.1.3 Medidas no sincronizadas de la fluctuacin lenta de fase. 27II.2 Medidas de la estabilidad de la seal de rel

24、oj. 28II.3 Cantidades que deben medirse 28II.3.1 Desviacin en el tiempo 28II.3.2 Mximo error en el intervalo de tiempo 28II.3.3 Desviacin de Allan. 28II.4 Referencia externa 28Recomendacin O.171 (04/97) 1Recomendacin O.171APARATO DE MEDIDA DE LA FLUCTUACIN DE FASE Y DE LA FLUCTUACINLENTA DE FASE DE

25、LA TEMPORIZACIN PARA SISTEMAS DIGITALESBASADOS EN LA JERARQUA DIGITAL PLESICRONA(Ginebra, 1980; modificada en Mlaga-Torremolinos, 1984, Melbourne, 1988 revisada en 1997)1 AlcanceLa instrumentacin especificada por esta Recomendacin se utilizar para medir la fluctuacin defase y la fluctuacin lenta de

26、fase de la temporizacin en los sistemas digitales basados en lajerarqua digital plesicrona (PDH, plesiochronous digital hierarchy). El aparato consiste en uncircuito de medida de la fluctuacin de fase y una fuente de seales de prueba. Las medicionespueden realizarse en la capa fsica de los sistemas

27、PDH. Para realizar ciertos tipos de medida puedeque tambin sea necesario emplear un medidor de proporcin de errores.La instrumentacin para medir la fluctuacin de fase y la fluctuacin lenta de fase en sistemasdigitales basados en la jerarqua digital sncrona (SDH, synchronous digital hierarchy) se esp

28、ecificaen otra Recomendacin de la serie O.Es conveniente consultar las Recomendaciones G.823 7 y G.824 8 al aplicar esta Recomendacin.2 Referencias2.1 Referencias normativasLas siguientes Recomendaciones del UIT-T y otras referencias contienen disposiciones que,mediante su referencia en este texto,

29、constituyen disposiciones de la presente Recomendacin. Alefectuar esta publicacin, estaban en vigor las ediciones indicadas. Todas las Recomendaciones yotras referencias son objeto de revisiones por lo que se preconiza que los usuarios de estaRecomendacin investiguen la posibilidad de aplicar las ed

30、iciones ms recientes de lasRecomendaciones y otras referencias citadas a continuacin. Se publica peridicamente una lista delas Recomendaciones UIT-T actualmente vigentes.1 Recomendacin UIT-T G.701 (1993), Vocabulario de trminos relativos a la transmisin ymultiplexacin digitales y a la modulacin por

31、impulsos codificados.2 Recomendacin G.703 del CCITT (1991), Caractersticas fsicas y elctricas de lasinterfaces digitales jerrquicas.3 Recomendacin UIT-T G.772 (1993), Puntos de supervisin protegidos en sistemas detransmisin digital.4 Recomendacin UIT-T G.810 (1996), Definiciones y terminologa para r

32、edes desincronizacin.5 Recomendacin G.811 del CCITT (1988), Requisitos de temporizacin en las salidas derelojes de referencia primarios adecuados para la explotacin plesicrona de enlacesdigitales internacionales.6 Recomendacin G.812 del CCITT (1988), Requisitos de temporizacin en las salidas dereloj

33、es subordinados adecuados para la explotacin plesicrona de enlaces digitalesinternacionales.2 Recomendacin O.171 (04/97)7 Recomendacin UIT-T G.823 (1993), Control de la fluctuacin de fase y de la fluctuacinlenta de fase en las redes digitales basadas en la jerarqua de 2048 kbit/s.8 Recomendacin UIT-

34、T G.824 (1993), Control de la fluctuacin de fase y de la fluctuacinlenta de fase en las redes digitales basadas en la jerarqua de 1544 kbit/s.9 Recomendacin O.3 del CCITT (1992), Condiciones climticas y pruebas pertinentes paralos aparatos de medida.10 Recomendacin UIT-T O.150 (1996), Requisitos gen

35、erales para la instrumentacin demediciones de la calidad de funcionamiento de equipos de transmisin digital.2.2 Referencias bibliogrficas11 Norma ANSI T1.102-1993, Digital hierarchy Electrical interfaces.12 HUCKETT (P.): Performance Evaluation in an ISDN Digital Transmission Impairments,Radio and El

36、ectronic Engineer, Vol. 54, N. 2, febrero de 1984.13 TRISCHITTA (P.R.): Jitter Accumulation in Fibre Optic Systems, Rutgers, The StateUniversity of New Jersey, mayo de 1986.14 TRISCHITTA (P.R.), SANUTTI (P.): The Jitter Tolerance of Fibre Optic Regenerators,IEEE Transactions on Communications, Vol.

37、35, N. 12, diciembre de 1987.3 DefinicionesEn esta Recomendacin se definen los trminos siguientes (vase la Recomendacin G.810 4):3.1 fluctuacin de fase (de la temporizacin): Variaciones a corto plazo de los instantessignificativos de una seal digital con respecto a sus posiciones ideales en el tiemp

38、o (a corto plazosignifica que la frecuencia de las variaciones es de 10 Hz o ms).3.2 fluctuacin lenta de fase: Variaciones a largo plazo de los instantes significativos de unaseal digital con respecto a sus posiciones ideales en el tiempo (a largo plazo significa que lafrecuencia de las variaciones

39、es de 10 Hz o menos).4 AbreviaturasEn esta Recomendacin se utilizan las siguientes siglas.AMI Inversin de marca alternada (alternate mark inversion)MTIE Mximo error en el intervalo de tiempo (maximum time interval error)NRZ Sin retorno a cero (non return to zero)PDH Jerarqua digital plesicrona (ples

40、iochronous digital hierarchy)SDH Jerarqua digital sncrona (synchronous digital hierarchy)TDEV Desviacin en el tiempo (time deviation)TIE Error de intervalo de tiempo (time interval error)UI Intervalo unitario5 Diagrama de bloquesEn la figura 1 aparece el diagrama de bloques del aparato en su forma g

41、eneral. La figura norepresenta una realizacin concreta.Recomendacin O.171 (04/97) 3T0406960-96Fuente de seales de pruebaFuente demodulacin(nota)ModulacinexternaGenerador deseales de relojSeal derelojmoduladaSecuencia deprueba/generadorde tramaReferencia de temporizacin externaSalidade datosInterfazG

42、.703Unidad sometidaa pruebaInterfazG.703Circuito de medida dela fluctuacin de fasey de la fluctuacinlenta de faseSalidaanalgicaNOTA La fuente de modulacin, para pruebas relativas a las Recomendaciones de la serie G, puedeir incluida en el generador de seales de reloj y/o en el generador de secuencia

43、 de prueba, o por separado.Figura 1/O.171 Diagrama de bloque simplificado para la medida de la fluctuacin de fase yde la fluctuacin lenta de fase de la seal de temporizacin6 Interfaces6.1 Interfaces elctricasEl instrumento deber ser capaz de funcionar a una o ms de las siguientes velocidades binaria

44、s ycon las correspondientes caractersticas de interfaz, como se describe en las clusulas de laRecomendacin G.703 2. Sin embargo, para todas las velocidades binarias, la seal aplicada a laentrada del circuito de medida de la fluctuacin de fase debe ser un impulso rectangular nominal. Sise utilizan ot

45、ras formas de seal puede aparecer interferencia entre smbolos que no puede corregirsemediante simple ecualizacin de lnea, resultando afectada la precisin de la medida.a) 64 kbit/s;1f) 32 064 kbit/s;b) 1 544 kbit/s; g) 44 736 kbit/s;c) 6 312 kbit/s; h) 34 368 kbit/s;d) 2 048 kbit/s; i) 139 264 kbit/s

46、.e) 8 448 kbit/s;Como opcin, el circuito de medida de la fluctuacin de fase deber ser capaz de medir lafluctuacin de fase en el terminal de salida de la seal de reloj, cuando el equipo digital presentadicho acceso._1La referencia a 64 kbit/s se relaciona con la interfaz codireccional.4 Recomendacin

47、O.171 (04/97)6.2 Impedancias de interfazEl circuito de medida de la fluctuacin de fase y la fuente de seal debern tener unas prdidas deretorno como las que se indican en el cuadro 12, en las condiciones sealadas en el propio cuadro.Cuadro 1/O.171 Condiciones de prueba para las prdidas de retornoVelo

48、cidad binaria(kbit/s)Prdidas de retorno(dB)Condiciones de prueba64 12 18 14120 W resistiva pura 3 kHz a 6,4 kHz6,4 a 128 kHz128 a 192 kHz1 544 20 100 W resistiva pura 20 kHz a 1,6 MHz2 048 12 18 1475/120/130 W resistiva pura 51 a 102 kHz102 a 2 048 kHz2 048 a 3 072 kHz6 312 20 75/110 W resistiva pura 100 kHz a 6,5 MHz8 448 12 18 1475 W , resistiva pura 211 a 422 kHz422 a 8 448 kHz8 448 a 12 672 kHz32 064 20 75 W , resistiva pura 500 kHz a 40 MHz34 368 12 18 1475 W , resistiva pura 860 a 172 040 kHz1 720 a 34 3