GB Z 6113.403-2007 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第4-3部分：不确定度、统计学和限值建模 批量产品的EMC符合性确定的统计考虑.pdf

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1、lCS 3310020L 06 a目中华人民共和国国家标准化指导性技术文件GBZ 6113403-2007CISPR 16-4-3TR：2004无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第43部分：不确定度、统计学和限值建模批量产品的EMC符合性确定的统计考虑Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods-Part 4-3：Uncertainties，statistics and limit modelling-Statistical considerations in the de

2、terminationof EMC compliance of massproduced2007-0905发布(CISPR 1 6-43TR：2004，IDT)宰瞀嬲紫瓣警麟瞥星发布中国国家标准化管理委员会促111GBZ 61 13403-2007CISPR 1643TR：2004目 次前言引言l范围2规范性引用文件3术语、定义和符号-4一般要求41限值-42型式试验的方法5发射测量51基于非中心t分布的试验52基于二项式分布的试验53基于附加的可接受限值的试验54在不符合情况下的附加抽样55上述4种不同方法的特点56符合性判据和测量设备设施的不确定度6抗扰度试验61在抗扰度试验中CISPR

3、80180准则的应用62 CISPR 8080准则的应用指南附录A(资料性附录)确定无线电干扰限值时的统计考虑附录B(资料性附录)不完全样本的情况下对无线电骚扰统计参数的分析评估“附录C(资料性附录)基于附加的可接受限值的试验参考文献一I11111222445566668坞龃GBZ 6113403-2007CISPR 16-4-3TR：2004刖 置GBZ 6113403等同采用国际技术报告CISPR 16-43TR：2004无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第4-3部分；不确定度、统计学和限值建模批量产品的EMC符合性确定的统计考虑(英文版)，本部分的全部内容为指导性。鉴于IECCIS

4、PR 16为电磁兼容系列基础标准，且篇幅大，内容多，为了方便标准的制定、维护和使用，2002年IECCISPR A分会决定对该标准的结构进行重大调整，将原来的4个分部分拆分为现在的14个分部分，2006年增至15个分部分，并从2003年11月起陆续发布。我国依据等同原则，将陆续完成相应国标的制修订工作。该系列标准中的新、旧国家标准及其与IECCISPR 16系列标准出版物的对应关系如下旧标准编号和名称 新标准编号和名称GBT 6113101(idt CISPR 1611)第1 1部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备测量仪器GBT 6113102(idt CISPR 161 2)第1-2部分：无线电

5、骚扰和抗扰度测量设备辅助设备传导骚扰GBT 6113103(idt CISPR 16 1 3)GBT 611311995(eqvCISPR 16 1：1993)。第1-3部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备骚扰功率无线电骚扰和抗扰度测量设各GBT 6113104(idt CISPR 16-1 4)第14部分；无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备辐射骚扰GBT 6113105(idt CISPR 1615)第1 5部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备30 MHz1 000 MHz天线校准场地GBT 6113，201(idt CISPR 16-21：2003)第2-1部分：无线电骚扰和抗扰度测量方法

6、传导骚扰测量GBT 6113202(idt CISPR 1622：2004)第2-2部分：无线电骚扰和抗扰度测量方法GBT 611321998 骚扰功率测量(eqv CISPR 162二1996)GBT 6113203(idt CISPR 1623：2004)无线电骚扰和抗扰度测量方法第2-3部分：无线电骚扰和抗扰度测量方法辐射骚扰测量GBT 6113204(idt CISPR 162 4：2004)第2-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量方法抗扰度测量GBZ 6113403-2007CISPR 16-4-3TR：2004旧标准编号和名称 新标准编号和名称CISPR 16 3：2000 GBZ 6

7、11332006(idt CISPR 16-3：2003)Reports and recommendations of CISPR 第3部分：无线电骚扰和抗扰度测量技术报告GBZ 6113401-2007(idt CISPR 1641：2003)第4-1部分：不确定度、统计学和限值建模标准化EMC试验的不确定度GBT 6113402-2006(idt CISPR 1642：2003)第4-2部分：不确定度、统计学和限值建模测量设备和设施的不确定度CISPR 164：2002cnz 61 13403-2007(idt C1SPR 16-4-3：2004)第4-3部分：不确定度、统计学和限值建模U

8、ncertainty in EMC measurements 批量产品的EMC符台性确定的统计考虑GBZ 61134042007(idt C1SPR 16-44：2003)第44部分：不确定度、统计学和限值建模抱怨的统计和限值的计算模型GWZ 6113405(idtCISPR 1645：2006)第4-5部分：不确定度、统计学和限值建模替换试验方法的使用条件注1：*修订中*待制定；黑体字为该标准的本部分。注2：表中除GBZ 6113403以外的国家标准名称以制定或修订后发布的标准名称为准。注3：CISPR 16系列标准调整之前没有与CISPR 163和CISPR 164相对应的国家标准。本部分

9、的附录A、附录B和附录c为资料性附录。本部分由全国无线电干扰标准化技术委员会(sAcTc 79)提出并归El。本部分起草单位：信息产业部电子工业标准化研究所、北京交通大学、上海电器科学研究所(集团)有限公司。本部分主要起草人：陈俐、张林昌、闻映红、崔强、寿建霞。GBZ 61 13403-2007CISPR 16-4-3TR：2004引 言本部分内容主要涉及确定批量产品电磁兼容符合性的统计考虑，其目的旨在为确定批量生产的电子及电器产品的电磁兼容符合性提供基于统计技术上的指导。本部分共分6章，其主要内容包括范围、规范性引用文件、术语、定义和符号、8080“准则的一般要求、发射试验中80“80准则应

10、用的特定要求和抗扰度试验中8080准则应用的指导。此外，附录A给出了确定无线电干扰限值的统计考虑。附录B给出了不完全样本的情况下对无线电骚扰统计参数的分析评估。附录C叙述了基于附加的可接受限值的试验方法的数学理论。1范围GBZ 6113403-2007CISPR 16-4-3TR：2004无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第4-3部分：不确定度、统计学和限值建模批量产品的EMC符合性确定的统计考虑本部分论及了确定批量产品电磁兼容符合性的统计考虑。对该统计考虑的原因有：a) 降低干扰的目的在于使大多数合格的产品不再引起干扰；b)CISPR(国际无线电干扰特别委员会)的限值不仅要适合单个产品

11、的型式批准，而且要适合批量生产的产品的型式批准；c) 必须应用统计技术以保证批量生产的产品符合CISPR的标准；d)当应用到每一个国家时，对限值意义的理解应该是相同的，这一点对国际贸易是重要的；e)参与CISPR合作的IEC的各国家委员会应努力寻求它们所在国家权威机构的认可。因此，本部分基于统计技术规定了要求并提供了指导。批量产品的电磁兼容符合性应当基于统计技术的应用，此技术必须向消费者确保所研究类型的产品的80、以80的置信度符合发射或抗扰度要求。第4章给出了这种所谓的8080准则的一般要求。第5章给出了8080准则应用于发射试验更多的特定要求。第6章给出了CISPR 80蹦180准则应用于

12、抗扰度试验的指南。80180准则保护消费者不会获得不符合的产品，但是这并不表示来自于抽样的一批产品将被接受的概率。这种接受的概率对制造商是非常重要的。附录A，给出了更多关于接受概率(制造商的风险)的信息。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GBT 4365 2003电工术语电磁兼容(idt IEC 60050(161)：1990+A1：1997+A2：1998)G

13、BT 6113402-2006无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第4-2部分：不确定度、统计学和限值建模测量设备和设施的不确定度(CISPR 1642：2003，IDT)3术语、定义和符号GBT 4365-2003中确立的术语、定义和符号均适用于本部分。4一般要求下面有关对CISPR限值和使批量生产的产品符合该限值的统计抽样方法的解释是适用的。41限值411 CISPR限值是一种推荐给各国权威机构，以便纳入其国家标准、相关法规以及官方规范当中使用的限值。同时，也建议国际组织使用这些限值。412对于产品的型式批准，限值的含义是：在统计学的基础上，至少以80的置信度、批量生产的产品至少有80

14、符合限值。1GBZ 6113403-20071CISPR 16-4-3TR：200442型式试验的方法可以使用如下两种方法进行型式试验：421 同类型产品样本的使用当使用这种方法时，同类型产品样本应根据第5章(发射试验)和第6章(抗扰度试验)所叙述的方法进行统计评估。与限值的符合性的统计评估应根据第5章和第6章所叙述的方法或根据某些其他确保符合412要求的方法进行。422具有后续质量保证试验的单个产品的使用为简便起见，最初的型式试验只对一个产品进行。然而，经常从生产过程中隧机抽取产品进行跟踪试验是必要的。423型式批准的撤销当撤销型式批准可能引起异议的情况下，只有按照上述421在对足够的样本进

15、行试验后，才能考虑撤销与否。5发射测量应按照下述51、5z或53的三种试验之一，或者根据保证符合412要求的其他试验来作出与发射限值的符合性的统计评估。51基于非中心t分布的试验该试验的样本大小应该不小于5；但是如果在特殊情况下无法获得大小为5的样本，此时样本大小可以取3。通过下式来判断是否符合限值：士。+孟S。L(1)式中：z。容量为n的样本电平的算术平均值(dB(”V)，dB(PVm)或者dB(pW)；、_、5：一1(n-1)2JQi)2(2)z单个样本的电平(dB(sV)，dB(弘Vm)或者dB(pW)。以80的置信度认为80的产品低于限值时，从非中心t分布表中所查得的因子；女取决于样本

16、大小。与n的关系如表1所示。L允许的限值(dB(“V)，dB(pVm)或者dB(pW)。表1系数k与样本大小n的关系n 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12l t 204 1，69 15Z 142 135 130 127 124 121 120z、z。、S、L的值是用对数来表示的。如果由于测量设备灵敏度不够而导致样本中的一件或几件设备不能够被测量，那么用附录B叙述的方法加以解决。511子频段试验5111概述8080准则应用于样本的每一个EUT在特定的频率或频率范围的特定发射。现代计算机控制的测量设备通常在完成全频段扫描后再在整个发射频谱的某些频率上测量数量有限的最高骚扰电平。因为在相同

17、频率上的骚扰电平或(即)最高发射频率上的骚扰电平会因EuT的不同而不同，所以在样本中最高骚扰电平所对应的测量频率，通常也会随着EUT的不同而变化。因此很难在相同的频率上获得每一个EUT的骚扰测量电平来计算其平均值和标准差，这些测量结果也就不能应用8080准则。基于这个原因，将整个频率范围划分成一定数量的子频段是有用的，它允许在每一子2GBZ 61 13403-2007CISPR 16-4-3TR：2004频段通过取最高的测量电平后再在整个频率范围内进行发射频谱的统计分析。为了在80180准则中使用非中心分布，有必要对测量值进行归一化。这样就可以使这些归一化的测量值在子频段内使用8080准则，而

18、与子频段内的限值是否变化无关。应将整个频率范围在对数频率轴上分成数个子频段。如果产品委员会规定了变化的限值，那么子频段的起止点可以对应于限值变化的频率点。注：子频段仅适用于基于非中心分布的试验。5112子频段的数量建议将那些尚在考虑中的骚扰测量方法的频率范围划分成多个子频段。每一子频段的宽度作为频率的函数以对数方式减小。对于不同的骚扰测量方法，建议按以下数量划分子频段：对于骚扰电压的测量，在不超过30 MHz的频率范围内至少划分成8段；对于骚扰功率的测量，在30 MHz300 MHz的频率范围内至少划分成4段；对于骚扰场强的测量，在30 MHz1 000 MHz的频率范围内划分成8段左右。注1

19、：子频段数量的确定应使得骚扰特性的频率依赖性能被评估。当子频段的数量减小时，如果限值对发射平均值与标准差之和的比在子频段内不减小即可认为满足这个条件。注2：根据不同产品的骚扰特性，产品委员会应确定子频段的数量。注3：所推荐的子频段数量基于GB 43431和GB 9254的装置设备的抽样研究。注4：子频段的过渡频率应使用下式计算：一。lo扣罄式中：i一1一，表示第z个子频段的过渡频率；f,ow，u，分别是整个频率范围的低端、高端频率；N子频段的数量。注5：对于主要是窄带发射，有可能通过预先检查选择那些单个的窄带发射，使用非中心f分布而无需再划分子频段。5113测得的骚扰电平的归一化应将子频段内测

20、量值的平均值和标准差与限值进行比较。因为限值在整个子频段内有可能不是常量，所以测量值的归一化是必须的。为了归一化，需要确定最高测量电平所对应的特定频率，处被测电平z，与限值电平L，之间的差值d。只要测量值低于限值，则差值为负。d，一2，_L，(3)式中：出在特定的频率处的测量值与限值的差值(dB)；。z，测量电平(dB(pV)、dB(pW)或dB(PVm)；L，在特定频率处的限值(dB(pV)、dB(pW)或dB(pVm)。5114基于非中心1分布的子频段试验对于每一子频段样本中所有样品的测量结果，应计算差值d，的平均值和标准差。差值的平均值是百一去军妒(4)式中：”-一所抽样的样本数量；五子

21、频段内差值的平均值。标准差由下式计算：s“一志翠“，一矿(5)3GBZ 6113403-2007CISPR 1643TR：2004式中：s在子频段内的标准差。符合性由下式作出判断：d，+-Sd，d0-(6)式中：见51。52基于二项式分布的试验试验样本的大小应该不小于7。产品的符合性通过以下条件来判断：当样本大小为n时，骚扰电平超过限值的产品数量不大于c(见表2)。表2所允许的不符合产品数量C与样本大小n的关系n 7 14 20 26 32c 0 1 2 3 453基于附加的可接受限值的试验该试验应在特定类型、至少5个样品上进行，假如在特殊情况下不能得到5个样品，至少也要3个样品。关于这种方法

22、在55中有详细叙述。如果每一个测得的骚扰电平z，满足下式就可判定其符合限值。z。ALL一，一(7)式中：AL可接受的限值；L允许的限值；a。产品期望的最大标准差，它是期望标准差的两倍，该值由产品技术委员会按531的步骤来确定，或者针对不同类型的骚扰测量使用以下的保守估值：骚扰电压：“。；一6 dB(见注1)骚扰功率：口一一6 dB(见注1)骚扰场强：d。一dB(见注2)注1：保守估值“6 d矿是通过对大量不同类型EUT(每一种类型包括3个或5个样品)的测量来确定的(骚扰电压130个，骚扰功率40个)。然后，又经过对。应用非中心f分布的试验”和“使用附加裕量试验”这两种试验方法的比较对6 dB的

23、值进行了评估。两种试验给出了相同的认可百分比。注2：骚扰场强的值正在考虑中。z某一“产品类”的产品的80以80的置信度低于限值时，从正态分布表中得到的因子；b取决于样本大小”，具体数值见下表(相关信息见第c1章)：n 3 4 5 6b 063 041 024 012z、L、z和d一用对数表示，单位可为dB(nV)、dB(pVm)或dB(pW)。注：当。一6 dB时，可以计算得到下面附加的可接受限值抽样的数量 3 4 5 e附加的可接受限值dB 38 25 15 531 最大期望标准差的评估骚扰发射的期望标准差应由有效数量的产品样品来确定。建议按以下程序评估最大期望标准差：对于所关注的样本，在每

24、一个所关注的频率上或子频段内，测量得到的最大发射X，与限值L之差z由下式确定：4其标准差s。“由下式确定GnZ 61 13403-2007CISPR 16-43TR：2004z一一(z一L)。(8)s。一杀矩i(9)式中：n样本中样品的数量。对每个样本应确定在各个子频段内的平均标准差Sm。期望标准差S。是所有样本S一。的平均值。最大期望标准差是期望标准差的两倍。注：通过比较51“基于非中心r分布的试验”和53“基于附加的可接受限值的试验”这两种方法来选择因子为2。因为因子为2时，两种试验方法有相同的样品拒绝接受率。产品技术委员会可以确认其产品的期望标准差。54在不符合情况下的附加抽样如果样本试

25、验的结果不符合51、52或53的要求，可以对二次抽样的样本进行试验，并与第一次抽样的样本试验结果相结合，检查组合后这个较大的样本的符合性。53的方法仅适用于7件样品或更少样品组成的样本。55上述4种不同方法的特点对于大批量产品的符合性评估，可用的四种试验方法是：一使用单个产品；非中心t分布(见5i)；二项式分布(见52)；附加的余量(见53)。上述的每一种方法都以不同的统计方法论为基础，因此制造商或权威机构在具体实施这些方法时，每一种方法都具有不同的特点(优势或缺陷)。a)使用单个产品选择单个产品设备来进行试验的方法由制造商采用。这种方法要求对产品进行定期检验。b)非中心t分布这种试验方法基于

26、非中心f分布并包含总体服从正态分布的条件。只要满足这个条件，这种方法就能针对样本的批准给出正确的结果。但是如果一个或两个测量结果远低于限值，而其余的狈l量结果接近于(但低于)限值，则测量结果有可能表明该批量产品得不到批准。如果不合格是由于远低于限值的测量结果带来的大的标准差引起的，那么可以选择附加的余量试验方法来对不符合的样本进行试验。如果样本合格，则该批量产品就可获得批准。在未获得型式批准的情形下，可在较大的样本中选择更多相同批次的产品、将不合格的样品和新选择的样品进行重新组合。这种试验方法的优点是样本相对较小。c)二项式分布这种方法仅基于二项式分布但不包含总体正态分布的条件。这种试验方法针

27、对样本的批准与不批准均能给出正确的结果。在未获得型式批准的情形下，可在较大的样本中选择更多相同批次的产品、将不合格的样品和新选择的样品进行重新组合。这种试验方法的缺点是样品的数量至少要7件。d)附加的可接受限值这种方法基于总体正态分布的条件和期望标准差的估值。这种试验方法对于样本的批准能5GHZ 6113403-2007CISPR 16-43TR：2004给出正确的结果。如果不合格是由接近于限值的测量结果引起的，那么可以针对不合格的样本进行基于非中心t分布抽样的附加试验。如果样品合格，这种产品就获得通过。在未获得型式批准的情形下，可在较大的样本中选择更多相同批次的产品、将不合格的样品和新选择的

28、样品进行重新组合。这种方法仅适用于样品数量小于7的样本。56符合性判据和测量设备设施的不确定度对于产品符合性的要求包含两个部分：一个是80so准则的要求，另一部分是在GBT 6113402中规定的测量设备设施的不确定度。因此只要满足GBT 6113402的要求，就表明试验结果在80 oA80准则的意义上符合限值。这就意味着uue小于或等于uc-”x。如果un。大于ucz卵R，应用8080准则的测量结果必须增加一个值：一um-Uc：=Rre,口R(10)6抗扰度试验61 在抗扰度试验中CISPR 8080准则的应用在评估批量生产的产品和设备的抗扰度时，必须考虑CISPR抽样方案中所用的统计方法。

29、已经有两种标准化的方法：一种使用二项式分布，另一种使用非中心t分布。利用二项式分布的方法实质上是采用计数抽样。因此，这种方法应该应用在那些抗扰度电平不能确定的抗扰度试验中；其结果只能用来判断产品或设备是否符台抗扰度标准，也就是说，试验结果只能表明产品或设备对于一个特定的抗扰度电平合格或不合格。利用非中心f分布的方法实质上是利用计量抽样。这种方法适合于抗扰度电平或者引起产品或设备性能降低的试验信号电平能够确定的抗扰度试验。在应用非中心t分布方法以前，上述的信号电平应该以对数单位来表示。62 CISPR 8080准则的应用指南61只给出关于如何选择在评估批量生产的产品和设备的抗扰度时使用的统计试验

30、方法。当相关的产品技术委员会决定有必要进行统计评估时应按61进行。产品技术委员会也可以决定只做型式试验就足够了。621计数抽样在受试设备(EUT)进行抗扰度试验时，如果骚扰信号超过了抗扰度电平，EUT的敏感器件可能会受到骚扰信号的影响，使EUT遭到破坏。在这种情况下，只能进行基于“合格不合格”或者“通过不通过”的抗扰度试验；也就是说，试验结果只有两种可能，即EUT是否符合抗扰度限值的要求。“合格”和“不合格”都是EUT的本质属性，园此必须使用基于二项式分布的方法。基于“合格不合格”的抗扰度试验并不一定会导致对EUT的破坏。如果只用一个固定的电磁骚扰电平进行试验，那么有可能只需要进行“合格不合格

31、”的判别。同样地，在这种情况下也要使用基于二项式分布的抽样方法。对无线电电信设备所进行的雷电瞬态的抗扰度试验是基于“合格不合格”并且有可能会损坏EUT的一个例子。对(数字)信息技术设备进行的静电放电抗扰度试验则是采用固定骚扰电平的例子。622计量抽样如果EUT及其所选择的抗扰度试验允许确定抗扰度电平或性能降级的信号电平(这些电平将是可变的)，那么，产品技术委员会将会决定选择计量抽样。此时，必须使用基于非中心t分布的抽样方法。由于产品技术委员会可能总是决定采用基于“合格不合格”的试验，上面的表述使用的是“将会决定”。另外，如果EUT具有足够的抗扰度，也许不能够确定上述电平。但是，也不排除采用计量

32、抽样的6GBZ 6113403-2007CISPR 16-4-3TR：2004可能性。与上述情况完全类似的是当发射电平低于测量接收机的噪声电平时的辐射发射试验。一般来说，抗扰度试验的抗扰度电平的确定并不总是实际可行的。这样做总是会使EUT遭受太强的骚扰信号，而且很容易导致不可预见的结果。尽管如此，没有必要在事前省略确定抗扰度电平这一步骤。造成EuT性能降级的试验信号可以通过计量抽样的方法来获得。例如，对多个EUT(音频设备)样品以恒定电平和恒定频率的调幅射频信号进行抗扰度试验时的解词信号。此时，解调信号的电平是通过测试EUT的性能降级来得到的。另一个例子是进行数字通信设备抗扰度试验时的比特误码

33、率。GBZ 61 13403-2007CISPR 16-43TR：2004A1概述附录A(资料性附录)确定无线电干扰限值时的统计考虑批量生产的产品符合无线电干扰限值应基于统计技术的应用。也就是以80的置信度向消费者保证：被测的一类产品中有80的无线电干扰值都低于规定的限值，这就是所谓的80so准则，其能够使消费者避免使用无线电干扰电平过高的产品，但是它并没有指明被抽样产品的接受概率。接受概率对于制造商来说是非常重要的，因为制造商只知道如果一批产品中有20的无线电干扰值高于相关限值，那么这批产品的接受概率就是20。制造商还有必要了解产品的接受概率与样本大小以及其中无线电干扰超过限值的产品的比例有

34、关。以样本大小为参数，接受概率与无线电干扰超过限值的不合格产品之间的关系曲线叫做运算特征曲线。这些曲线可以用非中心分布(计量抽样)或者二项式分布(计数抽样)来计算。由于泊松(Possion)分布要求样本中无线电干扰超过限值的比例非常小(O。竽 一r=图A1 正态分布概率密度函数根据CISPR规定，当po2时，K，一o84，那么可以从下面公式得到有关的试验方法：P(X+五S。LL=口十K舻)一1一口(A6)对于一批不合格率为p的产品来说，概率。的接受会给客户带来风险。因此，对于CISPR而言，规定当a一02(1一a一0880)时，K，一084。为了确定常数，上述各式重列如下：P(X+量s。LL一

35、肛+K一)一I一口(A7)一P(象一糍一篇啼+K一)吖邶，岸+Kl式中，一指的是非中心t分布，带有菲中心f分布参数：生?一K，石(A10)a4”其自由度为(n一1)。非中心分布参数是根据以下条件得出的，即在抽样的产品中，无线电干扰电平超过允许限值的产品的比例不超过P。P(t。再)一1一口(A11)Pf害k属1叫一a蚴迷跏塞+万籍弋一一GBZ 6113403-2007CISPR 16-4-3TR：2004上述概率函数见参考文献1和2。其中一些数据在下面给出。当口一02，p-02(1-,-80，1一声一80)时，对于不同样本大小的k值如下n 4 5 6 7 8 9 i0 11 12t 168 15

36、1 142 135 130 127 124 121 120A22样本大小n的确定制造商希望知道且必须知道产品被接受的概率：P(X+kS。LL一+K一)-(A13)根据定义，这个表达式等于口(p)，即产品的接受概率。对于一批不合格率为P的产品来说，概率1-p(p)带给制造商一定风险。上述问题可用下列表达式来描述：P【萧t后卜， (A14)对于一批具有不合格率P的产品，fl(p)一n。当p-02，a=02(CISPR规定值)时，p(o2)一o2。从制造商的观点来看，由于fl(p)依赖于次品率，因此应该通过改进产品(降低次品率)来提高fl(p)。一般来说，制造商要求产品具有高达95的接受概率。反映接

37、受概率fl(p)对不合格率P的关系函数叫做运算特征函数，1-fl(p)叫运算能力曲线函数。对于固定的”，运算特征函数曲线(OC曲线)的数学表达式如下：fl(p)P(南孙岳 (A15)在图A2中给出了当a一02时的一些曲线。从这些曲线可以看出，为了确定相同的接受概率口(p)，不合格率将随着样本的增大而增大。这种所谓的运算特征曲线的判别能力将随着样本的增大而加强；当样本大小”等于产品的总数时，运算特征曲线的判别能力是最理想的。A23举例(见图A2)GBZ 61 13403-2007CISPR 1643TR：2004图A2非中心t分布的运算特征曲线根据80蹦80准则，有一批样本大小n一6的产品要被检

38、测，这时一142。顾客能以80蹦的置信度认为80蹦的产品其无线电干扰电平低于限值。当p=O2时(80的产品无线电干扰电平在限值以下)，接受概率口(p)一20。为了获得更高的接受概率，应该降低不合格率声。当声一0035时(965的产品无线电干扰电平在限值以下)，接受概率为80。即如果p=o035，则在每lo个样本(每个样本包含6个样品)中，平均有8个样本的无线电干扰电平是合格的。当p一0009时(991的产品无线电干扰电平在限值以下)，接受概率为95。在后一个例子中，生产商必须采用满足表达式掣+24aL中的p和。A3基于二项式分布(计数抽样)的试验在大小为n的样本中，不合格产品的数量C必须以80

39、的置信度确保在批量生产的产品中，80产品的无线电干扰电平在规定的限值L以下。一旦某一产品的无线电干扰电平超过限值L，就必须把它视为次品。A。31常数c的确定在一批产品的抽样样本中，次品的出现应该满足这样的要求：次品的出现是统计独立的，而且在同一时刻不会有超过1个次品出现。二项式分布的特征参数是被检测的批量产品的不合格率P和样本大小n。大小为n的样本正好具有c件次品的概率为：Pbc)一f詈1声(1一声)，c为整数(A16)、。，】1GBZ 6113403-2007CISPR 16-4-3TR：2004该样本中包含不超过c件次品的概率是：P(zc)一圣(詈p1(1一声)一m，z，c为整数(A17)

40、P(zc)指的是分布函数。如果被测的批量产品具有所允许的最大次品数，那么大小为n的样本包含超过c件次品的概率应该等于(1一n)。这样：P(xcp)一1一a(A18)lP(zcIp)一羔(詈p。(1一p)一。(A19)根据CISPR要求，a=02，P一02，相应的c和n值在表A1中给出。表A2中给出了当a=005，p-02时的C和n值。其中C表示允许的次品数量，n表示样本大小。为了能够以80的置信度使80的产品的无线电干扰电平低于限值，c和n应该取表A1中列出的值。表A1 表A2O 71 142 203 264 325 38此时消费者的风险为20。0 131 22Z 293 364 435 50

41、此时消费者的风险为5。A32样本大小的确定与A22类似，接受概率用下式来计算：P(zfp)一声(声)(A20)如果p一02，那么卢(o2)一ao2。在一批产品中有1一p(o2)的产品被淘汰的概率为08。运算特征曲线由下式给出：二P(zc)一f旦pz(1-p)一一(A21)；。0、z，运算特征曲线图见图A3。A33控制图运用控制图3可以获得有关采用统计方法来控制生产过程的数据，同时也可以指出这些数据与原始数据的偏差，用这种方法可以观察生产过程的效能。一般来说，用样本平均值i和样本标准差s。就能对所研究的产品质量进行很好的估计。对于批量生产的产品来说，只要样本足够大，就可以保证贾和s。与所要求的平

42、均值卢和标准差a相一致。从上述数据可以预测生产过程中不同阶段产品的置信区间。0GBZ 6113403-2007CISPR 16-4-3TR：2004005 0 1n=20 t=2025一n=49：=，图A3二项式分布的运算特征曲线控制图技术可以很容易地通过下述方法来应用：消费者要求80的产品的无线电干扰电平低于允许的限值的置信度为80，而同时要避免使用小样本。A34引用文件1Tables of the non-Central t-distribution，Resnikoff，GJ和Lieberman，GJ，Stanford un|_versity，Califormina，1957。r2cISP

43、RWG 8(GroenveldNeth)197231。3Statistics and Experimental Design I，PP 298348，Johnson，NL和Leone，FC，wiley andSons，New York，1964。13剐妲=一GBZ 61 13403-2007CSPR 16-4-3TR：2004B1理论附录B(资料性附录)不完全样本的情况下对无线电骚扰统计参数的分析评估第5章规定了对批量生产的设备的统计评估要求。该评估基于非中心t分布，并且要求测量样本中每个样品所产生的无线电骚扰电平。然后，根据无线电骚扰电平的平均值和标准差来评估其可接受性。在许多情况下，由于所

44、用的测量仪器的灵敏度不够，因此要测量样本中所有设备的无线电骚扰电平是不可能的。在这种情况下，要截去用分贝表示的已测得的无线电骚扰电平值分布的低端，得到不完全的单边分布。图B1示出了截去低端的无线电骚扰值的正态分布概率密度函数p(7；h)。图B2示出了可用于描述上述截断分布的截断分布函数西(7；h)。本附录提供了根据正态律评估分析无线电骚扰值的数学期望及标准差的方法。这些方法是基于截断分布的已知参数和截断程度。假设为了确定无线电骚扰值分布的统计参数，我们从一个服从正态分布N(m，一)的总体中抽取了n个个体作为样本。在此样本中，有n。(n)个个体的无线电骚扰电平XX。(x。指的是测量仪器灵敏度的极限)。上述灵敏度的极限就是截断点。因此，在此容量为n的样本中，只有nno个个体的无线电骚扰值超过x。，所以能够测量无线电骚扰值的也只有这nno个个体。可以把这n一个无线电骚扰值作为以截断度毋(y0)截去低端的统计分布的测量值。n就是对截断度西(h)的评估。无线电骚扰测量值的平均值X和标准差s分别作为设备总体的数学期望F：和总体标准差a的估计值。X和S由下式决定： 肛矿鬲研蒜W一饵”【P(ya)I P(孔)o J Js一商瓢本耵2式中：7。特定的截断点，孔一(x。一p)如；中(礼)正态分布