SJ T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理.pdf

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1、ICS 31.L55备案号:2oo8119-2001SJ中华人民共和国电子行业标准SJ/T 10741-2000半导体集成电路CMOs电路测试方法的基本原理Semiconductor integrated circuitsGeneral principles of measuring methods for CMOS circuits2000-12-28发布2001-03-01实施中华人民共和国信息产业部批准前言本标准在原国家标准GB 3834-83半导体集成电路CMOs电路测试方法的基本原理的基础上进行修订。本标准与GB 3834相比，所考虑的主要性能参数基本相同，技术内容作了相应改动。删除

2、了有关开关电路的儿个参数。本标准的编制、修订有利于我国半导体集成电路行业的技术交流和经济交流。本标准代替GB 3834-83.本标准由信息产业部提出。本标准由中国电子技术标准化研究所归口。本标准起草单位:中国电子技术标准化研究所。本标准主要起草人:李燕荣、孙人杰。本标准首次发布时间:1983年。目次范围一(1)引用标准(1)定义，(1)要求(1)5静态参数测试，(1)5.1输入钳位电压1I K(1)5.2输入高电平电压vIH(2)5.3输入低电平电压vL(3)5.4输入正向闺值电压岭TF . (4)5.5输入负向闺值电压. . (5)5.6滞后电压玲(6)5.7输出高电平电压吮。，(6)5.8

3、输出低电平电压呢:。(7)5.9输入高电平电流IIH，。(8)5.10输入低电平电流IIL(9)5.11输出高电平电流IOH . (10)5.12输出低电平电流I0L . ( I I )5.13输出高阻态时高电平电流IOZH(12)5.14输出高阻态时低电平电流IOZL。一(13)5.15电源电流几。(14)5.16输出短路电流Ios (15)6动态参数测试. (16)6.1输入电容C,和输出电容Co 一(16)6.2动态电源电流I . (17)6.3建立时间t, (18)6.4保持时间t,。(19)6.5最高时钟频率f(21)6.6输出由低电平到高电平传输延迟时间LPLH (22)6.7输出

4、由高电平到低电平传输延迟时间LPHL (23)6.8输出由高阻态到高电平传输延迟时间tpzH (25)6.9输出由高阻态到低电平传输延迟时间tPZL (26)6.10输出由高电平到高阻态传输延迟时间tpHZ(28)6.11输出由低电平到高阻态传输延迟时间LPLZ一(29)6.12输出由低电平到高电平转换延迟时间LTLH(31)6.13输出由高电平到低电平转换延迟时间t丁HL(32)中华人民共和国电子行业标准半导体集成电路CMOs电路测试方法的基本原理SJ/T 10741-2000代替GB/T 3834-83Semiconductor integrated circuitsGeneral pri

5、nciples of measuring methods for CMOS circuits1主题内容与适用范围本标准规定了半导体集成电路CMOS电路(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试。2引用标准GB/T 17574-98半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路SJ/T 10734-%半导体集成电路文字符号电参数文字符号3定义本标准所有电参数符号和定义符合GB/T 17574和SJ/T 10734的规定。4要求4.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。4-2测试期间，应避免外界千扰对测试精度

6、的影响。测试设各引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。4. 3测试期间，施于被测器件的电源电压应在规定值的土1%以内。施于被测器件的其他电参量的准确度应符合器件详细规范的规定。4.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。4.5具有内部存储或滞后特性的器件，应规定预置条件。4.6测试期间，应避免因静电放电而引起器件损伤。4.7测试期间，非被测输入端不得悬空。5静态参数测试5. 1输入钳位电压VIK5.1.1目的中华人民共和国信d产业部2000-12-28批准2001-03-01实施一1一SJ/T 10741-2000测试带有附加钳位二极管的输入端输入钳位电压。5.1.2测

7、试电路图VIK的测试电路图如图1所示。图15.1.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度;b.电源电压VDD;C.输入端流入或流出电流lIK;d.输出端开路。5.1.4测试程序5.1.4.1在规定的环境条件卜，将被测器件接入测试系统中。5. 1.4.2电源端VD。施加规定的电压值。5.1.4.3被测输入端流入或流出电流调整到规定值，其余输入端施加规定的条件。5.1.4.4在被测输入端测得价K05.1.4.5按本标准5.1.4.3 - 5.1.4.4规定，分别测试每个输入端。5.2输入高电平电压VIH5.2. 1目的输出电压为规定值时，侧试输入端所施加的最

8、小高电平电压。5.2.2测试电路图VIH的测试电路图如图2所示。SJ/T 10741-2000图25.2.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度;b.电源电压VDD;c.输入端条件:d.输出端电压Voe5. 2. 4测试程序5.2.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.2.4.2电源端VDD施加规定的电压。5.2.4.3非被测输入端施加规定的条件，非被测输出端开路。5.2.4.4被测输入端输入电压V,由VDD值逐渐下降，使输出端电压VD为规定的电压值时，该输入电压即为输入高电平电压VIH-5.2.4. 5按本标准5.2.4.3-5.2

9、.4.4的规定，分别测试每个输入端。5.3输入低电平电压VIL5.3.1目的输出电压为规定值时，测试输入端所施加的最大低电平电压。5.3.2测试电路图VIL的测试电路图如图3所示。SJ/T 10741-2000图35.3.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度:b.电源电压VDD;C.输入端条件;d.输出电压Vv,5.3.4测试程序5.3.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.3.4.2电源端踢D施加规定的电压。5.3.4.3非被测输入端施加规定的条件。非被测输出端开路。5.3.4.4被测输入端电压V,由Vss值逐渐上升，使输出端电压

10、Vo为规定的电压值时，该输入电压即为输入低电平电压V,L,5.3.4.5按本标准5.3.4.3-5.3.4.4的规定，分别测试每个输入端。5.4输入正向阂值电压VIT十。5.4.1目的测试有施密特触发器的器件，使输出端电压为规定值时，输入端所施加的较高闽值电压。5.4.2测试电路图VIT+的测试电路图如图4所示。SJ/T 10741-2000图45.4.3测试条件测试期间。下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度;b，电源电压VDD;c.输入端施加的电压VI;d.输出端电压Vo。5.4.4测试程序5.4.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.4.4.2电源

11、端吓。施加规定的电压。5.4.4.3非被测输入端施加规定的电压，非被测输出端开路。5.4.4.4调节被测输入端输入电压VI，使输出端电压踢为规定的电压值。该输入电压即为输入正向闭值电压VIT+=5.4.4. 5按本标准5.4.4.3-5.4.4.4的规定，分别测试每个输入端。5.5输入负向闽值电压VIT_ e5.5.1目的测试有施密特触发器的器件，使输出端电压为规定值时，输入端所施加的较低闭值电压。5.5.2测试原理VIT_的测试电路图如图5所示。SJ/T 10741-2000图55.5.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度;b.电源电压VDD;C.输

12、入端施加的电压V:d.输出端电压Vo 05.5.4测试程序5.5.4.1在器件规定的条件下，将被测器件接入测试系统中。5.5.4.2电源端VDD施加规定的电压值。5.5.4.3非被测输入端施加规定的电压，非被测输出端开路。5.5.4.4调节被测输入端输入电压V，使输出端电压肠为规定的电压值。该输入电压即为输入负向阐值电压VT_ o5.5.4.5按本标准5.5.4.3-5.5.4.4的规定，分别测试每个输入端。5.6滞后电压VT5.6.1目的测试有施密特触发器的器件，输入正向阐值电压和输入负向阐值电压之差。5.6.2测试程序5.6.2.1按本标准5.4和5.5的规定测得输入正向闭值电压VT+和输

13、入负向闺值VT_ o5.6.2.2由下式求出滞后电压价: VT=VT,一VT_5. 7输出高电平电压VDe5.7. 1目的输入端在施加规定的电压下，测试输出端为逻辑高电平时的电压。5.7.2测试电路图冷H的测试电路图如图6所示。SJ/T 10741-2000VDDVOH被测器件输入网络!犷图65.7.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a环境或参考点温度;b.电源电压VDD;C.输入端施加的电压VI:d.输出端施加电流10 .5.7.4测试程序5.7.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.7.4.2电源端肠。施加规定的电压值.5. 7.4.3输入端施加

14、规定的电压，输出端施加电流ID,5.7.4.4在被测输出端测得输出高电平电压VOH,5. 7.4.5按本标准5.7.4.3 5.7.4.4的规定，分别测试每个输出端。5.8输出低电平电压吃L5.8. 1目的输入端在施加规定的电压下，测试输出端为逻辑低电平时的电压。5.8.2测试电路图吃L的测试电路图如图7所示。SJ/T 10741-2000VDDVOL被测器件输入网络!匕图75.8.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度:b.电源电压VDD;C.输入端施加的电压Vi.d.被测输出端施加电流10 .5.8.4测试程序5.8.4. 1在规定的环境条件下，将被

15、测器件接入测试系统中。5.8.4.2电源端VDD施加规定的电压值。5.8.4.3输入端施加规定的电压，被测输出端施加电流Io，其它输出端开路。5.8.4.4在被测输出端测得输出低电平电压VOL 5.8.4.5按本标准5.8.4.3-5.8.4.4的规定，分别测试每个输出端。5.9输入高电平电流IIH5.9.1目的测试输入端在施加规定的高电平电压VIH时流入器件的电流。5.9.2测试电路图IIH的测试电路图如图8所示。SJ/T 10741-2000图85.9.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度;b.电源电压VDDIC.输入高电平电压VIH Id.输入低

16、电平电压VIL5. 9. 4测试程序5.9.4. 1在规定的环境条件卜，将被测器件接入测试系统中。5.9.4.2电源端叱。施加规定的电压值。5.9.4.3被测输入端输入高电平电压玛H调到规定的电压值:其余输入端输入低电平电压VIL调到规定的电压值.5.9.4.4在被测输入端测得输入高电平电流IIH5.9.4.5按本标准5.9.4.3-5.9.4.4的规定，分别测试侮个输入端。5.10输入低电平电流AL5.10.1目的测试输入端在施加规定的低电平电压VIL时流出器件的电流。5.10.2测试电路图IIL的测试电路图如图9所示。SJ/T 10741-2000图95.10.3测试条件测试期间，下列测试

17、条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度;b.电源电压VDD;c.输入低电平电压VIL;d.输入高电平电压VIH5. 10.4测试程序5. 10. 4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5. 10.4.2电源端VDD施加规定的电压值。5.10.4.3被测输入端输入低电平电压VL调到规定的电压值;其余输入端输入高电平电压VIH调到规定的电压值。5.10.4.4在被测输入端测得输入低电平电流IIL05. 10.4.5按本标准5.10.4.3-5.10.4.4的规定，分别测试每个输入端。5. 11输出高电平电流IDH5.们.1目的测试输入端在施加规定的条件使输出为高电平时，

18、输出端流出器件的电流。5.11.2测试电路图IDH的测试电路图如图10所示。SJ/T 10741-2000图105.11.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度:b.电源电压介D;c.输入端施加的电压V,;d.输出端施加的电压V05. 11.4测试程序5. 11. 4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.11.4.2电源端VDD施加规定的电压值.5.11.4.1输入端施加规定的电压。5.11.4.4被测输出端施加规定的电压吃;其余输出端开路。-5. 11.4.5在被测输出端测得输出高电平电流IOH ,5.11.4.6按本标准5.11.4

19、.3-5.11.4.5的规定，分别测试每个输出端。5.12输出低电平电流IOL5.12. 1目的测试输入端在施加规定的条件使输出为低电平时，输出端流入器件的电流。512.2测试电路图IOL的测试电路图如图11所示。SJ/T 10741-2000图115. 12. 3测试条件测试期间。F列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度;b.电源电压VDD;C.输入端施加的电压VI:d.输出端施加的电压VOo5. 12.4测试程序5. 12.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5. 12.4.2电源端介D施加规定的电压值。5.12.4.3输入端施加规定的电压。5. 12.

20、4.4被测输出端施加规定的电压VO:其余输出端开路。5. 12.4.5在被测输出端测得输出低电平电流IOL o5. 12. 4. 6按本标准5.12.4.3-5.12.4.5的规定，分别测试每个输出端。5. 13输出高阻态时高电平电流IOZH5. 13. 1目的测试三态输出的器件，三态控制端在施加规定的电压使输出为高阻态时，输出端施加规定的高电平电压下流入器件的电流。5. 13.2测试电路图IOZH的测试电路图如图12所示。SJ/T 10741-2000图125.13.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度;b.电源电压vDD;C.输入端施加的电压VI;

21、d.输出端施加的高电平电压Voe5.13.4测试程序5. 13.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5. 13.4.2电源端vDD调到规定的电压值.5. 13.4.3输入端施加规定的电压。5. 13.4.4被测输出端施加规定的高电平电压呢;其余输出端开路。5. 13.4.5在被测输出端测得输出高阻态时高电平电流Iozti-5. 13.4. 6按本标准5.13.4.3 -5.13.4.5的规定，分别测试每个输出端。5. 14输出高阻态时高电平电流IDZI5. 14. 1目的测试三态输出的器件，三态控制端在施加规定的电压使输出为高阻态时，输出端施加规定的低电平电压下流出器件的电流

22、。5.14.2测试电路图IOZI的测试电路图如图13所示。SJ/T 10741-2000图135. 14.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度:b.电源电压VDD;c.输入端施加的电压V;d.输出端施加的低电平电压VD,5. 14.4测试程序5. 14.4.1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.14.4.2电源端VD。施加规定的电压值.5.14.4.3输入端施加规定的电压，5.14.4.4被测输出端施加规定的低电平电压冷;其余输出端开路.5. 14.4.5在被测输出端测得输出高阻态时低电平电流IDZ6e5.14.4.6按本标准5.14.4

23、.3-5.14.4.5的规定，分别测试每个输出端。5.15电源电流IDD5.15. 1目的测试输入端在施加规定的条件下，流经电源端的电流。5.15.2测试电路图IDD的测试电路图如图14所示。SJ/T 10741-2000图145.15.3测试条件测试期间，一卜列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度;b.电源电压VDD;C.输入端施加的电压V1.5.15.4测试程序5. 15.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5. 15.4.2电源端踢。施加规定的电压值。5. 15.4.3输入端施加规定的电压。5. 15.4.4输出端开路。5. 15.4.5在电源端测得电

24、源电流IDD5. 16输出短路电路IOS5.16.1目的输入端在施加规定的电平下，测试输出为高电平时输出端对地短路的电流。5. 16.2测试电路图Ios的测试电路图如图15所示。SJ/T 10741-2000图155.16.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度;b.电源电压VDD:O.输入端施加的电平V1.5. 16.4测试程序5. 16.4. 1在规定的环境条件卜将被测器件接入测试系统中。5. 16.4.2电源端VD。施加规定的电压值。5. 16.4.3输入端施加规定的电平。5. 16.4.4被测输出端对地短路:其余输出端开路。5. 16.4.5在被

25、测输出端测得输出短路电流los=5. 16.4.6按本标准5.16.4.3一5.16.4.5的规定，分别测试每个输出端。5. 16.5注意事项每次测试的时间应小于1 So6动态参数测试6.1输入电容C,和输出电容co6.1.1目的在规定的测试条件卜，测试输入端或输出端相对于地端的电容值。6.1.2测试电路图C,的测试电路图如图16所示。Co的测试电路图与C,基本相同。SJ/T 10741-2000图166.1.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度:b.电源电压踢D;0.被测输入端或输出端施加的电压价;d.非被测端施加的电压;e. C,.q、L, Lz:

26、f.测试频率。6. 1. 4 C,测试程序6.1.4. 1在规定的环境条件下，将电容电桥调至平衡，然后将被测器件接入测试系统中。6. 1.4.2电源端VDD施加规定的电压值。6.1.4.3被测输入端施加规定的输入电压所。其余输入端施加规定的电平，输出端开路。6.1.4.4将电容电桥调至平衡，即测得输入电容q。6. 1.4.5按本标准6.1.4.1-6.1.4.4的规定，分别测试侮个输入端。6. 1. 5 Co测试程序Co测试程序与C,测试程序基本相同。6.1.6注意事项6.1.6.1除另有规定外，测试频率条件1，电容C, ,q应F短路;电感L,.场应F.高阻。6.2动态电源电流I6.2. 1目

27、的输入端在施加规定的电平和脉冲电压时，测试电源端流入器件的电流。6.2.2测试电路图I的测试电路图如图17所示。SJ/T 10741-2000图176.2.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度:b.电源电压肠D;。.输入脉冲电压的幅度Vm、频率r宽度lw、上升时间tr、下降时间tf;d.输入端施加的电压VI:e.输出负载。6.2.4测试程序6.2.4.1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。6.2.4.2电源端VDD施加规定的电压值。6.2.4.3输入端施加规定的电平和脉冲电压。6.2.4.4输出端施加规定的输出负载。6.2.4.5在电源端测得

28、电源电流I.-6. 2. 4. 6由下式即可求出动态功耗P.: pa Ia VDD.6.3建立时间tsu6.3.1目的测试时序逻辑器件，数据输入脉冲电压应比触发输入脉冲电压提前施加于器件的时间。6.3.2测试电路图is。的测试电路图如图18所示。SJ/T 10741-2000图18株喻OV一一is。的波形图如图19所示。触发输入脉冲喻OV数据输入脉冲图196.3.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度;b.电源电压VDD:c.输入脉冲电压的幅度汽、频率不宽度、上升时间r,d.非被测输入端施加的电压VI;e.输出负载;f.参考电平VREF,6. 3. 4测

29、试程序6.3.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。6.3.4.2电源端VDD施加规定的电压值。6.3.4.3被测数据输入端和触发输入端施加规定的脉冲电压:电压。6.3.4.4输出端施加规定的输出负载。F降时间If;其余输入端施加规定的SJ/T 10741-20006.3.4.5调,被测数据输入端施加的脉冲电压比触发输入端施加的脉冲电压超前的时间，使输出临界转换电平符合器件详细规范的要求。该时间即为建立时间tsu06.3.4.6按本标准6.3.4.3-6.3.4.5的规定，分别测试有关输入、输出端。6.4保持时间th6.4. 1日的测试时序逻辑器件，数据输入脉冲电压在触发输入脉

30、冲过后应保持的时间。6.4.2测试电路图th的测试电路图如图20所示。图20th的波形图如图21所示。呱与OV触发输入脉冲气ha0V数据输入脉冲图21643测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a环境或参考点温度:6.电源电压VDD;。.输入脉冲电压的幅度嵘、频率弄宽度、上升时间t, F降时间t f;一20一SJ/T 10741-2000d.输入端施加的电压V,;e.输出负载;f参考电平服EF6. 4. 4测试程序6. 4. 4. 1在规定的环境条件下.将被测器件接入测试系统中。6.4.4.2电源端呢D施加规定的电压值。6.4.4.3被测数据输入端和触发输入端施加规定的脉冲电

31、压:其余输入端施加规定的电平。6.4.4.4输出端施加规定的输出负载。6.4.4.5调竹被测数据输入端施加的脉冲电压比触发输入端施加的脉冲电压滞后的时间，使输出临界转换电平符合器件详细规范的要求。该时间即为保持时间Ih 6.4.4.6按本标准6.4.4.3 - 6.4.4.5的规定，分别测试有关输入、输出端.6.5最高时钟频率几ax6.5，1目的测试时序逻辑器件，使输出逻辑电平按规定转换，在时钟输入端所施加脉冲电压的最高频率。6卜52测试电路图f-、的测试电路图如图22所示。图226.5.3测试条件测试期间，卜列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度:b.电源电压咋D:C.输入

32、脉冲电压的幅度味、宽度1w、上升时间1, h降时间1t;d.输入端施加的电压V, ;SJ/T 10741-2000二输出负载。6.5.4测试程序6.5.4. 1在规定的环境条件，将被测器件接入测试系统中。6.5.4.2电源端叱。施加规定的电压值。6.5.4.3时钟输入端施加规定的脉冲电压:其余输入端施加规定的电压。6.5.4.4输出端施加规定的输出负载。6.5.4.5调节输入脉冲电压的频率，使输出临界转换电平符合器件详细规范的要求。该频率即为最高时钟频率Imax6.5.4.6按本标准6.5.4.3 6.5.4.5的规定，分别测试有关时钟输入、输出端。6.6输出由低电平到高电平传输延迟时间tPL

33、H勺6.6.1目的测试输入端在施加规定的电平和脉冲电压时，输出脉冲电压由低电平到高电平的边沿和对应的输入脉冲电压边沿上规定的参考电平间的时间。6.6.2测试电路图tPLH的测试电路图如图23所示。图23SJ/T 10741-2000tpLH的波形图如图24所示。喻OV际喻吸编喻饭输入脉冲同相输入脉冲反相输出脉冲一LHy一一一图246.6.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度;b.电源电压VDD;。.输入脉冲电压的幅度嵘、频率办宽度、上升时间tr.、下降时间If;d.输入端施加的电压V;e.输出负载:f.参考电平VREF-6.6.4测试程序6.6.4.

34、1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。6.6.4.2电源端VDD施加规定的电压值.6.6.4.3被测输入端施加规定的脉冲电压:其余输入端施加规定的电平。6.6.4.4输出端施加规定的输出负载。6.6.4.5在被测输出端输出脉冲电压由低电平到高电平的边沿上参考电平八EF处和对应的输入脉冲电压边沿上参考电平VREF处之间测得输出由低电平到高电平传输延迟时间tPLH6.6.4.6按本标准6.6.4.3 -6.6.4.5的规定，分别测试有关输入、输出端。6.7输出由高电平到低电平传输延迟时间tPHL6. 7. 1目的测试输入端在施加规定的电平和脉冲电压时，输出脉冲电压由高电平到低电平的边沿和

35、对应的输入脉冲电压边沿上规定的参考电平间的时间。6.7.2测试电路图IPHL的测试电路图如图25所示。SJ/T 10744-2000图25tPHL的波形图如图26所示。际ov际喻饭标场饭输入脉冲同相输出脉冲图266.7.3测试条刊测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境或参考点温度;电源电压vpo;输入端施加的电压v输入脉冲电压的幅度蛛、频率不宽度、上升时间r,、一卜降时间If;输出负载;-，.1aJDCdSJ/T 10741-2000f.参考电平吸EF6. 7.4测试程序6. 7.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。6. 7.4.2电源端VDD施加规定的电压值。

36、6.7.4.3被测输入端施加规定的脉冲电压;其余输入端施加规定的电平。6.7.4.4输出端施加规定的输出负载。6. 7.4.5在被测输出端输出脉冲电压由高电平到低电平的边沿上参考电平味“处和对应的输入脉冲电压边沿上参考电平VREF处之间测得输出由高电平到低电平传输延迟时间tPLH6. 7.4. 6按本标准6.7.4.3 -6.7.4.5的规定，分别测试有关输入、输出端。6.8输出由高阻态到高电平传输延迟时间tpzH6.8. 1目的测试三态输出的器件，三态控制端在施加规定的脉冲电压时，输出脉冲电压由高阻态到高电平的边沿和对应的输入脉冲电压边沿上规定的参考电平间的时间。6.8.2测试电路图tPZH

37、的测试电路图如图27所示。图27tPZH的波形图如图28所示。SJ/T 10741-2000蛛场OV控制脉冲输出脉冲厂一a,矛一、，一T-一vu-n fn小一图286.8.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境或参考点温度;b.电源电压踢D:C.输入端施加的电压Vi:d.输入脉冲电压的幅度m“频率f宽度、上升时间t,、下降时间tfe.输出负载;f.参考电平vREF06.8.4测试程序6.8.4.1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。6.8.4.2电源端踢。施加规定的电压值。6.8.4.3三态控制端施加规定的脉冲电压;其余输入端施加规定的电平。6.8.4.4

38、输出端施加规定的输出负载。6.8.4.5在被测输出端输出脉冲电压由高阻态至高电平的边沿上参考电平八“处和对应的输入脉冲电压边沿上参考电平vREF处之间测得输出由高阻态到高电平传输延迟时间tPZH 6.8.4.6按本标准6.8.4.3-6.8.4.5的规定，分别测试有关三态控制、输出端。6. 9输出由高阻态到低电平传输延迟时间fPZL6.9. 1目的测试三态输出的器件，三态控制端在施加规定的脉冲电压时，输出脉冲电压由高阻态到低电平的边沿和对应的输入脉冲电压边沿上规定的参考电平间的时间。6.9.2测试电路图fPZL的测试电路图如图29所示。SJ/T 10741-2000图29tPZL的波形图如图30所示。珠喻OV控制脉冲编喻暇输出脉冲图306.9.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定.a.b.C.d.e.:环境或参考点温度;电源电压VDD;输入端施加的电压VI;输入脉冲电压的幅度Vm输出负载;参考电平VREF0测试程序在规定的环境条件卜，、频率不宽度1w、上升时间f,、下降时间If;将被测器41接入测试系统中。