HB 6159-1988 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法.pdf
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1、空工HB 6159-88 电磁屏蔽室屏蔽效能的方法1988-04-09发布1988-09-01实施中华人民共和国航空工业批准目录1 名词术语. . . . .们)2 测试频率范围.川.(1) 3 屏蔽效能计算山. .川.(1 ) 3. 1 低频段.川.,. (1) 3. 2 3. 3 超高频段. .,. . . . .山(1)徽波波段.川.(1) 4 要求. .) 4. 1 一般要求山.(幻4. 2 技术要求. . (2) 5 测试方法山.(的5. 1 低频段测试.川.(的5. 1. 1 大环法.川.川)5.1.1.1 频率范围.(3)5.1. 1. 2 测试布局. (3) 5. 1. 1.
2、3 5. 1.1. 4 5. 1. 1. 5 磁场惊. 检测器. 测试步骤. . . (3) . (3) . . a. 初测.(4) (4) (4) (4) b. 实澳.C. 求无屏蔽时的场强.川d.屏蔽效能的确定山5. 1. 2 备用大环法(用于部分壁面可接近的屏蔽室.(5)5. 1. 2.1 频率范围.臼5.1.2.2 5.1.2.3 5. 1. 2.4 5. 1. 2.5 设备布局.(5) 磁场摞. (5) 检测器.川-.(日测试步骤.(5)a.初测. . . . .川. (日b.实测.(5) C.求无屏蔽时的场强.(日d.屏蔽效能的确定. . . . . (5) 5. 1. 3 5.
3、l. 3.1 5. 1. 3.2 5. 1. 3. 3 J、环法. .川.(日频率范围. . (5) 设备布局川. (5) 磁场源. .(5) 1 5. 1. 3.4 5. 1. 3.5 检测器. . .刊的测试步骤. . . .山. . u.仍a.初测山山.川.(的b.实测. .(的c求无屏蔽时的场强. . (创d.屏蔽效能的确定川. . . . . . . . . . . .明)5. 2 超高频段测试.) 哼d( 5. 2. 1 频率范围 (7) 5. 2. 2 设备布局. . . . . . .山. (7) 岳.2. 3 超高频电磁场源. . .川川山. . . . . .但)5. 2.
4、 4 检测器山.(8) 5.2.5 测试步骤. (8) 5.2.5.1 初测.山. . . .) 5.2.5.2 5.2.5.3 实测. . . . .) 求无屏蔽时的自由场强川.(9) 5.2.5.4 屏蔽效能的确定山. .山. .) 5. 3 微波波段测试川. . .仰5. 3. 1 频率范围山. . . .) 5. 3.2 设备布局山. . . .(9) 5.3.3 微波电磁场惊. . (的5.3.4 探测器5. 3. 5 测试步骤(1 0) (1 0) (1 0) (11) ( J 1 ) (1 2) 5.3.5.1 初测5.3.5.2 实测. 5.3.5.3 求无房蔽时的自由场强川.
5、 5.3.5.4 屏蔽效能的确定2 中华人民共和部标准电效法HB 6159-88 本标准为确定电磁屏蔽室榈对屏蔽效能提供一个统一的测量与计算方法。这些方法尤其适用各边尺寸范围在1.515M之间的长方体屏蔽室。1 名词术语本标准中所涉及的名词术语应符合HBS843 -834町m铜线绕成。在低频段,用通用的信号源,再加上合适的降压变压器如通用的音频输出变压器).就足5 HB6159-88 以提供所需的环电流。如果信号源功率不足,可增加小环的回数回在高领段,则要求较大功率的信号源和良好的调谐匹配。5.1.3.4 检测器检测器,可用一台干扰场强仪带一只与发射环相同的接收环,也可用一台商阻抗电压表带一只
6、与发射环相同的接收环,用来测量环中的感应电压。5.3.5 测试步骤a,初测设备布局与图3中的布置相吨,按1.1条要求就绪后按下述方法进行g升高或降低发射到二和接收环,但保持圈3所示的尺寸基本不变,同时注意输出仪表的读数是杏明显地高出正常数值,记录下最坏的情况,若可能应对下列各段所示的部位进行统一测量,并写出有关报告。测试应保证在没有机壳泄漏的情况下进行。当检测器未接上接收环戎接收环在发射环附近被短路时.仪表的读数应远小于最小测量值。b.实测测量按图3布置进行,发射环和接收环,离屏蔽壁各为Q.3m,两者共面并垂直于屏蔽壁要测的部位(缝隙、接头、孔等)。对门而言,要按圈4所示的六个位置进行浏量。环
7、的平面要垂直于受试的门和板缝.对于门的垂直部分(缝).环的中,b位置在门的顶部和底部总沃的三分之一处.对于门的水平部位,环应在两垂直边框等距处。如果条件许可,垂直接缝的上端和下端应按图们的和(b)进行测试,否则用图4Cd)所示的位置进行。屏蔽室任何不连续处都要进行测试。(末连续处应包括螺钉或锄钉连接、焊接等),测试方法与门相似,只是环的中心应位于具接缝的中点。拐角处的接缝按圈4(d)或(c)来进行。拐角可以接近时,则应按图们的进行。通风孔、电源滤搜器按接缝处理,环的平面距屏蔽壁O.3m,并垂直于板和通风孔所形成的接缝,对唯其中心点。为方便测试,发射环与接收环的位雪,允许近似共面,在测量时,接收
8、环应重新调整方位,升高或降低(至少为缝长的四分之一)。以保证测得最坏的情况,对每一位置,测量值应取最大的检测读数。c求无屏蔽时的场强无屏蔽室时,信号源产生的磁场强度H,由接收环直接测量得到。发射环与接收环的中心距离。.6m加上屏蔽壁的厚度,与屏蔽室在时距离相同。d屏蔽效能的确定如果检测器是干扰场强仪,并按等效的电场(伏/米)进行校准,则无屏蔽时的磁场强度为2FI=Ee等效jz(1日有屏蔽室时的磁场强度为E= E2等效jZ . ( 16) 6 HB615988 如果检测器是高阻抗电压表时,磁场强度可用下列公式算出3对于接收环为,H1 =V,(NA2f) -j . (1 7) H,V,(N2f)一
9、L . . . . . .川(18)式(1 7)、(8)中2mu , A、f定义同5.1. . 4条N一一表示坏的匣数2V,一一元屏蔽时测得的等效电ffi(V) V,-有屏蔽时测得的等效电压(V) 对于小环法测试:Nl A (0.3) Xn/4 电()= 4X 10- H,二1.7XIOXV,/fE.(1 70) ll, = 1.7 X 10 X V,!f.(18时屏蔽效能由公式。)算出最小值.由公式(5)和公式(J)算出平均值。5.2 越南频段测试超高频测试方法是用来测量在超高频段内屏蔽室整体性能的。为了模拟近源效应,这里提出了一种专门的测试方法,用来测量屏蔽壁面某-部位的屏蔽效能.远源效应
10、是对屏蔽壁所有可能接近部位的测量结果,进行综合考虑的。5. 2. 1 频率范围测试的频率在E围为300lOOOMHzo信号源的频率范围应选择得比屏蔽室最低固有谐振频率高出许多。对于一般型式(长方体)的屏蔽军其固有谐振频率也,可由下列公式算出=即,fo=150、(K/W子+Cm/h) +归11).(MHz) 式中K、响、n为正整数0,, 2. W、h, ,分别为屏蔽寰的宽、高、长,M当w比h或t小时,最低固有谐振频率可由下式计算Ef 150/hV1丰T万万. . (MHz) .川川(19) 式中,h、i为屏蔽室最大侧壁的高度和长度.单位为m。这一频率也可由阁5查到。5. 2, 2 设备布局所有信
11、号源、接收装置和测量设备以及它们与屏蔽室的相对布置方式,按图6、图7所示。7 HB6159-&8 5.2. 3 超高频电磁场源信号发生器至少能向匹配负载提供10瓦的功率。情号发生器应接到750不平衡到300()平衡的变换器上,变换器的3000输出端应接到对称折叠偶极子天线r.该偶极于天线调谐在测试频率的半波长上。只要能提供平衡激励并消除电缆辐射的其它形式的天线也是可以的,但应在测试报告中说明.电缆应垂直子天线,其至少为2m或2坟,取其中数值较大的一个。5. 2. 4 检测器接收天线是一个电偶极子,其总的电长度为八分之-波长(阻扰变化最J,)0接收天线的输出通过平衡/不平衡变换器接到天线电缆(如
12、SYV-50-3或类似的同输电缆)再接到场强仪1:0 (如图6所示)如果干扰场强仪没有自身衰减或衰减不够时.最好在干扰场强仪前端加一个衰减器。干扰场强仪应远离测试区,除在非常靠近屏蔽室壁或屏蔽室地板的区域外,同轴电缆必须总是垂直于电偶极子的轴线,干扰场强仪应有川OdBm或更高一些的灵敏度,并且与屏蔽室的导电部分绝缘。5. 2. 5 测试步骤5.2.5.1 初测按4.1条要求就绪后,按图6所示进行。将发射天线大致正对着l*检查区域,接收天线为探测器,初步确定出透入最大的部位。下列部位应检查测试z门缝,电源滤波器安装板,通风孔四周壁缝以及同轴电缆迸出口。接收天线放在离受试都位1/1波长距离咐,改变
13、它的位置和极化方向找出最大值的地方。最好所有的缝隙和搭接处,用这种方法快速的查一遍.一旦探明某一位置,则按图B所示的距离离受照中心点约士.3m)变换发射天线的位置,探测图6所指出的邻近区域。如果屏蔽室性能差,建议在实测前采取补救的措施,穿透特别大的区域,应在测试报告中注明。5. 2. 5. 2 实测将屏蔽室的壁面划成较小的区域,发射天线逐个照射而进行测量目发射天线与屏蔽壁之间的距离,是按在提供较小区域内受到较均匀照射的原则进行选择的。对于高度不超过3m的屏蔽室,发射天线的每一位置相隔2.6m (即较小的区域为2.6mX2. 6m) 0 对于高度超过3m的屏蔽室,应分层按上述分割的区域进行测试,
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