SJ T 10254-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关详细规范.pdf

《SJ T 10254-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关详细规范.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《SJ T 10254-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关详细规范.pdf（16页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、. f SJ/T 10254 91 、l电坷IJDetail specification for electronic components Semiconductor integrated circuit-type CB301 CMOS analogue switch 可供认证用1991-11一12发布1992一01一01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关SJ/T 10254 91 Detail specification for electronic components Semiconductor i

2、ntegrated circuit-typeCB301 CMOS analogue switch (可供认证用)本规范规定了半导体集成电路CB301刑CMOS模拟开关鉴定和!质量评定的全部内容。本标准是参照、GB9424 ( COS数字集成山路4000系列山路空内详细规范制定的，并符合GB4589.1 (半导体器件分立器件和l集成山路总规范手11GB 12750 (中导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。中华人民共和国机械电子工业部1991-11-12批准施一实lnu nu nt nu nHV SJ/T 10254 91 国

3、家技术监督局IECQ tF定器件质量的依据:GB 4589.1 (半导体器件分也器件和集成Il!，路总剧也GB GB 12750 (半导体集成电路分规范(不包括混合Il!，路) CB 301 1. CMOS模拟开关详细圳74订货资料:见本规范第7京机械说明2 简要说明外形依据:GB 7092 (半导体集成电路CMOS模拟开关外形尺寸主|气导体材料:前外形国:技GB7092 封装:二百封、非7;可封-r 逻辑框四、功能表见本规范第11 EE OL盟5.3 L生5.3.1F型5,1 .1 J型5.4 . 5.4.1 T型5.6及5.6.1品种:P型5.5 . 5.5 .1 Jf:rJ T!. 环境

4、-20 一55斗AEJ温度。700C85 oC 125 oC 引ili端排列:(顶视图)(C) 封装形式(L) (M) VDD 陶瓷直扣i(0) CB301 CO CB301 LO CB301 MO 02 黑瓷直插(J)Dl f CB301 CJ CB301 LJ CB301 MJ 10 9 气塑料直插(P)CB301 CP CB301 LP / SI n 8 S2 多层陶瓷(F)CB301 CF CB301 LF CB301如1F2 扁平7 3 1N :金属网形(T)CB301 CT CB301 LT CB301 MT 4 5 志:静II:!.敏感器件Vss GNO 3 质量评定类别飞./H

5、、IIIA、IIIB、IIIC14 VDD 01 才2 13 02 12卡3 SI 4 11 S2 5 10 IN 6 9 GNO 7 8 Vss 标，:f去iGB 4589.1 , 2.5 .本规范第6京J主今;剧jG鉴定合格的器件，其制造卜的有关资料.flJ.(1 JJ1I.h合格产品口录中丘到。4 极限值(绝对最太额定值)若无其它规定，适用于全1.作泪度范用。吁缸SJ/T 10254 91 数值单位条款LJ量豆是数符l, B J 最小最大至地36 4.1 I源山脉VDD V 芳(Vss 36 VD VDD 4.2 源漏端11仨V Vs VDD 4.3 输入it!.1长(军地)V, VDD

6、-36 VDD + 18 V 除S或D的任何端30 S或D端连续时30 mA 4.4 端I也流I S或D端接1ms脉冲，100 10%占FE比岛f-55 125 士作环境4.5 L Tamb 一2085 。c温度也|莉C 。70 4.6 贮存温度也围T一咀-65 150 。C十D、J825 P 470 4.7 功耗1) PD mW T 450 F 750 注:1) D型、J型封装:750C以上，降额11mW/oC P型封装:250C以上，降额6.5mW/oC T型封装:750C以t，6 mW/oC F型封装:750C以上，降额10mW/oC 5 推荐工作条件和电特性山特性的检验要求见本规范第8

7、章。5. 1 推荐I:作条件若无其它规定，适用于全工作温度范罔。条款3J参符口，数值单位段小最大5. 1. 1 电源也!长VDD 5 15 V 5. 1. 2 Ig源也乐Vss 一15。V 、SJ/T 10254 91 6 标志器件上的标志示例:D、F、J、P型:认证合格标，(适用时)引tii端识别标志CD、J、p)叽tii端识别标志(F) CB301CD 产品型号质量评定类别8824IIIA 制造单位商标检验批识别代同T型:认证合格标志(适用时)CB301MTT一产品型号引出端识别标志制造单位商标质量评定类别8824IIIA 检验批识别代码若T荆封装在管壳侧面打印，则将器件正放，从引出端识别

8、标志起按逆时针方向依次标志:制造单位商标、型号、认证合格标志、检验批识别代码、质量评定类别。对于D、F、J、P型，若受器件尺寸限制，允许将检验批识别代码、质量评定类别标志在器件背面。7 订货资料a. 产品型号:b. 详细规范的国家标准编号:C. 质量评定类别:d. 其他。8 试验条件和检验要求若无其它说明，本章引用条款均为GB4589.1的条款。抽样要求:根据采用的质量评定类别，参照GB12750第9章的有关规定。严、dSJ/T 10254 91 A纽检验的抽样要求AQL 分mH类III类IL AQL IL AQL AI II 0.65 II 0.65 A2 II 0.1 II 。.1 A3

9、II 0.15 II 。15A3a S4 1.0 S4 1.0 A3b S4 1.0 S4 1.0 A4 S4 1.0 S4 1.0 B组、C组和D组检验的抽样要求LTPD 分m II类III类A B C 81 15 15 15 15 CI 20 20 20 20 C2b 15 15 15 15 83 C3 15 15 15 15 84 C4 10 10 10 10 85 C5 10 10 10 10 C6 20 20 20 20 C7 15 15 15 15 88 C8 10 5 7 10 C9 15 5 7 15 CII 20 20 20 20 821 20 10 10 15 C23 20

10、 10 15 20 C24 20 10 15 20 D8 10 5 7 10 -6一检验成试验AI分组外部口价A2分组250C下的功能验证A3分组250C下的静态特性A3a分组I) ;陆内丁.作温度下的静态特性A3b分组I) 最低工作温度下的静态特性A4分组250C下的动态特性SJ/T 10254 91 A纽逐批全部试验均为非破坏性的(见3.6.6)条件引用标准若尤其它规定，Tamb =25 oC (见第4幸)4.2. 1. 1 J主车;t!l!范11.2GB 3834 ( 2.2 GB 4590. 2.5 GB 4590. 3.1 按方法b(他焊法)TA=-650C, Ts=150 OC 循

11、环次数:10次11 5 min 同A2平nA3分组GB 4肌3.11或|按规定3.12 及将l检漏I 3.13 (b)非主;可封及环轼封的雪封苦苦件温度快速变化外部口检I 4.2. 1.1 稳态混热I GB 4590 , 3.7 也测量(|叶A2和A3分组)B8分组屯耐久性( 168 h) 最后测量(liJ A2、A3手IJA4 分组)B21分组I印版蒸汽(0)(非?封器件)最后测量(friJ A2和A3分组)GB 4590. 4.7 GB 4590. 4.5 严格度A(85 oC. 85%R.H) 不力11I毡.24 h 同A2和A3分组温度核本规范4.51最大值其它按本圳也10.3问A2、

12、A3和A4分组技严格度C(24 h) |司A2和A3分组CRRL分组就B3.B4. B5. B8和B21提供计数价查结果一8浸润良好同A2和A3分组同A2和A3分组同A2，A3和A4分组+ 同A2和A3分组SJ/T 10254 91 C纽一周期标有(0)的试验为破坏性试验(见3.6.6) 兔/甘、件检验或试验。i用标准若无Jl:古规定.Tamb=250C 检验要求圳也值(见第4亲)C1分组凡寸4.2.2及附录B按本规范第1骂骂C2b分组最高和最低工作温度GB 3834 问A4分组|司A4分组下的电特性C3分组引线强度拉力(0)GB 4590. 2.1 外力11)的值按GB4590. 2.1 无

13、损伤表lC4分组耐焊接热(0)GB 4590. 2.6 t去:GB 4590. 2.6方法l战后测量(1讨A2和A3分组)|司A2和A3分组|叶A2和A3分组C5分组1)温度快速变化(0)GB 4590. 3.1 TA=-650C. TB=150 oC (非72封2生环氧封的循环次数:500次二?可封器件)1 5 min 随后进行外部口价4.2. J.J 稳态混热GB 4590. 3.7 严格度A(85 oC. 85%R.H) 不加山.24 h I 坠.主4 (同A2和A3分组)同A2和A3分组同A2和A3分组C6分组稳态加速度(0)GB4590. 2.10 加速度:196000 m/s2 (

14、22封椿件)t放后旦 (1司A2和A3分组)|讨A2和A3分组同A2和A3分组注:1)连续二-次通过后，周期可延民为年次。9 SJ/T 10254 91 续表条件检验旦旦试验引用标准若尤其它圳定，口mb=250C检验要求)况也值(见第4卒，)C7分组稳、态y!lll热(D)a) 可封器件GB 4590, 3.6 严格度:56 d b) 11 ?封反正1轼封GB 4590, 3.7 严格度A(85 oC 85%R.H) 的需封器件1000 h 最后测量( IriJ A2和A3分组)同A2和A3分组|司A2和A3分组C8分组I耐久性(1 000 h) GB 4590, 4.7 !同JB8分组最后测

15、量(IriJ A2、A3和A4同A2、A3和A4分组同A2，A3和A4分分组)组C9 j组高温贮存(0)GB 4590, 3.3 1000 h 温度按严格度C(1500C) 最后测量(问A2、A3和A4同A2、A3和A4分组同A2、A3和A4分分组)组Cll分组标志耐久性GB 4590, 4.3 按GB4590, 4.3.2方法l按GB4590, 4.3.2 , 、溶液:A型C23分组抗济性(0)GB 4590, 4.4 掠:GB 4590, 4.4.2 按GB4590, 4.4.2 (11封器件)C24分组易燃性(D)GB 4590, 4.1 t去1GB 4590, 4. 1.2 按GB45

16、90, 4. 1.2 (1r封器件)CRRL分组C2b, C3 , C4, C5 , C6 , C7, C8 , C9 , Cll , C23和C24提供计数检查结果。9 D生ED细检验阳在鉴定批准之后立即开始进行，其后每年进行一次。10 SJ/T 10254 91 检验或试验号|用标准条件检验要求_I，liHi值085纽ft!.耐久性(0)GB 4590, 4.7 H类:2000 h III类:3000 h 其他|司B8分红l最后测量(I:;j A2 , A3和A4同A2，A3和A4分组同A2，A3和A4分组分组)10 附加资料10. 1 也特性测试10. 1. 1 采用GB14028 半导

17、体集成电路模拟开关测试方法的基本原理的电特性测试。符B矿J工坝。试方法斗VA GB 14028 , 2.1 ROH GB 14028 , 2.2 IO(off) GB 14028 , 2.5 ID(o ff) GB 14028, 2.4 IDS(on GB 14028 , 2.6 ton GB 14028 , 2.7 toff -GB 14028 , 2.8 10. 1. 2 采用GB3834 半导体集成电路CMOS山路测试方法的基本原理的电特性测试符EE3 J -测试方法IIH GB 3834, 2.9 IIL GB3834, 2.10 1+ GB3834, 2.15 所有输入端分别同时接V

18、1L或V1H_ GB3834, 2.15 所有输入端分别同时接V1L或VIH10.2 负载线路Ii tg RL I I CL 一一10.3 也耐久性试验线路-A -A SJ/T 10254 91 112 VDD D nu y 47kn 14 4 2 11 一一16 一()m6 8 7 G _fL 一VDD=1 V f=50 Hz 功能曲线及典刑的流电出特性曲线制造厂所在产品手册中提供各种特性曲线。如典型的传输延迟时间随负载电容的变化曲线。10.4 设计参考参数10.4 条款廿特性和条件符-tzJ -g 典型值单位10.5.1 入电容pF V1N= 0 V. f= 1 MHz Cin 6 V1N

19、= 15 V. f= 1 MHz 3.5 10.5.2 先开后合间隙时间188M 50 ns 寸10.5.3 极关态也容Vs=OV. f= 1 MHz CS(o 14 pF 10.5.4 漏极关态E容VD=OV.f=IMHz CD(offl 14 pF 10.5.5 沟道导通电容VD= VS= 0 V. f= 1 MHz COH 40 pF 10.5.6 止态隔离率y产OV.RL=1 kn, CL = 15 pF K01RR 58 dB Vs=1 V. f= 500 kHz 型号说明1 1 逻辑符号、电原理图逻辑符号a. 吁，-aa 4EE -tE SJ/T 10254 91 (4) (2)

20、( 11) (13 ) (6) # b 也原理图( 1 ): 2 VDD S D Vss 11. 2 功能表IN K, Kz L 截止导通H 导通截i仁11. 3 引出端名称和符号符号号|端名称Dl Dz 漏极IN 控制Vss 负q源t寸巧，Ezi I 号|iti 端名柏:Sl Sz 源极GND 地VDD 正i也源句、11 SJ/T 10254 91 附录A选(补充件)1 II类器件:制造广应规定必要的筛选项目和条件。2 III 件:按下述筛选程序进行。A B C 内部目检内部目检内部目检GB 4590, 4.6 GB 4590. 4.6 GB 4590. 4.6 i均温稳定高温稳定GB 45

21、90, 3.3 GB 4590, 3.3 1500C, 96 h 1500C. 48 h 温度快速变化温度快速变化GB 4590, 3.1 GB 4590. 3.1 -651500C， 10次一651500C.10次宿、态加速度)稳态加速度1) GB 4590, 2.10 GB4590. 2.10 密封1) 密封1) GB 4590, 3.11或3.12GB 4590, 3.11或3.12及3.13及3.13老化前电测量老化日trr!，测量老化前电测量同A3分组InJ A3分组|讨A3分组剔除不合格品剔除不合格品剔除不合格品老化老化GB 4590, 4.7 GB 4590. 4.7 兀mbmax 240 h Tambmax 168 h 老化后电测量老化后也测量|叶A3分组同A3分组剔除不合格品2)剔除不合格品注:1)不适用于非全封。2)不合格品大于5%，则该批拒收。14 SJ/T 10254 91 附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提山。本标准由上海元件丑厂负责起平。本标准主要起草人:肖伟根高信令。庐、JTA