CNS 14735-9-2003 Specification for flexible multilayer printed boards with through connections《具导孔之软性多层印刷电路板规格》.pdf
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1、 1 具導孔之軟性多層印刷電路板規格 印月 94 10 月 本標準非經本局同意得翻印 中華民國國家標準 CNS總號 號 ICS 31.180 C5275-9 經濟部標準檢驗局印 公布日期 修訂公布日期 92 6 月 10 日 月日 (共 34 頁) 14735-9 Specification for flexible multilayer printed boards with through connections 1.適用範圍:本標準適用於軟性多層印刷電板,無關其製造方法。在買賣雙方同意為基礎,評定其標準定義特性及其測試方法,“相關規格項目需在同意下使用,並適用於扁平排線。 2.考標準 C
2、NS 3623 環境試驗法 (電氣、電子 )濕熱 (穩態 )試驗 CNS 3632 環境試驗法 (電氣、電子 )焊錫試驗法 CNS 12566 環境試驗法 (電氣、電子 )溫濕組合 (循環 )試驗 CNS 14734 印刷電板術語和定義 CNS (IEC 321) 組件打算黏著在印刷電板設計與應用指引 CNS 10852 印刷電板檢驗法 CNS 14735-3 印刷電板設計與應用 3.概述 下表格包括所有重要的特性,以及驗證這些特性所需測試方法之對照。除非另外 明,表 1 所之所有測試均須執。其中相關規格表示須經額外測試之額外特性,而額外測試方法可由表 2 中選擇。 附加規定的測試必須被詳細記
3、載在相關規格上,加註星號在相關標示之。此部分根據 CNS 10852。 此表的測試順序將描述,除非另有規定,可依任何順序完成測試,其後刪除試樣的必須在相關規格中被規定。 試樣在相關規格被規定。 4.試樣 測試應在生產板完成後執。 根據 CNS 10852 第 4 節板邊試樣的使用是被允許的,一合適的合測試板如圖1a.1b.1c.1d.1e.1f.和 1g 所示。 5.相關規格 此相關規格應包括所有必須清楚且定義完整的印刷電板資訊,並應遵守 CNS 14735-3 所提出之建議事項。 須小心以避免需要的要求,應註明可容許之偏差值,應提供無公差之標準值或是最大值或最小值。如在印刷電板之局部區域或件
4、需要精確規格,則僅適用於該局部區域或件。 如果有敘述或公差等級 等幾種可能時,可自 CNS 14735-3 中選擇使 2 CNS 14735-9, C 5275-9 用。 6.印刷電路板特性 (參考表 1 和 2) 表 1 基本特性 特性 參考 CNS 10852 之相關章節 附加測試詳載相關規格 複合測試板之試樣需求 備註一般檢驗 目視檢驗 一致性和資格認證 外觀和工藝水準 鍍通孔 6.1.1 6.1.1.1 6.1.1.3 6.1.1.1 完成板或複合測試板 完成板或複合測試板 完成板或複合測試板 板面圖形、標記、認證和材料表面處理應依照相關規格,這些應沒有顯而易見缺點 試樣應依現行常規在
5、小心和精巧的方式 下進行加工處理 清潔鍍通孔,去除孔內可能影響零組件插入及焊錫性之雜物。 總破洞面積不超過總孔壁面積之 10% ,最大破洞平面觀測不得超過週長之25%,而且垂直觀測也不超過板厚之25%。 孔壁與導體板面圖形之界面及內層環圈不可有電鍍破洞 上述介面應考慮擴展為,板邊至孔壁需 有 1.5 倍表面銅箔總厚度之距離或內層 接觸環面需有 2 倍內層銅箔厚度 銅箔與後續性電鍍銅之端緣,在不影響 電氣連通性下,可允許膠渣存在 鍍通孔中,不可有全週性之銅壁斷裂或 孔銅和孔壁之分離現象。 有孔銅破洞之數目不可超過總鍍通孔數目之 5%。 參考第 3 節第 3 段 3 CNS 14735-9, C
6、5275-9板邊 鉚眼 導體與基材之接合 基材和板面圖形對表護層接著 導體瑕疵 導體間金屬粒 尺寸檢查 板子尺寸 板邊接點 ( 金手指 )之板厚 6.1.1.16.1.16.1.1.16.1.1.26.1.1.2或 6.1.1.36.2 6.2 完成板或複合測試板 完成板 完成板或複合測試板 完成板 完成板或複合測試板 完成板或複合測試板 完成板或複合測試板 K 板邊與板內切口須乾淨,不可有裂痕或刻痕 鉚眼須堅牢固定,電鍍過之鉚眼不可露出底部金屬。鉚眼不可龜裂之邊緣,其四周之導體及底材不可受損 除了材質規格中已被允許者外,不得產生導體自基材上分離起泡或皺折的情形。 這接合呈現必須完全一致,在下
7、面所列位置不嚴重的分層是被允許的: a 在離導體外隨機任一區域的分層總面積不可超過 5mm2,離邊之距離須大於 0.5mm b .沿導體邊,以目測其分層不可超過導體間設計寬度的 20%,相鄰導體至少應有 5mm寬之連續接著。導體間距小於 0.5mm 者不允許分層發生(參考圖二) 。 不可有斷裂現象,當導體線寬或導體間之間距,其縮減不超過相關規格,如 20%或 35%,則線中破洞或緣邊瑕疵可允許存在,針對線中破洞的大小應該有所規範,例如大小直徑不應該超過線寬的 1/3(參考圖三) 。 如果間距縮減為不超過 20%或不低於電路電壓所需的安全距離,可允許殘留金屬粒子存在 尺寸公差與標稱板厚應依照相關
8、規格 總板厚及公差應依照相關規格 若需要可採用 CNS 10852 第6.2.1.1 節之尺寸檢驗方法加以 驗證 若需要可採用 CNS 10852 第6.2.1.1 節之尺寸檢驗方法加以 驗證 總板厚及公差應依照 CNS (IEC321)之規定 4 CNS 14735-9, C 5275-9 孔 露出孔 開槽刻痕 導體寬度 導體間距 孔與孔環之 偏移度 孔位偏差 電氣測試 電阻 6.2 6.2 6.2 6.2 6.2.1.1 6.2 6.1.1.1 6.2.1.1 完成板或複合測試板 完成板或複合測試板 完成板或複合測試板 完成板或複合測試板 完成板或複合測試板 完成板或複合測試板 插裝孔和零
9、件孔的標稱尺寸和公差應依照相關規格 鍍通孔標稱直徑,只使用在導孔,應依照相關規格 露出孔對準度包括影響表護層與基材相對焊墊之膠流量,像任何壓合其溢膠應不可減少到其有效焊墊小於其相關規格之最小值 (參考圖 4) 尺寸應依照相關規格 寬度應依照相關規格所給之任何尺寸之規定 凡導體寬度之減小不低於規格之指定標準,如 20%或 35%,則允許破洞或端緣瑕疵等缺點。瑕疵之長度 L 不可大於導體寬度5mm(0.2in)之較小者 (參考圖 3) 間距應依照相關規格之規定 焊墊不可中斷,焊墊與導體之接壤處不可有斷裂現象 孔心點應落在相關規格所規定之公差範圍內 CNS 14735-3 提供孔徑與公差之參考範圍若
10、誤差不是很重要的話,不需要精確量測 建議沿著孔之任何點的最小有效焊墊: -非鍍通孔0.15mm -鍍通孔 0.1mm 假如無公差規定,則參考 CNS 14735-3 所提供之粗略誤差 5 CNS 14735-9, C 5275-9熱循環後之 鍍通孔電阻 變化 短路 絕緣電阻 前處理 在標準大氣壓力條件下量測 外層 內層 間層 依 CNS 相關標準 ( 參考 CNS 3623 或 CNS 12566 條件 ) 在高溫條件下量測 表層 內層 間層 7.1.37.2.17.4 7.4.17.4.27.4.37.4.17.4.27.4.3 D 完成板或複合測試板 E 或 J E 或 J M E 或 J
11、 E 或 J M 應符合相關規格之要求 絕緣電阻應依照相關規格 不適用聚酯類 材質 絕緣電阻應依照相關規格,分別在高溫中和規定之周圍環境下,試前試後進行量測。 適用條件在相 關規格之規定 不適用聚酯類 材質 參考第 3 節第 3 段 6 CNS 14735-9, C 5275-9 機械性測試 剝離強度 導體到基材之剝離強度 量測在標準大氣壓力條件 高溫量測 撕離強度 非鍍通孔焊墊撕離強度 拉脫強度 無焊墊鍍通孔拉脫強度 其他測試 鍍層表面處理 鍍層附著,膠帶法 鍍層厚度 ( 接觸區 ) 焊錫性 8.1.1 8.2.1 8.2.2 10.1.1 10.1.6 10.2 G C B K K 或印刷
12、電路板 H 剝離強度應遵照相關規格之規定 焊接時不可造成焊墊分離,撕離強度不 可低於相關規格之規定值 拉脫強度不可小於相關規格之規定值 膠帶從導體表面撕離後,須無鍍層附著 在膠帶中現象,除非產生總浮空 厚度應依照相關規格 導體表面之銲錫層應平滑和光亮,所出 現之針孔,不沾錫及縮錫區不可超過試 驗面積之 5%,且瑕疵也不應集中於單 一區域 無表護層之導體 不適用聚酯類材質 試樣需用一硬板支撐 不適用聚酯類材質,聚亞醯胺原本焊接之前就必須事先烘乾。測試是在進料認可條件 或加速老化之後,且在買賣雙方同意下執行 參考第 3 節第 3 段 7 CNS 14735-9, C 5275-9A). 在買賣雙方
13、同意下非活性助焊劑之使用 進料認可條件 加速老化之後 B). 在買賣雙方同意下活性助焊劑之使用 進料認可條件及加速老化之後 沾錫:試焊時,試樣應在 3 秒內沾錫,當另有保持焊錫性之暫護皮膜時,則該試樣應在 4 秒內沾錫 縮錫:試樣接觸熔融銲錫約 56 秒時,不可出現縮錫現象 沾錫:試樣在 4 秒內沾錫 縮錫:試樣接觸熔融銲錫約 56 秒時,不可出現縮錫現象 沾錫和縮錫兩者 (假如適用 ),這孔應依 照圖 5 良好之焊接,儘可能用薄材質 軟性印刷電路板。 不論板子有無暫存護膜 沾錫:試樣應在 3 秒內沾錫 縮錫:試樣接觸熔融銲錫約 56 秒時,不可出現縮錫現象 沾錫和縮錫兩者 (假如適用 ),這
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