GB T 18989-2003 放射性核素成像设备 性能和试验规则 伽玛照相机.pdf

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1、GB/T 18989-2003 前言本标准是对行业标准YY0046-1991(医用伽玛照相技术参数及测量方法的修订，与该行业标准的主要区别在于本标准修改采用IEC60789，1992(放射性核素成像设备性能和试验规则-An-ger伽玛照相机)，技术内容与国际标准接轨。本标准对IEC60789，1992在下述方面作了修改和补充，详见附录G。一一术语和定义部分=把GB/T18988. 1C I m，-象素行和列的所有象素组中任何两个象素计数差中的最大值;C，.c CFOV内得到ItC I ，象素计数最大值gCmio .O CFOV内得到ItC I m的象素计数最小值。2) 计算UFOV范围内的微分

2、非均匀性DUu;: 同理，在UFOV范围内进行上述处理及计算，可算得UFOV内的微分非均匀性DUui0 e) 其他:1) 非均匀性分布、积分非均匀性和微分非均匀性的计算精确到O.1个百分点;2) 对有均匀性校正电路的伽玛照相机，要分别给出带和不带均匀性校正电路的两种情况下测量的结果。3. 3. 1. 2 固有点源灵敏度偏差3.3. 1. 2.1 测量条件a) 所用放射性核素为99mTc，液体源，活度约40MBq，装于小屏蔽源罐内，其形状、尺寸及材料见图9。图中采用r不小于10mm，d等于3mm; b) 探头屏蔽环，铅材制成，厚3mm，内径相当于UFOV，用于屏蔽UFOV以外的探测器面;c) 源

3、的放置:源应放在横跨UFOV的一系列点上，连结这些点的各线应与X轴和Y轴成行、列排好，在X、Y两个方向上点间间隔应为30mm; d) 每个测量点上的累积计数不少于100k。3. 3. 1. 2. 2 测量步骤a) 将小屏蔽源罐中心对准测量点，根据源的活度确定计数不小于100k的测量时间，b) 按所定测量时间，将源依次在3.3.1.2. 1c)确定的各测量点上测量并计数;c) 对有均匀性校正电路的伽玛照相机，要分别在带和不带均匀性校正电路的两种情况下测量。3. 3. 1. 2. 3 数据处理a) 先用附录C的方法对各个计数进行放射源衰减校正;b) 对放射源衰减校正后的所有计数计算平均值，按下式给

4、出最大偏差值，作为固有点源灵敏度偏差平|NtNm|i -一一一一x100% . .,. ( 10 ) 式中2币1固有点源灵敏度偏差;N一一所有计数的平均值;Nm一所有计数中偏离平均值最大的那个计数值。用CFOV内的数据计算CFOV内的固有点源灵敏度偏差弘;用UFOV内的数据计算UFOV内的固有点源灵敏度偏差仇。c) 对有均匀性校正电路的伽玛照相机，要分别给出带和不带均匀性校正电路的两种情况下测量的结果。3.3.2 系统非均匀性3.3.2.1 测量条件3. 3. 2. 1. 1 均匀平面源3自a) 泛模充填源z所用放射性核素为99rnTc，源的m度为70MBq200 MBq，其形状、尺寸及材料见

5、图10。充满蒸馆水，排尽气泡，混匀，放1h后使用，其充填部分的平面形状与探头一致，面积大于探头，一般要求其直径(对矩形探头是边长)大出UFOV5cm，对360keV以上的高能准GB/T 18989-2003 直器，放射性核素用113mIn (或山l)，b) 泛面源2作为质量控制时，也可以使用57Co泛面源，其非均匀性不超过士2.5%.活度与面积的要求同泛模充填源。3. 3. 2. 1. 2 准直器z平行孔准直器，与所用源匹配。3. 3. 2. 1. 3 源离探头表面的距离泛模充填源置于探头表面中心轴上，其下表面应尽可能接近准直器的前端困;如用泛面源，使源的表面离准直器前端面的距离为50mm，其

6、间是有机玻璃.在源的背面上也要有50mm厚的有机玻璃覆盖作散射物。3. 3. 2. 1. 4 象素边长不大于源离准直器前端面50mm处的有散射情况下的系统空间分辨率FWHM俑，并予以确定。3.3.2. 1. 5 象素汁数:每个象素汁数的平均值应大于10k.并予以规定。3.3.2.2 测量步骤见3.3. 1. 1. 2。3.3.2.3 数据处理用3.3. 1. 1. 3的方法进行计算前的数据处理，并计算系统非均匀性的各项参数23.3.2.3.1 计算非均匀性分布za) CFV内的非均匀性分布:偏离象素平均计数超过10%的象素数目占全部非零象素总数的百分数川;偏离象素平均计数超过5%的象素数目占全

7、部非零象素总数的百分数，5% ; 偏离象素平均计数超过2.5%的象素数目占全部非零象素总数的百分数ts.2. s%。b) UFOV内的非均匀性分布=偏离象素平均计数超过10%的象素数目占全部非零象素总数的百分数山，则;偏离象素平均计数超过5%的象素数目占全部非零象素总数的百分数U，s% j 偏离象素平均计数超过2.5%的象素数目占全部非零象素总数的百分数比2.5%0 3.3.2.3.2 计算积分非均匀性:a) CFOV内的积分非均匀性IU川b) UFOV内的积分非均匀性lU。3.3.2.3.3 计算微分非均匀性za) CFOV内的微分非均匀性DUs;b) UFOV内的微分非均匀性DU山。3.3

8、.2.3.4 其他z同3.3. 1. 1. 3 e)。3.4 固有能量分辫率3.4. 1 测量条件a) 采用放射性核素为9mTc的点源，源的活度为20MBq40 MBq.源的形状及材料见图30源不经准直。除出射口外，其余各个方向上应予以屏蔽，在出射口可用铜片调节射线通量。源在屏蔽盒中的位置，应使其在规定的测量距离上时，在探测器面上所形成的照射面直径约UFOV直径的二倍见图3)，b) 探头屏蔽环，铅材制成，厚3mm.内径相当于UFV.用于屏蔽UFOV以外的探测器面:c) 57 Co点源，活度20MBq40 MBq.用于刻度多道分析器道宽等效能量:d) 源的放置源置于支架上，位于探头表面中心轴上，

9、离探头表面的距离不小于UFOV直径(对矩形探头则是最大边长)的五倍ge) 多道分析器(如伽玛照相机有多道分析器功能，可不另备hf) 测脉冲辐度谱的道宽应不大于光电峰FWHM的5%，g) 积分计数率2超过电子学噪声水平的积分计数率应不超过2X104s.-;9 GB/T 18989-2003 h) 峰道计数应大于10k。3.4.2 测量步骤a) 按测量条件做好准备;b) 用多道分析器测量并绘出99mTc的能谱曲线，到累计峰值计数大于10k , d 在b)的相同条件下，测量并绘出57CO的能谱曲线。3. 4. 3 鼓据处理a) 在能谱图上分别确定阳Tc和57CO的全能吸收峰中心道址分别为N，(道)和

10、N，(道)，道宽等效能量E出为2Eh = (E,-E2)/(N,-N,) = 19jn(keVj道). . ( 11 ) 式中.E1 99mTc全能吸收峰的能量(141keV) , E，一_57CO全能吸收峰的能量(122keV) , N一-n=N1-N2，道。b) 用插值法对99mTc的全能吸收峰计算半高宽t.N(道hc) 按下式计算固有能量分辨率ER:ATX E二ER; =一一百一半X100% . . . ( 12 ) 式中zt.N mTc全能吸收峰的半高宽，单位为道;Eh一一道宽等效能量，单位为千电子伏每道他eVj道), E，一_99mTc全能吸收峰的能量(141keV)。d) ER;的

11、测量、计算精确到0.1个百分点。3.5 固有多富空间配位3.5. 1 测量条件a) 所用放射性核素为67Ga，液体源，活度约40MBq，装于小屏蔽源罐内，其形状、尺寸及材料见图9。图中t不小于10mm，d等于3mm; b) 多道分析器(如伽玛照相机有多道分析器功能，可不另备hc) 源的位置选五个点八JFOV中心为一点:X和Y轴的正、负两个方向上各两点，其离中心的距离为视野中心到UFOV边缘的距离的75%, d) 分析器窗宽:20%，对93keV、184keV和296keV三个光电峰中心对称分布;e) 象素尺寸的长度E不大于对99mTc固有空间分辨率的10%，这里采用3.2. 1中所用的象素尺寸

12、，以简化计算$0 每个窗的总计数率g不超过lX10.-, U 每一帧图像的计数不小于10k. 3.5.2 测量步骤在元准直器的情况下，按测量条件分别获取源在五个位置上、用上述三个能窗所得到的图像。每个源位对应三个能窗各获取一帧图像，五个源位总计获取15帧图像。3.5.3 数据处理3.5.3.1 对一个源位、两个不同能窗下的图像计数分布中心之间在一个轴上的位移，其计算方法如下z的以X轴为例，用重心法确定图像的计数分布中心Lx:10 以图像中最大计数象素为中心，在X方向上向左、右各推进至少五个象素，将这些象素自左至右按顺序ln编号。再将这些象素中的计数代入下式计算，得图像的计数分布中心zGB/T

13、18989-2003 2.; (j X C;) Lx = 1二L丁一(象素). . . . . ( 13 ) Cj 式中21 象素的编号，自-n，n是最右边那个象素的编号;Cj. -j号象素的计数;Lx一图像的计数分布中心在X轴上对应的象素坐标，以象素为单位，精确到O.1个象素;b) 按相同的方法找出相同源位、另一个能窗下的图像的计数分布中心在X轴上对应的象素坐标;c) 两者相减，即得两个能窗下图像中心位置之间在X轴上的位移(以象素为单位，精确到O.1个象素hd) 再以由3.2. 1. 3. 1中计算D/5所得到的象素尺寸相乘，即得以mm为单位的位移。3.5.3.2 用3.5.3.1的方法，对

14、五个源位，分别计算能窗为296keV与93keV的图像计数分布中心之间，和能窗为184keV与93keV的图像计数分布中心之间，在X和Y轴上的位移。3.5.3.3 确定自3.5. 3. 2所得20个位移值中的最大值，此位移值即固有多窗空间配位M珉，mm.精确到0.1mm. 3.6 固有空间非线性3. 6. 1 测量条件同3.2.1.1.3.6.2 测量步骤同3.2.1.2.3.6.3 政据处理3. 6. 3. 1 计算微分线性DLza) 在线性坐标纸上，以象素号为横坐标，以计数为纵坐标，画出横坐标上每个象素间隔对应的计数道的计数，通过数据点对每条缝画出一条平滑曲线.得一个峰，这样，在一个计数剖

15、面内得一行峰gb) 对所有相邻剖面内的计数作同样处理，可得到一个二维的峰值阵列，其中一个方向沿着缝袖，另一个方向垂直于缝轴;。以每个峰中最高的计数道计数作最大值，找出能峰两侧的半高值位置，算出每个峰的半高宽Wj，在相邻计数道间用插值法g再以通过半高宽连线中点的垂线作为峰的中心线，测量相邻峰中心线间的距离5j(以象素为单位，精确到O.1个象素);算出X方向上所有的峰间距;d) 在本试验中，象素与毫米的换算因子是，D/5.这里D是30.0mm.5是视野中所有5j(以象素为单位的平均值。以此换算因子将所有5j的单位换算到mm;e) 计算X方向上所有5j(以mm为单位的标准偏差5x，5-S一卜ZU 5

16、x 式中-一-x方向所测5j的个数.J为ln，5j一一相邻峰中心线的间距，单位为毫米(mm); 5一一所测视野中所有岛的平均值，单位为毫米(mm打f) 按相同的方法算出CFOV内Y方向所有矶的标准偏差Sy;11 GB/T 18989-2003 g) 计算出Sx和Sy的平均值，此值即为CFOV内的微分线性DL口，mm;h) 将所取数据扩大型UUFOV内，按相同的方法可以算出UFOV内的微分线性DLui，rnm。3. 6. 3. 2 计算绝对线性ALz a) 用最小二乘法，将CFOV内由X方向所获得的数据拟合成一组二维的等问隔的平行线组成的垂直相交网格$b) 找出CFOV内X方向的观测值和拟合网格

17、交点之间位移的最大值gc) 用相同的方法，找出CFOV内Y方向的观测值和拟合网格交点之间位移的最大值;d) 以X和Y位移最大值中较大者作为CFOV内的绝对线性ALci, mm; e) 将所取数据扩大到UFOV内，按相同的方法可以算出UFOV内的绝对线性ALui, mmo 3.6.3.3 分别给出CFOV和UFOV内的微分线性(DL口，mm和DLui，mm)和绝对线性(ALci，mm和ALui , mm) ，精确3lJO. 1 mm。3. 7 计数率特性3. 7. 1 固有计数率特性3.7. 1. 1 测量条件a) 采用放射性核素为99mTc的点源，源的活度为20MBq40 MBq，源的形状及材

18、料见图3。源不经准直。除出射口外，其余各个方向上应予以屏蔽，在出射口可用铜片调节射线通量。源在屏蔽盒中的位置，应使其在规定的测量距离上时，在探测器面上所形成的照射面约等于UFOV，b) 探头屏蔽环，铅材制成，厚约3mm，内径相当于UFOV，用于屏蔽UFOV以外的探测器面;c) 射线吸收体z铜片，厚0.25cm，面积为6cmX6cm，15块，按115编号，它们对99mTcY射线的减弱因子分别为11- 115 (尽可能制作减弱因子相等的吸收体，设其统一的减弱因子为1) ，减弱因子的测量方法见附录0，d) 源的放置:源置于地面上，位于探头表面中心轴上，离探头表面的距离约1.5m的地方。3.7. 1.

19、 2 测量步骤a) 不带准直器，装上屏蔽环，将探头面垂直向下，按测量条件做好准备pb) 在元放射源的情况下，测予置时间300s的本底计数Nb;c) 将源放在地上，源罐的口向上，使源与探头面的距离约1.5 ffij d) 按顺序将吸收体放在源罐口上，1号吸收体在最上面。尽可能减少周围散射物;e) 调整源距或源强，以便观测计数率在1X10I-3X10 1之间$f) 测100s的计数No记录测量中点的时刻Toj g) 移走1号吸收片，测20s计数矶，记录测量中点的时刻T1;h) 再移走2号吸收片，测20s计数Nt_2，记录测量中点的时刻T2号。依此类推，再移走3至12号吸收片，测得NI_3至Nt-1

20、2，每次均记录测量中点的时刻相应为T3至T2。3. 7. 1. 3 数据处理3. 7. 1. 3. 1 计算各吸收片下的观测计数率za) 由Nb算出本底计数率Cb()，b) 由N。至N，_川分别计算出减去本底计数率后的观测计数率G、C、Cl-2、Ct-3至Ct-12(S-I) , 计算时注意计数时间的不同。3.7. 1. 3.2 计算观测计数率Co至CI_12所对应的真实计数率R。至R12:a) 计算真实计数率Ro:测C。时，由于计数率较低，计数损失可以忽略不计，故真实计数率Ro=Co; b) 计算真实计数率R，; 12 GB/T 18989-2003 式中-Ro一-Ro=Co，单位为每秒(5

21、-1);Ro x p, R, =一-7一一() J , . ( 15 ) p，一-jj!R，时的源活度衰变系数计算方法见附录C.其中z衰变时间t=T, 丸，以下类同;f，一一1号吸收片的Y射线减弱因子。c) 计算真实计数率RRo X P2 R2=(51) f , X f , 式中zR。一Ro=Co，单位为每秒(5-1);P2一一测R2时的源活度衰变系数g( 16 ) 川、f2一一分别是1号、2号吸收片的Y射线减弱因子(如果f，与f2相等，并为f.式中f，Xf2 可改为产), d) 依此类推，算出真实计数率R3至R】R 一一Ro兰主旦12 - f, x X f2 . ( 17 ) 式中Ro Ro

22、=Co，单位为每秒(5-1); 如测R时的源活度衰变系数;f , f 分别是1号至12号吸收片的射线的减弱因子。3. 7. 1. 3. 3 绘制计数率特性曲线，给出计数率特性参数2a) 在对数坐标纸上以X拙作真实计数率(R)坐标，以Y辙作观测计数率(C)坐标，记录各测量点的数据，并连成光滑的曲线A(见图11), b) 在同一坐标上作出真实计数率与观测计数率无损失下的恒等理想直线B(见图11)，c) 将B上各点的纵坐标值下移20%，形成直线E(见图11)，与曲线A交于F点，此点的纵坐标即为计数率损失20%时的观测计数率(Ci.-20%)，5-1，其横坐标为真实计数率(R.-20川，s- (Ci,

23、 -20% =0. 8R;.-20%) 0 C.-20%和R;.-20%计算精确j1 X 10 s- , d) 在上述所得曲线A上找出现测到的最大值对应点GC见图11)，该点的纵坐标即为最大观测计数率Ci，ma萃，5-1其横坐标为最大真实计数率R巾溪，s-1.3.7.2 系统计敏率特性3. 7. 2. 1 测量条件a) 所用放射性核素为99mTc，源的活度约140MBq520 MBq(达到真实计数率高于观测计数率两倍所需的活度)。源的形状、尺寸及材料见图1.对适用能量在360keV以上的高能准直器用IlJmIn; b) 放射源放在圆柱形模型内。圆柱形模型的形状、尺寸及材料见图2，c) 模型源位

24、于UFOV中心，模型源下表面与准直器前端面的距离d不超过20mm; d) 用低能高灵敏度平行孔准直器，若用其他准直器应予以说明。3.7.2.2 测量步骤a) 测300s本底计数，算出20s本底计数Nb，b) 装好模型源;13 GBjT 18989-2003 c) 测205计数风，记录测量中点时刻To;d) 每隔约1.5h测一次计数，测量时间20s，每次均记录测量中点时刻tl;其计数与测量中点时刻分别为矶、矶、N3N.及T，、乙、T3T.。直至计数率低于3X1035-1时，测量终止，记录最后这次计数N.及测量中点时刻飞，e) 在观测计数率约5XI035-1、2X10，-1及最大时获取兰对X、Y图

25、像。3. 7. 2. 3 敏据处理3.7.2.3.1 计算各观测计数率g由Nj减去本底计数NbO并计算出对应的观测计数率Cj:N; - N , C, 一气.Jb(S-I)( 18 ) 式中=1 测量的序号l盯Nj 第1次测量所得计数，含本底在内$Nb一一-205本底计数zCj一一第1次测量所得观测计数率，不含本底计数率，s-1。3.7.2.3.2 计算各观测计数率对应的真实计数率a) 由观测计数率已，确定其对应的真实计数率R: 由于最后一次测量的观测计数率低于3XI03，-I，可以认为此时不存在计数率损失，故其对应的真实计数率凡=Cmg b) 计算C.以外各观测计数率C，对应的真实计数率Rj:

26、首先由T.-TJ=马计算出第1次测量与最后一次测量之间的时间间隔tl、岛、t3,-1 ，算出对应的tj/Tl/川其次由附录C的通用衰变表查出对应的衰变系数户1、岛、户3弘一1; 再由RjR./pj算出Rl，R，、R3. R-l c 3.7.2.3.3 绘制计数率特性曲线，给出计数率特性参数:参照3.7. 1. 3. 3的方法，绘制系统计数率特性曲线，确定计数率损失20%时的观测计数率(仁，-20川，和真实计数率(乱，-20川。C.，-20%和R.-zo%计算精确i1J1 X 10 5-1。3.7.2.3.4参照3.7.1. 3. 3d)的方法，确定最大观测计数率C，.血，mm和对应的最大真实计

27、数率R，.皿x，mm。3.8 探头的屏蔽泄漏(系统的)3.8. 1 测量条件a) 所用放射性核素为99mTc，液体源的活度约4MBq，装于小屏蔽源罐内，其形状、尺寸及材料见图队图中d不大于20mrn , t不小于10mm.对适用能量在360keV以上的高能准直器用山I或旧mln;b) 源的位置z测参考值时，源在准直器轴上离准直器前断丽100mm处;监测点在探头屏蔽的侧固和背面距表面100mm处均布12个测点，对探测帮与屏蔽体的连接处、电缆出口处及其他屏蔽可能减弱的地方要增加测点。3.8.2 测量步骤a) 测3005本底计数，算出1005本底计数Nb;b) 将源放在准直器轴上离准直器前断面100

28、mm处，测1005参考计数值No;c) 将源分别放在各监测点上，测出各点的100s计数风，为112，增加测点时j也增加。3.8.3 数据处理a) 将各点的计数扣除本底Nb，得参考点的净计数No及各检测点的屏蔽泄漏净计数g14 GB/T 18989-2003 b) 以不同点的N，代入下式，算得各点的屏蔽泄漏SL;c) 找出最大泄漏点，以该点的屏蔽泄漏值作为探头的屏蔽泄漏(系统的)Ss.oozx 0 SL j =是川. ( 19 ) 注:从3.8.2b)到测完).前后测量时间如控制在1600 s之内.对SSmTCt由于源的衰变引起的测量误差不会超过5%，对这测量是允许的因为减少源的衰变引起的测量误

29、差，可以在测点之间加测参考计数值，以测量时间最接近的参考值代人式(19)计算.4 产晶随行文件随机文件是伽玛照相机的组成部分。每台伽玛照相机至少应附有以下文件24. 1 使用说明书4.2 技术说明书4.3 包括下述资料的文件:4. 3. 1 准直器a) 光子能量范围;b) 类型(平行孔、针孔、会聚式、发散式、缝等hc) 构造类型(薄片型或浇铸型), d) 孔的数量、形状和尺寸;e) 最小隔簇厚度事f) 准直器厚度。4.3.2 预置的脉冲幅度分析器窗4.3.3 探测器的UFOV4.3.4 产品各项性能参数的标称值和产品出厂检验时各项性能参数(性能参数符号索引见附录E)实测数据。4.3.4.1 对

30、每个准直器的系统平面灵敏度4.3.4.2 空间分辨率za) 固有空间分辨率:CFOV和UFOV内的FWHM、FWTM和EW，b) 系统空间分辨率:CFOV内的FWHM、FWTM、EW、L(川和MTF(对每个准直器，源处于不同深度处的散射介质中。4.3.4.3 非均匀性:固有非均匀性和系统非均匀性:CFOV和UFOV内的非均匀性分布、积分非均匀性和微分非均匀性，CFOV租UFOV内的固有点源灵敏度偏差。4.3.4.4 固有能量分辨率4.3.4.5 固有多窗空间配位4.3.4.6 固有空间非线性CFOV和UFOV内的微分线性和绝对线性。4.3.4.7 系统计数率特性计数率损失20%时的观测计数率。

31、4.3.4.8 探头的屏蔽泄漏(系统的)4.3.5 产品出厂检验时根据用户要求测量的几项性能参数实测数据2a) 源距100mm 时的无散射系统平面灵敏度(对规定的准直器); b) 元散射介质时的系统空间分辨率:CFOV内的FWHM、FWTM、EW、L(x)和MTF(对规定的准直器，处于不同深度处空气中); c) 固有计数率特性z计数率损失20%时的观测计数率。15 GB/T 18989-2003 16 10m目1。170mm|止7 注1材料.聚甲基丙烯酸甲酶(P，有机玻璃)。注2，可在源盒的上盖开一个小的螺孔，旋一个有机玻璃的螺钉，以便于注入放射性溶液.图1放射源t 300 mm t/! 17

32、0 mm 80 rnm 150 mm / 准直器前端困伽玛照相机的注1，材料z聚甲基丙烯酸甲酶(P，有机玻璃)。固2圆柱形模型(放置放射源的)10 mm d GB/T 18989-2003 铅屏敲UFOV直径对矩扉为最大边佳的5倍曲UFOV直径的2倍注1，铅屏蔽防止放射源引起周围的散射，图3披射源的安装回用于固有性能测量3.2. 1、3.3. 1、3.4，3.6、3.7.1) 17 GB/T 18989-2003 30mm I 30mm I 30mm I 30mm .; D (mml / 朝向探测器注1，D对不同的伽玛照相机的视野应有相应的尺寸和形状，并大于探测器的视野。注2，缝宽1.0 mm

33、土0.05mm; 缝的任何30mm长的段上的平直度为土。.05mm; 缝中心的间距为30.0mm土0.05mmo 注3，该模型适用于140keV及其以下能量.注h对矩形探测器应用相应的矩形缝模.圄4测量圆形伽玛照相机的固有空间分辨率和空间非线性的缝模18 P UFOV 一-飞/ 、 CFOV、/ ./ / / / / / 、 、计数剖面-j一， 、飞1 J / / / 、 / ./ 、-一-注1，P为缝模的缝袖或线源的方向。注2，t为计数剖面的宽度，不大于30mm。回5空间分辨率的计戴剖面团道计量N. o. 5No -1. -。.靠章号固6铅模的缝对应的计敛曲线GB/T 18989-2003

34、19 GB/T 18989-2003 Xj X，钊EW 注11Xi、X，村是序号为1和(j十1)的象素对应的X铀坐标.注22C、CJ+1是序号为J和(j+1)的象素对应的规定带宽内的计数.注3，画有不同阴影的面积是相等的.圈7等效宽度(EW)的示意圈噩乙烯曹蕾蟹呼篝30.0 m.m企0.05mm 注1，聚乙烯管充填摞溶液，管内径约0.5mmo 最大区c.螺量虫子圈8系统空间分辨率测量用的平行双线源20 GB/T 18989-2003 L 3mm 下一嚣容器铅t (mm) 。d(mm);25mm 5mm 固9小屏蔽液体源隔离植25 mm 25 mm 20mm 一上25 mrn 摞槽植I J) (

35、mm) 20 mm 20 mm 注1，材料:聚甲基丙烯酸甲醋(即2有机玻璃。注2，D对不同的伽玛照相机的视野应有相应的尺寸和形状，并大于探测器的视野。图10均匀放射源21 GB/T 18989-2003 22 现测计数事(5-1) C 1M 100k 10 k 什C，.C.-2O!I / A _r I I !?-!.叩R 10k 100k 1M 真实计量率(s-1) 注1，A-实测的计数率曲线，B一一理想的没有计数损失的恒等线，E 与B平行的直线，其各点的纵坐标值是B线上相应点的值减去20%.注2，F E线与A线的交点，其对应的横坐标值为Rj.-20，纵坐标值为Cj，细如注3，(一-A线上的最

36、大值点，其对应的横坐标值为此，回事，纵坐标值为c.阳。注4，以上是对固有计数率特性而言，对系统计数率特性，所有下标s改为S.固11 计鼓率特性曲线GB/T 18989-2003 A. 1 放射源radioactive source 附录A(规范性附录)定义活度和比活度都在规定水平之上的一定量的放射性物质。A. 1. 1 点源point source 三个方向的尺寸都近似8函数的放射源。A. 1. 2 线源line source 在两个方向上的尺寸近似S函数的直线放射源，在第三个方向上活度是均匀的。A. 1. 3 活度activity 符号:A某一时刻，处于特定能级上的一定量某种放射性核素的放射

37、性活度的定量表示。活度由dN除以dt的商确定。其中dN为在时间间隔dt内一定能级的原子核衰变数目的期望值。A=dN/dt 活度的专用单位为贝可勒尔(Bq)，lBq等于每秒衰变一次。活度的单位也可用f1表示。A. 1. 4 衰减atlenuation 当辐射通过物质时，与物质产生各种相互作用引起某种辐射量的减小。例如，辐射量可以是粒子通量密度或能量通量密度。A.2 A.3 注E衰减不包括由于离辐射源的距离不同而引起的几何上的辐射量减小。脉冲幅度分析器窗(简称分析器窗)pul配amplitudeanaly田rwindow 脉冲幅度分析器输入信号幅度的范围，在此范围内，分析器发出输出信号。伽玛照相机

38、gamma camera 由探测到的被测物体发出的Y辐射-次形成图像的闪烁成象设备。A. 3. 1 探测器视野(FOV)detector field of view(FOV) 探测器的范围，在此范围内各个事件都包含在显示的图像中，该范围的尺寸由制造厂给出。A. 3. 1. 1 有效视野i放上J号吸收片前的100s净计数pNj一一放上1号吸收片后的1005净计数。代人上述测得的对应数据，即可得/1至1120由于源的衰变，NO，2至N.I2必须单独测量，不能用NO1代替.同时，也必须注意，每次换片前后的测量间隔不能过长，如控制在200s之内，hTc源的衰变率不会超过1%，是可以满足测量要求的。D,

39、 3 参考值z厚为0.25cm和0.10cm的铜片，对阳Tc射线的减弱因子分别约为O.6和0，80D.4 一组吸收片的射线减弱因子测定以后可以长期使用，不必重复测量5但对不同能量的7射线，其减弱因子应单独测定。32 GB/T 18989-2003 附录E(资料性附录)性能参敛符号索引为便于查阅，表E.l提供性能参数符号索引.表E.1 性能参数符号索引3. 1 能一度一敏性一眼一平一统-系参数系统平面灵敏度符号5, 单位，章、条号s1BqI 3.2 |空间分辨率1半高宽FWHM 口1盯1十分之一高宽FWTM 自1m等效宽度EW mE 3. 2. 1 !固有空间分辨率|半高宽FWHM, mm 十分

40、之一高宽FWTM, m1 等效宽度EW, mm CFOV内的半高宽FWHM mm CFOV内的十分之一高宽FWTMci mm CFOV内的等效宽度E_ mm UFOV内的半高宽FWHM回口1口1UFOV内的十分之一高宽FWTM 自1mUFOV内的等效宽度E.i mm 3. 2. 2 |系统空间分辨率|半高宽FWHM. mm 十分之一高宽FWTM. mm 等效宽度E., mm 线扩展函数t曲线L(x) 调制传递函数M(v) CFOV内的半高宽FWHMQ mm CFOV内的十分之一离宽FWTM. mm CFOV内的等效宽度EWQ mm 3.3 !非均匀性l非均匀性分布 % 积分非均匀性IU % 微

41、分非均匀性DU % 3. 3. 1 |固有非均匀性|非均匀性分布E, % 积分非均匀性IUi % 微分非均匀性D % 固有点源灵敏度偏差可h% CFOV内的非均匀性分布E:.lO到% ci.S% % E且.2.S% % CFOV内的积分非均匀性I % CFOV内的微分非均句性Duci % CFOV内的固有点源灵敏度偏差10 % UFOV内的非均匀性分布ui.l0% % 33 GB/T 18989-2003 表E.1 (续)章、条号性能参数符号单位E:S Yo % 3. 3. 2 矗统非均匀性Ei.2.5% % UFOV内的积分非均匀性IU.到% UFOV内的微分非均匀性DU山% UFOV内的固

42、有点源灵敏度偏差T)ui % 非均匀性分布， % 微分非均匀性DU墨% 积分非均匀性IU, % CFOV内的非均匀性分布Ecs.10到% Eco，S月% 0.2.5 % CFOV内的积分非均匀性IU，二% CFOV内的微分非均匀性DUo % UFOV内的非均匀性分布E.,lO Yo % Eus,5% % Es.2. 5 Y, % UFOV内的积分非均匀性1U. % UFOV内的微分非均匀性DU. % 3. 4 固有能量分辨率固有能量分辨率ER % 3.5 固有多窗空间配位固有多窗空间配位MW, mm 3. 6 固有空间非线性徽分线性Dl, m口1绝对线性AL, mm CFOV内的微分线性DLc

43、i mm CFOV内的绝对线性AI咽mm UFOV内的微分线性DL mm UFOV内的绝对线性AL., mm 3. 7 计数率特性3.7. 1 固有计数率特性计数率损失20%时的E观测计数率C.-ZO% s-, 真实计数率R;, -20% s -, 最大计数率2最大观测计数率C;,max s-, 最大真实计数率Ri.mu s -, 3.7.2 系统计数率特性计数率损失20%时的z观测计数率C,.-20% s -, 真实计数率R , _zo% s 最大计数率2最大观测汁数率C,.mox ,- 最大真实计数率R . 皿革s -, 3. 8 探头屏蔽泄漏探头屏蔽泄漏% (系统的)(系统的)SL_,

44、34 GB/T 18989-2003 附录F(资料性附亵)本部分章条编号与IEC60789，1992章条编号对照表F.l给出了本部分章条编号与IEC60789，1992章条编号对照一览表，表F.1 本部分章条编号与IEC60789, 1992章条编号对照本部分章条编号对应的国际标准章条编号3. 1. 1 3. 1 3. 1. 2 3. 1. 3 3. 2. 1 3.2.2 3. 2. 2 3. 2. 1 3.2. 1. 3.4 3. 2. 3 3.2.2.3.6 3.3. 1.1. 3 3. 3. 3 3.3. 1. 2 3. 3. 4 3. 4. 1 3.4 3. 4. 2 3.4.3 3.

45、 5. 1 3.5 3. 5. 2 3. 5. 3 3. 6. 1 3. 6. 2 3. 6. 3. 1 3. 6. 1 3. 6. 3. 2 3. 6. 2 3. 6. 3. 3 3. 7. 1 3.7.2 3.7 3. 8. 1 3.8 3.8.2 3. 8. 3 4. 1 4.2 4. 3. 1 4. 1 4. 3. 4. 8 4.2 4. 3. 2 4.3 4. 3. 4. 4 4.4 4.3.4 4. 5. 1 4. 5. 2 4. 5. 3 4. 5. 4 4. 3. 4. 7 4.6 4. 3. 3 4.7 4. 3. 4. 3 4.8 4. 3. 4. 2 4.9 4.3.4.

46、6 4. 10 4.3.4.5 4. 11 4. 3. 5 注.表中的章条以外的本部分其他章条编号与IEC60789.1992其他章条编号均相同且内容相对应E35 GB/T 18989-2003 附录G资料性附最)本部分与IEC60789 , 1992技术性差异及其原因表G.l给出了本部分与IEC60789，1992的技术性差异及其原因的一览表。表G.1 本部分与lEC60789 , 1992技术性差异及其原因本部分的章条编号技术性差异原因本条与IEC60789中3.1系统灵敏度测量的技术内在不违背IEC原有的基础上，进行3. 1 容相对应，条文中的测量条件、测量步骤、数据处理，本标准补充、完

47、善、细化，增加了可操作性。作了适当的补充，源距100rnm下的无敢射的系统平面灵敏度测量是本增加可比性3. 1. 2 标准增加的，这时的数据可以和国际上常用的、按NEMANU 1-1994测得的数据相比.本条与IEC60789中3.2线扩展函数，FWHM，FWTM在不违背IEC原有的基础上，进行3. 1. 3 和EW的技术内容相对应，条文中的测量条件、测量步骤、补充、完善、细化，增加了可操作性。数据处理，本标准作了适当的补充.本条与IEC60789中3.2线扩展函数，FWHM，FWTM在不违背IEC原有的基础上，进行3. 2 和EW的技术内容相对应，条文中的测量条件、测量步骤、补充、完善、细化

48、，增加了可操作性.数据处理，本标准作了适当的补充.3. 2. 2 无散射情况下的革统空间分辨率测量是本标准增细的.增加标准可读性和可操作性本条与IEC60789中3.3响应的非均匀性的技术内在不违背IEC原有的基础上，进行3. 3 容相对应，条文中的测量条件、测量步骤、数据处理，本标准补充、完善、细化，增加了可操作性。作了适当的补充.本条与IEC60789中3.4固有能谱的测量的技术内在不违背I配原有的基础上，进行3.4 容相对应，条文中的测量条件、测量步骤、数据处理，丰标准补充、完善、细化，增加了可操作性.作了适当的补充.本条与IEC60789中3.5固有多窗空间配位的测量在不违背I配原有的基础上，进行3.5 的技术内容相对应，条文中的测量条件、测量步骤、数据处补充、完善、细化，增加了可操作性.理，本标准作了适当的补充.本条与IEC60789中3.6固有空间非线性的测量的在不违背IEC原有的基础上，进行3. 6 技术内容相对应，条文中的测量条件、测量步骤、数据处理，补充、完善、细化，增加了可操作性。本标准作了适当的补充.3. 7. 1 本条是本标准增加的.此法比较简便，在国际上常用。本条与IEC60789