GB T 5170.10-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法.高低温低气压试验设备.pdf
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1、ICS 19040K 04 囝亘中华人民共和国国家标准GBT 5170102008代替GBT 517010 1996电工电子产品环境试验设备检验方法高低温低气压试验设备Inspection methods for environmental testing equipmentsfor electric and electronic products-Combined high and low temperaturelowair pressure testing equipments2008-0616发布 2009-030 1实施宰瞀徽鬻瓣警糌瞥霎发布中国国家标准化管理委员会促19前言l范围2规
2、范性引用文件-3术语和定义4检验项目5检验用主要仪器及要求6检验负载7检验条件-8检验方法9数据处理结果与检验结果10检验周期附录A(规范性附录)检验项目的选择目 次GBT 517010200811112222778前 言GBT 5170102008GBT 5170目前包含以下几部分:GBT 517012008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则GBT 51702 2008 电工电子产品环境试验设备检验方法温度试验设备GBT 517052008 电工电子产品环境试验设备检验方法湿热试验设备GBT 517082008 电工电子产品环境试验设备检验方法盐雾试验设备GBT 51709 2008
3、电工电子产品环境试验设备检验方法太阳辐射试验设备GBT 517010一2008 电工电子产品环境试验设备检验方法高低温低气压试验设备GBT 517011 2008 电工电子产品环境试验设备检验方法腐蚀气体试验设备GBT 517013 2005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 振动(正弦)试验用机械振动台GBT 5170141985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 振动(正弦)试验用电动振动台GBT 517015 2005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 振动(正弦)试验用液压振动台一GBT 5170162005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 稳态加速度
4、试验用离心机GBT 51701 7 2005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 低温低气压湿热综合顺序试验设备GBT 517018 2005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度湿度组合循环试验设备GBT 517019 2005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 温度振动(正弦)综合试验设备GBT 517020 2005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法水试验设备本部分是GBT 5170的第10部分。本部分代替GBT 517010 1996。与GBT 517010 1996相比,技术内容主要有如下变化:标准名称“电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 高低温低
5、气压试验设备”更改为“电工电子产品环境试验设备检验方法高低温低气压试验设备”;所有用词“检定”更改为“检验”;增加了“术语和定义”一章;增加了“温度波动度”检验项目;增加了“温度均匀度”检验项目检验项目“综合检定温度平均变化速率”更改为“综合检验每5 min温度平均变化速率”;增加了“温度指示误差”检验项目;增加了“气压指示误差”检验项目;增加了“温度过冲量”检验项目;增加了“温度过冲恢复时间”检验项目;增加了“噪声”检验项目;GBT 5170102008在“检验用主要仪器及要求”一章中,给出了测量系统其测量结果的扩展不确定度(一2)的要求;增加了“检验负载”一章;测量数据记录改为每一分钟记录
6、一次数据;删除了“检定过程中的处理”部分;增加了附录A“检验项目的选择”。附录A为规范性附录。本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术技术委员会(SACTC 8)提出并归口。本部分起草单位:信息产业部电子第五研究所。本部分主要起草人:伍伟雄、谢晨浩、蔡锦文、张孝华、罗军、薛秀美、孔玉梅、粱为旺、罗国良。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:GBT 517010 1985:GBT 517010 1996。1范围电工电子产品环境试验设备检验方法高低温低气压试验设备GBT 5170102008GBT 5170的本部分规定了高低温低气压(含低气压、低温低气压和高温低气压)试验设备的检验项目
7、、检验用主要仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、数据处理结果与检验结果、检验周期等内容。本部分适用于对GBT 242321电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法、GBT 242325电工电子产品基本环境试验规程 试验ZAM:低温低气压综合试验方法和GBT 242326电工电子产品基本环境试验规程试验ZBM:高温低气压综合试验方法所用试验设备的首次检验验收检验和周期检验。本部分也适用于类似试验设备的检验。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GBT 51 70的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然
8、而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。GBT 242321 电工电子产品基本环境试验规程 试验M:低气压试验方法(OBT 2423211993,neq IEC 60068213:1983)GBT 242325电工电子产品基本环境试验规程 试验ZAM:低温低气压综合试验方法(GBT 2423251992,neq IEC 60068240:1976)GBT 242326 电工电子产品基本环境试验规程 试验ZBM:高温低气压综合试验方法(GBT 242326 1992,neq IEC 60068241:1976)GBT 51
9、701 2008 电工电子产品环境试验设备检验方法总则GBT 51702电工电子产品环境试验设备检验方法温度试验设备GBT 168391热电偶第1部分:分度表(GBT 168391 1997,idt IEC 605841:1995)IEC 60751工业铂电阻敏感元件3术语和定义本部分采用GBT 51701 2008规定的术语和定义。4检验项目本部分的检验项目如下:低气压偏差;气压变化速率;综合检验温度偏差;综合检验温度波动度;综合检验温度均匀度;】GBT 5170102008综合检验气压偏差;综合检验每5 rain温度平均变化速率;综合检验气压变化速率;温度指示误差;气压指示误差;温度过冲量
10、;温度过冲恢复时间;噪声。5检验用主要仪器及要求51温度测量仪器采用由铂电阻、热电偶传感器及二次仪表组成的温度测量系统应满足低气压条件下的测量要求,其测量结果的扩展不确定度(一2)不大于被检温度允许偏差的13。铂电阻传感器应符合IEC 60751的等级A,热电偶传感器应符合GBT 168391。传感器在空气中的50响应时间应在10 s40 S之间,温度测量系统的响应时间应小于40 S。52低气压测量仪器采用的气压表(计),其测量结果的扩展不确定度(一2)不大于被测气压允许偏差的13。53噪声测量仪器带A计权网络的声级计,其测量结果的扩展不确定度(一2)不大于1 dB。6检验负载按GBT 517
11、01第7章的规定(或按有关标准的规定)。7检验条件71受检设备在检验时的气候条件、电源条件、用水条件和其他条件应符合GBT 51701 2008第4章的规定。72受检试验设备的外观和安全要求应符合GBT 517012008第8章的规定。8检验方法81 测量点数量及位置811 综合检验温度偏差、温度波动度、温度均匀度、温度指示误差的测量点数量及位置8111根据试验设备容积的大小,将工作空间分为上、中、下(立式)或前、中、后(卧式)三层,将一定数量的温度传感器布放在其中规定的位置上,传感器不应受冷热源的直接辐射。8112温度测量点用英文字母O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、u
12、表示。8113测量点O为设备工作空间的几何中心点,其他各测量点的位置与设备内壁的距离为工作室各自边长的110(遇有风道时,是指与送风El和回风口的距离),但最大距离不能大于500 mm,最小距离不能小于50 mm。如果设备带有样品架或样品车时,下层测量点可布放在样品架或样品车上方10mm处。8114试验设备容积小于或等于2 m3时,温度测量点为9个,布放位置如图1所示。2中层GBT 5170102008图1 试验设备容积小于或等于2 m3时温度测量点布放位置试验设备容积大于2 rrl3时,温度测量点为15个,布放位置如图2所示。根据试验和检验的需要,可在试验设备工作空间增加对疑点的测量。对于其
13、他形状的试验设备,测量点数量和位置可参照上述规定执行。中层 下层图2试验设备容积大于2 m3时温度测量点布放位置812低气压偏差、气压变化速率、综合检验气压变化速率、综合检验气压偏差、气压指示误差的测量点位置测量点为试验设备工作空间任意点或设备取压口处。813综合检验每5 min温度平均变化速率、温度过冲量、温度过冲恢复时间的测量点位置测量点规定为设备的几何中心点。82检验步骤821选择检验温度标称值在设备温度可调范围内,一般选取GBT 242325和GBT 242326标准中规定的有代表性的温度标称值。低温:一65,55,一40,一25,一10,一5等。高温:+30,+40,+55,+70,
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