IEC 61193-1-2001 Quality assessment systems - Part 1 Registration and analysis of defects on printed board assemblies《质量评定系统 第1部分：印制版组装件缺陷的登记和分析》.pdf

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1、NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD61193-1Premire ditionFirst edition2001-12Systme dassurance de la qualit Partie 1:Enregistrement et analyse des dfautssur les cartes imprimes quipesQuality assessment systems Part 1:Registration and analysis of defectson printed board assembliesNumro de r

2、frenceReference numberCEI/IEC 61193-1:2001Numrotation des publicationsDepuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEIsont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1devient la CEI 60034-1.Editions consolidesLes versions consolides de certaines publications de laCEI incorporant les amendement

3、s sont disponibles. Parexemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquentrespectivement la publication de base, la publication debase incorporant lamendement 1, et la publication debase incorporant les amendements 1 et 2.Informations supplmentairessur les publications de la CEILe contenu techniqu

4、e des publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil reflte ltatactuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI(voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions,amendements et c

5、orrigenda. Des informations sur lessujets ltude et lavancement des travaux entreprispar le comit dtudes qui a labor cette publication,ainsi que la liste des publications parues, sontgalement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEILe cata

6、logue en ligne sur le site web de la CEI(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire desrecherches en utilisant de nombreux critres,comprenant des recherches textuelles, par comitdtudes ou date de publication. Des informationsen ligne sont galement disponibles sur lesnouvelles publications, les pub

7、lications rempla-ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just PublishedCe rsum des dernires publications parues(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible parcourrier lectronique. Veuillez prendre contactavec le Service client (voir ci-dessous) pour plusdinformations. Service clientsSi vous a

8、vez des questions au sujet de cettepublication ou avez besoin de renseignementssupplmentaires, prenez contact avec le Serviceclients:Email: custserviec.chTl: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00Publication numberingAs from 1 January 1997 all IEC publications areissued with a designation in the 6000

9、0 series. Forexample, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.Consolidated editionsThe IEC is now publishing consolidated versions of itspublications. For example, edition numbers 1.0, 1.1and 1.2 refer, respectively, to the base publication,the base publication incorporating amendment 1 andthe ba

10、se publication incorporating amendments 1and 2.Further information on IEC publicationsThe technical content of IEC publications is keptunder constant review by the IEC, thus ensuring thatthe content reflects current technology. Informationrelating to this publication, including its validity, isavail

11、able in the IEC Catalogue of publications(see below) in addition to new editions, amendmentsand corrigenda. Information on the subjects underconsideration and work in progress undertaken by thetechnical committee which has prepared thispublication, as well as the list of publications issued,is also

12、available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publicationsThe on-line catalogue on the IEC web site(www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to searchby a variety of criteria including text searches,technical committees and date of publication. On-line information is also avail

13、able on recentlyissued publications, withdrawn and replacedpublications, as well as corrigenda. IEC Just PublishedThis summary of recently issued publications(www.iec.ch/JP.htm) is also available by email.Please contact the Customer Service Centre (seebelow) for further information. Customer Service

14、 CentreIf you have any questions regarding thispublication or need further assistance, pleasecontact the Customer Service Centre:Email: custserviec.chTel: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00.NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD61193-1Premire ditionFirst edition2001-12Systme dassurance de

15、 la qualit Partie 1:Enregistrement et analyse des dfautssur les cartes imprimes quipesQuality assessment systems Part 1:Registration and analysis of defectson printed board assembliesCommission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical CommissionPour prix, voir catalogue en vigue

16、urFor price, see current catalogue IEC 2001 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reservedAucune partie de cette publication ne peut tre reproduite niutilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd,lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et lesmicrofilms, sans lacco

17、rd crit de lditeur.No part of this publication may be reproduced or utilized inany form or by any means, electronic or mechanical,including photocopying and microfilm, without permission inwriting from the publisher.International Electrotechnical Commission 3, rue de Varemb Geneva, SwitzerlandTelefa

18、x: +41 22 919 0300 e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.chCODE PRIXPRICE CODE S 2 61193-1 CEI:2001SOMMAIREAVANT-PROPOS4INTRODUCTION.81 Domaine dapplication 102 Rfrences normatives.103 Termes et dfinitions 124 Enregistrement des dfauts 184.1 Critres dacceptation184.2 Comptage des dfauts.18

19、4.3 Enregistrement des dfauts aprs brasage204.3.1 Dfauts trouvs aprs essai 204.4 Catgories de dfauts .204.4.1 Origine des dfauts .204.4.2 Formulaire denregistrement des dfauts .204.5 Retouches immdiates pour le brasage .224.6 Enregistrement des catgories de dfauts.225 Traitement des donnes .226 Anal

20、yse 24Annexe A (normative) Processus lmentaires .26Annexe B (informative) Exemples de dfinitions de dfauts de produit28Annexe C (informative) Exemples de calculs.32Annexe D (informative) Exemple denregistrement de dfauts et de traitement dedonnes36Figure B.1 Enregistrement des dfauts 30Figure D.1 Le

21、s donnes de la notation de dfauts36Figure D.2 Classement en type de dfaut 38Figure D.3 Classement en type de composant .38Figure D.4 Classement en source de dfaut.38Figure D.5 Niveau de ppm de la carte imprime A au cours des 10 derniers joursde production40Figure D.6 Niveau de ppm de la production p

22、ar type de carte 40Tableau A.1 Descriptions pour les processus lmentaires26Tableau C.1 Exemple 1 (vrification 100 %)32Tableau C.2 Exemple 2 (vrification alatoire) .34Tableau D.1 Trois sous-divisions .3861193-1 IEC:2001 3 CONTENTSFOREWORD.5INTRODUCTION.91 Scope.112 Normative references .113 Terms and

23、 definitions .134 Defect registration 194.1 Accept criteria .194.2 Counting of defects .194.3 Post-soldering defect registration 214.3.1 Defects found after testing.214.4 Defect subdivision .214.4.1 Defect sources 214.4.2 Defect registration form .214.5 Rework immediately prior to soldering .234.6 D

24、efect data categories 235 Processing the data236 Analysis25Annex A (normative) Subprocesses 27Annex B (informative) Examples of product defect qualification 29Annex C (informative) Examples of calculations.33Annex D (informative) Example of registration of defects and processing of the data 37Figure

25、 B.1 Registration of defects 31Figure D.1 Data for defect registration .37Figure D.2 Subdivision into type of defect 39Figure D.3 Subdivision into type of component.39Figure D.4 Subdivision into defect source 39Figure D.5 ppm level printed board A, of the past 10 production days 41Figure D.6 ppm lev

26、els of the production per type of board41Table A.1 Descriptions for subprocesses .27Table C.1 Example 1 (100 % check) 33Table C.2 Example 2 (random check) 35Table D.1 Three subdivisions.39 4 61193-1 CEI:2001COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE_SYSTME DASSURANCE DE LA QUALIT Partie 1: Enregistre

27、ment et analyse des dfautssur les cartes imprimes quipesAVANT-PROPOS1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisationcompose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI apour objet de favoriser la cooprat

28、ion internationale pour toutes les questions de normalisation dans lesdomaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normesinternationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit nationalintress par le sujet tr

29、ait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et nongouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitementavec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre lesdeux organisa

30、tions.2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesuredu possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intressssont reprsents dans chaque comit dtudes.3) Les documents produits se prsentent sou

31、s la forme de recommandations internationales. Ils sont publiscomme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par lesComits nationaux.4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer defaon transparent

32、e, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normesnationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionalecorrespondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire.5) La CEI na fix aucune procdure concernant

33、le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilitnest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes.6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent fairelobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits ana

34、logues. La CEI ne saurait tre tenue pourresponsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existenceLa Norme internationale CEI 61193-1 a t tablie par le comit dtudes 91 de la CEI:Techniques dassemblage des composants lectroniques.Le texte de cette norme es

35、t issu des documents suivants:FDIS Rapport de vote91/265/FDIS 91/273/RVDLe rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayantabouti lapprobation de cette norme.Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 3.Lannexe A fait partie intgrante d

36、e cette norme.Les annexes B, C et D sont donnes uniquement titre dinformation.61193-1 IEC:2001 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION_QUALITY ASSESSMENT SYSTEMS Part 1: Registration and analysis of defectson printed board assembliesFOREWORD1) The IEC (International Electrotechnical Commission)

37、is a worldwide organization for standardization comprisingall national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promoteinternational co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. Tothis end and in addition

38、to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation isentrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with mayparticipate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaisingwith

39、the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the InternationalOrganization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between thetwo organizations.2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as

40、 nearly as possible, aninternational consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representationfrom all interested National Committees.3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the formof standards, tech

41、nical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the NationalCommittees in that sense.4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC InternationalStandards transparently to the maximum extent possible in their national and r

42、egional standards. Anydivergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearlyindicated in the latter.5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for anyequipment declared to be in conformity wit

43、h one of its standards.6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subjectof patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.International Standard IEC 61193-1 has been prepared by IEC

44、 technical committee 91:Electronics assembly technology.The text of this standard is based on the following documents:FDIS Report on voting91/265/FDIS 91/273/RVDFull information on the voting for the approval of this standard can be found in the report onvoting indicated in the above table.This publ

45、ication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3.Annex A forms an integral part of this standard.Annexes B, C and D are for information only. 6 61193-1 CEI:2001Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2006.A cette date, la publication ser

46、a reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.61193-1 IEC:2001 7 The committee has decided that the contents of this publication will remain unchangeduntil 2006. At this date, the publication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. 8 61193-1 CEI:

47、2001INTRODUCTIONLa prsente partie de la CEI 61193 traite du comptage des dfauts sur les cartes imprimesquipes dans le processus de fabrication des circuits lectroniques et des calculs associsdu niveau de dfaut en ppm (parties par million) qui doivent tre effectus de faonnormalise.Le nombre de dfauts

48、 se produisant au cours du processus de production est habituellementexprim au niveau des dfauts en parties par million, communment dsigns ppm. Ainsi, lasignification dune valeur de ppm relative un processus de brasage est vidente: dans cecontexte, une partie est un joint de brasage qui prsente un dfaut, le million fait rfrence un million de joints de brasage.Pour une indexation uniforme des dfauts, on souligne dans cette norme que les dfauts debrasage sont compts immdiatement apr