QJ 1524-1988 中功率可控硅筛选规范.pdf

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1、Q.J 中华人民共和国航天工业部部标准QJ 1524-88 中功率可控硅筛选规范1988-04-22发布1989-01 -01实施中华人民共扭望自主天工业部发布中华人民共和国航天工业部部标准QJI524-88 中功率可控硅筛选规范1主题内容与适用范围本标准规定了中功率可控硅的筛选要求J筛选程序和方法.本标准适用于航天产品选用电流大于lA小于50A可控硅筛选要求，并作为与辑件生产厂签订技术协议的依据.航天产品上用的可控硅必须按本标准进行100%的筛选.2一般要求2.1筛选目的a剔除掉由于工艺过程中引进的各种缺陷而造成的早期失效可控硅，b通过筛选测试考核可控硅批次质量水平.2.2筛选工伟的基本要求

2、2.2.1筛选工作一般应在器件生产厂进行，如筛选条件与本规范的要求不完全符合则整机厂可根据筛选情况及使用的特殊要求.作补充筛选，2.2.2参加筛选的可控硅应是设计合理、工艺稳定并在生产过程中菁严格的质量控制措施的定型产品.2.2.3筛选过程必须与失效分析相配合.通过失效分析确定产品质量水平.凡属批次缺陷的产品，要整批淘汰4不能简单剔除失效产品后出厂或装机.2.3筛选设备可控硅生产厂和我部筛选单位用的设备必须有专人负责，定期计量.设备性能要符合指标并稳定可靠.在电老化和测试过程中，供电要求稳定，不允许有漏电和各种干扰存在，2.4筛选人员2.4.1参加筛选工作的人员，必须经过培训和岗位考核合格后，

3、才能参加筛选工作.2.4.2每次筛选和测试前，应有二个或二个以上的人员对仪器设备及筛选方法进行检查后才能进行.2.4.3筛选和测试过程中发生异常现象及失效次数较多时，应停止进行，并报告有关部门，查出原因后才能继续进行.2.5筛选记录2.5.1可控硅从筛选开始就要作详细记录，记录原始数据，筛选项目，环境参数使用设备的名称，型号和编号，各次筛选的淘汰率和失效等情况4筛选者应签暑姓名及日期。航天工业部11腾。4-22批准1989-01-01实施QJI524-88 2.5.2可控硅应逐个编号并建卡;才筛选过程中的每一情况作详细记录.2.5.3筛选后要整理筛选报告.(见附录A)3筛选前的检查与准备使用单

4、位在按本标准或补充筛选条件进行筛选时，必须首先检查产品合格证(已筛选过的可控硅要检查筛选报告)和产品的生产年月电气参数等.4筛选程序可控硅应先加应力，后检查测试，一般应按节列顺序进行常温测试高温贮存一低温贮存(需方有要求时)温度循环敲击-电老化低温测试(需方有要求时)高温测试(需方有要求时)气密性试验一常温复测-外观检查.5筛选要求和方法5.1 常温测试常温下按产品标准规定的项目和方法进行测试-5.2高温贮存8.要求温度+150 :!: 2 t 时间:96hb方法按GB4937(半导体分立器件机械和气候试验方法的规定.5.3低温贮存(需方有要求时)a要求温度55 :!: 3 t 时间48hb.

5、方法GB4937的规定.5.4温度循环a要求温度:-55土3t圣125 :t 2 t 循环次数5次转换时间不大于1min 每种温度保持时间30minb.方法按GB4937的规定.c用全检方法检查其致命失效(短路、断路、接触不良、断腿、掉帽等)其淘汰率不大于5%. 5.5敲击a要求敲击次数:3-5次b方法在专用夹具上，用小锤敲击可控硅3-5次，锤头摆动幅度为50mm.在敲击的同时，应在控制板和阴极阐加100mA电流，并用图示仪监视，剔除曲线抖动及短、断路、接触不在的2 QJ1524-88 可控硅，其淘汰率不大于5%注IJ、锤材料为硬啤膛，锤头尺寸为20mmx 40mm x 10mm. 5.6 电

6、老化a要求温度100:t2t:时间。48hb方法.阻断法，原理见图，其方法为在温度100:t 2 t:下，逐步增加50Hz交流电压到可控硅规定的峰值电压，保持48h后，温度降到30:t5t:肘，再逐渐去掉老化电压，恢复常温2h后，在4且内测试完电参数应符合产品标准的要求，其电老化前后正反向阻断电流变化应宋大子。lmA.其淘汰率不大于5%，并剔除使保险丝溶断的可控硅.220V 50Hz 5.7高温测试(需方有要求时)a.要求5o.ll. 阻断法原理图温度+100 :t 2 t: 恒温时间30minb方法参照产品标准规定方法测试，与常温测试数值的相对变化率为VOT不大于50%I目不大于60%5.8

7、低温测试(需方布要求时)a要求温度55 :t 3 t: 恒温时间30minb方法参照产品标准规定方法测试啕与常温测试数值的相对变化率为VOT不大于1.5倍IGT不大于2倍5.9 气密性试验a要求漏率不大于1.01Pa.cm3js (l x 10.大气压厘米3/秒)b方法二A先将可控硅放人容樨内抽真空至133.32Pa(lmml电).保持。见，加压加入氟时昂3 QJI524-88 F -113压力不低于490KP a(5kgf Icm)保持时间不小于2h，再把可控硅投入高沸点氟碾化合物，温度不低于125t ，剔除连续冒泡的可控硅.5，10常温复测常温下按严品标准规定的项目和方法进行测试，应符合产品标准如有特殊要求供需双方可另行商定.5，11总淘汰率要求5，2至5，10条筛选项目的总淘汰率PDA应小于或等于20%. 5，12外观检查用十倍双目立体显微镜或放大镜，检查可控硅，外观质量应符合有关标准规定，并剔除寻|线(或焊片)氧化、断裂、脱落、绝缘子开裂，表面潦层起泡开裂和脱落等缺陷的可控硅.4 型号批号筛选结果筛筛序筛选选南选项矗汰号且目件数数附加说明本标准由航天都七0八所提出.QJ1524-88 附录A可控硅筛选情况报表(参考件)生产日期主要失效模式百分比致命失效费数超量南it 事本标准由航天都三院239厂负责起草.测自试人期员5