GB T 19799.2-2012 无损检测.超声检测.2号校准试块.pdf

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1、ICS 19.100;25.160.40 J 04 中华人民噩噩共和国国家标准GB/T 19799.2-2012/180 7963: 2006 代替GB/T19799.2-2005 无损检测超声检测2号校准试块Non-d臼tructivet四ting-U1tr凶onict臼ting-8pecificationfor calibration block No. 2 (ISO 7963: 2006 , IDT) 2012-09-03发布中华人民共和国国家质量监督检验检茂总局中国国家标准化管理委员会2013-03-01实施发布中华人民共和国国家标准无损检测超声检测2号校准试块GB/T 19799.2

2、-2012/150 7963: 2006 争舍中国标准出版社出版发行北京市朝阳区和平里西街甲2号(100013)北京市西城区三里河北街16号(10004日网址总编室:(010)64275323发行中心:(010)51780235读者服务部:(010)68523946中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销* 开本880X 1230 1/16 印张o.75 字数16千字2012年12月第一版2012年12月第一次印刷* 书号:155066. 1-45874定价16.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68510107GB/T 19799.2-2012月S

3、O7963: 2006 前言本部分按照GB/T1. 1-2009给出的规则起草。本部分代替GB/T19799.2-2005(无损检测超声检测2号校准试块儿本标准与GB/T19799. 2-2005相比，除编辑性修改外主要技术变化如下z一一修改了规范性引用文件(见第2章，2005年版的第2章); 一一增加了术语和定义(见第3章); 修改了材料(见第5章，2005年版的第4章); 一一-增加了标记(见第7章); 一一修改了使用方法(见第8章，2005年版的第6章); 增加了证书(见第9章)。本部分使用翻译法等同采用IS07963: 2006(元损检测超声检测2号校准试块规范)(英文版)。本部分由全

4、国元损检测部分化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。本部分起草单位:上海泰司检测科技有限公司、上海锅炉厂有限公司、上海材料研究所、济宁瑞祥模具有限责任公司(山东济宁模具厂)、上海宝钢工业检测公司。本部分主要起草人:张佩铭、魏忠瑞、金宇飞、章怡明、罗云东。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:GB/T 19799.2一20050I GB/T 19799.2-2012/1807963 :2006 51 2号校准试块的尺寸、形状不同于IS02400(GB/T 19799. 1)所描述的。2号校准试块更小更轻，并且几何形状更简单。2号校准试块不提供如同大试块那样广泛的应用范围，尤其不能用于对超声

5、探伤仪的全面校验。但是在实际检测中，可以随时用2号校准试块对超声检测设备的时基线和灵敏度设置进行简单的校验。此外，它也适用于对小型斜探头的人射角和人射点的校验。注z现行的EN12223对1号校准试块进行了详细说明。E GB/T 19799.2-20 12/ISO 7963: 2006 无损检测超声检测2号校准试块1 范围GB/T 19799的本部分规定了2号校准试块的尺寸、材料、制造，以及用它对超声检测设备进行校准和校验的使用方法。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用

6、于本文件。GB/T 3505产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法术语、定义及表面结构参数(ISO4287: 1997 ,IDT) GB/T 12604. 1元损检测术语超声检测CISO5577: 2000 , IDT) EN 10025-1 结构钢热轧产品第1部分z通用性交货技术条件(Hotrolled products of structural steels-Part 1: General technical delivery conditions) 3 术语和定义GB/T 12604. 1界定的术语和定义适用于本文件。4 尺寸图l给出了试块的尺寸。除刻度槽长度的公差为:1:0.5mm

7、之外，其余的尺寸公差为:1:0.1mm。平均表面粗糙度Ra的定义按1SO4287 D 试块厚度允许大于12.5mm(见A.1)。1 尺寸单位为毫米表面粗糙度单位为微米G/T 19799.2-2012月807963: 2006 Ra 1. 6 1 由.HHU问国.NH75 42.9 34.6 28.6 23.8 Ra 3.2 20 说明$1 反射面。试块尺寸与刻度超声检测用2号试块图12 GB/T 19799.2-2012月SO7963 : 2006 5 材料校准试块的制作，应采用EN10025-1的S355JO级钢或其等效材料。6审j备校准试块的材质应均匀，且经超声检测无缺陷(见A.2)。为获

8、得细晶组织和良好的材质均匀性，在最终机加工前应将试块按以下方式进行热处理za) 以920.C的温度保温30min，并用水摔冷zb) 再加热到650.C至少保温2h，然后在静止空气中冷却。热处理后机加工前，应从两个相互垂直的方向，并沿轧制方向对试块做进一步的超声检测。热处理后，所有表面应至少去除2mm.所有尺寸和表面粗糙度应符合图l要求。为了防止附加效应的产生，刻度槽的深度应为0.1mm:l: O. 05 mm。刻度槽的长度应为6mm，并且其位置公差为士0.2mm。机加工完成后应进行最终超声检测。试块的纵波速度应为5920 m/s:l: 30 m/s，横波速度应为3255 m/s:l: 15 m

9、/s. 7 标记2号试块上应按图1做永久性参考标记。除此之外试块上还应做以下永久性标记:一一生产商商标F一一本标准号;唯一的序列号。8 使用方法8. 1 时基缉的设置调节时基线时，应将相继回波的前沿(左侧边)调整到与仪器屏幕对应的刻度相一致。脉冲传播时间取决于被检材料中的超声波波速。8. 1. 1 用直探头校准不大于250mm的时基结探头在校准试块反射面上的放置位置应按图2a)的示意。图2b)是校准范围为50mm时荧光屏(A扫描)上的显示示意图。注z当校准距离大于10倍的试块厚度时可能会出现困难，这取决于所用的探头和频率。单位为毫米国.时间a) 探头在校准试块上的位置图2用直探头校准不大于25

10、0mm的时基线3 GB/T 19799.2-20 12/ISO 7963: 2006 单位为毫米o 12.5 25 37.5 50 b) 校准范围为50mm时A扫描的显示示意图圄2(续)8. 1. 2 用小型斜探头校准100mm或125mm的时基线小型横波探头在校准试块上的位置按图3a) (用于125mm校准距离)和图3b) (用于100mm校准距离)。图3a)和图3b)也给出了这两种校准范围的仪器荧光屏显示示意图。单位为毫米I I o 50 125 a) 用于125mm校准范围o 25 100 b) 用于100mm校准范围圄3小型横波探头在校准试块上的位置8.2 灵敏度设置和探头校验8.2.

11、 1 概述很多因素会影响灵敏度设置(见A.3)。8.2.2 纵波探头灵敏度设置探头应置于图4中a所在的位置。4 GB/T 19799.2-2012月SO7963 : 2006 灵敏度的设置应以A扫描中显示的连续回波作为参考基准。也可将探头放在图4b的位置，利用直径5mm孔的回波，使相应回波幅度最大，以此设置灵敏度。主图4直探头灵敏度设置8.2.3 小型横波探头8.2.3.1 灵敏度设置应以直径5mm的孔的最大回波作为灵敏度设置的参考基准(见图5中位置a勺。固5小型斜探头灵敏度设置也可分别利用半径为50mm和25mm的两个圆柱面进行灵敏度设置。在这种情况下有两种设置的方法za) 使用经校准的增益

12、调节器，先将来自于圆柱面的回波调到屏幕高度的80%，然后再将其调节到需设置的水平。b) 不用增益调节器，利用来自于圆柱面的多个连续回波调节灵敏度(见图的。校验探头时，声藕合是一个重要因素，当进行探头之间的比较时，应使用相同的搞合介质。ABA o 50 125 图6小型斜探头不用增益调节器进行灵敏度设置5 GB/T 19799.2-2012月SO7963 : 2006 8.2.3.2 探头入射点位置的测定小型斜探头应按图3a)或3b)放置，并在校准试块主平面上平行移动，直到来自于圆柱面的反射回波幅度达到最大。这时探头人射点与试块上毫米刻度尺的中心重合。8.2.3.3 声束角度的测定用5mm直径的

13、孔的回波测定声束角度。将小型斜探头在校准试块主平面上平行移动，直到来自于5mm直径的孔的反射回波幅度达到最大。声束角度可以直接从校准试块上与探头人射点重合的刻度值上读得，当探头入射点与刻度线不重合时也可以采用插值法获取。图7所示的这些位置可用于测定45。、600和700的探头。圄7小型斜探头声束角度测定9 证书6 对于每一块试块，制造商都应发布一份证书以说明:a) 该试块符合本标准(ISO7963或GBjT19799.2) ; b)所测得的纵波声速平均值:Vi;c) 所测得的横波声速平均值叫。GB/T 19799.2-2012月SO7963: 2006 附录A(规范性附录)校准试块的特性和用途

14、A.1 用于非小型探头校准的试块厚度当用于非小型探头时，可以使用更厚的试块，例如20mm或25mm厚。A.2 最终机加工前后的材料超声检测建议用纵波探头(晶片直径10mm、频率6MHz)进行两次检测:a) 将探头按图2a)放置，第四次底面回波的波幅应比后面出现的、由晶粒结构产生的噪声高出至少50dBo b) 在材料均匀性方面，不应有波幅大于晶粒散射波幅的缺陷。A.3 设置灵敏度需考虑的因素设置灵敏度时宜考虑下列因素，它们可分为四大类:a) 设备z脉冲能量、频率、脉冲波形、放大率等;b) 所用探头z种类、尺寸、声阻抗、晶片阻尼、声场极值分布图等Fc) 被检材料:表面状态(与搞合有关)，材料种类(

15、吸收性)等;d) 缺陷分析z形状、取向、性质等。GB/T 19799.2-2012月SO7963: 2006 OON 参考文献的hg同NFON|N.h-lJ IS0 2400 Welds in steel-Ref巳renceblck for the calibration of equipment for ultrasonic examina-t lOn 2J EN 12223 Non-destructive testing-Ultrasonic examination-Specification for calibration block No.1 同阁。版权专有侵权必究祷书号:155066.1-45874定价:16.00元打印日期:2013年1月22日F008AOO