IEC 60377-2-1977 Methods for the determination of the dielectric properties of insulating materials at frequencies above 300 MHz Part 2 Resonance methods《绝缘材料在300MHz以上频率下介电性能测定方法 第2部分 谐振法》.pdf

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1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 60377-2 Premire edition First edition 1977-01 Mthodes recommandes pour la dtermination des proprits dilectriques de matriaux isolants aux frquences suprieures 300 MHz Deuxime partie: Mthodes de rsonance Recommended methods for the determination of

2、the dielectric properties of insulating materials at frequencies above 300 MHz Part 2: Res on an ce methods Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60377-2: 1977 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides .L

3、es versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amende

4、ments 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les re

5、nseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Cite web de la CEP Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis

6、 jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Bulletin de la CE1 Disponible la fois au , sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendme

7、nts are available. For example, edition numbers 1 .O, 1 .1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept

8、under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical

9、committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site* and as a printed periodic

10、al IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 600

11、27: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 6041 7: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. NORME CE1 IEC INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD 6037

12、7-2 Premire dition First edition 1977-01 Mthodes recommandes pour la dtermination des proprits dilectriques de matriaux isolants aux frquences suprieures 300 MHz Deuxime partie: Mthodes de rsonance Recommended methods for the determination of the dielectric properties of insulating materials at freq

13、uencies above 300 MHz Part 2: Resonance methods O IEC 1977 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni No part of th$ publication may be reproduced or utilized In utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun any

14、form or by any means, electronic or mechanical, procd, lectronique ou mcanique, y compris la photo- including photocopying and microfilm, without permission in copie et les microfilms, sans raccord crit de Iditeur. writing from the publisher. International Electrotechnical Commission Telefax: +41 22

15、 919 0300 3, rue de Varemb Geneva, Switzerland IEC web site http: /www.iec.ch e-mail: inmailiec.ch R CODE PRIX PRICE CODE Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue Commission Electrotechnique internationale International Electrotechnica Commission Mexmytiapontian 3nenpore

16、xreca HOMHCCHR O -2- SOMMAIRE PRAMBULE . Pages 4 PREFACE . 4 Articles 1 . Objet et domaine dapplication . 2 . Introduction 3 . Appareillage dessai 4 . Eprouvette 5 . Mode opratoire 6 . Evaluation des rsultats de mesure . 7 . Procs-verbal dessai ANNEXE A . Rsonateurs . FIGURES . 6 6 8 10 10 12 12 14

17、32 -3- CONTENTS . FOREWORD . . . . . . PREFACE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Page 5 5 Clause 7 1. Object and scope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7 2. Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

18、 . . . 9 3. Test apparatus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4. Test specimen. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11 5. Testing procedure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11 6.

19、 Evaluation of measured data . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . , . 13 7. Testreport . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13 APPENDIX A - Resonators . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15 FIGURES . . . .

20、. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . , .32 -4- COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE MTHODES POUR LA DTERMINATION DES PROPRITS DILECTRIQUES DE MATRIAUX ISOLANTS AUX FRQUENCES SUPRIEURES 300 MHz Deuxime partie : Mthodes de rsonance PRAMBULE Les dcisions ou a

21、ccords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpares par des Comits dEtudes o sont reprsents tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. Ces dcisions constituent des reco

22、mmandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunification internationale, la CE1 exprime le vu que tous les Comits nationaux adoptent dans leurs rgles nationales le texte de la recommandation de la CEI, dans la mesure OU les conditions nati

23、onales le permettent. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la rgle nationale correspondante doit, dans le mesure du possible, tre indique en termes clairs dans cette dernire. PRFACE La prsente norme a t tablie par le Sous-Comit 15A: Essais de courte dure, du Comit dEtudes No 15 de l

24、a CEI: Matriaux isolants. Elle constitue la deuxime partie de la Publication 377. Un premier projet fut discut lors de la runion tenue Vienne en 1971. A la suite de cette runion, un projet, document 1 5A(Bureau Central)25, fut soumis lapprobation des Comits nationaux suivant la Rgle des Six Mois en

25、mai 1974. Les pays suivants se sont prononcs explicitement en faveur de la publication: Allemagne Pays-Bas Australie Portugal Belgique Sude Danemark Suisse Etats-Unis dAmrique Tchcoslovaquie France Turquie Isral Norvge Yougoslavie Union des Rpubliques Socialistes Sovitiques La premire partie sappliq

26、ue aux mthodes de dtermination de la permittivit relative et du facteur de dissipation dilectrique des matriaux dilectriques aux hyperfrquences. La troisime partie sappliquera aux mthodes de ligne de transmission et de pont ( ltude). La quatrime partie sappliquera aux mthodes optiques ( ltude). Autr

27、e publication de la CEI cite dans la prsente norme: Publication no 250: Mthodes recommandes pour la dtermination de la permittivit et du facteur de dissipation des isolants lectriques aux frquences industrielles, audibles et radiolectriques (ondes mtriques comprises). -5- INTERNATIONAL ELECTROTECHNI

28、CAL COMMISSION METHODS FOR THE DETERMINATION OF THE DIELECTRIC PROPERTIES OF INSULATING MATERIALS AT FREQUENCIES ABOVE 300 MHz Part 2: Resonance methods FOREWORD 1) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committe

29、es having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with. 2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that sense. 3) In order to promot

30、e international unification, the IEC expresses the wish that all National Committees should adopt the text of the IEC recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit. Any divergence between the IEC recommendation and the corresponding national rules should, as fa

31、r as possible, be clearly indicated in the latter. PREFACE This standard has been prepared by Sub-committee 15A, Short-time Tests, of IEC Technical Committee No. 15, Insulating Materials. It forms Part 2 of Publication 377. A first draft was discussed at the meeting held in Vienna in 1971. As a resu

32、lt of this meeting, a draft, Docu- ment lSA(Centra1 Office)25, was submitted to the National Committees for approval under the Six Months Rule in May 1974. The following countries voted explicitly in favour of publication: Australia Belgium Czechoslovakia Denmark France Germany Israel Netherlands No

33、rway Portugal Sweden Switzerland Turkey Union of Soviet Socialist Republics United States of America Yugoslavia Part, 1 applies to the procedures for the determination of relative permittivity and dielectric dissipation factor of dielectric materials in the microwave frequency region. Part 3 will ap

34、ply to transmission line and bridge methods (under consideration). Part 4 will apply to optical methods (under consideration). Other IEC publication quoted in this standard: Publication No. 250: Recommended Methods for the Determination of the Permittivity and Dielectric Dissipation Factor of Electr

35、ical Insulating Materials at Power, Audio and Radio Frequencies Including Metre Wavelengths. -6- Type de cavit Gamme de frquences Forme de lprouvette MTHODES POUR LA DTERMINATION DES PROPRITS DILECTRIQUES DE MATRIAUX ISOLANTS AUX FRQUENCES SUPRIEURES 300 MHz Oservations Deuxime partie : Mthodes de r

36、sonance Remarque. - Les prescriptions de la prsente norme ne sont applicables quen liaison avec les prescriptions de la Publication 377-1 de la CE1 : Mthodes recommandes pour la dtermination des proprits dilectriques de matriaux isolants aux frquences suprieures 300 MHz, Premire partie: Gnralits. 1.

37、 Objet et domaine dapplication La prsente norme sapplique aux modalits de dtermination de la permittivit relative et du facteur de dissipation dilectrique - ainsi que des grandeurs qui sy rapportent, telles que lindice de pertes - des matriaux dilec- triques solides, liquides et fusibles aux hyperfr

38、quences par les mthodes de rsonance. Les mthodes dcrites ici sappliquent avant tout aux prouvettes faibles pertes. 2. Introduction Les mthodes de mesure dcrites dans la prsente norme font appel des appareils de rsonance. Ces appareils consistent essentiellement en une portion de ligne de transmissio

39、n de section donne, court-circuite aux deux extrmits un intervalle gal un multiple quelconque de la moiti de la longueur donde la frquence de mesure. Lorsquon insre une prouvette dans le rsonateur, cette longueur donde change. La variation de frquence ou la variation de longueur qui sont respectivem

40、ent ncessaires pour rtablir la rsonance et la variation correspondante du facteur Q constituent des mesures des proprits dilectriques de lprouvette. Les avantages particuliers des mthodes de rsonance sur les autres mthodes dessais rsident dans la valeur extrmement leve du facteur Q, rsonateur non ch

41、arg, ce qui peut tre obtenu par lemploi de modes dondes appropris et par une construction adquate ; cette technique permet de mesurer des facteurs de dissipation trs faibles de lprouvette. Ainsi, dune faon gnrale, pour profiter des avantages de cette mthode, on construit le rsonateur pour rsoudre un

42、 problme particulier de mesure (frquence, forme et proprits dilectriques de lprouvette). Pour viter des rsultats douteux, il est ncessaire dtudier soigneusement la configuration du champ rsultant. En consquence, lappareil rsonance est ncessairement un dispositif bande troite, la frquence dessai obte

43、nue dpendant de la quantit, de la forme et des proprits de lprouvette ainsi que de son emplacement dans le rsonateur. Les types suivants de rsonateur sont dun emploi courant : Cavit rentrante Rsonateur coaxial Cavit (ferme) ( Cavit ouverte N Rsonateur optique 100 MHz 1 GHz 1 GHz 3 GHz 1 GHz 30 GHz 3

44、GHz 30GHz Disque Tube Disque, tige Disque Plaque, feuille 1 I I NO A.l A.2 A.3 A .4 A.5 Note. - Les valeurs limites indiques pour ia frquence et la permittivit ne sont que des valeurs approches, elles peuvent tre dpasses si lon peut tolrer une sensibilit rduite au facteur de dissipation ou la permit

45、tivit (voir galement larticle 4 de la Publi- cation 377-1). -7- METHODS FOR THE DETERMINATION OF THE DIELECTRIC PROPERTIES OF INSULATING MATERIALS AT FREQUENCIES ABOVE 300 MHz Part 2: Resonance methods Explanatory Note. - The requirements of this standard are valid only in connection with the requir

46、ements given in IEC Publi- cation 377-1, Recommended Methods for the Determination of the Dielectric Properties of Insulating Materials at Frequencies Above 300 MHz, Part 1: General. 1. Object and scope This standard applies to the procedures for the determination of relative permittivity and dielec

47、tric dissipation factor and of quantities related to them, such as loss index, of solid and liquid or fusible dielectric materials in the microwave frequency region by resonance methods. The methods described herein apply primarily to low-loss specimens. 2. Introduction The measuring methods to be d

48、escribed in this standard involve the use of resonance apparatus. Such apparatus consists essentially of a transmission line section of a given cross-section short-circuited at both ends at an interval of an arbitrary multiple of one-half the working wavelength. When a test specimen is inserted into the resonator, the working wavelength changes. The frequency shift or the length variation respectively required to re-establish resonance and the associated change in the Q-factor are measures of the dielectric properti