DIN EN 61193-2-2008 Quality assessment systems - Part 2 Selection and use of sampling plans for inspection of electronic components and packages (IEC 61193-2 2007) German version E.pdf

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1、August 2008DEUTSCHE NORM DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDEPreisgruppe 14DIN Deutsches Institut fr Normung e.V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e.V., Berlin, gestattet.ICS 31.

2、180!$NB6“1433119www.din.deDDIN EN 61193-2Qualittsbewertungssysteme Teil 2: Auswahl und Anwendung von Stichprobenanweisungen fr diePrfung elektronischer Bauelemente und Gehuse (IEC 61193-2:2007);Deutsche Fassung EN 61193-2:2007Quality assessment systems Part 2: Selection and use of sampling plans for

3、 inspection of electronic components andpackages (IEC 61193-2:2007);German version EN 61193-2:2007Systme dassurance de la qualit Partie 2: Choix et utilisation des plans dchantillonnages pour le contrle des composantslectroniques et des botiers (CEI 61193-2:2007);Version allemande EN 61193-2:2007All

4、einverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.beuth.deGesamtumfang 20 SeitenDIN EN 61193-2:2008-08 2 Beginn der Gltigkeit Die von CENELEC am 2007-11-01 angenommene EN 61193-2 gilt als DIN-Norm ab 2008-08-01. Nationales Vorwort Vorausgegangener Norm-Entwurf: E DIN IEC 61193-2:2005-0

5、9. Fr diese Norm ist das nationale Arbeitsgremium K 682 Montageverfahren fr elektronische Baugruppen“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE (www.dke.de) zustndig. Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom TC 91 Electronics assembly technology“ erarbe

6、itet. Das IEC-Komitee hat entschieden, dass der Inhalt dieser Publikation bis zu dem Datum (maintenance result date) unverndert bleiben soll, das auf der IEC-Website unter http:/webstore.iec.ch“ zu dieser Publikation angegeben ist. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees

7、die Publikation besttigt, zurckgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder gendert. Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe des Ausgabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisu

8、ng auf die jeweils neueste gltige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm. Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die in Bezug genommene Ausgabe der Norm. Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt sich,

9、soweit ein Zusammenhang besteht, grundstzlich ber die Nummer der entsprechenden IEC-Publikation. Beispiel: IEC 60068 ist als EN 60068 als Europische Norm durch CENELEC bernommen und als DIN EN 60068 ins Deutsche Normenwerk aufgenommen. EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE EN 61193-2 Nov

10、ember 2007 ICS 31.190 Deutsche Fassung Qualittsbewertungssysteme Teil 2: Auswahl und Anwendung von Stichprobenanweisungen fr die Prfung elektronischer Bauelemente und Gehuse (IEC 61193-2:2007) Quality assessment systems Part 2: Selection and use of sampling plans for inspection of electronic compone

11、nts and packages (IEC 61193-2:2007) Systme dassurance de la qualit Partie 2: Choix et utilisation des plans dchantillonnages pour le contrle des composants lectroniques et des botiers (CEI 61193-2:2007) Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2007-11-01 angenommen. Die CENELEC-Mitglieder sind geh

12、alten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europischen Norm ohne jede nderung der Status einer nationalen Norm zu geben ist. Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind b

13、eim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltlich. Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzsisch). Eine Fassung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessp

14、rache gemacht und dem Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen Fassungen. CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitees von Belgien, Bulgarien, Dnemark, Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien

15、, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Rumnien, Schweden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republik, Ungarn, dem Vereinigten Knigreich und Zypern. CENELEC Europisches Komitee fr Elektrotechnische Normung European

16、 Committee for Electrotechnical Standardization Comit Europen de Normalisation Electrotechnique Zentralsekretariat: rue de Stassart 35, B-1050 Brssel 2007 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren, sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten. Ref.

17、Nr. EN 61193-2:2007 DDIN EN 61193-2:2008-08 EN 61193-2:2007 2 Vorwort Der Text des Schriftstcks 91/690/FDIS, zuknftige 1. Ausgabe von IEC 61193-2, ausgearbeitet von dem IEC TC 91 Electronics assembly technology“, wurde der IEC-CENELEC Parallelen Abstimmung unterworfen und von CENELEC am 2007-11-01 a

18、ls EN 61193-2 angenommen. Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebene durch Verffentlichung einer identischen nationalen Norm oder durch Anerkennung bernommen werden muss (dop): 2008-08-01 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, die der EN entgegenstehen

19、, zurckgezogen werden mssen (dow): 2010-11-01 Der Anhang ZA wurde von CENELEC hinzugefgt. Anerkennungsnotiz Der Text der Internationalen Norm IEC 61193-2:2007 wurde von CENELEC ohne irgendeine Abnderung als Europische Norm angenommen. In der offiziellen Fassung ist unter Literaturhinweise“ zu der au

20、fgelistete Norm die nachstehende Anmerkung einzutragen: IEC 62421 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 62421:2007 (nicht modifiziert). DIN EN 61193-2:2008-08 EN 61193-2:2007 3 Inhalt SeiteVorwort .2 Einleitung4 1 Anwendungsbereich.5 2 Normative Verweisungen .5 3 Begriffe .5 4 Stichprobensystem.6 4.1 Zusamm

21、enstellung und Bezeichnung von Losen 6 4.2 Probenahme.6 4.3 Stichprobenanweisungen.6 5 Annahme und Rckweisung 8 5.1 Annahmekriterien .8 5.2 Behandlung rckgewiesener Lose.8 6 Statistisch gesicherter Qualittsgrenzwert (SVQL)8 6.1 Allgemeines8 6.2 Berechnung des SVQL 9 Anhang A (informativ) Bewertung d

22、es statistisch gesicherten Qualittsgrenzwertes (SVQL) in fehlerhaften Einheiten je Million (106) bei einer Vertrauensgrenze von 60 %.10 A.1 Bewertung des statistisch gesicherten Qualittsgrenzwertes10 A.2 Prflos 10 A.3 Aufsummieren der Daten .10 A.4 Zu treffende Manahmen bei hherer Gesamtanzahl an fe

23、hlerhaften Einheiten als 10.10 A.5 Verfahren fr die Berechnung der Werte in Tabelle A.113 Anhang B (informativ) Verknpfung zwischen dieser Norm und ISO 2859-1.14 B.1 Werte fr die Operationscharakteristiken.14 Anhang C (informativ) Beispiel fr die Anwendung dieser Norm (losweise Prfung mit der Qualit

24、tsbewertungsstufe EZ in IEC/TC 40) 16 Literaturhinweise 17 Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen auf internationale Publikationen mit ihren entsprechenden europischen Publikationen18 Tabelle 1 Stichprobenumfang 7 Tabelle 2 Kennbuchstaben fr den Stichprobenumfang.8 Tabelle 3 Koeffizienten fr di

25、e Vertrauenswrdigkeitsstufe 60 % (siehe auch A.5)9 Tabelle A.1 Statistisch gesicherter Qualittsgrenzwert in fehlerhaften Einheiten je Million (106) .11 Tabelle A.2 np mit einer Vertrauensgrenze von 60 % fr die Gesamtanzahl fehlerhafter Einheiten und der Koeffizient CL.13 Tabelle B.1 Stichprobenanwei

26、sungen entsprechend ISO 2859-1, Tabelle 2-A14 Tabelle B.2 Tabellierte Werte fr Operationscharakteristiken (p: Prozent fehlerhafte Einheiten)15 Tabelle C.1 Losweise Prfung mit der Qualittsbewertungsstufe EZ IEC/TC 4016 DIN EN 61193-2:2008-08 EN 61193-2:2007 4 Einleitung Um eine hohe Qualittslage der

27、Produkte zu erreichen, ist es notwendig, den Verlauf der Prozesslenkung, wie die 100-%-Prfung der wichtigsten Merkmale und die statistischen Verfahren, zu stabilisieren, zu berwachen und zu verbessern. Die Stichprobenprfung ist eines der Verfahren, um die Wirksamkeit der Prozesslenkung und die Quali

28、ttslage eines vom Lieferanten/Hersteller gelieferten Produktes durch den Anwender oder einen Dritten nachzuweisen. Von der Qualittslage der zur Verwendung in elektrischen und elektronischen Gerten vorgesehenen Pro-dukte wird heutzutage erwartet, dass sie keine oder fast keine Herstellungsfehler aufw

29、eisen. Die Bewertung einer Qualittslage, die fast fehlerfrei ist, nur durch Stichprobenprfung durchzufhren, wrde aber fr die Qualittsprfung zu einem unangemessenen Kostenanstieg fhren. Diese Norm bietet ein Stichprobensystem und Stichprobenanweisungen fr die Prfung elektronischer Bauelemente, Gehuse

30、 und Baugruppen, unter geeigneter Prozesslenkung hergestellt, welche die Aus-lieferung von fehlerhaften Produkten verhindert. ANMERKUNG Das in dieser Norm enthaltene Stichprobenprfungssystem ist ISO 2859-1 entnommen und fr die Prfung der Endprodukte durch den Hersteller, durch einen Anwender oder ei

31、nen Dritten vorgesehen. DIN EN 61193-2:2008-08 EN 61193-2:2007 5 1 Anwendungsbereich Dieser Teil von IEC 61193 gilt fr die Prfung von elektronischen Bauelementen, Gehusen und auch Bau-gruppen (in dieser Norm als Produkte“ bezeichnet), die zur Verwendung in elektronischen und elektrischen Gerten vorg

32、esehen sind. Er legt die Stichprobenanweisungen fr die Attributprfung unter der Voraus-setzung von Annahmezahl gleich null (Ac = 0) fest, einschlielich der Kriterien fr die Probenauswahl und die Verfahren. Die in dieser Norm bereitgestellte Stichprobenanweisung fr Annahmezahl gleich null gilt fr die

33、 Prfung von Produkten, welche vor der Stichprobenprfung unter geeigneter Prozesslenkung mit der Zielsetzung einer fehlerfreien“ Qualittslage hergestellt wurden. Zustzlich beschreibt diese Norm ein Berechnungsverfahren fr den erwarteten statistisch gesicherten Qualittsgrenzwert (en: statistical verif

34、ied quality limit SVQL) mit einem Vertrauensbereich von 60 %. Dieses Verfahren kann unter anderem fr die berprfung der Wirksamkeit der Prozesslenkung des Herstellers angewendet werden. ANMERKUNG In dieser Norm wird der Begriff Baugruppe“ fr Produkte verwendet, welche der Definition fr Baugruppen nac

35、h IEC 60194 entsprechen. 2 Normative Verweisungen Die folgenden zitierten Dokumente sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschl

36、ielich aller nderungen). IEC 60194, Printed board design, manufacture and assembly Terms and definitions ISO 2859-1:1999, Sampling procedures for inspection by attributes Part 1: Sampling schemes indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection ISO 3534-2:2006, Statistics Vocabula

37、ry and symbols Part 2: Applied statistics 3 Begriffe Fr die Anwendung dieses Dokumentes gelten die Begriffe nach IEC 60194, ISO 2859-1 und ISO 3534-2 und die folgenden Begriffe. 3.1 elektronisches Bauelement einzelnes Bauelement, das ein elektronisches, optoelektronisches und/oder ein Element aus mi

38、kro-elektromechanischen Systemen (MEMS) enthlt 3.2 elektronisches Gehuse einzelnes oder mehrere elektronische Elemente in einem Behltnis, das den Inhalt zum Sicherstellen der Zuverlssigkeit schtzt und Anschlsse zur Verbindung mit einem ueren Stromkreis aufweist 3.3 elektronische Baugruppe Funktionse

39、inheit, welche einzelne elektronische Elemente und/oder elektronische Gehuse fr die Anwendung in einer bergeordneten Einheit enthlt 3.4 Prfniveau IL Niveau zum Definieren des Stichprobenumfangs fr den Losumfang DIN EN 61193-2:2008-08 EN 61193-2:2007 6 ANMERKUNG Der Stichprobenumfang von Losen hngt v

40、on der Schrfe des Prfniveaus ab. 3.5 fehlerhafte Einheit Einheit mit einem oder mehreren Fehlern ANMERKUNG Eine fehlerhafte Einheit ist ein Produkt, das die bei der losweisen oder regelmigen Prfung usw. gestellten Anforderungen (Erscheinung bei Sichtprfung oder elektrische Leistung usw.) nicht erfll

41、en kann. 3.6 strukturell hnliche Produkte Produkte, die vom selben Hersteller mit den gleichen Materialien nach denselben Herstellungsprozessen und -verfahren hergestellt wurden ANMERKUNG Die Produkte sind strukturell hnlich, auch wenn Unterschiede in der Gehusegre und den Bemes-sungswerten bestehen

42、. Die Ergebnisse bestimmter, an Einheiten eines Loses dieser Produkte vorgenommener Prfungen knnen mit den Ergebnissen anderer Lose in der gleichen Gruppe mit baulicher hnlichkeit summiert werden. 4 Stichprobensystem Das in diesem Abschnitt beschriebene Verfahren und die Stichprobenanweisungen gehen

43、 von der Voraussetzung aus, dass die Annahmezahl null ist (Ac = 0). 4.1 Zusammenstellung und Bezeichnung von Losen Die Produkte mssen zu identifizierbaren Losen oder Unterlosen (Teillosen) zusammengestellt werden. Jedes Los muss, soweit praktisch durchfhrbar, aus Einheiten einer einzigen Art, Gte, K

44、lasse, Gre und Zusammensetzung bestehen, die unter den gleichen Bedingungen zur im Wesentlichen gleichen Zeit hergestellt wurden. 4.2 Probenahme 4.2.1 Auswahl der Probeneinheiten Die fr die Stichprobe ausgewhlten Einheiten mssen dem Los durch einfache Zufallsstichprobenahme (siehe ISO 3534-2, 3.1.3.

45、4) entnommen werden. Wenn das Los jedoch aus Unterlosen oder Schichten besteht, die durch ein vernnftiges Kriterium gekennzeichnet sind, muss die geschichtete Probenahme so angewendet werden, dass der Umfang der Teilprobe von jedem Unterlos oder jeder Schicht proportional zur Gre dieses Unterloses o

46、der dieser Schicht ist. 4.2.2 Probenahmeverfahren Die Proben knnen nach Losherstellung oder im Verlauf der Produktion des Loses genommen werden. 4.3 Stichprobenanweisungen 4.3.1 Prfniveau Das Prfniveau kennzeichnet den relativen Schrfegrad der Prfung. Fr die allgemeine Anwendung sind die drei Prfniv

47、eaus I, II und III vorgegeben. Sofern nicht anderweitig festgelegt, muss das Prfniveau II angewendet werden. Das Prfniveau I darf angewendet werden, wenn eine geringere Unterscheidung bentigt wird, und das Prfniveau III bei erforderlicher strkerer Unterscheidung. Wenn relativ geringe Probengren notw

48、endig sind und grere Unsicherheiten beim Ziehen einer Stichprobe zugelassen werden knnen, wie zum Beispiel bei zerstrenden Prfungen oder teuren Produkten, drfen die vier zustzlichen besonderen Prfniveaus S-1, S-2, S-3 und S-4 angewendet werden. Das Prfniveau muss in bereinstimmung mit der Bauartspez

49、ifikation oder nach einer Vereinbarung zwischen Lieferant und Benutzer festgelegt werden. DIN EN 61193-2:2008-08 EN 61193-2:2007 7 4.3.2 Stichprobenanweisung fr die normale Prfung Sofern es in der Bauartspezifikation nicht anders festgelegt ist, mssen die Einfach-Stichprobenanweisungen fr normale Prfung gem Tab