SJ Z 9008.4-1987 微波电子管电性能的测试 第5部分:小功率振荡速调管.pdf
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1、中华人民共和国电子工业推荐性部标准口电r曹5部分:IJ功率振荡速调曹Measurement of the electrical properties of microwave tubes Part 5: Low-power osci)ator klystrons 1 一般要求和注见SJ/Z9008.2 (工EC2352)中第1章条。1 1 半导体二极营SJ/Z 9008.4 87 IEC 235 5(1972) 当输出功率用半导体二极管的输出来检验时,需在检验的整个功率和频率范围内校准二极营的响应特性。应采用适当的方法以相对功率电平来校准二极管响应特性。项z因为半导体易受瞬变过程和其它原因!而
2、损坏,所以要经常反复校准。1. 2 外接腔体测量中将使用标准的腔体和组件。2.测试方法2. 1 反射极电流2. 1. 1 反射极总电流反射极总电流可以在速调管处于非振荡状态下,在反射极回路申串接一毫安表测出F或者在速调管处于振荡状态下,可以在反射极回路中串接一毫安表测出,也I可以按已知的高值电阻在反射极阳路中!音75!入的效应测出。在后者情况下,反射极电梳能通过测量使速调智的工作频率江iiE乏主IJ原始院所必需的反射费电l*E压的变化计算出来。2. 1. 2 反射极面电梳调整速i周管的栅极倚n:或者断开其阴极回路?使谐振控电流!换到零哈然后拥量反射极电流。2. 1. 3 反射极离子电it气体吧
3、?每)将速调管在非振荡状态下测得的反射极总电流诫去反射极踊吨1在测量中i第 一一一中华人民共和离电子工业部19870914批准铃1* S .T /Z 9008.4一872. 1.2条测得的电流垣,其差值就是反射极离子电流。2. 2 功率见SJ/Z9008.2 (工卫C2352)中的5条。2. 20 1 平均射频输出功见SJ/Z9Q08.2 (IEC235 2)中的5 1条。节调i皆装置,使速调管在参考频率上将最佳功率馈人规定负载,然后出功率。2. 3 脉冲见S,T / Z 9008.2 (IE C 2 35 2)中的6条。2. 4 频率见SJ/Z9008.2 (工EC2352)中的7条。2.
4、4. 1 预热时的颇率该测量是在规定时间和在规定的温度条件下进行。频率漂移是在规定时间间隔内的总的频率变化。注.1一一有时必需考虑测量期间发生的功率变化,z一一通常最好规定进行测量时的时间间隔的起始时间.2. : 频谱宽度见SJ/Z9008.2 (工EC2352)中的7 1条。2. 6 周i皆见SJ/Z9008.2 (工EC2352)中的13条。2. 6. 1 频率调谐范围z见S.T/Z9008.2 (工EC2352)中的131条。率调谐范,围是其输出功率大于某一规定值时或是其输出功率大于占最佳输出功率规定百分比时的频率之差。i!.在该测量中,速调管始终保打在最佳输出功率状态。2. 6. 2
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