IEC 60748-20-1988 Semiconductor devices - Intergrated circuits Part 20 Generic specification for film integrated circuits and hybrid film intergrated circuits《半导体器件 集成电路 第20部分 膜集成电路和混合膜集成电路总规范》.pdf

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1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 748-20 QC 760000 1988 AMENDEMENT 1 AMENDMENT 1 1995-09 Amendement 1 Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Partie 20: Spcification gnrique pour les circuits intgrs couches et les circuits intgrs hybrides couches Amendment 1 Semiconductor d

2、evices - Integrated circuits - Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits CE1 1995 Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internationale 3, rue de Varemb Genve, Suisse Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved D Com

3、mission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission MeHnVHapOaHaR 3nenporextirecnan HOMHCCHR COD E PRIX PRICE COD E Pour prix. voir catalogue en vigueur For price. see current catalogue -2- DIS 4 7Ai380lD I S 748-20 amend. 1 0 CEI:1995 Rapport de vote 47Al402lRVD AVANT-

4、PROPOS Le prsent amendement a t tabli par le sous-comit 47A: Circuits intgrs, du comit dtudes 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Le texte de cet amendement est issu des documents suivants: Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti la

5、pprobation de cet amendement. Page 34 3.6.2.3 Composants rapports et niveaux dassurance du circuit Remplacer le texte existant par le nouveau texte suivant: En vue de lacceptation de circuits de niveaux dassurance K, L ou M, on peut utiliser des composants rapports de statut qualifi,) ou non qualifi

6、, rpondant aux critres suivants: a) lorsque les circuits comprennent uniquement des composants de statut qualifi,) les niveaux dassurance peuvent tre K, L ou M; b) lorsque les circuits comprennent un ou plusieurs composants de statut non qualifi, la spcification particulire doit: - identifier les ni

7、veaux dassurance par K/N, L/N ou M/N si applicable, et - donner la liste de tous les composants rapports qui ont le statut non qualifi,. 3.6.3.1 Octroi de /agrment de savoir-faire Remplacer le texte existant par le nouveau texte suivant: Pour obtenir lagrment de savoir-faire, le fabricant doit: a) a

8、ppliquer les rgles donnes en 11.7 de la CE1 QC 001002; b) rdiger un manuel de savoir-faire conformment 3.6.4 de la presente spcifi- cation ; c) prparer les spcifications particulires de CQC conformment a 3.6.3.6 de la prsente spcification; d) prouver IONS que le choix des CQC est reprsentatif des pr

9、oduits qui doivent tre accepts conformment aux rgles dassociation indiques dans la spcification intermdiaire et que ce choix dtermine compltement les limites de savoir-faire, la gamme des matriaux et composants (y compris les sources utilises) et la gamme des produits dcrits dans le manuel de savoir

10、-faire; 748-20 Amend. 1 0 IEC:1995 DIS -3- Report on voting FOREWORD This amendment has been prepared by sub-committee 47A: Integrated circuits of IEC technical committee 47: Semiconductor devices. The text of this amendment is based on the following documents: I 47A1380iDIS I 47Al4021RVD Full infor

11、mation on the voting for the approval of this amendment can be found in the report on voting indicated in the above table. Page 35 3.6.2.3 Added components and circuit assessment levels Replace the existing text by the following: For the release of circuits of assessment levels K, L or M, added comp

12、onents of “qualified“ or “non-qualified“ status may be used, subject to the following criteria: a) when the circuits contain components all of “qualified“ status only, the assessment level may be stated as K, L or M; b) when the circuits contain one or more components of “non-qualified“ status, the

13、circuit detail specification shall : - identify the assessment levels as K/N, L/N or M/N as applicable, and - list all those added components which have “non-qualified“ status. 3.6.3.1 Granting of capability approval Replace the existing text by the following: To obtain capability approval, the manu

14、facturer shall: a) apply the rules given in 11.7 of IEC QC O01 002; b) prepare a capability manual in accordance with 3.6.4 of this specification; c) prepare details specifications for CQCs in accordance with 3.6.3.6 of this specifi- cation; d) satisfy the NSI that the selection of CQCs is represent

15、ative of the products to be released in accordance with the structural similarity rules prescribed in the sectional specificationand that it fully assesses all the capability boundaries, the range of materials and components (including sources used) and the range of products claimed in the capabilit

16、y manual; -4- 748-20 amend. 1 0 CE1 : 1 9 95 e) informer IONS du choix du programme dessais et des svrits applicables pour lagrment de savoir-faire; f) raliser le programme dessais conformment aux essais initiaux dagrment de savoir-faire et aux spcifications du fabricant concernant les CQC et, si ap

17、plicable, les vhicules dessai relatifs aux procds; g) soumettre les rsultats des essais a lapprobation de IONS; h) prparer un rapport dagrment de savoir-faire contenant les informations suivantes: i) rfrence du numro ddition et date du manuel de savoir-faire; i) programme pour agrment de savoir-fair

18、e; iii) rsultats dessai obtenus pendant le programme; iv) rsum descriptif du savoir-faire; v) programme de maintien du savoir-faire. Page 36 3.6.3.2 Maintien de Iagrment de savoir-faire Remplacer le texte de 3.6.3.2.2 existant par le nouveau texte suivant: Le fabricant doit prouver a IONS: a) que le

19、 choix des CQC demeure reprsentatif des produits accepts et quil est conforme aux rgles dassociation dcrites dans la spcification intermdiaire; b) que le programme de maintien de savoir-faire est toujours conforme aux exigences des groupes appropris dessais priodiques et comprend, si applicable, les

20、 exigences relatives tout vhicule dessais. Pour chaque squence dessais, les CQC, choisis conformment aux rgles dassociation, comme tant reprsentatifs de la fabrication courante, doivent tre prlevs dans la quantit prescrite pour cette squence dessais; c) que les limites de savoir-faire ont t a nouvea

21、u contrles avec succs, confor- mment aux essais priodiques dans un dlai de 12 mois suivant lagrment initial et ensuite tous les deux ans; NOTE - Sur les mmes bases, les extensions de limites agres, octroyes aprs lagrment initial, ncessitent un nouveau contrle en fonction de la date de leur agrment i

22、ndividuel. d) si les CQC soumis au contrle de conformit de la qualit normal couvrent lensemble du savoir-faire dclar aucun nouveau contrle nest requis. Page 40 Insrer, aprs 3.6.3.5.3, le nouveau paragraphe suivant: 3.6.3.6 Prparation des spcifications particulires pour les circuits pour lagrment des

23、 savoir-faire (CQC) Si applicable, chaque CQC doit faire lobjet dune spcification particuliere qui doit com- porter le dessin dencombrement et les dimensions. -5- 47A380/DIS 0 CE1 e) declare to the NSI the test schedule and the relevant test severities for initial capability approval testing; f) car

24、ry out the test programme in accordance with initial capability approval testing and the manufacturers related CQC specifications and any relevant process test vehicle specification; g) submit the test results to the NSI for approval; h) prepare a capability approval report containing the following

25、information: i) i) programme for capability approval; iii) test results obtained during the programme; iv) abstract of description of capability; v) programme of maintenance of capability. a reference to the issue number and date of the capability manual; Page 37 3.6.3.2 Maintenance of capability ap

26、proval Replace the text of 3.6.3.2.2 by the following: The manufacturer shall satisfy the NSI: a) that the selection of CQCs remains representative of the products released and in accordance with the structural similarity rules prescribed in the sectional specification; b) that the maintenance of ca

27、pability programme continues to meet the requirements of the appropriate groups of the periodic testing and including, where applicable, the requirements of any process test vehicle. For each test sequence, the CQCs selected according to the structural similarity rules as representative of current p

28、roducts released, shall each be taken in the number prescribed for that test sequence; c) that the limits of the capability have been successfully re-assessed in accordance with periodic testing within the 12 months following initial approval and every two years the reaft er ; NOTE - Approval limits

29、 extensions granted after initial approval require re-assessment on the same basis, related to their individual approval dates. d) if the CQCs subjected to the regular quality conformance inspection cover the full declared capability boundaries, no additional re-assessment is required. Page 41 Inser

30、t, after 3.6.3.5.3, the following new subclause: 3.6.3.6 Preparation of detail specifications for capability qualifying circuits (CQCs) Where applicable, every CQC shall have a detail specification which shall include a dime nsio na1 layo ut draw i ng . -6- 74-20 amend. 1 0 CEI:1995 Les spcification

31、s de CQC doivent tre conformes la prsentation et au contenu de la spcification particulire cadre correspondante. Cependant si un CQC nest pas destin tre livr aux clients, les mots non applicable. pourront figurer en face de chaque sous-groupe pour lesquels le CQC na pas t conu. NOTE - Un groupe de C

32、QC pourra tre inclus dans une spcification combine unique. Page 42 3.8 Livraisons diffres Remplacer le texte existant par le nouveau texte suivant: Les circuits intgrs a couches gards en stock pendant une priode suprieure deux ans aprs acceptation du lot doivent tre contrls a nouveau avant la livrai

33、son en sous- groupes A2 et en groupe B du programme dessais lot par lot. Une priode de deux ans est aussi applicable au sous-groupe Al. Dans la mesure OU un lot a t examin a nouveau avec succs, son assurance de qualit est renouvele pour une priode de deux ans. -7- 47N380/DIS 0 CE1 Specifications for

34、 CQCs shall be in the style and content of the relevant blank detail specification. However, when a CQC is not intended for release to customers, the words “not applicable“ may be stated against any sub-group for which the CQC has not been designed. NOTE - A group of CQCs may be included in a single

35、 composite specification. Page 43 3.8 Delayed deliveries Replace the existing text by the following: F and HICs held for a period exceeding two years following the release of the lot shall be reexamined before delivery for sub-group A2 and group B of the lot-by-lot test schedule. A period of two yea

36、rs is also applicable to sub-group Al. Once a lot has been satisfactorily re-inspected, its quality is re-assured for a further two years. ICs 31.200 Typeset and printed by the IEC Centrai Office GENEVA, SWITZERLAND NORME CE1 INTERNATIONALE IEC INTERNATIONAL 60748-20 QC 760000 STANDARD Premire ditio

37、n First edition 1988-06 Dispositifs semiconducteurs Circuits intgrs Vingtime partie: Spcification gnrique pour les circuits intLgrs couches et les circuits intgrs hybrides couches Sem icon d u cto r devi ces Integrated circuits Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid f

38、ilm integrated circuits Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60748-20: 1988 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de ia CE1 sont numrotes a partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendem

39、ents sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la presente publication Le contenu technique des publicat

40、ions de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs i des questions ltude et des travaux en c-Urs entrepris par

41、 le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Cite web de la CEI* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne) Bufietin de la CE1 Disponible la fois 3

42、u site web de la CEI et comme priodique imprim Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes d sage g

43、nrai approuvs par la CEI, le lecteur consulter2 la CE1 60027: Symboles littraux a utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. Voir adresse . sur l

44、a page de titre Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1 .O, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to

45、 the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technolo

46、gy. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as weil as the list of publications issued,

47、 is to be found at the following IEC sources: IEC web site Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers a

48、re referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 60748-20 QC 760000 Premire dition First edition 1988-06 Dispositifs