SJ Z 9001.35-1987 基本环境试验规程 第2部分:各种试验 温度变化试验导则.pdf
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1、中华人民共和国电子工业推荐性部标准SJ/Z 9001 .35 87 IEC 68一233(1987)1 51 Basic environmental testing pr:吃己dursPart2: tsts Guidanc巳onchange of t.:.mperatur已tests一一一一本推荐标准在温度变化试验的某范和应罚方百结设计和试验人员提供指导。温度变化试验的目的在于确定提皮变化或连续均温度变化对试验样品的影响。本试验不打算-ZJ于说明仅仅是由高温或仅仅是由抵温的作用。对这些作用,要使用千热i式验或主主冷试验。本试验的影响取决于za-53RAEL皮变化的条件试验温泣的高温值和低温佳,
2、b. 试验样品保持在这些温度中的条件试验时间3C. 这些温应间的变化;事,率pd. 条件试验的循环数pe. 输入试验样品内或由试验样品放出的热量。2 温度变化的现场情况在电子设备和元器件中出现的,通常只是温皮的逐渐变化。在设备没有开用时,其所受的祖度变化,在设备内部的零件比那些在设备外表面的零件要惺些。预期可能会出现迅速的温度变化的场合ia. 当设备从温暖的室内环境中搬到寒冷的室外条件时,或相反,b. 当设备由于受雨淋或浸入冷水里而突然冷却时zC. 装在飞机外面的设备中sd. 或者在某些贮存和运输条件下。当设备接通后在其内部有高的温度梯皮时,元95件就会受到沮皮变化的应力。例如,在一一中华人民
3、共和国电子工业部198711 2批准1 SJ/2 9001.35 87 大功率的电阻附近,辐射会使其相邻的元器件表面温度上升,而其它部分则还是冷的。人工冷却的元器件,当冷却系统接通时会受到迅速的温度变化。元器件中的迅速温度变化也会在设备制造过程中产生。要的是温度变化的次数、幅度以及它们之间的时间间隔。当变换时间为2-3min时,试验样品所受的热应力,小的元器件要比大的元器件来小。虽然如此,热应力总会同这一试验样品在几分钟内从一个温度极端到另一个温度极端的大气中所受到的应力有一定的关系。和温降对元器件和设备的影响会是不一样的。在元器件或设备上出现露或霜会引起外的应力,当不希望有这些额外应力的地方
4、,必须适当地控制温度,以减少其影响。3 基本原理3.1 温度变化试验的设计SJ/2 9001.4( IEC 68一214)的温度变化试验Na.Nb和Nc包括有高温和低温的交变时期,从种温度到另一种温度的转换有很明确的规定。从室温到头个条件试验温度,然后到第二个条件试验温度叉回到室温这一个叫做一个试验循环。3.1.1 试验参数a. 室温zb. 高温zc. 低温zd. 暴露持续时间ze. 两种极端温度暴露之间的问阳时fliJJ f. 循环的次数。高温和低温应理解为大多数试验样品在具有远的时间滞后的条件下能达到的周围度。只有在例外的情况下,才将它们规定在被试物体正常贮存或工作温度泡围之外。试验是加速
5、了的,因为在给定时间内温度的急剧变化次数要比现场条件下所发生的次数较多。3.2 试验的目的和选用温度变化试验并不打算精确地模拟现场条件.温度变化试验的目的是给试验样品以应力以便确定它们的设计或制造是否正确。3.2.1 在下列情况下,推荐进行温度变化试验z3.2.1.1 评定温度变化期间的电气性能,用试验Nbo3.2.1.2 评定温度变化期间的机械性能,用试验Nbo3.2.1.3 评定在规定的温度急剧变化次数后的电气性能,用试验Na或试验Nc。3.2.1.4 评定机械元件和材料以及材料组合耐受温度急剧变化的适应性,用试验Ta或试旋Nco 2 SJ/Z;900l.35 87 5.2.1.5 评寇元
6、器件的结构耐受模拟应力的适应性,用试验Na或试验N;o3.2.2 基本环境试验规程中所规定的温度变化试验并不打算用来评寇在两种极端温度的隐过状态下工作时的材料常数或电性能的差别。3.3 暴露时间的选择暴露时间取决于试验样品(或其易受损害部分在将近达到其周围的空间或被捕温度时的热时间常数。因而搞清楚试验样品的热时间常数是重要的。由于大件试验样品(设备)内部和外部的热时间常数可能相差相当大,故以考虑最里面或最易受损害部分的热时间常效为妥。时间常数取泱于周围的介质(在试验Na和Nb中是空气,在试验Nc中是永的性质和运动,因此希望在试验的实际周围条件中通过试验把它测定出来,选择暴露时间时,应作如下考虑
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