NF C93-112-18-2-2008 Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 18-2 blank detail specification - Fixed aluminium electrolytic surface mount capacitors with non-solid.pdf
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1、NF EN 60384-18-2mai 2008Ce document est usage exclusif et non collectif des clients Saga Web.Toute mise en rseau, reproduction et rediffusion, sous quelque forme que ce soit,mme partielle, sont strictement interdites.This document is intended for the exclusive and non collective use of Saga Web cust
2、omers.All network exploitation, reproduction and re-dissemination,even partial, whatever the form (hardcopy or other media), is strictly prohibited.Saga Web Pour SHANGHAI INTERNAT SCIENCE b) tolrance sur la capacit nominale ; c) tension continue nominale ; d) numro et rfrence de ldition de la spcifi
3、cation particulire et rfrence du modle ; e) instructions demballage. 1.7 Enregistrements certifis de lots livrs Exig/non exig. 1.8 Informations supplmentaires (non destines linspection) 1.9 Svrits ou exigences supplmentaires ou plus leves que celles spcifies dans la spcification gnrique et/ou interm
4、diaire NOTE : Il convient de spcifier les nouvelles exigences ou les exigences plus leves uniquement lorsquelles sont essentielles. 7 EN 60384-18-2:2007 Tableau 4 Autres caractristiques Ce tableau doit tre utilis pour dfinir des caractristiques supplmentaires ou plus svres que celles donnes dans la
5、spcification intermdiaire. 2 Exigences dinspection 2.1 Procdures 2.1.1 Dans le cadre de lhomologation, les procdures doivent tre conformes au paragraphe 3.4 de la spcification intermdiaire IEC 60384-18. 2.1.2 Pour le contrle de conformit de la qualit, le programme dessai (Tableau 5) inclut lchantill
6、onnage, la priodicit, la svrit et les exigences. La formation des lots dinspection est dcrite au paragraphe 3.5.1 de la spcification intermdiaire. EN 60384-18-2:2007 8 Tableau 5 Plan dessai pour le contrle de conformit de la qualification Numro de paragraphe et essai aD douNDConditions dessai a IL d
7、 ndc d Exigences de performances aInspection du groupe A (lot par lot) Sous-groupe A1 ND S-3 e e 04.4 Examen visuel Comme en 4.4.2 Marquage lisible et comme spcifi en 1.5 de la prsente spcification 4.4 Dimensions (dtail) b Comme spcifi dans le Tableau 1 de la prsente spcification Sous-groupe A2 ND S
8、-3 e e 04.5.1 Courant de fuite Rsistance de protection : 1000au plus grand parmi 0,25 CU A/ F V et 1 A 4.5.2 Capacit Frquence : Hz Selon les tolrances spcifies 4.5.3 Tangente de langle de perte (tan )Frquence : Hz Comme en 4.5.3 Inspection du groupe B (lot par lot) Sous-groupe B1 D S-3 e e 04.5.4 Im
9、pdance (le cas chant) Frquence : Hz Comme spcifi dans le Tableau 3 de la prsente spcification 4.7 Brasabilit Mthode dessai : bain de brasure ou refusion Composition de la brasure : Type de flux pour le bain de brasure : non activ ou activ Temprature du bain de brasure ou profil de temprature de la r
10、efusion 4.7.2 Mesures finales Examen visuel Comme en 4.7.2 4.21 Rsistance au solvant du marquage c(le cas chant) Solvant : Temprature du solvant : Mthode 1 Matriau de polissage : ouateTemps de rtablissement : Marquage lisible a Les numros des paragraphes des essais et des exigences de performances f
11、ont rfrence la spcification intermdiaire, norme IEC 60384-18 et larticle 1 de la prsente spcification. b Cet essai peut tre remplac par un essai en production si le fabricant installe un contrle du processus statistique (SPC) sur les mesures des dimensions ou un autre mcanisme permettant dviter que
12、les pices dpassent les limites. c Cet essai peut tre effectu sur les condensateurs monts sur un substrat. d Dans ce tableau : IL est le niveau dinspection (Inspection Level) (CEI 60410) n est leffectif de lchantillon c est le nombre admissible dlments non conformes p est la priodicit en mois D signi
13、fie destructif ND signifie non destructif e Nombre soumettre un essai : leffectif de lchantillon auquel la lettre didentification a t attribue directement pourle niveau dinspection dans le Tableau 2A de la norme CEI 60410 9 EN 60384-18-2:2007 Tableau 5 (suite)Numro de paragraphe et essai aConditions
14、 dessai a Effectif de lchantillon et critre dacceptabilit dExigences de performances adDouNDp n cInspection du groupe C (priodique) Sous-groupe C1 D 3 12 04.6 Rsistance la chaleur du brasageProfil de temprature : . Rtablissement : 24 h 2 h 4.6.3 Mesures finales Examen visuel Comme en 4.6.3 Capacitta
15、ngente de langle de perte Se reporter la spcification particulire 4.20 Rsistance au solvant des composants (le cas chant) Solvant : Temprature du solvant : Mthode 2 Rtablissement : Se reporter la spcification particulire Sous-groupe C2 D 3 12 04.9 Essai de courbure du substrat (prcdemment, force dad
16、hrence du revtement de surface)* Capacit et impdance (avec carte en position courbe) Se reporter la spcification particulire Mesure finale Examen visuel Aucun dgt visible et pas de fuite dlectrolyte Sous-groupe C3 D4.3 Montage Matriau du substrat : * Examenvisuel Aucun dgt visible et pas de fuite dl
17、ectrolyte Courant de fuite au plus grand parmi 0,025 CU A/ F V et 1 A Capacit C/C 5 % de la valeur mesure initialement Tangente de langle de perte Comme en 4.5.3 Impdance (le cas chant) Comme dans le Tableau 3 Sous-groupe C3.1 D 6 18 04.8 Essai de cisaillement (prcdemment adhrence) Examen visuel Auc
18、un dgt visible 4.10.1 Mesure initiale Capacit (la valeur obtenue dans le sous-groupe C3 peut tre utilise) T4.10 Variation rapide de temprature A= Temprature de la catgorie infrieure TB = Temprature de la catgorie suprieure Cinq cycles Dure t1 = 30 min Rtablissement : 1 h 2 h 4.10.3 Mesures finales E
19、xamen visuel Aucun dgt visible et pas de fuite dlectrolyte 4.11 Squence climatique Pas ncessaire (voir 4.10.1) 4.11.1 Mesure initiale Temprature : temprature de la catgorie suprieure Dure : 16 h 4.11.2 Chaleur sche * Lorsque diffrents matriaux de substrat sont utiliss dans les sous-groupes, la spcif
20、ication particulire doit indiquer le matriau de substrat utilis dans chaque sous-groupe. * Ne sapplique par aux condensateurs chipses, qui, conformment leur spcification particulire, doivent seulement tre monts sur des substrats en alumine. EN 60384-18-2:2007 10 Tableau 5 (suite)Numro de paragraphe
21、et essai aD douNDConditions dessai a Effectif de lchantillon et critre dacceptabilit dExigences de performances ap n c4.11.3 Chaleur humide, cyclique, essai Db, premier cycle 4.11.4 Froid Temprature : temprature de la catgorie infrieure Dure : 2 h 4.11.5 Chaleur humide, cyclique, essai Db, cycles re
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