SJ 10265-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7668GP型带ALC双前置放大器.PDF

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1、L _JJ中华人民共和国电子工业行业标准SJ/TSJ/T10257一10261-9110263-10265-91电子元器件详细规范半导体集成电路音响电路(一)1991一11一12发布1992-01-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CD 7668 GP型带ALC双前置放大器S1/T 10265-91Detail specification for electronic componentSemiconductor integrated circuit-type CD 668 GPdual preamplifiers with

2、ALC本规范规定了半导体集成电路音响电路CD 7668 GP型带ALC双前置放大器质量评定的全部内容。本规范符合GB 4589. 1(半导体器件分立器件和集成电路总规范及GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-11-12批准1992-01-01实施SJ/T 14265-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据、GB 4589. 11半导体器件分立器件和集成电路总规范及GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)矛SJ/T 10265-91CD 7668 GP型带ALC双前置放大器详细规范订货资料:见本规范第

3、7章.1机械说明外形依据GB 7092半导体集成电路外形尺寸。外形图:按GB 7092第5.5.1条P16S3.引出端排列:GNI7一下U下拍、v.,- I.21 51 I CUN.-IOUT.nr I I 1:魂 I:魂 120UT.u,n 1止城1城 120UT.IOUT.卜slZislZ 12DUTr.eIIN- 1 1石11 I石11 I zuti-IIN.I 1110 I10 1-1、十1N.,.以二一二尸GNII:引出端符号名称:见本规范第11章。标志:按GB 4589. 1第2.5条及本规范第6章。2简要说明双极型音响集成电路半导体材料:硅封装:非空封应用:主要在音响设备中作录音

4、及放音放大用。品种:1 16之15;a令13.5 1zs 11.一?10.，二2，一型2fT1k J$封装形式飞一25-75C(G)塑料双列直插(F少CD7668GP3质里评定类别8类参考数据工作电源电压:vcc=6-15v.SJ/T10265一914极限值(绝对最大额定值)若无其它规定，7.=25。条款号参数符号数值单位最小最大41电源电压Vcc16V42功耗1)P。750mW4.3工作环境温度了，amb一25754.4贮存温度7519一55150注1)在25以上时，温度每升高1，功耗减少6mw5电特性电特性的检验要求见本规范第8章.若无其它规定，八.1、二25，vcc二gv，了二IkHZ。

5、条款号特性和条件符号规范值单位试验最小典型最大51静态电流v:二。凡接通Ic08.5105n1AA35.2全谐波失真度(前置)V。二0，ZV了丫IDI0.15%0.5%A45.3输出噪声电压(前置)R“=2.ZknBPF:30H名50kH名V、00.260.6lniV一A45.4全谐波失真度(录音)V。=1.SV，IIIDZ0.2%0.6写A45.5ALC失真度(录音)Rl二2.Zk口，Vl=45rnVR盆=10k口TllD八陇0.3环1.0纬人456ALC电压(录音)测试条件同本章5.5条V。八Lc0.91.11.42VA46标志器件上的标志示例:85sj/r 10265-91型号CD766

6、8GP引出识别标护86.10皿质量评定类87检验批识别代码了订货资料产品型号;详细规范编号;质量评定类别;其它。乐匕已己8试验系件及检验要求抽样要求:根据采用的质量评定类别，按GB/T 12750第9章的规定.A组检验的抽样要求分组AQI.【类检查水平01J人QL0. 650. 151.0B组、C组和D组检验的抽样要求分组11111)皿类BI15C120C315B4 C410B5 C510SJ/T 10265-91A组逐批所有试验均为非破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6. 6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定,1.b二25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值A1分组

7、外部目检GB 4589.1第4.2.1.1条标志清晰，表面无损伤和气孔A3分组25下的静态特性GB 7500半导体集成音响电路音频前置放大器测试方法的基本原理按本规范第5.1条及10.1条按本规范第5. 1条A4分组25下的动态特性GB 7500按本规范第5. 2条至5. 6条及10.1条按本规范第5.2条至5.6条B组逐批标有(D)的试验为破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定.Temb竺21(见GB 4589. 1第4. 1B1分组尺寸GB 4589.1第4.2. 2条及附录BB4分组可焊性GB459。半导体集成电路机械和气候试验方法第2.5条按

8、方法b(袍焊法)B5分组温度快速变化随后进行:外部目检稳态湿热“)电测盆GB 4590第3.1条GB 4589. 1第4.2.1.1条GB 4590第3. 7条温度按严格度A循环次数10次八:snun按严格度A. 2411同A3和A4分组同A1分组同A3和Al分组一87一SJ/T 10265-91s组逐批(续)检验或试验引用标准条件若无其它规定，Tsmb=25(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值B8分组电耐久性电测tGB/T 12750第12.3条1681,试验线路按本规范第10.2条同人3和A4分组恢复211.241、内测完小于1. 3USI，大于。81.51冷CRRL分组就B

9、4. B5和B8分组提供训一数俭查结果.往,1) USL和LSI，分别表示A组规范值的最大值和最小值。C组周期标有(D)的试验为破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定,7.,b=25C(见GB 4589. 1第4.1条)检脸要求规范值C1分组尺寸GB 4589. 1第4.2. 2条及附录B按本规范第1章C3分组引线强度拉力(D)弯曲(D)GB 4590第2.1条GB 4590第2.2条F=5N按试验i1之方法2,F=2.5N按GB 4590第2.1.5条无断裂C4分组耐焊接热(D)电测盆GB 4590第2. 6条按方法I(260C榴焊)同A3和A4分

10、组同A3和A4分组C5分组温度快速变化随后进行:外部目检祖态湿热(D)电测盆GB 4590第3. 1条GB 4589. 1第4.2.1.1条GB 4590第3. 7条温度按严格度A循环次数500次八:smin严格度A, 2411同A3和A4分组同A1分组同A3和A4分组C7分组稳态湿热(0)电测址GB 4590第3.7条按严格度A，不加电，100011同A3和A4分组同BS分组88S1/T 10265-91C组周期(续)检验或试验引用标准条件若无其它规定，T.-b=25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值C8分组电耐久性电测量GB/r 12750第12. 3条10001,，其余

11、同138分组同A3和A4分组同138分组C9分组高温贮存(D电测量GB 4590第3. 3条10006.温度按严格度C同A3和A4分组同B8分组Cil分组标志耐久性GB 4590第4. 3条按方法1按GB 4590第4. 3.2条CRRI分组就C3.C4.C5,C7,C8,C9和CI1分组提供计数检查结果.9 D组D8分组检验应在鉴定批准之后立即进行，以后疥年进行一次。检验或试验引m标准D8分组电耐久性(D电测量一一州一一检验要求规范值GB/,r 12750第12.3条200011.其它同B8分组同A3和A4分组同B8分组附加资料电特性的测量测试方法八日nUn曰月.，.曰1参数测试方法入coG

12、B 7500第2. 1条T7/DGB 7500第2. 7条TIM-GB 7500第2. 15条VOALCGB 7500第2. 16条A vuGB 7500第2. 2条V.GB 7500第2. 4条CSRGB 7500第2.10条A-GB 7500第2.3条R,.GB 7500第2.14条B.aGii 7500第2.17条89S,1/T 10265-9110-1.2测试原理图三之90S7/T 10265-91测试原理图中开关位置相应条款号测试项目S,S,S,S,S,SsS,SeS，s,05.1Icco胜汤备升任关怜断5.2TIID,断1221诱书断断5.3V-断断2221断断5.4TIID,断1

13、212资12断断5.5TIID,.断1212资12断通5.6V.-断1212路12断通10.1.3.1Avo断1111补断断10.1.3.2vv,断1221谷断断10.1.3.3CSR断1211-2断断10.1.3.4Avv,断1211并12断断10.1.3.5V“名断121212断断10.1.3.6R-断121212断通10.1.3.7A了-r断1211书1断一通断10.1.3.8BA-21-221书I-2断通注:.表示开关状态处任意位置.10-1.3设计保证参数和参考参数条款号特性和条件符号规范值单位测试图最小典型最大10.1.3.1开环电压增益(前置)V,=O. 045.VAvo6578

14、dB见10.1.2条10.1.3.2最大输出电压(前置)TIID=1环Vol,0.50.8V见10.1.2条10.1.3.3通道隔离度(前置)R“二2. 2kd1(二S尺4760dB见10.1.2条10.1.3.4闭环电压增益(录音)R, =10krtA,12.714.716.7dB见10.1.2条10.1.3.5最大输出电压(录音)TIID-1肠V0M22.02.5V见10.1. 2条10.1.3.6ALC范围(录音)V,=0. 45-V,R,=2. 2kd1尺人r45dB口10.1.2备10.1.3.7消噪衰减量(录音)ATT一广4555dB见10.1.2条10.1.3.8ALC平衡度(录

15、音)v,=asmvB-02da见10.1.2条一91一SJ/T 10265-9110.210.3电耐久性试验线路图v,=16V特性曲线在产品说明书中给出下列特性曲线:b主要电特性随温度变化曲线;其它有关特性曲线11型号说明92sJ/r 10265-9111.1功能框图IOU rm;rtIOU I1OU T-CON-】IN_11卜，21N+21N_GNn2011 T,20UTvn 20UT-,GNO引出端符号名称一名瓜称GNU,地1GNU 丫，V-基准电压一21N,2通道同相输入1OUTMu,飞通道静噪输出一21N-2 iL71道反相输人loura,I通道录音放大输出20Utrue .2通道前置放大输日IOUT,xe1通道前置放大输出一“OUT2通道录音放大输出11N-1通道反相输入一20Ur n2通道1n噪输出11N,1通道同相偷入.一静噪控制IN-自动电平控制输入一V1巨源附加说明:本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会提出。本标准由无锡微电子联合公司负责起草。本标准主要起草人:孙仁兴孙志金刘晓民一93一