DIN EN 62496-2-4-2014 Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2-4 Optical transmission test for optical circuit boards without input output fibres (IE.pdf

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1、April 2014DEUTSCHE NORM DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDEPreisgruppe 15DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.ICS 33

2、.180.99!%+Cg“2083268www.din.deDDIN EN 62496-2-4Optische Leiterplatten Grundlegende Prf- und Messverfahren Teil 2-4: Optische bertragungsprfung fr optische Leiterplatten ohneEingangs-/Ausgangsfasern (IEC 62496-2-4:2013);Deutsche Fassung EN 62496-2-4:2013Optical circuit boards Basic test and measureme

3、nt procedures Part 2-4: Optical transmission test for optical circuit boards without input/output fibres(IEC 62496-2-4:2013);German version EN 62496-2-4:2013Cartes circuits optiques Procdures fondamentales dessais et de mesures Partie 2-4: Essai de transmission optique des cartes circuits optiques s

4、ans fibresdentre/sortie (CEI 62496-2-4:2013);Version allemande EN 62496-2-4:2013Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.beuth.deGesamtumfang 22 SeitenDIN EN 62496-2-4:2014-04 2 Anwendungsbeginn Anwendungsbeginn fr die von CENELEC am 2013-07-23 angenommene Europische Norm a

5、ls DIN-Norm ist 2014-04-01. Nationales Vorwort Vorausgegangener Norm-Entwurf: E DIN EN 62496-2-4:2011-10. Fr dieses Dokument ist das nationale Arbeitsgremium UK 412.2 Komponenten fr Kommunikationskabel-anlagen“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE

6、(www.dke.de) zustndig. Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom TC 86 Fibre optics“ erarbeitet. Das IEC-Komitee hat entschieden, dass der Inhalt dieser Publikation bis zu dem Datum (stability date) unverndert bleiben soll, das auf der IEC-Website unter http:/webstore.iec.ch“ zu dieser Publikation an

7、gegeben ist. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurckgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder gendert. Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe des Ausgabedatums und ohne Hinweis

8、auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisung auf die jeweils neueste gltige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm. Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die in Bezug genommene Ausgabe der Norm. Der Zusamm

9、enhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt sich, soweit ein Zusammenhang besteht, grundstzlich ber die Nummer der entsprechenden IEC-Publikation. Beispiel: IEC 60068 ist als EN 60068 als Europische Norm durch CENELEC bernommen und als DIN EN 60068 ins Deutsche Normenw

10、erk aufgenommen. EN 62496-2-4 August 2013 EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE ICS 33.180.01 Deutsche Fassung Optische Leiterplatten Grundlegende Prf- und Messverfahren Teil 2-4: Optische bertragungsprfung fr optische Leiterplatten ohne Eingangs-/Ausgangsfasern (IEC 62496-2-4:2013) Opti

11、cal circuit boards Basic test and measurement procedures Part 2-4: Optical transmission test for optical circuit boards without input/output fibres (IEC 62496-2-4:2013) Cartes circuits optiques Procdures fondamentales dessais et de mesures Partie 2-4: Essai de transmission optique des cartes circuit

12、s optiques sans fibres dentre/sortie (CEI 62496-2-4:2013) Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2013-07-23 angenommen. CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europischen Norm ohne jede nderung der

13、Status einer nationalen Norm zu geben ist. Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind beim CEN-CENELEC Management Centre oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltlich. Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen

14、(Deutsch, Englisch, Franzsisch). Eine Fassung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprache gemacht und dem CEN-CENELEC Management Centre mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen Fassungen. CENELEC-

15、Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitees von Belgien, Bulgarien, Dnemark, Deutschland, der ehemaligen jugoslawischen Republik Mazedonien, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Kroatien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen,

16、 sterreich, Polen, Portugal, Rumnien, Schweden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republik, der Trkei, Ungarn, dem Vereinigten Knigreich und Zypern. CENELEC Europisches Komitee fr Elektrotechnische Normung European Committee for Electrotechnical Standardization Comit E

17、uropen de Normalisation Electrotechnique Management Centre: Avenue Marnix 17, B-1000 Brssel 2013 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren, sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten. Ref. Nr. EN 62496-2-4:2013 DDIN EN 62496-2-4:2014-04 EN 62496-2

18、-4:2013 Vorwort Der Text des Dokuments 86/449/FDIS, zuknftige 1. Ausgabe der IEC 62496-2-4, erarbeitet vom IEC/TC 86 Fibre optics“, wurde zur parallelen IEC-CENELEC-Abstimmung vorgelegt und von CENELEC als EN 62496-2-4:2013 angenommen Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem dies

19、es Dokument auf nationaler Ebene durch Verffentlichung einer identischen nationalen Norm oder durch Anerkennung bernommen werden muss (dop): 2014-04-23 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, die diesem Dokument entgegenstehen, zurckgezogen werden mssen (dow): 2016-07-23 Es wird auf die Mglichkeit

20、hingewiesen, dass einige Elemente dieses Dokuments Patentrechte berhren knnen. CENELEC und/oder CEN sind nicht dafr verantwortlich, einige oder alle diesbezglichen Patentrechte zu identifizieren. Anerkennungsnotiz Der Text der Internationalen Norm IEC 62496-2-4:2013 wurde von CENELEC ohne irgendeine

21、 Abnderung als Europische Norm angenommen. In der offiziellen Fassung sind unter Literaturhinweise“ zu den aufgelisteten Normen die nachstehenden Anmerkungen einzutragen: IEC 62496-2-1 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 62496-2-1. IEC 60793-2 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 60793-2. IEC 62496 (all parts) A

22、NMERKUNG Harmonisiert in der Reihe EN 62496 (nicht modifiziert). 2 DIN EN 62496-2-4:2014-04 EN 62496-2-4:2013 Inhalt SeiteVorwort .2 1 Anwendungsbereich.4 2 Normative Verweisungen.4 3 Begriffe und Abkrzungen4 3.1 Begriffe.4 3.2 Abkrzungen 5 4 Messbedingungen5 5 Untersuchungsverfahren6 5.1 Prfeinrich

23、tung .6 5.2 Messverfahren fr die relative optische Dmpfung10 5.3 Bewertung des Bestehens oder Nichtbestehens der Prfung.13 Anhang A (informativ) Beispiel fr die optische bertragungsprfung fr OCB ohne E/A-Fasern.14 Anhang B (informativ) Messung der Eingangs- und Ausgangsanschlsse bei versetzter Lage

24、17 Literaturhinweise 19 Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen auf internationale Publikationen mit ihren entsprechenden europischen Publikationen20 Bilder Bild 1 Prfsystem fr die optische bertragungsprfung ohne E/A-Fasern fr OCB mit E/A-Flchenanschluss .6 Bild 2 Prfsystem fr die optische bertr

25、agungsprfung ohne E/A-Fasern fr OCB mit E/A-Kantenanschluss.7 Bild 3 Schematische Darstellung der Messung der Gleichmigkeit der Beleuchtungsflche.8 Bild 4 Beispiel fr die erzielte Gleichmigkeit der Beleuchtungsflche 8 Bild 5 Beispiel fr die erzielte Empfindlichkeit eines Bildsensors (Eingangsgleichf

26、rmigkeit innerhalb 1 %) 9 Bild 6 Lagejustierung der Lichtquelle 11 Bild 7 Beispiel fr ein aufgenommenes Bild und den mithilfe einer Bilddigitalisierung ausgekoppelten E/A-Anschlussbereich .12 Bild 8 Berechnung der erfassten Gesamtlichtstrke des ausgekoppelten E/A-Anschlussbereiches aus der erfassten

27、 Lichtstrke jedes Pixels.13 Bild A.1 Beispiel fr die Messung der relativen optischen Dmpfung.15 Bild A.2 Beispiel fr die Reproduzierbarkeit der Messung der relativen optischen Dmpfung.16 Bild B.1 Strahlenverlufe bei OCBs mit einem Spiegelwinkel, der einen designieren (links) und einen nicht designie

28、rten (rechts) hat17 Bild B.2 Unterschied der Fokuspositionen zwischen ohne Versatz und mit Versatz18 Bild B.3 Optische Bilder auf der Oberflche der OCB-Ebene (ohne Versatz) und Versatzposition (mit Versatz).18 Tabellen Tabelle A.1 Beobachtungssystem.14 Tabelle A.2 Lichtquelle 14 Tabelle A.3 Zu messe

29、nde Muster .14 3 DIN EN 62496-2-4:2014-04 EN 62496-2-4:2013 1 Anwendungsbereich Dieser Teil der IEC 62496 legt ein Prfverfahren unter Anwendung einer direkten Lichteinstrahlung fr die Entscheidung ber die Annahme oder die Ablehnung einer optischen Leiterplatte (en: optical circuit board; OCB) in Abh

30、ngigkeit vom Bestehen oder Nichtbestehen der Prfung fest. Die Eingangsanschlsse werden direkt beleuchtet, und die an den Ausgangsanschlssen der optischen Leiterplatte abgegebene Lichtstrke wird mit einem Bildflchensensor berwacht. Anschlieend wird die berhhte optische Dmpfung aus der erfassten Gesam

31、tlichtstrke, die von einem Prfling abgegeben wird, gegenber der Lichtstrke, die von einem Kontrollmuster abgegeben wird, berechnet. Dieses Verfahren wird verwendet, um den Eingangsanschluss der optischen Leiterplatte (OCB) in einem greren Bereich als dem Kernbereich gleichmig auszuleuchten, um durch

32、 die Verwendung eines Bildflchensensors; die Strahlung eines Bereichsabbildes des korrespondierenden Ausgangsanschlusses der OCB zu erhalten und um abzuschtzen, ob die erhaltene Strahlung den Vergleich mit der eines Kontrollmusters besteht oder nicht. Der Vorteil dieses Prfverfahrens ist, dass das A

33、usrichten zwischen der Einkopplungsfaser und der OCB nicht erforderlich ist. 2 Normative Verweisungen Die folgenden Dokumente, die in diesem Dokument teilweise oder als Ganzes zitiert werden, sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur die in Bezug genomm

34、ene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen). IEC 60068-1, Environmental testing Part 1: General and guidance 3 Begriffe und Abkrzungen 3.1 Begriffe Fr die Anwendung dieses Dokumentes gelten die folgenden Begriffe

35、. 3.1.1 Abschattung Ungleichmigkeit der erfassten Lichtstrke (Einheit ist die Anzahl) eines Bildes, die durch die ungleich-mige Empfindlichkeit der Elemente eines Bildflchensensors und die Randabschattung in Abhngigkeit vom optischen System verursacht wird ANMERKUNG 1 zum Begriff Die Korrektur der U

36、ngleichmigkeit der erfassten Lichtstrke in eine gleichmige Lichtstrke wird als Abschattungskorrektur“ bezeichnet. 3.1.2 Gammawert Faktor y, wenn die optische Ausgangsleistung mit der folgenden Gleichung in Abhngigkeit von der Eingangsleistung angegeben wird: (Eingangssignal) = A (Ausgangssignal)ywo

37、A eine Proportionalittskonstante ist ANMERKUNG 1 zum Begriff: Wenn y = 1 ist, ist das Eingangssignal linear proportional zum Ausgangssignal. 3.1.3 telezentrischoptisches System optisches System, bei dem die optische Eingangspupille und die Ausgangspupille unendlich weit voneinander entfernt sind und

38、 das optische Hauptsignal parallel zur optischen Achse verluft 4 DIN EN 62496-2-4:2014-04 EN 62496-2-4:2013 3.1.4 Verzerrung Art eines Bildfehlers ANMERKUNG 1 zum Begriff: Das optische Bild steht nicht im richtigen Verhltnis zum ursprnglichen Messobjekt, sondern es ist verzerrt. Es gibt zwei Arten d

39、er Verzerrung: die tonnenfrmige Verzerrung, bei der das Bild nach auen hin verzerrt ist, und die kissenfrmige Verzerrung, bei der das Bild nach innen hin an den Kanten einer Linse verzerrt ist. 3.1.5 Bildflchensensor zweidimensionaler Fotoempfnger in Array-Anordnung, der das Flchenbild im Ganzen erf

40、assen kann ANMERKUNG 1 zum Begriff: Es gibt zwei Typen von Bildflchensensoren: CCD-Sensoren (ladungsgekoppeltes Bauteil) und CMOS-Sensoren (komplementrer Metalloxid-Halbleiter). 3.1.6 Kontrollmuster Muster mit einer optischen Einfgungsdmpfung, die bereits mit dem in IEC 62496-2-1 11)festgelegten Mes

41、sverfahren ermittelt worden ist ANMERKUNG 1 zum Begriff: Die Kernform und die numerische Apertur von Kontrollmuster und zu messenden Mustern sollten gleich sein. 3.1.7 relative optische Dmpfung Differenz zwischen der erfassten Gesamtlichtstrke, die an der Ausgangsanschlussflche der zu messenden Prfl

42、inge abgegeben wird, und der Lichtstrke fr ein Kontrollmuster ANMERKUNG 1 zum Begriff: Die Einheit der relativen optischen Dmpfung ist Dezibel. 3.2 Abkrzungen ACC automatische Stromregelung (en: automatic current control) APC automatische Leistungsregelung (en: automatic power control) CCD ladungsge

43、koppeltes Bauteil (en: charged couple device) CMOS komplemetrer Metalloxydhalbleiter (en: complementary metal oxide semiconductor) LED Licht emmitierende Diode (en: light emitting diode) NA numerische Apertur (en: numerical aperture) OCB optische Leiterplatte (en: optical circuit board) 4 Messbeding

44、ungen Sofern nichts anderes festgelegt ist, werden alle Messungen unter den in IEC 60068-1 festgelegten Bedin-gungen durchgefhrt. 1)Zahlen in eckigen Klammern beziehen sich auf das Literaturvereichnis. 5 DIN EN 62496-2-4:2014-04 EN 62496-2-4:2013 5 Untersuchungsverfahren 5.1 Prfeinrichtung Die Prfei

45、nrichtung muss aus einem Lichtquellensystem, einem Untersuchungssystem, einem Prflingshalter und einer Datenverarbeitungseinrichtung (Bildeingabe und -verarbeitung) bestehen. Der in Bild 1 gezeigte Aufbau sollte fr OCB mit E/A-Flchenanschluss benutzt werden. Das in Bild 2 dargestellte System sollte

46、fr OCB mit E/A-Kantenanschlsse angewendet werden. Die Bewegung zu den und die Justierung auf die Beleuchtungsstellen und Empfangsstellen der Bilder vom Prfling sollte mithilfe der Justiermechanismen erfolgen, mit denen die Leuchte, die Beobachtungsoptik und der Prflingshalter ausgerstet sind. Legend

47、e A1 Lichtquellensystem p1 Tischsteuerung A2 Datenverarbeitungssystem S1 Beweglicher Tisch A3 Untersuchungssystem c1 Optisches Beobachtungssystem L1 Lichtquelle OC Optische Leiterplatte (OCB) HS Prflingshalter LA Gleichmige Beleuchtung DP Datenverarbeitung CI Aufgenommenes Bild Bild 1 Prfsystem fr d

48、ie optische bertragungsprfung ohne E/A-Fasern fr OCB mit E/A-Flchenanschluss 6 DIN EN 62496-2-4:2014-04 EN 62496-2-4:2013 Legende A1 Lichtquellensystem p1 Tischsteuerung A2 Datenverarbeitungssystem S1 Tisch A3 Untersuchungssystem c1 Kamera L1 Lichtquelle OC Optische Leiterplatte HS Prflingshalter LA Gleichmige Beleuchtung DP Datenverarbeitung CI Aufgenommenes Bild Bild 2 Prfsystem fr die optische bertragungsprfung ohne E/A-Fasern fr OCB mit E/A-Kantenanschluss 5.1.1 Lichtquellensystem 5.1.1.1 Lichtquelle Es ist eine inkohrente Lichtquelle wie eine LED anzuwenden, damit die Einfh