GB T 22092-2008 电子数显测微头和深度千分尺.pdf

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1、ICS 17.040.30 J 42 岳重3中华人民共和国国家标准GB/T 22092-2008 电子数显测微头和深度千分尺Fixed micrometer and depth micrometer with electronic digital display 2008-06-25发布2009-01-01实施b码自E仿中华人民共和国国家质量监督检验检瘦总局也世中国国家标准化管理委员会。叩前言本标准的附录A为资料性附录。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC132)归口。本标准负责起草单位z苏州麦克龙测量技术有限公司。本标准参加起草单位2成都工具研究

2、所。本标准主要起草人z黄晓宾、张洪玲、姜志刚。GB/T 22092-2008 I GB/T 22092-2008 电子数显测微头和深度千分尺1 范围本标准规定了电子数显测微头和深度千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。本标准适用于分辨力高于或等于0.001mm，量程小于或等于30mm的电子数显测微头和深度千分尺。量程等于50mm的电子数显测微头和深度千分尺参见附录Aa2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成胁议的各方研

3、究是否使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T 1216-2004 外径千分尺GB/T 2423. 3-2006 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Cab:恒定湿热试验。EC60068-2-78:2001,IDT) GB/T 2423. 22-2002 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验N:温度变化CIEC 60068-2-14 :1 984 , IDT) GB 4208-2008 外壳防护等级CIP代码)GB/T 17163 几何量测量器具术语基本术语GB/T 17164几何量测量器具术语产品术语GB/T 17626.2-2006 电磁

4、兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验。EC61000-4-2: 2001 , IDT) GB/T 17626.3-2006 电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验。EC61000-4-3 :2002 ,IDT) 3 术语和定义GB/T 17163和GB/T17164中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3. 1 电子数显千分尺数显装置electronic digital indicating devices for micrometer 利用角度传感器、电子和数字显示技术，计算并显示电子数显千分尺的螺旋副位移的装置。以下简称电子数显装置。3.2 最大允许误差(MPE)maximum

5、permissible eor 由技术规范、规则等对电子数显测微头和深度千分尺规定的误差极限值。3.3 浮动零位floating zero 在测量范围内任意位置设定零位。1 GB/T 22092-2008 4 型式与基本参数4. 1 型式电子数显测微头的型式见图1所示p电子数显深度千分尺的型式见图2所示。图示仅供图解说明，不表示详细结构.测量面测徽螺杆安装部位锁紧装置电子数显装置徽分简测力装置4.2 基本参鼓4.2. 1 电子数显测微头和深度千分尺测4.2.2 电子数显测微头和深度千分尺的量程宜为25mm或30mm. 4.2.3 电子数显测微头安装部位的直径宜为;12h6.4.2.4 电子数显

6、深度千分尺的测量范围的下限宜为0或25mm的整数倍.5 要求5. 1 外观5. 1. 1 电子数显测微头和深度千分尺表面不应有影响外观和使用性能的裂痕、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷.5. 1.2 电子数显测微头和深度千分尺表面的镀、涂层不应有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。5. 1.3 电子数显装置的数字显示屏应透明、清洁，无划痕、气泡等影响读数的缺陷。5.2 材料5.2. 1 底板应选择合金工具钢、不锈钢或其他性能类似的材料制造。GB/T 22092-2008 5.2.2 测微螺杆和测量杆应选择合金工具钢、不锈钢或其他性能类似的材料制造z测量面宜镶硬质合金或为其他耐磨材料，5.3 相互作用5

7、.3. 1 测微螺杆和螺母之间在全量程范围内应充分啃合，配合良好，不应出现卡滞和明显窜动。5.3.2 测微螺杆伸出的光滑圆柱部分与10 N之间，测量力变化不5.5 锁紧装置电子数显测微头的距离变化应不大5.6 底握底板的长度5. 7 测量杆测量杆相5.8 测量面5.8. 1 合金575 HV(或535.8.2 测世5.8.3 长度规50平面度误差应5.9 标尺如电子数显5. 10. 1 功能锺电子数显装置的司5. 10.2 鼓字显示屏电子数显装置的数字显5. 10.3 角度传感器电子数显装置的角度传感器宜为二5. 10.4 分度误差电子数显装置的分度误差不应大于0.002mm. 5. 10.5

8、 数值漂移电子数显装置的数值漂移不应大于其分辨力，5. 10.6 电源电子数显装置的电源电压应为1.5V或3V. 5.10.7 通讯接口5.10.7.1 电子数显装置宜设置通讯接口。微螺杆。锁紧后测量面大于表1的规定。的硬度不应小于于0.3m。的底板测量面的5. 10.7.2 电子数显装置的通讯接口宜为RS-232或USB。制造商应能够提供电子数显装置与其他设GB/T 22092-2008 备之间的通讯电缆和通讯软件。5. 10.8 防护等级(lP)电子数显装置应具有防水、防尘能力，其防护等级不得低于IP40(见GB4208-2008)。5. 10.9 工作环境电子数显装置应能在环境温度oc

9、-40 c、相对湿度不大于80%的条件下，进行正常工作。5. 10. 10 抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力电子数显装置的抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力均不应低于1级(见GB/T17626. 2-2006、GB/T 17626. 3-200的，5. 11 最大允许误差5. 11. 1 电子数显测微头的最大允许误差为3m。5. 11.2 电子数显深度千分尺的最大允许误差应符合表1的规定;安装同一套测量杆中的任意一个测量杆，均应符合表1的规定。表1测量范围/mm最大允许误差/m。-25士425-50 土550-100 土6100-150 士7150-200 土8200-250 士9250-300 士

10、105. 12 重复性电子数显测微头和深度千分尺的重复性不应大于0.001mm. 6 栓验方法6. 1 测量面对零误差/m土2士3士4土5土6士76. 1. 1 测量面的平面度可用二级光学平晶检验。平晶应调整到使其干涉带的数量尽可能的少或使其产生干涉环。测微螺杆和测量杆测量面边缘的0.4mm区域内、底板测量面边缘的1mm区域内的平面度忽略不计。6. 1. 2 测量面的硬度可在测量面上或距测量面1mm的部位处检定F对于镶硬质合金或其他耐磨材料的测量面，其硬度可不做检定。6. 1. 3 电子数显测微头的测微螺杆测量面的垂直度误差可用自准直仪检验。6.2 对零误差检验时，先安装omm-25 mm测量

11、杆并校准电子数显深度千分尺的零位，然后更换测量杆，测量相应测量杆下限尺寸的量块，电子数显深度千分尺显示值与量块实际尺寸之差即为对零误差。6.3 电子鼓显装置6.3.1 分度误差分度误差在1圈内沿测量方向均匀检25点.检验时，分别读出各受检点的电子数显装置显示值与微分筒读数值之差，做出误差曲线，其最高点与最低点之差，即为电子数显装置的分度误差。对于没有微分筒的电子数显测微头和深度千分尺，可以将分度误差不大于20分的鼓轮固定在角度传感器的传动4 GB/T 22092-2008 轴上，检验方法同上。注1:如果把电子数显测徽头和深度千分尺的最大允许误差的检验点投影到角度传感器的同一等分上时有不少于4个

12、独立点，此时最大允许误差的检验结果己包含了角度传感器的分度误差，允许不检验分度误差。注2:当电子数显装置的角度传感器为二等分或四等分，采用表2中的尺寸系列检验最大允许误差时，允许不检验分度误差.当电子数显装置的角度传感器为五等分，采用5.12mm、10.24mm、15.36mm、21.5 mm、25 mm尺寸系列检验最大允许误差时，允许不检验分度误差.6.3.2 数值漂移在任意位置下使测微螺杆固定，并保持1h。观察电子数显装置显示数值的变化。6.4 最大允许误差6.4. 1 电子数显测微头的最大允许误差用准确度为1级的量块或测长仪检验，检验点见表2.检验应排除安装的影响，用浮动零位原则判定。用

13、量块检验时将电子数显测微头紧固在夹具上，并在最小量限处安装一个球测量面的测耐，在两测量面间放入量块进行检验。将各受检点的电子数显测微头显示值与量块尺寸的差值绘制成误差曲线，曲线上最高点与最低点在纵坐标上的差值即为电子数显测微头的示值误差。6.4.2 电子数显深度千分尺的最大允许误差将电子数显深度千分尺在其下限尺寸处校准，在精密平板上放置一对等于其上限尺寸的量块，使深度千分尺的底板测量面贴合在量块上，然后在深度千分尺测量杆和精密平板之间放人一组准确度为1级的量块(尺寸系列见表2)进行检验，得出电子数显深度千分尺显示值与量块尺寸的差值，其中绝对值最大的差值为电子数显深度千分尺的示值误差。对于测量范

14、围的下限大于25mm电子数显深度千分尺，需采用适合于其测量范围的专用量块或将量块研合进行检验。误差的计算方法同上。表2单位为毫米量程量块的尺寸系列25 2.5;5.1;7.7;10.3;12.9;15;17.6;20.2;22.8;25 30 2.5;5.1;7.7;10.3;12.9;15;17.6;20.2;22.8;25;30 6.5 重复性在完全相同的测量条件下，重复测量5次，其5次显示值间的最大差异即为电子数显测微头和深度千分尺的重复性。7 试验方法7. 1 防水、防尘试验电子数显测微头和深度千分尺的防水、防尘试验应符合GB4208-2008的规定。7.2 温度变化试验电子数显测微头

15、和深度千分尺的温度变化试验应符合GB/T2423. 22-2002的规定。7.3 湿热试验电子数显测微头和深度千分尺的湿热试验应符合GB/T2423.3-2006的规定。7.4 抗静电干扰试验电子数显测微头和深度千分尺的抗静电干扰试验应符合GB/T17626. 2-2006的规定。7.5 抗电磁干扰试验电子数显测微头和深度千分尺的抗电磁干扰试验应符合GB/T17626. 3-2006的规定。E GB/T 22092-2008 8 标志与包装8. 1 电子数显测微头和深度千分尺上应标志za) 制造厂厂名或注册商标zb) 测量范围zc) 分辨力zd) 产品序号se) 防护等级高于IP40时，宜标有

16、防护等级标志，如果受尺寸的限制，电子数显测微头允许不标志a)、b)、c)、e)项。8.2 测量杆上应标有其长度标称尺寸.8.3 电子数显测微头和深度千分尺包装盒上至少应标志za) 制造厂厂名或注册商标;b) 产品名称zc) 测量范围。8.4 电子数显测微头和深度千分尺在包装前应经防锈处理并妥善包装，不得因包装不善而在运输过程中损坏产品.8.5 电子数显测微头和深度千分尺经检验符合本标准要求的应附有产品合格证及使用说明书，产品合格证上应标有本标准的标准号、产品序号和出厂日期.6 GB/T 22092-2008 附录A(资料性附录)量程等于50mm的电子数显测微头和深度千分尺量程等于50mm的电子

17、数显测微头和深度千分尺的最大允许误差不应大于表1的规定值加lm。量程等于50mm的电子数显测微头和深度千分尺的最大允许误差检验量块的尺寸系列为z5.12 mm, 10.24 mm, 15.36 mm, 21. 5 mm, 25 mm, 30.12 mm, 35. 24 mm, 40. 36 mm, 46. 5 mm, 50 mm OON|NmONN眨筒。华人民共和国家标准电子鼓里测徽头和露度千分尺GB/T 22092-2008 国中司晤中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里凋北街16号邮政编码:100045同址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销* 印张0.75字数13千字2008年9月第一次印刷开本880X12301/16 2008年9月第一版* 定价14.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533书号:155066 1-33710 G8/ T 22092-2008