SJ 10268-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CF253型低功耗运算放大器.PDF

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1、rJ中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 10266一10270-91电子元器件详细规范半导体集成电路运算放大器(一)1991一11一12发布1992-01-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CF253型低功耗运算放大器Detail specification for electronic components SJ/T 10268-91Semiconductor integrated circuit-CF253 type low power operational amplifier(可供认证用)本标准规定了半导体集成电路

2、CF253型低功耗运算放大器质量评定的全部内容。本标准符合GB 4589. 1K半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。中华人民共和国机械电子工业部1991-11-12批准1992-01-01实施SJ/T 10268-91中华人民共和国机械电子工业部IECQ评定器件质量的依据:GB 4589.“半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)SJ/T 10268-91CF253型低功耗运算放大器详细规范订货资料:见本规范第7章

3、。1机械说明:外形依据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸。外形图:按GB 7092T 0J f一:一.6.1AE:一40C镇Tb簇+85C ;M:一55C簇r.mb簇-1-125C.“条款号特性和条件符号规范值单位试验CF253CCF253E,CF253M最小典型最大最小典型最大5.3.1输入失调电压Is二士15V Rni=1MS2I=0V。二OV C=30pF11,=505:r毋1.05.01.06. 0n,VV 3.A3 b5.3.2输人失调电流V，二士I5V R,=1MS2I,=OV一。二OV Cc=30pF11=20k4I,u4804100nAA3 bbX 339SJ/T 1026

4、8-91续表s标志器件上的标志示例a. J型认证合格标志型号引出端识别标志制造单位商标质量评定类别检验批识别代码若受器件尺寸限制时，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。b.T刑引出端识别标志认证合格标志里号检脸批识别代码制造单位商标版里评定类别40Sa /T 10268-91若在管壳侧面打印，则将器件正放，从“引出端识别标志”起按逆时针方向依次标志制造单位商标、型号、认证合格标志、检验批识别代码、质量评定类别。7订货资料若无其它规定，订购器件至少需要下列资料:产品型号;b.详细规范编号;c.质量评定类别;d.其它。8试验条件和检验要求抽样要求:根据采用的质量评定类别，按G3

5、/T 12750第9章的有关规定。A组检验的抽样要求分组AQL丑类l类1LAQL1LAOLA1皿0.6500.65人3压0. 15二0. 15A3。S41. 0S41.0A3bS41.0S41.0B组,C组和D组检验的抽样要求分组LTPDQ类1类ABCB115151515C12020202OC2a1515l515C315151515B4 C410101010B5飞0101010C620202020C715151515B8 C8105710C91557l5C1120202020D810571011S7/T 10268-91A组逐批全部试验均为非破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验

6、或试验引用标准条件若无其它规定.I,mb=25C(见GB 4589. 1第4章)检验要求规范值Al分组外部目检GB 4589. 1第4.2.1.1条标志清晰，表面无损伤和气孔A3分组25下的静态特性GB 3442半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理按本规范5.2.1至5.2.3条，5.2.5至5. 2.9条按本规范5.2.1至5.2.3条，5.2.5至5.2.9条A3a分组最高工作温度下的静态特性GB 3442Tnmb按本规范4. 5条规定的最大值。条件:按本规范5.3条按本规范5.3条A3b分组最低工作温度下的静态特性GB 3442Tsmb按本规范4. 5条规定的最小值。条件按

7、本规范5.3条按本规范5.3条B组逐批标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定，T-b=25C(见GB 4589. 1第4章)检验要求规范值Bl分组尺寸GB 4589. 1第42. 2条及附录B按本规范第了章B4分组可焊性GB 4590半导体集成电路机械和气候试验方法第2.5条按方法b(槽焊法)按2.5.6条BS分组温度快速变化随后进行GB 4590第3.1条温度按本规范第4. 6条规定循环次数10次1,=5mm一d?一SJ/T 10268-91B组逐批(续)检验或试验引用标准条件若无其它规定，1“n、二25C(见GB 4589.1第

8、4章)检验要求规范值电测量密封:细检漏粗检漏GB 4590第3.12条GB 4590第3.13条同A3分组恢复2h按规定按规定同A3分组B8分组电耐久性(168h)最后测量(同A3分组)测试参数:1.pho11.A,1sPa.vK-天，rkGB/T 12750第12.3条Tamb按本规范4. 5条规定的最大值，试验线路见10.3条同A3分组1. 1 X USL“1.5XUSL1.3XUSL氏9 X LSL“1.3XUSL0.9XLSL0.9XLSL0.9XLSL其余同A3分组CRRL分组就B4,B5和B8分组提供计数检查结果.注: l) USL二规范的上限值;LSL二规范的下限值。C组周期标有

9、(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定，Taa,b=25C(见GB 4589. 1第4章)检验要求规范值C1分组尺寸GB 4589.1第4.2.2条及附录B按本规范第1章C2a分组环境温度下的电特性按本规范第5.2.4条按本规范5.2.4条C3分组引线强度拉力(D)弯曲(D)GB 4590第2.1条GB 4590第2.2条外加力的值按2.1条表1外加力的值按2.2条表2按2.1.5条无损伤一43一sd/T 10288-97c组周期(续)检验或试验引用标准条件若无其它规定，rn,b=25 C(见GB 4589. 1第4章)检验要求规范值C

10、4分组耐焊接热(D)最后测量(同A3分组)GB 4590第2.6条按方法1(260C槽焊)同A3分组同A3分组C6分组，稳态加速度(D)(空封器件)最后测量(同A3分组)GB 4590第2.10条加速度:按规定同A3分组同A3分组C7分组稳态湿热(D)最后测量(同A3分组)CB 4590第3.6条严格度。:时间5C0同A3分组同A3分组C8分组电耐久性(1000h)最后测量(同B8分组)GB/T 12750第12.3条同B8分组同B8分组同B8分组C9分组高温贮存(D)最后测量(同A3分组)GB 4590第3.3条温度150时间:1000h同人3分组同A3分组C11分组标志耐久性GB 4590

11、第4. 3条按GB 4590第4. 3. 2条，方法1按CB 4590第4.3.2条CRRL分组就C2a,C3,C4,C6,C7,C8,C9和Cil分组提供计数检查结果注:1)连续三次通过后，周期可放宽为一年一次。9 D组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后每年进行一次。SJ/T 10268一91检验或试验引用标准条件若无其它规定,T-25 c(见GB 4589. 1第4章、检验要求规范仇D8分组电耐久性(D)最后测量(同B8分组)GB/T 12750第12.3条0类2000h11类30001其它同B8分组同B8分组一一同B8分组10附加资料10.1引用GB 3142的特性测试一一十则试

12、方法GB 3442第_. 1条a卜们GB3442第全2条1,011.GB 3442第25条1sGB 3442第2. 6条下洲rGB 3442第2.曰条K.,GB 3442第2.11条KGB 3442第2. 8条R,GB 3442第2. 12条A-GB 3442第2. 7条10.2特性曲线最大允许功耗的温度限制曲线600500400300200、丈n洲/l、队res队一一FI一日口沙己毛官称方长书峨IOD20 40 60 80 100 120环境温度丁.mn 1 C 145SJ/T 10268-9110.3电耐久性试验线路Lookn一”，r今士1了二50日2卜l5、10.4设计参考资料条款号特性

13、和条件符号规范值单位CF253CCF253L,CF253M最小典型最大最小典型最大10.4.1输入失调电压温度系数“川u33v/C11型号说明11.1电原理图v.1、一TN十OUTH盯COMP,cnMP,V_46SJ/T 10268-9111.2典型连接图一1厂十一I-R.+23kQF一琉，+23kS?11.3引出端符号名称引出端符号引出端符号名称comP井一al偏置1N_反相。入一OUT输出IN,F1MWV+正电源V_负电，一0)MP,补偿2SJ/T 10268-91附录入筛选(补充件)e类器件:生产厂自行规定筛选条件。，类器件:筛选项目和条件如下:等级A内都目检GB 4590第6条高温稳定

14、GB 4590第3.3条150C 96h等级B内部目检GB 4590第4. 6条等级c内部目检，GB 4590第4.6条|.工f高温稳定GB 4590第3.3条150亡48h变化第 3. l条0r,10次口1条10次稳态加速度”OB 4590第2.10条密it,。.1590第3.1:条和3. 13条稳态加速度”GB 4590第2. 10条密封”一GB 4590第3.12条和3. 13条同n3分组剔除不合格品门_)一晒i99Mi T, -.竺老化前电测量同n3分组剔除不合格品老化GB 4590第4.7条.TpnD最大,240h老了kGB 4590第4.7条Tamb最大168h老化GB 4S90第4.7条，Tmnb最大，168h老化同人剧除若不拒收F0Mfit一一I tfrtu*- iQ9I习3分组，同A3分组，不“，品。、。除不合格品.竺一一一一R1 SAC一一一注1)不适用于非空封器件。48一SJ/T 10268-91附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由北京半导体器件研究所负责起草。本标准主要起草人:崔忠勤李荣实