DIN EN 61300-3-35-2016 Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - Part 3-35 Examinations and measurements - Visual inspect.pdf

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1、April 2016DEUTSCHE NORM DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDEPreisgruppe 15DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.ICS 33

2、.180.20!%KmF“2407435www.din.deDDIN EN 61300-3-35Lichtwellenleiter Verbindungselemente und passive Bauteile Grundlegende Prf und Messverfahren Teil 335: Untersuchungen und Messungen Visuelle Inspektion von LichtwellenleiterSteckverbindern und Faser StubTransceivern (IEC 61300335:2015);Deutsche Fassun

3、g EN 61300335:2015Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measurement procedures Part 335: Examinations and measurements Visual inspection of fibre optic connectors and fibrestub transceivers (IEC 61300335:2015);German version EN 61300335:2015Dispositifs dinterconne

4、xion et composants passifs fibres optiques Procdures fondamentales dessais et de mesures Partie 335: Examens et mesures Examen visuel des connecteurs fibres optiques et des metteursrcepteurs embase fibre (IEC 61300335:2015);Version allemande EN 61300335:2015Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verla

5、g GmbH, 10772 BerlinErsatz frDIN EN 61300335:201008 undDIN EN 61300335 Berichtigung 1:201010Siehe Anwendungsbeginnwww.beuth.deGesamtumfang 22 SeitenDIN EN 61300-3-35:2016-04 2 Anwendungsbeginn Anwendungsbeginn fr die von CENELEC am 2015-07-30 angenommene Europische Norm als DIN-Norm ist 2016-04-01.

6、Fr DIN EN 61300-3-35:2010-08 und DIN EN 61300-3-35 Berichtigung 1:2010-10 besteht eine bergangs-frist bis 2018-07-30. Nationales Vorwort Vorausgegangener Norm-Entwurf: E DIN EN 61300-3-35:2010-11. Fr dieses Dokument ist das nationale Arbeitsgremium UK 412.7 LWL-Verbindungstechnik und passive optisch

7、e Komponenten“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE (www.dke.de) zustndig. Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom SC 86B Fibre optic interconnecting devices and passive components“ erarbeitet. Das IEC-Komitee hat entschieden, dass der Inhalt dies

8、er Publikation bis zu dem Datum (stability date) unverndert bleiben soll, das auf der IEC-Website unter http:/webstore.iec.ch“ zu dieser Publikation angegeben ist. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurckgezogen, durch eine Folgeausgabe erse

9、tzt oder gendert. Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf ein Dokument ohne Angabe des Ausgabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisung auf die jeweils aktuellste Ausgabe des in Bezug genommenen Dok

10、uments. Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die in Bezug genommene Ausgabe des Dokuments. Der Zusammenhang der zitierten Dokumente mit den entsprechenden Deutschen Dokumenten ergibt sich, soweit ein Zusammenhang besteht, grundstzlich ber di

11、e Nummer der entsprechenden IEC-Publikation. Beispiel: IEC 60068 ist als EN 60068 als Europische Norm durch CENELEC bernommen und als DIN EN 60068 ins Deutsche Normenwerk aufgenommen. Das Original-Dokument enthlt Bilder in Farbe, die in der Papierversion in einer Graustufen-Darstellung wiedergegeben

12、 werden. Elektronische Versionen dieses Dokuments enthalten die Bilder in der originalen Farbdarstellung. nderungen Gegenber DIN EN 61300-3-35:2010-08 und DIN EN 61300-3-35 Berichtigung 1:2010-10 wurden folgende nderungen vorgenommen: a) Modifizierung des Titels; b) Ergnzungen von Begriffen und Defi

13、nitionen; c) berarbeitung der spezifischen Werte der Tabellen 1 bis 4, um die aktuellen Marktanforderungen zu reflektieren; d) Ergnzung der visuellen Anforderungen fr Single-Mode-Transceiver mit einem Faserstummel-Steckgesicht in Tabelle 3; e) Ergnzung in Abschnitt 4.1 bezglich der Empfindlichkeit d

14、er Methoden um die System-Variabilitt. Frhere Ausgaben DIN EN 61300-3-35: 2010-08 DIN EN 61300-3-35 Berichtigung 1: 2010-10 EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE EN 61300-3-35 Oktober 2015 ICS 33.180.20 Ersatz fr EN 61300-3-35:2010 Deutsche Fassung Lichtwellenleiter Verbindungselemente u

15、nd passive Bauteile Grundlegende Prf- und Messverfahren Teil 3-35: Untersuchungen und Messungen Visuelle Inspektion von Lichtwellenleiter-Steckverbindern und Faser Stub-Transceivern (IEC 61300-3-35:2015) Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measurement procedures

16、 Part 3-35: Examinations and measurements Visual inspection of fibre optic connectors and fibre-stub transceivers (IEC 61300-3-35:2015) Dispositifs dinterconnexion et composants passifs fibres optiques Procdures fondamentales dessais et de mesures Partie 3-35: Examens et mesures Examen visuel des co

17、nnecteurs fibres optiques et des metteurs-rcepteurs embase fibre (IEC 61300-3-35:2015) Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2015-07-30 angenommen. CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europische

18、n Norm ohne jede nderung der Status einer nationalen Norm zu geben ist. Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind beim CEN-CENELEC Management Centre oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltlich. Diese Europische Norm besteht i

19、n drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzsisch). Eine Fassung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprache gemacht und dem CEN-CENELEC Management Centre mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die of

20、fiziellen Fassungen. CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitees von Belgien, Bulgarien, Dnemark, Deutschland, der ehemaligen jugoslawischen Republik Mazedonien, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Kroatien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta

21、, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Rumnien, Schweden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republik, der Trkei, Ungarn, dem Vereinigten Knigreich und Zypern. CENELEC Europisches Komitee fr Elektrotechnische Normung European Committee for Electrotech

22、nical Standardization Comit Europen de Normalisation Electrotechnique CEN-CENELEC Management Centre: Avenue Marnix 17, B-1000 Brssel 2015 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren, sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten. Ref. Nr. EN 61300-3-35

23、:2015 DDIN EN 61300-3-35:2016-04 EN 61300-3-35:2015 Europisches Vorwort Der Text des Dokuments 86B/3886/FDIS, zuknftige 2. Ausgabe der IEC 61300-3-35, erarbeitet vom SC 86B Fibre optic interconnecting devices and passive components“ des IEC/TC 86 Fibre optics“, wurde zur parallelen IEC-CENELEC-Absti

24、mmung vorgelegt und von CENELEC als EN 61300-3-35:2015 angenommen. Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem dieses Dokument auf nationaler Ebene durch Verffentlichung einer identischen nationalen Norm oder durch Anerkennung bernommen werden muss (dop): 2016-04-30 sptestes Datum,

25、zu dem nationale Normen, die diesem Dokument entgegenstehen, zurckgezogen werden mssen (dow): 2018-07-30 Dieses Dokument ersetzt EN 61300-3-35:2010. Es wird auf die Mglichkeit hingewiesen, dass einige Elemente dieses Dokuments Patentrechte berhren knnen. CENELEC und/oder CEN sind nicht dafr verantwo

26、rtlich, einige oder alle diesbezglichen Patentrechte zu identifizieren. Anerkennungsnotiz Der Text der Internationalen Norm IEC 61300-3-35:2015 wurde von CENELEC ohne irgendeine Abnderung als Europische Norm angenommen. In der offiziellen Fassung sind unter Literaturhinweise“ zu den aufgelisteten No

27、rmen die nachstehenden Anmerkungen einzutragen: IEC 60825-2 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 60825-2. IEC 61300-1 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 61300-1. IEC 61755 (Reihe) ANMERKUNG Harmonisiert in der Reihe EN 61755. 2 DIN EN 61300-3-35:2016-04 EN 61300-3-35:2015 Inhalt SeiteEuropisches Vorwort 2 1 Anw

28、endungsbereich.5 2 Normative Verweisungen.5 3 Begriffe und Abkrzungen5 3.1 Begriffe.5 3.2 Abkrzungen 6 4 Messung.6 4.1 Allgemeines6 4.2 Messbedingungen6 4.3 Vorbehandlung.6 4.4 Erholung.6 5 Prfaufbau7 5.1 Methode A: Lichtmikroskopie mit direkter Sicht.7 5.2 Methode B: Videomikroskopie .7 5.3 Methode

29、 C: Mikroskopie mit automatisierter Analyse7 5.4 Zertifizierungsanforderungen fr Systeme mit niedriger und hoher Auflsung .7 5.4.1 Allgemeines.7 5.4.2 Anforderung fr Mikroskopsysteme mit niedriger Auflsung 7 5.4.3 Anforderungen fr Mikroskopsysteme mit hoher Auflsung.8 6 Verfahren8 6.1 Zertifizierung

30、sverfahren .8 6.2 Untersuchungsvorgang 8 6.3 Visuelle Anforderungen9 Anhang A (informativ) Beispiele von untersuchten Endflchen mit Oberflchenanomalien.12 Anhang B (normativ) Diagramm des Qualifizierungsartefakts und Herstellungsverfahren.17 B.1 Artefakt fr hohe Auflsung17 B.2 Artefakt fr niedrige A

31、uflsung.18 Literaturhinweise 20 Bilder Bild 1 Ablauf des Untersuchungsvorgangs .9 Bild A.1 Beispiel 1 (System mit niedriger Auflsung) 12 Bild A.2 Beispiel 1 (System mit hoher Auflsung).12 Bild A.3 Beispiel 2 (System mit niedriger Auflsung) 13 Bild A.4 Beispiel 2 (System mit hoher Auflsung).13 Bild A

32、.5 Beispiel 3 (System mit niedriger Auflsung) 13 Bild A.6 Beispiel 3 (System mit hoher Auflsung).14 Bild A.7 Beispiel 4 (System mit niedriger Auflsung) 14 Bild A.8 Beispiel 4 (System mit hoher Auflsung).15 3 DIN EN 61300-3-35:2016-04 EN 61300-3-35:2015 SeiteBild A.9 Beispiel 5 (System mit niedriger

33、Auflsung) . 15 Bild A.10 Beispiel 6 (System mit niedriger Auflsung) . 16 Bild B.1 Beispiel eines Nano-Eindringprfsystems. 17 Bild B.2 Beispiel von Artefakten fr hohe Auflsung 18 Bild B.3 Beispiel eines Artefaktmusters fr niedrige Auflsung 19 Tabellen Tabelle 1 Visuelle Anforderungen an polierte PC-S

34、teckverbinder, Einmodenfaser, RL 45 dB. 10 Tabelle 2 Visuelle Anforderungen an winklig polierte Steckverbinder (APC), Einmodenfaser 10 Tabelle 3 Visuelle Anforderungen an polierte PC-Steckverbinder, Einmodenfaser, RL 26 dB, und Einmoden-Sende-Empfangsgerte mit Faserstummel-Steckgesicht 11 Tabelle 4

35、Visuelle Anforderungen an polierte PC-Steckverbinder, Mehrmodenfaser 11 4 DIN EN 61300-3-35:2016-04 EN 61300-3-35:2015 1 Anwendungsbereich Dieser Teil von IEC 61300 beschreibt Methoden zur quantitativen Bewertung der Qualitt der Endflche eines polierten Lichtwellenleiter-Steckverbinders oder eines L

36、WL-Sende-Empfangsgerts, das ein Steckge-sicht in Faserstummel-Bauform verwendet. Untergrundsprnge und Brche werden in dieser Norm nicht behandelt. Im Allgemeinen beziehen sich die in diesem Dokument beschriebenen Methoden auf ummantelte Fasern bis zu 125 m in einer Ferrule, vorgesehen fr Quellen mit

37、 2 W Eingangsleistung. Teile davon sind jedoch auch auf ferrulenlose Steckverbinder und andere Fasertypen anwendbar. Diese Teile werden gege-benenfalls angegeben. Es ist nicht das Ziel dieser Norm, dass die Gre von Kratzern gemessen werden sollte, die Mae und Anforderungen werden so gewhlt, dass sie

38、 geschtzt werden knnen. Es ist beispiels-weise unntig, zu messen, ob ein Kratzer 2,3 m breit ist. 2 Normative Verweisungen Die folgenden zitierten Dokumente, die in diesem Dokument teilweise oder als Ganzes zitiert werden, sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisung

39、en gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (ein-schlielich aller nderungen). Leer. 3 Begriffe und Abkrzungen 3.1 Begriffe Fr die Anwendung dieses Dokuments gelten die folgenden Begriffe. 3.1.1 Defekt nichtlineare

40、s Oberflchenmerkmal, das auf der Ferrulenendflche festgestellt werden kann, einschlielich Partikel, andere Verunreinigungen, flssige Verschmutzungen, Vertiefungen, Spne, ausgebrochene Rnder usw. Anmerkung 1 zum Begriff: Einige Fasertypen haben konstruktive Merkmale, die mglicherweise an der Faserend

41、-flche sichtbar sind. Fasern, die das Lichtsignal enthaltende Mikrostrukturen benutzen, wie photonische Bandlcke und hohlraumuntersttzte Fasern (en: hole-assisted fibres, HAF), knnen ein konstruiertes oder zuflliges, den Kern umge-bendes Muster von Strukturen aufweisen. Diese Merkmale sind keine Def

42、ekte. 3.1.2 Defektgre kleinster Kreis, der den ganzen Defekt einschlieen kann 3.1.3 lose Verunreinigungen Partikel und Verunreinigungen, die durch Reinigung entfernt werden knnen Anmerkung 1 zum Begriff: Lose Verunreinigungen sind als Defekte klassifiziert. 3.1.4 Kratzer ein bleibendes lineares Ober

43、flchenmerkmal, bei dem die Faser- oder Ferrulenendflche beschdigt oder entfernt wurde und die Breite der beschdigten Flche klein ist im Vergleich zur Lnge 5 DIN EN 61300-3-35:2016-04 EN 61300-3-35:2015 3.1.5 zuverlssig feststellbar ausreichend deutlich sichtbar, so dass ein typischer Techniker von d

44、urchschnittlicher Ausbildung das Merk-mal in wenigstens 98 % der Flle wahrnimmt 3.2 Abkrzungen Begriff Beschreibung DUT zu prfendes Gert (en: device under test) FOV Sichtfeld (en: field of view) 4 Messung 4.1 Allgemeines Ziel dieser Norm ist die Festlegung der Methoden zur quantitativen berprfung de

45、r Endflchen von Licht-wellenleitern, um deren Eignung fr die Anwendung festzustellen. Drei Methoden werden beschrieben: A die unmittelbare Betrachtung durch ein optisches Mikroskop, wie in 5.1 beschrieben; B Videomikroskopie, wie in 5.2 beschrieben; C Mikroskopie mit automatisierter Auswertung, wie

46、in 5.3 beschrieben. Zu allen Methoden gibt es Anforderungen an Hardware und Verfahren sowohl fr Systeme mit hohem als auch mit niedrigem Auflsungsvermgen. Systeme mit niedriger Auflsung sollten fr die Untersuchung von Ein- und Mehrmodenfasern vor dem Stecken und nach dem Polieren eingesetzt werden.

47、Systeme mit hoher Auflsung knnen fr die berprfung der Endflche im Werk nach dem Polieren von Einmodenfasern ein-gesetzt werden. Whrend des Polierens vor Ort oder fr die berprfung von Mehrmoden-Steckverbindern oder von vor Ort polierten Steckverbindern werden keine hochauflsenden Systeme bentigt. Es

48、wird empfohlen, fr die Methoden A und B visuelle Lehren zu entwickeln, um das Messverfahren zu untersttzen. Fr Methode A wird ein Strichkreuzokular empfohlen. Fr Methode B wird ein Overlay emp-fohlen. Alle Methoden sind anfllig fr Systemvernderlichkeit: Methoden A und B hngen vom Durchfhrenden ab, Methode C nicht. 4.2 Messbedingungen Es gelten keine Einschrnkungen fr die atmosphrischen Bedingungen, unter denen die Prfung durchge-fhrt werden kann. Sie kann in kontrollierten oder unkontrollierten Umgebungen durchgefhrt werden, vor-ausgesetzt, dass die En